检测LED故障状况的制作方法

检测led故障状况
技术领域
1.本公开涉及用于驱动和控制发光二极管的电路。


背景技术：

2.驱动器电路通常用于控制负载上的电压、电流或功率。例如，发光二极管(led)驱动器可以控制提供给发光二极管串的功率。在一些情况下，led驱动器电路可以接受包括输入电流和输入电压的输入信号，并传送包括输出电流和输出电压的输出信号。在一些这样的情况下，led驱动器电路可以调节输入信号和输出信号的至少一些方面，例如控制led驱动器电路发射的输出电流。在一些示例中，led驱动器电路可以控制相应led的光强度。


技术实现要素：

3.总体上，本公开涉及用于检测多个发光二极管(led)中的每个发光二极管是否存在一个或多个故障状况的一个或多个系统、装置和技术。例如，故障状况可以包括阻止控制器关断led的“亮故障”状况，、阻止控制器接通led的“暗故障”条件、led在接通时不能实现大于阈值水平的亮度的“弱光”状况。在一些情况下，处理电路装置可被配置为对多个led执行测试以便标识多个led中的一个或多个led，并且随后执行一个或多个动作以便校正、改变或消除这些故障。例如，处理电路装置可确定多个led中的一组led与亮故障状况相关联。对于处理电路装置来说，禁用与亮故障状况相关联的一组led可能是有益的，使得当控制器关断多个led时，该组led不继续发光。
4.在一些示例中，电路控制多个led。电路包括开关器件和处理电路装置，其中开关器件被电连接到多个led中的一个led，并且其中开关器件被配置为控制led是否从电源接收电信号。处理电路装置被配置为通过使用开关器件尝试阻止led从电源接收电信号来确定led与亮故障状况相关联；并且响应于检测到亮故障状况而禁用led。
5.在一些示例中，用于控制多个led的方法包括：控制多个led中的一个led是否从电源接收电信号；由处理电路装置，通过使用开关器件尝试阻止led从电源接收电信号，确定led与亮故障状况相关联，其中开关器件被电连接到led；以及响应于检测到亮故障状况，通过处理电路装置禁用该led。
6.在一些示例中，用于控制多个led的系统包括多个led、开关器件和处理电路装置，其中开关器件被电连接到多个led中的一个led，并且其中开关器件被配置为控制led是否从电源接收电信号。处理电路装置被配置为：通过使用开关器件尝试阻止led从电源的接收电信号，来确定led与亮故障状况相关联；并且响应于检测到亮故障状况而禁用led。
7.发明内容旨在提供本公开中描述的主题的概述。发明内容并不旨在提供在附图和以下描述中详细描述的系统、装置和方法的排他性或穷尽性解释。本公开的一个或多个示例的进一步细节在附图和下面的描述中阐述。其它特征、目的和优点将从说明书和附图以及权利要求书中显而易见。
附图说明
8.图1是示出根据本公开的一个或多个技术的用于检测多个led中的一个或多个故障状况的系统的框图。
9.图2a是示出根据本公开的一个或多个技术的用于测试一个或多个故障状况的系统的电路图。
10.图2b是示出根据本公开的一个或多个技术的包括对地短路连接的系统的电路图。
11.图2c是示出根据本公开的一个或多个技术的包括对电池短路连接的系统的电路图。
12.图2d是示出根据本公开的一个或多个技术的包括弱连接的系统的电路图。
13.图3a是示出根据本公开的一个或多个技术的用于测试led的一个或多个故障状况的系统的高侧配置的电路图。
14.图3b是示出根据本公开的一个或多个技术的用于测试led的一个或多个故障状况的另一系统的高侧配置的电路图。
15.图4a是示出根据本公开的一个或多个技术的用于检测由对地短路连接引起的亮故障状况的系统的电路图。
16.图4b是示出根据本公开的一个或多个技术的用于检测由对电池短路连接引起的亮故障状况的系统的电路图。
17.图4c是示出根据本公开的一个或多个技术的用于检测由关断连接引起的暗故障状况的系统的电路图。
18.图4d是示出根据本公开的一个或多个技术的用于检测由弱连接引起的弱光故障状况的系统的电路图。
19.图5是示出根据本公开的一个或多个技术的用于标识与亮故障状况相关联的一个或多个led的示例操作的流程图。
20.在整个描述和附图中，相同的参考标记表示相同的元件。
具体实施方式
