设备控制方法、装置及电子设备与流程

1.本技术涉及空调技术领域，尤其涉及一种设备控制方法、装置及电子设备。


背景技术：

2.空调实现制冷制热，主要是依靠压缩机内部冷媒的压缩和蒸发来实现的。压缩机的运行过程与冷媒息息相关，尤其是在冷媒的量比较少的情况下，压缩机运行时会对本身产生较大的损害。
3.为了避免因冷媒缺少对压缩机造成损害，一般都会在空调的控制逻辑中增加保护措施，以冷媒为氟为例，空调的控制逻辑会设置缺冷媒保护。一般，在制冷和除湿模式下，压缩机启动后开始进入缺冷媒检测逻辑，压缩机连续运行n分钟后，再连续检测t时间内室内环境和内管温度差是否有小于t℃的情况，连续出现3次，便认定为缺冷媒，触发缺冷媒保护，停止压缩机运行。
4.用户购买的空调通常会经过长时间运输才会安装到用户指定的位置，而长时间运输会导致空调内部的冷媒不稳定，空调在初期运行时，会因为冷媒不稳定，误判缺冷媒，从而触发缺冷媒保护，频繁报警，给用户带来不好的使用体验。


技术实现要素：

5.为克服相关技术中存在的安装初期，冷媒不稳定，误判缺冷媒导致的触发缺冷媒保护而频繁报警的问题，本技术提供一种设备控制方法、装置及电子设备。
6.根据本技术的第一方面，提供一种设备控制方法，所述方法应用于一种电子设备，所述方法包括：
7.获取所述电子设备的运行数据；
8.确定所述运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件；
9.若确定所述运行数据满足所述约束条件，通过预设调整规则对所述缺冷媒保护检测的操作过程进行调整，并按照调整后的所述缺冷媒保护检测的操作过程进行缺冷媒保护检测。
10.在一个可选的实施方式中，所述运行数据为所述电子设备当前记录的上电次数；
11.所述确定所述运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，包括：
12.判断所述上电次数是否小于或等于预设次数阈值；
13.若判断所述上电次数小于或等于所述预设次数阈值，确定所述运行数据满足所述约束条件；
14.若判断所述上电次数大于所述预设次数阈值，确定所述运行数据不满足所述约束条件。
15.在一个可选的实施方式中，所述运行数据包括所述电子设备的连续运行时间；
16.所述确定所述运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，包括：
17.判断所述连续运行时间是否小于或等于预设时间阈值；
18.若所述连续运行时间小于或等于所述预设时间阈值，确定所述运行数据满足所述约束条件；
19.若所述连续运行时间大于所述预设时间阈值，确定所述运行数据不满足所述约束条件。
20.在一个可选的实施方式中，所述运行数据包括所述电子设备当前记录的上电次数以及所述电子设备的连续运行时间；
21.所述确定所述运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，包括：
22.当确定所述上电次数小于或等于预设次数阈值，且确定所述连续运行时间小于预设时间阈值时，确定所述运行数据满足所述约束条件；
23.若所述上电次数大于所述预设次数阈值，或者所述连续运行时间大于所述预设时间阈值，确定所述运行数据不满足所述约束条件。
24.在一个可选的实施方式中，所述调整规则包括：
25.屏蔽所述缺冷媒检测操作；或者，增大缺冷媒判定阈值；
26.所述缺冷媒判定阈值为判定所述电子设备处于缺冷媒状态的次数阈值。
27.根据本技术的第二方面，提供一种设备控制装置，所述装置包括：
28.获取模块，用于获取所述电子设备的运行数据；
29.确定模块，用于确定所述运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件；
30.调整模块，用于若确定所述运行数据满足所述约束条件，通过预设调整规则对所述缺冷媒保护检测的操作过程进行调整。
31.在一个可选的实施方式中，所述运行数据包括所述电子设备的连续运行时间；
32.所述确定模块具体用于：
33.判断所述连续运行时间是否小于或等于预设时间阈值；
34.若所述连续运行时间小于或等于所述预设时间阈值，确定所述运行数据满足所述约束条件；否则，确定所述运行数据不满足所述约束条件。
35.在一个可选的实施方式中，所述运行数据包括所述电子设备当前记录的上电次数以及所述电子设备的连续运行时间；
36.所述确定模块具体用于：
37.当确定所述上电次数小于或等于所述预设次数阈值，且确定所述连续运行时间小于所述预设时间阈值时，确定所述运行数据满足所述约束条件；否则，确定所述运行数据不满足所述约束条件。
38.根据本技术的第三方面，提供一种电子设备，包括：至少一个处理器和存储器；
39.所述处理器用于执行所述存储器中存储的设备控制程序，以实现本技术第一方面所述的方法。
40.根据本技术的第四方面，提供一种存储介质，所述计算机存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序被执行时，实现本技术第一方面所述的方法。
41.本技术提供的技术方案可以包括以下有益效果：首先获取电子设备的运行数据，然后确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，若确定运行数据满足该预设条件，则通过预设调整规则对缺冷媒保护检测的操作过程进行调整，并按照调整后的所述缺冷媒保护检测的操作过程进行缺冷媒保护检测。基于此，本技术的技术方案可以根据电子
