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基于气体监测模块的校准系统、校准方法及测量方法与流程

2021-10-19 21:20:00 来源:中国专利 TAG:校准 气体 医疗器械 监测 模块

技术特征:
1.一种基于气体监测模块的校准系统,其特征在于,包括:光源以及对应于所述光源的光源传感器;气室,设置在所述光源与所述光源传感器之间的测量光路上;光路组件,具有参考滤光片,所述参考滤光片与预设气体浓度对应;处理器,与所述光源传感器以及所述光路组件连接,用于在对所述气体监测模块进行校准时,控制所述参考滤光片运动至所述测量光路上。2.根据权利要求1所述的校准系统,其特征在于,所述光路组件包括:本体;其中,所述参考滤光片固定在所述本体上;驱动件,分别与所述本体以及所述处理器连接。3.根据权利要求2所述的校准系统,其特征在于,所述光路组件还包括:开设在所述本体上的通孔;其中,所述处理器还用于在所述气体监测模块正常工作时,控制所述通孔运动至所述测量光路上。4.一种基于气体监测模块的校准方法,其特征在于,包括:接收校准指令;基于所述校准指令,控制光路组件中的参考滤光片运动至光源与光源传感器之间的测量光路上;其中,所述参考滤光片与预设气体浓度对应;所述测量光路上还设置有气室;获取所述光源传感器的测量结果;基于所述测量结果计算出气体浓度;利用所述预设气体浓度以及计算出的气体浓度,确定所述气体监测模块的校准系数。5.根据权利要求4所述的校准方法,其特征在于,所述接收校准指令的步骤之后还包括:控制三通阀切换至大气通道;其中,所述三通阀与所述气室的进气口连接;控制隔膜泵以预设转速工作预设时间,以使得所述气室内充满空气;其中,所述隔膜泵与所述气室连接。6.一种基于气体监测模块的气体浓度测量方法,其特征在于,包括:控制光路组件中的通孔运动至光源与光源传感器之间的测量光路上;其中,设置在测量光路上的气室内充满待测气体;获取所述光源传感器的测量结果;获取所述气体监测模块的校准系数;其中,所述校准系数是根据权利要求4或5所述的基于气体监测模块的校准方法得到的;根据所述测量结果以及所述校准系数,确定所述待测气体的浓度。7.根据权利要求6所述的测量方法,其特征在于,所述根据所述测量结果以及所述校准系数,确定所述待测气体的浓度,包括:基于所述测量结果,计算所述待测气体的浓度测量值;利用所述校准系数对所述浓度测量值进行校准,以得到所述待测气体的浓度。8.一种基于气体监测模块的校准装置,其特征在于,包括:接收模块,用于接收校准指令;第一控制模块,用于基于所述校准指令,控制光路组件中的参考滤光片运动至光源与光源传感器之间的测量光路上;其中,所述参考滤光片与预设气体浓度对应;所述测量光路
上还设置有气室;第一获取模块,用于获取所述光源传感器的测量结果;计算模块,用于基于所述测量结果计算出气体浓度;第一确定模块,用于利用所述预设气体浓度以及计算出的气体浓度,确定所述气体监测模块的校准系数。9.一种基于气体监测模块的气体浓度测量装置,其特征在于,包括:第二控制模块,用于控制光路组件中的通孔运动至光源与光源传感器之间的测量光路上;其中,设置在测量光路上的气室内充满待测气体;第二获取模块,用于获取所述光源传感器的测量结果;提取模块,用于提取所述气体监测模块的校准系数;其中,所述校准系数是根据权利要求4或5所述的基于气体监测模块的校准方法得到的;第二确定模块,用于根据所述测量结果以及所述校准系数,确定所述待测气体的浓度。10.一种电子设备,其特征在于,包括:存储器和处理器,所述存储器和所述处理器之间互相通信连接,所述存储器中存储有计算机指令,所述处理器通过执行所述计算机指令,从而执行权利要求4或5所述的基于气体监测模块的校准方法,或执行权利要求6或7所述的基于气体监测模块的气体浓度测量方法。11.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使所述计算机执行权利要求4或5所述的基于气体监测模块的校准方法,或执行权利要求6或7所述的基于气体监测模块的气体浓度测量方法。

技术总结
本发明涉及医疗器械技术领域,具体涉及基于气体监测模块的校准系统、校准方法及测量方法,其中系统包括光源以及对应于所述光源的光源传感器;气室,设置在所述光源与所述光源传感器之间的测量光路上;光路组件,具有参考滤光片;其中,所述参考滤光片与预设气体浓度对应;处理器,与所述光源传感器以及所述光路组件连接,用于在对所述气体监测模块进行校准时,控制所述参考滤光片运动至所述测量光路上。该校准系统以参考滤光片对应的预设气体浓度作为校准的参考,能够实现对气体监测模块的校准,且该校准系统仅在原始的气体监测模块的基础上增加了光路组件,并未涉及到其他硬件的改变,那么利用该参考滤光片进行校准时可以得到准确的校准系数。到准确的校准系数。到准确的校准系数。


技术研发人员:张微 朱振营
受保护的技术使用者:深圳市理邦精密仪器股份有限公司
技术研发日:2020.04.10
技术公布日:2021/10/18
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