多朗缪尔探针电离层电子密度快速探测方法及应用与流程

技术特征：
1.多朗缪尔探针电离层电子密度快速探测方法，其特征是，所述方法包括：将至少两个朗缪尔探针安置在电离层等离子体中，探针上施加的电压为在电子饱和区内不同值，根据探针上采集电流值、探针表面积和施加电压的差值就可以得到电子密度。2.如权利要求1所述的多朗缪尔探针电离层电子密度快速探测方法，其特征是，具体地，获得电子密度的计算公式如下：公式(4)中，n
e
表示等离子体电子密度，为常数，a为探针表面积，i
p
为探针上的一次采集电流值，v
p
为探针上施加的电压。3.如权利要求1所述的多朗缪尔探针电离层电子密度快速探测方法，其特征是，所述施加的电压值为高于等离子体空间电位的任意值。4.如权利要求3所述的多朗缪尔探针电离层电子密度快速探测方法，其特征是，施加电压(vb)应大于等离子体空间电位(vp)2v以上，即(vb>vp 2v)。5.如权利要求1所述的多朗缪尔探针电离层电子密度快速探测方法，其特征是，此方法针对速度呈麦克斯韦分布的等离子体。6.如权利要求5所述的多朗缪尔探针电离层电子密度快速探测方法，其特征是，等离子密度范围：107‑
10
15
m
‑3。7.如权利要求1所述的多朗缪尔探针电离层电子密度快速探测方法，其特征是，朗缪尔探针之间相距10个德拜长度以上。8.如权利要求1所述的多朗缪尔探针电离层电子密度快速探测方法，其特征是，所述探测方法，在电子系统采集频率为1khz的条件下，电子密度耗时1ms。9.一种等离子体监测方法，其特征是，所述监测方法包括权利要求1
‑
8任一所述的多朗缪尔探针电离层电子密度快速探测方法。10.权利要求1
‑
8任一所述的多朗缪尔探针电离层电子密度快速探测方法或权利要求9所述的等离子体监测方法在能源领域、材料化工领域、环保领域、国防军事领域中的应用。

技术总结
本公开涉及等离子体诊断技术领域，具体为多朗缪尔探针电离层电子密度快速探测方法及应用，所述方法包括：将至少两个朗缪尔探针安置在电离层等离子体中，探针上施加的电压为在电子饱和区内不同值，根据探针上采集电流值、探针表面积和施加电压的差值就可以得到电子密度。该方法不依赖于完整的I


技术研发人员：张清和 王进 杜清府 单作林 宿文耀 邢赞扬 周岩 李建泉
受保护的技术使用者：山东大学
技术研发日：2021.06.29
技术公布日：2021/10/8