设备的运行数据来确定是否对缺冷媒保护检测的操作过程进行调整，从而可以改变对于缺冷媒保护检测的操作过程，提高误触发缺冷媒保护操作的难度，从而起到在运行数据满足缺冷媒保护检测的约束条件的情况下，在一定程度上防止出现缺冷媒误保护的情况。
42.应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本技术。
附图说明
43.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本技术的实施例，并与说明书一起用于解释本技术的原理。
44.图1是本技术的一个实施例提供的一种设备控制方法的流程示意图；
45.图2是本技术的一个实施例提供的一种确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件的流程示意图；
46.图3是本技术的一个实施例提供的另一种确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件的流程示意图；
47.图4是本技术的一个实施例提供的另一种确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件的流程示意图；
48.图5是本技术的另一实施例提供的一种设备控制装置的结构示意图；
49.图6是本技术的另一实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
50.这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本技术相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。
51.空调实现制冷制热，主要是依靠压缩机内部冷媒的压缩和蒸发来实现的。压缩机的运行过程与冷媒息息相关，尤其是在冷媒的量比较少的情况下，压缩机运行时会对本身产生较大的损害。
52.为了避免因冷媒缺少对压缩机造成损害，一般都会在空调的控制逻辑中增加保护措施，以冷媒为氟为例，空调的控制逻辑会设置缺冷媒保护。一般，在制冷和除湿模式下，压缩机启动后开始进入缺冷媒检测逻辑，压缩机连续运行n分钟后，再连续检测t时间内室内环境和内管温度差是否有小于t℃的情况，连续出现3次，便认定为缺冷媒，触发缺冷媒保护，停止压缩机运行。
53.用户购买的空调通常会经过长时间运输才会安装到用户指定的位置，而长时间运输会导致空调内部的冷媒不稳定，空调在初期运行时，会因为冷媒不稳定，误判缺冷媒，从而触发缺冷媒保护，频繁报警，给用户带来不好的使用体验。
54.为克服相关技术中存在的安装初期，冷媒不稳定，误判缺冷媒导致的触发缺冷媒保护而频繁报警的问题，本技术提供一种设备控制方法、装置及电子设备。下面以实施例的方式进行说明。
55.请参阅图1，图1是本技术的一个实施例提供的一种设备控制方法的流程示意图。
56.需要说明的是，本实施例提供的防止缺冷媒保护的控制方法应用于电子设备中，该电子设备可以是空调设备或者其他需要用到冷媒的设备。
57.如图1所示，本实施例提供的设备控制方法可以包括：
58.步骤s101、获取电子设备的运行数据。
59.需要说明的是，由于当前在电子设备安装初期的运行过程中，导致缺冷媒误保护发生主要原因往往是安装前的长时间运输或者电子设备长期未正位放置而导致的冷媒不稳定，那么本步骤中的运行数据就是可以判断出电子设备当前的运行过程中冷媒是否稳定的数据。
60.一般，只要将电子设备连续正位放置一段时间，电子设备中的冷媒都会趋于稳定，冷媒趋于稳定后，会大大降低缺冷媒误保护情况发生的概率。。
61.因此，本实施例会借助一些在一定程度上能够确定电子设备处于正位放置状态的运行数据来进行判断。比如上电次数、电子设备的连续运行时间等。
62.需要说明的是，上述提到的正位放置，指的是电子设备能够正常运行时的放置方式。
63.步骤s102、确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件。
64.基于不同的运行数据，本步骤确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件的方式也不同，下面以上电次数、连续运行时间为例，进行详细说明。
65.请参阅图2，图2是本技术的一个实施例提供的一种确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件的流程示意图。本实施例以运行数据为上电次数为例进行说明。
66.如图2所示，本实施例提供的确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件可以包括：
67.步骤s201、判断上电次数是否小于或等于预设次数阈值。
68.上电次数指的是电子设备记录的电子设备上电的次数。一般情况下，电子设备上电是为了使用电子设备的功能，若想正常使用电子设备的功能，那么电子设备必然需要正位放置。
69.比如空调，给空调上电是为了调节空调所在的环境，比如降低环境温度、提高环境温度等，那么空调必须要安装完好，处于正位放置的状态。而且，为了使电子设备的功能有相应的效用，就需要维持一段时间，也就是说，需要连续正位放置一段时间。
