电磁波测量用探头的制作方法

技术特征：
1.一种测量用探头，其使用于电磁波测量系统，其特征在于，所述测量用探头具备：第1测定部，其具有发挥电光效应的第1电光晶体、设置在该电光晶体的根基侧且传递光信号的第1光纤、以及设置在该电光晶体的前端侧且反射光信号的第1反射部；第2测定部，其具有第2电光晶体、第2光纤、以及第2反射部，所述第1电光晶体和所述第2电光晶体是1个电光晶体，在该1个电光晶体的根基侧连接有所述第1光纤和所述第2光纤。2.根据权利要求1所述的测量用探头，其特征在于，所述测量用探头具有毛细管，所述毛细管在将所述第1光纤和所述第2光纤中的纤芯部件插通于具有与所述第1光纤和所述第2光纤中的纤芯部件大致相同尺寸的多个孔中的状态下对所述第1光纤和所述第2光纤中的纤芯部件进行固定。3.根据权利要求2所述的测量用探头，其特征在于，在所述毛细管的前端侧插通有多个光学部件，该多个光学部件具有与所述纤芯部件大致相同的尺寸。4.根据权利要求2或权利要求3所述的测量用探头，其特征在于，所述毛细管的前端面与插通于所述孔的所述纤芯部件或者所述光学部件的前端面处于同一平面上。5.根据权利要求1所述的测量用探头，其特征在于，在所述第1测定部中光信号发生反射的第1反射点与在所述第2测定部中光信号发生反射的第2反射点之间的距离亦即隔离距离被设定为所述测量对象电磁波的波长的1/2以下。6.根据权利要求1所述的测量用探头，其特征在于，所述1个电光晶体具有配置成与前端的反射部错开了的功能膜，所述功能膜使传递至所述第1测定部的波长的光信号透过，并对传递至所述第2测定部的波长的光信号进行反射。7.根据权利要求6所述的测量用探头，其特征在于，所述测量用探头具有被入射与所述第1测定部相同波长的光信号的第3测定部。

技术总结
本发明提供一种测量用探头，其使用于电磁波测量系统，所述测量用探头具备：第1测定部，其具有发挥电光效应的第1电光晶体、设置在该电光晶体的根基侧且传递光信号的第1光纤、以及设置在该电光晶体的前端侧且反射光信号的第1反射部；第2测定部，其具有第2电光晶体、第2光纤、以及第2反射部，所述第1电光晶体和所述第2电光晶体是1个电光晶体，在该1个电光晶体的根基侧连接有所述第1光纤和所述第2光纤。的根基侧连接有所述第1光纤和所述第2光纤。的根基侧连接有所述第1光纤和所述第2光纤。


技术研发人员：久武信太郎 及川阳一 宫地邦男 东条诚
受保护的技术使用者：新信心股份有限公司
技术研发日：2019.11.01
技术公布日：2021/10/28