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一种基于PSH的设备联动方法与流程

2021-10-27 21:55:00 来源:中国专利 TAG:联动 方法 设备 面板 生产

技术特征:
1.一种基于psh的设备联动方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤100:psh检测设备检测计算彩膜基板的psh值,然后将计算出的psh值上报给控制系统;步骤200:液晶滴入设备对所述彩膜基板进行监测,当监测到所述彩膜基板时,向所述控制系统请求与所述彩膜基板对应的psh值;步骤300:所述液晶滴入设备对阵列基板进行监测,当监测到所述阵列基板时,形成所述彩膜基板与阵列基板之间一一对应的贴合关系,并将形成的贴合关系上报给所述控制系统;步骤400:所述控制系统根据上报的贴合关系以及请求的与所述彩膜基板对应的psh值,计算出所述阵列基板所需的液晶滴入量;步骤500:所述液晶滴入设备从所述控制系统处获取所述阵列基板所需的液晶滴入量,并根据获取的液晶滴入量在所述阵列基板上滴入对应的液晶量;步骤600:所述液晶滴入设备根据形成的贴合关系将已滴入液晶的阵列基板与对应的彩膜基板相对贴合。2.根据权利要求1所述的基于psh的设备联动方法,其特征在于,所述psh检测设备先在所述彩膜基板上选取至少两个检测点,然后检测出每个检测点的psh值,最终计算出所有检测点的psh值的平均值作为所述彩膜基板的psh值。3.根据权利要求1所述的基于psh的设备联动方法,其特征在于,所述彩膜基板包括大板玻璃,所述大板玻璃上阵列分布有m*n个独立的彩膜单元,其中m和n均为正整数且m大于n。4.根据权利要求3所述的基于psh的设备联动方法,其特征在于,所述psh检测设备先在所述彩膜基板的每个彩膜单元内分别选取至少两个检测点,然后检测出每个检测点的psh值,接着分别计算出每个彩膜单元内所有检测点的psh值的平均值作为该彩膜单元的psh值,最终计算出所有彩膜单元的psh值的平均值作为所述彩膜基板的psh值。5.根据权利要求1所述的基于psh的设备联动方法,其特征在于,所述控制系统包括缺陷文件系统dfs和生产执行制造系统mes;在步骤100中在向所述控制系统上报所述彩膜基板的psh值时,所述psh检测单元先向所述缺陷文件系统dfs上报所述彩膜基板的psh值和第一基板id,然后所述缺陷文件系统dfs再向所述生产执行制造系统mes上报所述彩膜基板的psh值和第一基板id。6.根据权利要求1所述的基于psh的设备联动方法,其特征在于,所述控制系统包括设备自动化系统eas和生产执行制造系统mes,所述生产执行制造系统mes中储存有与所述彩膜基板的第一基板id对应的psh值;在步骤200中向所述控制系统请求与所述彩膜基板对应的psh值时,所述液晶滴入设备先向所述设备自动化系统eas上报所述彩膜基板上的第一基板id以及请求指令,然后所述设备自动化系统eas再向所述生产执行制造系统mes上报所述彩膜基板上的第一基板id以及请求指令,最终所述生产执行制造系统mes根据上报的第一基板id找到对应的psh值后下发给所述设备自动化系统eas。7.根据权利要求6所述的基于psh的设备联动方法,其特征在于,若所述生产执行制造系统mes根据上报的第一基板id未找到对应的psh值的话,则计算出与该第一基板id同一批次的所有其他第一基板id对应的psh值的平均值作为该第一基板id对应的psh值后下发给
所述设备自动化系统eas。8.根据权利要求1所述的基于psh的设备联动方法,其特征在于,所述控制系统包括缺陷文件系统dfs和设备自动化系统eas;在步骤300中将形成的贴合关系上报给所述控制系统时,所述液晶滴入设备先向所述设备自动化系统eas上报对应贴合的所述彩膜基板的第一基板id和所述阵列基板的第二基板id,然后所述设备自动化系统eas再向所述缺陷文件系统dfs上报对应贴合的第一基板id和第二基板id、以及与所述第一基板id对应的psh值。9.根据权利要求1所述的基于psh的设备联动方法,其特征在于,所述控制系统包括缺陷文件系统dfs;在步骤400中,所述控制系统在计算出所述阵列基板所需的液晶滴入量时,所述缺陷文件系统dfs根据上报的对应贴合的所述彩膜基板的第一基板id和所述阵列基板的第二基板id、以及与所述第一基板id对应的psh值,计算出所述阵列基板所需的液晶滴入量,并生成文件储存至指定路径上。10.根据权利要求1所述的基于psh的设备联动方法,其特征在于,所述控制系统包括缺陷文件系统dfs,所述缺陷文件系统dfs的指定路径中储存有根据所述阵列基板所需的液晶滴入量生产的文件;在步骤500中,所述液晶滴入设备在缺陷文件系统dfs的指定路径中找到与所述阵列基板对应的文件,进而获取所述阵列基板所需的液晶滴入量。

技术总结
本发明公开了一种基于PSH的设备联动方法,包括PSH检测设备检测计算彩膜基板的PSH值,形成所述彩膜基板与阵列基板之间一一对应的贴合关系并上报,计算出所述阵列基板所需的液晶滴入量,在所述阵列基板上滴入对应的液晶量,将已滴入液晶的阵列基板与对应的彩膜基板相对贴合。该设备联动方法可实现液晶滴入工序的自动补偿,大大提高了生产效率、节约人力、提高产品良率。高产品良率。高产品良率。


技术研发人员:钟少龙 周斌 李正全 李杰 陈海雷 吕冠武 张曼
受保护的技术使用者:信利(仁寿)高端显示科技有限公司
技术研发日:2021.07.22
技术公布日:2021/10/26
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