70.因此，可以通过记录电子设备的上电次数，并设定一个预设次数阈值，将记录的上电次数与预设次数阈值进行比较，从而可以在一定程度上认为电子设备正位放置了一定的时间，制冷剂趋于稳定。
71.在一个具体的例子中，预设次数阈值可以选取3到6之间的任意一个数值，比如5，那么在获取到电子设备记录的上电次数后，与5进行比较。需要说明的是，本例中3到6之间只是一个较为优选的选取范围，预设次数阈值可以根据具体场景来设定，甚至可以由用户根据自身需求来进行修改。
72.另外，由于现有的电子设备并不会记录其上电次数，因此，为了配合本实施例对于上电次数的获取，本实施例特给出一种记录上电次数的方案，具体可以包括：每次上电时，先获取当前记录的上电次数，然后在获取到的上电次数的基础上累加1，并将累加后的上电次数进行记录。
73.需要说明的是，可以在电子设备的控制器中单独设置一个参数作为上电次数，该参数的初始值为0，每次上电执行上述记录上电次数的方案对应的逻辑程序，即可实现对上电次数的记录。
74.步骤s202、若判断上电次数小于或等于预设次数阈值，确定运行数据满足约束条件；若判断所述上电次数大于所述预设次数阈值，确定运行数据不满足约束条件。
75.本步骤中，如果上电次数小于或等于预设次数阈值，则说明电子设备正位放置的时间不够长，电子设备中的冷媒仍然不够稳定，此时则确定运行数据满足缺氟保护检测的约束条件。
76.如果上电次数大于预设次数阈值，则说明电子设备正位放置的时间足够长，电子设备中的冷媒已经趋于稳定，此时则可以确定运行数据不满足缺氟保护检测的约束条件。
77.在一个具体的例子中，若获取到的上电次数为6，预设次数阈值为5，由于6大于5，说明电子设备正位放置的时间足够长，电子设备中的冷媒已经趋于稳定，确定运行数据不满足约束条件。
78.若获取到的上电次数为3，预设次数阈值为5，由于3小于5，说明电子设备正位放置的时间不够长，电子设备中的冷媒仍然不够稳定，确定运行数据满足缺氟保护检测的约束条件。
79.当然，还可以直接从时间的角度出发，来验证电子设备正位放置的时间是否足够长，电子设备中的冷媒是否趋于稳定。具体可以参阅图3，图3是本技术的一个实施例提供的另一种确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件的流程示意图。本实施例以运行数据为电子设备的连续运行时间为例进行说明。
80.如图3所示，本实施例提供的确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件可以包括：
81.步骤s301、判断连续运行时间是否小于或等于预设时间阈值。
82.需要说明的是，本步骤的连续运行时间指的是电子设备在某次上电后，连续运行的时间。也就是说，本实施例对于连续运行时间的获取，是每次上电之后重新进行计时累计得到的。
83.另外，预设时间阈值可以由电子设备的研发生产方在出厂时就预先设定，设定的具体值可以是根据具体的实验数据来得到的，比如对冷媒稳定所需要正位放置电子设备的时间进行实验，最终得到该具体值。当然，预设时间阈值也可以由用户根据日常使用的情况进行调整修改。
84.在一个具体的例子中，电子设备上电后，触发计时器，累计时间，并将累计的时间作为连续运行时间，实时与预设时间阈值进行比较。
85.当然，连续运行时间还可以是指电子设备中的压缩机连续运行的时间。由于压缩机是直接对冷媒进行处理的，能够对冷媒起到直接的作用，而压缩机的运行可以加速冷媒的稳定速度，对应的，累计压缩机的连续运行时间就需要使用更小的预设时间阈值进行比较。具体值同样可以通过相关的实验来确定。
86.步骤s302、若连续运行时间小于或等于预设时间阈值，确定运行数据满足约束条件；若所述连续运行时间大于所述预设时间阈值，确定运行数据不满足约束条件。
87.本步骤中，只要连续运行时间未超过(小于或等于)预设时间阈值，就认为电子设
备正位放置的时间不够长，电子设备中的冷媒仍然不够稳定，此时则确定运行数据满足缺氟保护检测的约束条件。
88.连续运行时间一旦超出(大于)预设时间阈值，就认为电子设备正位放置的时间足够长，电子设备中的冷媒已经趋于稳定，确定运行数据不满足约束条件。
89.另外，本实施例还提供了一种结合了上电次数以及连续运行时间来验证电子设备正位放置的时间是否足够长，电子设备中的冷媒是否趋于稳定的方式。
90.具体可以为当确定上电次数小于或等于预设次数阈值，且确定连续运行时间小于预设时间阈值时，确定运行数据满足约束条件；若所述上电次数大于所述预设次数阈值，或者所述连续运行时间大于所述预设时间阈值，确定运行数据不满足约束条件。
91.更加优选的，也可以将图2和图3所对应的实施例中涉及的评判标准进行结合，以更加精确的确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，具体参见图4所示。图4是本技术的一个实施例提供的另一种确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件的流程示意图。本实施例以运行数据为上电次数和连续运行时间为例进行说明。
92.如图4所示，本实施例提供的确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件可以包括：
93.步骤s401、判断上电次数是否小于或等于预设次数阈值。
