一种用于半导体原件的快速测试装夹机构的制作方法

1.本实用新型涉及半导体测试技术领域，特别涉及一种用于半导体原件的快速测试装夹机构。


背景技术：

2.在半导体的生产过程中，往往需要对加工生产后的半导体进行检测，这时就需要用到半导体测试装夹机构，在对半导体测试装置的使用过程中无法进行夹持，在现有的技术中：1、半导体夹持效果差，使半导体无法进行测试，从而降低工作效率，2、夹持装置无法更加精准的掌控夹持力度，从而使半导体原件在进行测试时，容易因夹持力度过大而造成损坏，从而提高使用成本消耗，从而造成了该用于半导体原件的快速测试装夹机构使用的局限性，故此，我们提出一种新型的用于半导体原件的快速测试装夹机构。


技术实现要素：

3.本实用新型的主要目的在于提供一种用于半导体原件的快速测试装夹机构，可以有效解决背景技术中的问题。
4.为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：
5.一种用于半导体原件的快速测试装夹机构，包括底座，所述底座下端四角均固定安装有支撑柱，四个所述支撑柱下端固定安装有固定块，所述底座上端四角均固定安装有支柱，四个所述支柱上端固定安装有固定板，所述底座上端左部和上端右部均固定安装有夹持装置，所述夹持装置上端中部设置有连接板，所述夹持装置上端左部和上端右部均开有滑槽，所述夹持装置上端前部设置有调节器，所述固定板上端左部和上端右部均固定安装有升降测试装置，所述升降测试装置贯穿固定板并向下延伸。
6.优选的，所述夹持装置包括固定座，所述固定座前端设置有立柱，所述立柱后端上部和后部下部均穿插连接有连接柱，所述连接柱后端中部穿插连接有调节栓，所述调节栓远离连接柱的一端活动套接有螺帽，所述固定座前端上部和前端下部均开有连接孔，所述固定座固定在底座上端左部和上端右部。
7.优选的，所述调节栓贯穿连接孔并向后延伸，所述螺帽和固定座后端面紧贴但不固定。
8.优选的，所述升降测试装置包括升降机，所述升降机下端固定连接有升降柱，所述升降柱下端活动连接有活动柱，所述活动柱下端固定连接有测试器，所述测试器内部下侧固定连接有若干个测试头，所述升降机固定在固定板上端左部。
9.优选的，所述升降测试装置设置为两个，且两个升降测试装置呈左右对称分布，两个所述测试器位于两个连接板正上方。
10.优选的，所述调节器包括调节板，所述调节板前端穿插连接有调节柱，所述调节柱外表后侧设置有缓冲弹簧，所述调节板下端左部和下端右部均固定连接有滑块，所述调节柱远离调节板的一端活动套接有螺母，所述调节板通过两个滑块滑动连接在固定座上端前
部。
11.与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：
12.1、本实用新型中，通过在整个装置上设置夹持装置和调节器，在使用时，通过立柱对两个连接柱进行连接，在将调节栓套接在连接柱后端，通过控制螺帽，使调节栓便于前后调节，在通过调节器的配合，，通过控制调节板前后移动，从而提高对半导体的夹持效果，可以避免半导体的损坏；
13.2、本实用新型中，通过设置升降测试装置，在使用时，通过升降机控制升降柱和活动柱，使测试器便于对半导体进行测试，测试器可以根据半导体的形状进行调节测试高度，同时可以提高测试效率。
附图说明
14.图1为本实用新型一种用于半导体原件的快速测试装夹机构的整体结构示意图；
15.图2为本实用新型一种用于半导体原件的快速测试装夹机构的夹持装置的整体结构示意图；
16.图3为本实用新型一种用于半导体原件的快速测试装夹机构的升降测试装置的整体结构示意图；
17.图4为本实用新型一种用于半导体原件的快速测试装夹机构的调节器的整体结构示意图。
18.图中：1、底座；2、支撑柱；3、支柱；4、固定板；5、夹持装置；6、升降测试装置；7、调节器；8、固定块；9、连接板；10、滑槽；51、固定座；52、立柱；53、连接柱；54、调节栓；55、螺帽；56、连接孔；61、升降机；62、升降柱；63、活动柱；64、测试器；65、测试头；71、调节板；72、调节柱；73、滑块；74、螺母；75、缓冲弹簧。
具体实施方式
19.为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。
20.在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
21.在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
22.如图1
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4所示，一种用于半导体原件的快速测试装夹机构，包括底座1，底座1下端四角均固定安装有支撑柱2，四个支撑柱2下端固定安装有固定块8，底座1上端四角均固定安装有支柱3，四个支柱3上端固定安装有固定板4，底座1上端左部和上端右部均固定安装
有夹持装置5，夹持装置5上端中部设置有连接板9，夹持装置5上端左部和上端右部均开有滑槽10，夹持装置5上端前部设置有调节器7，固定板4上端左部和上端右部均固定安装有升降测试装置6，升降测试装置6贯穿固定板4并向下延伸。
23.夹持装置5包括固定座51，固定座51前端设置有立柱52，立柱52后端上部和后部下部均穿插连接有连接柱53，连接柱53后端中部穿插连接有调节栓54，调节栓54远离连接柱53的一端活动套接有螺帽55，固定座51前端上部和前端下部均开有连接孔56，固定座51固定在底座1上端左部和上端右部；通过调节螺帽55使调节栓54进行运转，从而控制立柱52前后移动，从而达到夹持效果，调节栓54贯穿连接孔56并向后延伸，螺帽55和固定座51后端面紧贴但不固定；紧贴但不固定，可以增加灵活性，升降测试装置6包括升降机61，升降机61下端固定连接有升降柱62，升降柱62下端活动连接有活动柱63，活动柱63下端固定连接有测试器64，测试器64内部下侧固定连接有若干个测试头65，升降机61固定在固定板4上端左部；通过控制升降机61和升降柱62，使活动柱63便于上下调节，从而提高工作效率，升降测试装置6设置为两个，且两个升降测试装置6呈左右对称分布，两个测试器64位于两个连接板9正上方；通过若干个测试头65的作用下，可以提高测试效果，调节器7包括调节板71，调节板71前端穿插连接有调节柱72，调节柱72外表后侧设置有缓冲弹簧75，调节板71下端左部和下端右部均固定连接有滑块73，调节柱72远离调节板71的一端活动套接有螺母74，调节板71通过两个滑块73滑动连接在固定座51上端前部；通过控制调节柱72和调节板71，可以降低半导体的损坏。
24.需要说明的是，本实用新型为一种用于半导体原件的快速测试装夹机构，通过设置底座1和支撑柱2以及支柱3，可以增加整个结构的稳定性，在使用时，通过将半导体放置在连接板9上端，再由夹持装置5和调节器7的配合下，进行夹持，从而便于测试，由固定座51和立柱52以及连接柱53的连接下，将调节栓54套接在连接孔56内，在将螺帽55套接在调节栓54的后端，通过控制螺帽55使立柱52向后移动，在将调节器7穿插连接在立柱52后端上部，且调节柱72贯穿立柱52，由螺母74进行固定，后端穿插连接有调节板71，调节板71通过两个滑块73与滑槽10滑动连接，通过控制螺母74使调节板71便于前后调节，从而降低半导体的损坏，再由升降机61控制升降柱62和活动柱63，再由活动柱63控制测试器64上下调节，从而提高测试效果。
25.以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。