轨道结构和芯片检测设备的制作方法

技术特征：
1.一种轨道结构，其特征在于，包括：底座，所述底座设有至少三条第一轨道，所有所述第一轨道均平行；第一滑块，所述第一滑块与所有所述第一轨道连接，且所述第一滑块沿着所述第一轨道移动，至少一条所述第一轨道位于两条所述第一轨道之间，所述第一滑块相对所述第一轨道的另一侧设有第二轨道；第二滑块，所述第二滑块能够沿着所述第二轨道移动。2.根据权利要求1所述的轨道结构，其特征在于，所述底座上包括四条所述第一轨道，所述第一轨道在所述底座的顶面上均匀分布。3.根据权利要求1所述的轨道结构，其特征在于，所述第一轨道和所述第二轨道相互垂直。4.根据权利要求1所述的轨道结构，其特征在于，还包括移动平台，所述移动平台与所述第二滑块相连接，所述移动平台相对所述底座的另一侧用于承载物料。5.根据权利要求1所述的轨道结构，其特征在于，所述第一轨道上设有第一移动区域，所述第一滑块上设有第一连接部，所述第一滑块通过所述第一连接部与所述第一轨道连接，所述第一连接部能够在所述第一移动区域移动，所述第一轨道上排除所述第一移动区域的其他位置上设有保护罩。6.根据权利要求5所述的轨道结构，其特征在于，所述第二轨道上设有第二移动区域，所述第二滑块上设有第二连接部，所述第二滑块通过所述第二连接部与所述第二轨道连接，所述第二连接部能够在所述第一移动区域移动，所述第二轨道上排除所述第二移动区域的其他位置上设有保护罩。7.根据权利要求5或6所述的轨道结构，其特征在于，所述保护罩为风琴罩。8.一种芯片检测设备，其特征在于，包括如权利要求1至7中任意一项所述的轨道结构。9.根据权利要求8所述的芯片检测设备，其特征在于，还包括探针，所述探针与所述底座相连接，所述第二滑块相对所述底座的另一侧用于承载芯片。10.根据权利要求9所述的芯片检测设备，其特征在于，还包括探针承载板，所述探针承载板与所述底座相连接，所述探针承载板用于承载探针。

技术总结
本实用新型公开了一种轨道结构和芯片检测设备。本实用新型的轨道结构包括底座、第一滑块和第二滑块，底座设有至少三条第一轨道，所有第一轨道均平行，第一滑块与所有第一轨道连接，且第一滑块沿着第一轨道移动，至少一条第一轨道位于两条第一轨道之间，第一滑块相对第一轨道的另一侧设有第二轨道，第二滑块沿着第二轨道移动。轨道结构能够降低位于第二滑块上的芯片在移动过程中发生移位的概率。本实用新型还公开了一种芯片检测设备。新型还公开了一种芯片检测设备。新型还公开了一种芯片检测设备。


技术研发人员：陈秋龙 阳香仁
受保护的技术使用者：深圳市盛世智能装备有限公司
技术研发日：2020.12.09
技术公布日：2021/10/23