94.步骤s402、若判断上电次数小于或等于预设次数阈值，判断连续运行时间是否小于或等于预设时间阈值；
95.步骤s403、若连续运行时间小于或等于预设时间阈值，确定运行数据满足约束条件。
96.步骤s404、若连续运行时间大于预设时间阈值，确定运行数据不满足约束条件。
97.步骤s405、若判断上电次数大于预设次数阈值，确定运行数据不满足约束条件。
98.需要说明的是，上述步骤的具体判断过程可以参阅图2和图3对应的实施例中的相关说明，此处不再赘述。
99.步骤s103、若确定运行数据满足约束条件，通过预设调整规则对缺冷媒保护检测的操作过程进行调整，并按照调整后的所述缺冷媒保护检测的操作过程进行缺冷媒保护检测。
100.本步骤中，预设调整规则可以有多种，比如屏蔽缺冷媒检测操作，或者是增大缺冷媒判定阈值。其中，缺冷媒判定阈值为判定电子设备处于缺冷媒状态的次数阈值。
101.需要说明的是，屏蔽缺冷媒检测操作，即在满足预设条件时，禁止缺冷媒检测的操作。
102.禁止缺冷媒检测的操作，就不会得到电子设备处于缺冷媒状态的判断，自然也不会误触发缺冷媒保护。
103.另一种防护措施，也可以是增大缺冷媒判定阈值。在电子设备运行过程中，需要检测到电子设备处于缺冷媒状态的次数达到更大的缺冷媒判定阈值，才会触发缺冷媒保护，能够在一定程度上抑制对缺冷媒保护的触发。
104.本实施例中，首先获取电子设备的运行数据，然后确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，若确定运行数据满足该预设条件，则通过预设调整规则对缺冷媒保护检测的操作过程进行调整。基于此，本技术的技术方案可以根据电子设备的运行数据来
确定是否对缺冷媒保护检测的操作过程进行调整，从而可以改变对于缺冷媒保护检测的操作过程，提高误触发缺冷媒保护操作的难度，从而起到在运行数据满足缺冷媒保护检测的约束条件的情况下，在一定程度上防止出现缺冷媒误保护的情况。
105.请参阅图5，图5是本技术的另一实施例提供的一种设备控制装置的结构示意图。
106.如图5所示，本实施例提供的设备控制装置可以包括：
107.获取模块501，用于获取电子设备的运行数据；
108.确定模块502，用于确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件；
109.调整模块503，用于若确定运行数据满足约束条件，通过预设调整规则对缺冷媒保护检测的操作过程进行调整。
110.可选的，所述运行数据为所述电子设备当前记录的上电次数；
111.所述确定模块具体用于：
112.判断所述上电次数是否小于或等于预设次数阈值；
113.若判断所述上电次数小于或等于所述预设次数阈值，确定所述运行数据满足所述约束条件；否则，确定所述运行数据不满足所述约束条件。
114.可选的，所述运行数据包括所述电子设备的连续运行时间；
115.所述确定模块具体用于：
116.判断所述连续运行时间是否小于或等于预设时间阈值；
117.若所述连续运行时间小于或等于所述预设时间阈值，确定所述运行数据满足所述约束条件；否则，确定所述运行数据不满足所述约束条件。
118.可选的，所述运行数据包括所述电子设备当前记录的上电次数以及所述电子设备的连续运行时间；
119.所述确定模块具体用于：
120.当确定所述上电次数小于或等于所述预设次数阈值，且确定所述连续运行时间小于所述预设时间阈值时，确定所述运行数据满足所述约束条件；
121.否则，确定所述运行数据不满足所述约束条件。
122.可选的，所述调整规则包括：
123.屏蔽所述缺冷媒检测操作；或者，增大缺冷媒判定阈值，其中，所述缺冷媒判定阈值为判定所述电子设备处于缺冷媒状态的次数阈值。
124.本发明实施提供的设备控制装置中各部件所执行的功能均已在图1至图4任一实施例中做了详细介绍，因此这里不再赘述。
125.本实施例中，获取模块首先获取电子设备的运行数据，然后确定模块确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，若确定运行数据满足该预设条件，调整模块则通过预设调整规则对缺冷媒保护检测的操作过程进行调整。基于此，本技术的技术方案可以根据电子设备的运行数据来确定是否对缺冷媒保护检测的操作过程进行调整，从而可以改变对于缺冷媒保护检测的操作过程，提高误触发缺冷媒保护操作的难度，从而起到在运行数据满足缺冷媒保护检测的约束条件的情况下，在一定程度上防止出现缺冷媒误保护的情况。
126.请参阅图6，图6是本技术的另一实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
127.如图6所示，本实施例提供的电子设备包括：至少一个处理器601、存储器602、至少
一个网络接口603和其他用户接口604。电子设备600中的各个组件通过总线系统605耦合在一起。可理解，总线系统605用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统605除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见，在图6中将各种总线都标为总线系统605。
128.其中，用户接口604可以包括显示器、键盘或者点击设备(例如，鼠标，轨迹球(trackball)、触感板或者触摸屏等。
129.可以理解，本发明实施例中的存储器602可以是易失性存储器或非易失性存储器，或可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(read
‑
only memory，rom)、可编程只读存储器(programmable rom，prom)、可擦除可编程只读存储器(erasable prom，eprom)、电可擦除可编程只读存储器(electrically eprom，eeprom)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(random access memory，ram)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的ram可用，例如静态随机存取存储器(static ram，sram)、动态随机存取存储器(dynamic ram，dram)、同步动态随机存取存储器(synchronous dram，sdram)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(double data rate sdram，ddrsdram)、增强型同步动态随机存取存储器(enhanced sdram，esdram)、同步连接动态随机存取存储器(synch link dram，sldram)和直接内存总线随机存取存储器(direct rambus ram，drram)。本文描述的存储器602旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
130.在一些实施方式中，存储器602存储了如下的元素，可执行单元或者数据结构，或者他们的子集，或者他们的扩展集：操作系统6021和第二应用程序6022。
131.其中，操作系统6021，包含各种系统程序，例如框架层、核心库层、驱动层等，用于实现各种基础业务以及处理基于硬件的任务。第二应用程序6022，包含各种第二应用程序，例如媒体播放器(media player)、浏览器(browser)等，用于实现各种应用业务。实现本发明实施例方法的程序可以包含在第二应用程序6022中。
132.在本发明实施例中，通过调用存储器602存储的程序或指令，具体的，可以是第二应用程序6022中存储的程序或指令，处理器601用于执行各方法实施例所提供的方法步骤，例如包括：
133.获取电子设备的运行数据；
134.确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件；
135.若确定运行数据满足约束条件，通过预设调整规则对缺冷媒保护检测的操作过程进行调整。
136.在一个可选的实施方式中，运行数据为电子设备当前记录的上电次数；
137.确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，包括：
138.判断上电次数是否小于或等于预设次数阈值；
139.若判断上电次数小于或等于预设次数阈值，确定运行数据满足约束条件；否则，确定运行数据不满足约束条件。
140.在一个可选的实施方式中，运行数据包括电子设备的连续运行时间；
141.确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，包括：
142.判断连续运行时间是否小于或等于预设时间阈值；
143.若连续运行时间小于或等于预设时间阈值，确定运行数据满足约束条件；否则，确定运行数据不满足约束条件。
144.在一个可选的实施方式中，运行数据包括电子设备当前记录的上电次数以及电子设备的连续运行时间；
145.确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，包括：
146.当确定上电次数小于或等于预设次数阈值，且确定连续运行时间小于预设时间阈值时，确定运行数据满足约束条件；
147.否则，确定运行数据不满足约束条件。
148.在一个可选的实施方式中，调整规则包括：
149.屏蔽缺冷媒检测操作；或者，增大缺冷媒判定阈值；
150.缺冷媒判定阈值为判定电子设备处于缺冷媒状态的次数阈值。
151.上述本发明实施例揭示的方法可以应用于处理器601中，或者由处理器601实现。处理器601可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器601中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器601可以是通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现成可编程门阵列(field programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件单元组合执行完成。软件单元可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器602，处理器601读取存储器602中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。
152.可以理解的是，本文描述的这些实施例可以用硬件、软件、固件、中间件、微码或其组合来实现。对于硬件实现，处理单元可以实现在一个或多个专用集成电路(application specific integrated circuits，asic)、数字信号处理器(digital signal processing，dsp)、数字信号处理设备(dsp device，dspd)、可编程逻辑设备(programmable logic device，pld)、现场可编程门阵列(field
‑
programmable gate array，fpga)、通用处理器、控制器、微控制器、微处理器、用于执行本技术功能的其它电子单元或其组合中。
153.对于软件实现，可通过执行本文功能的单元来实现本文的技术。软件代码可存储在存储器中并通过处理器执行。存储器可以在处理器中或在处理器外部实现。
154.本发明实施例还提供了一种存储介质(计算机可读存储介质)。这里的存储介质存储有一个或者多个程序。其中，存储介质可以包括易失性存储器，例如随机存取存储器；存储器也可以包括非易失性存储器，例如只读存储器、快闪存储器、硬盘或固态硬盘；存储器还可以包括上述种类的存储器的组合。
155.当存储介质中一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现上述在电子设备侧执行的设备控制方法。
156.处理器用于执行存储器中存储的设备控制程序，以实现以下在电子设备侧执行的设备控制方法的步骤：
157.方法应用于一种电子设备，方法包括：
158.获取电子设备的运行数据；
159.确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件；
160.若确定运行数据满足约束条件，通过预设调整规则对缺冷媒保护检测的操作过程进行调整。
161.在一个可选的实施方式中，运行数据为电子设备当前记录的上电次数；
162.确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，包括：
163.判断上电次数是否小于或等于预设次数阈值；
164.若判断上电次数小于或等于预设次数阈值，确定运行数据满足约束条件；否则，确定运行数据不满足约束条件。
165.在一个可选的实施方式中，运行数据包括电子设备的连续运行时间；
166.确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，包括：
167.判断连续运行时间是否小于或等于预设时间阈值；
168.若连续运行时间小于或等于预设时间阈值，确定运行数据满足约束条件；否则，确定运行数据不满足约束条件。
169.在一个可选的实施方式中，运行数据包括电子设备当前记录的上电次数以及电子设备的连续运行时间；
170.确定运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，包括：
171.当确定上电次数小于或等于预设次数阈值，且确定连续运行时间小于预设时间阈值时，确定运行数据满足约束条件；
172.否则，确定运行数据不满足约束条件。
173.在一个可选的实施方式中，调整规则包括：
174.屏蔽缺冷媒检测操作；或者，增大缺冷媒判定阈值；
175.缺冷媒判定阈值为判定电子设备处于缺冷媒状态的次数阈值。
176.关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。
177.可以理解的是，上述各实施例中相同或相似部分可以相互参考，在一些实施例中未详细说明的内容可以参见其他实施例中相同或相似的内容。
178.需要说明的是，在本技术的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是指至少两个。
179.流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本技术的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本技术的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
180.应当理解，本技术的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下
列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(pga)，现场可编程门阵列(fpga)等。
181.本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。
182.此外，在本技术各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
183.上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
184.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
185.尽管上面已经示出和描述了本技术的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本技术的限制，本领域的普通技术人员在本技术的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。