21.一些照明系统可以控制一组开关器件，其中该组开关器件中的每个开关器件控制多个光二极管(led)中的相应led是否从电源接收电信号。在一些示例中，系统可以执行测试，以便标识多个led中的每个led是否与一个或多个故障状况相关联。在一些情况下，系统可以改变故障状况、校正故障状况或消除与多个led中的led相关联的故障状况。系统可以包括感测装置，感测装置被配置为检测与亮故障状况相关联的一组led，亮故障状况阻止一组led中的每个led关断。禁用与亮故障状况相关联的一组led对系统可能是有益的。例如，多个led可形成led矩阵，并且系统可尝试关断多个led中的每个led，使得多个led不发射任何可见光。由于在系统试图关断该组led之后，与亮故障状况相关联的该组led可以继续发光，因此系统可以禁用该组led以防止在系统尝试阻止led产生光的同时led继续产生光的情况。
22.在一些示例中，包括多个led的系统可呈现一个或多个技术问题。具体地，一个或多个单独的led可以表现出亮故障状况。这可能导致在包括多个led的矩阵中表现出亮故障状况的led作为光点出现，这是不理想的。本公开提供了示例性技术，该技术表示通过使用
电路来永久禁用显示亮故障状况的led来解决这些问题。在一些示例中，本公开的技术还可以解决一个或多个led的弱光故障问题和暗故障问题。为此，该技术可以永久禁用显示弱光故障状况的led并且永久禁用显示暗故障状况的led。该技术可以包括用于在系统处于高侧配置时永久禁用选择led的一个或多个技术，以及用于在系统处于低侧配置时永久禁用选择led的一个或多个技术。
23.图1是示出根据本公开的一个或多个技术的用于检测多个led 112中的一个或多个故障状况的系统100的框图。如图1所示，系统100包括处理电路装置102、第一电源104、电源开关106、led 112、节点114、第一组开关器件116、第二组开关器件122、第二电源124、第三组开关器件132和感测装置134。
24.在一些示例中，系统100表示用于控制led 112中的每个led以便控制led 112中的每个led是否从第一电源104接收电力的系统。此外，在一些示例中，系统100表示用于确定led 112中的每个led是否与一个或多个故障状况相关联的系统，该故障状况诸如亮故障状况、暗故障状况或弱光故障状况。即使当处理电路装置102试图关断与亮故障状况相关联的led时，这些led也可能发光，因此使得难以完全阻止led 112关断并停止产生光。因此，永久禁用与亮故障状况相关联的led可能是有益的。此外，在一些情况下，永久禁用与弱光故障状况相关联的led可能是有益的，因为这些led可能不能产生大于阈值光强度的光，并且从操作中移除这些led可能更好。
25.在一些示例中，处理电路装置102可以包括一个或多个处理器，处理器被配置为实现用于在系统100内执行的功能和/或处理指令。例如，处理电路装置102可能能够处理存储在存储器(图1中未示出)中的指令。处理电路装置102可以包括，例如，微处理器、数字信号处理器(dsp)、专用集成电路(asic)、现场可编程门阵列(fpga)、或等效的离散或集成逻辑电路、或前述器件或电路装置中的任意器件或电路装置的组合。因此，处理电路装置102可以包括任何合适的结构，无论是硬件、软件、固件或其任意组合，以执行本文赋予处理电路装置102的功能。
26.在一些示例中，与处理电路装置102通信的存储器包括计算机可读指令，当处理电路装置102执行这些指令时，使得系统100执行在此归属于系统100的各种功能。存储器可包括任何易失性、非易失性、磁、光或电介质，诸如随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、非易失性ram(nvram)、电可擦除可编程rom(eeprom)、闪存或任何其它数字介质。
27.第一电源104被配置为将操作电力传送到系统100的一个或多个部件。在一些示例中，第一电源104包括电池和发电电路以产生操作电力。在一些示例中，第一电源104是可充电的，以允许扩展操作。第一电源104可以包括多个不同电池类型中的任意一种或多种，例如镍镉电池和锂离子电池。在一些示例中，第一电源104的最大电压输出约为12v。在一些示例中，第一电源104提供从10瓦(w)到15w的范围内的电力。电源开关106可以表示控制从第一电源104到led 112的电流流动的开关，使得led 112发射光子(例如，光)。例如，当电源开关被关断(例如，打开)时，第一电源104不能向led 112提供电力，而当电源开关被接通(例如，闭合)时，第一电源104能够向led 112提供电力。
28.led 112可以包括任意合适的半导体光源。在一些示例中，led可以包括p
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n结，该p
‑
n结被配置为在被激活时发光。在一些示例中，led 112可被包括在用于汽车应用的前照灯总成中。例如，led 112可包括矩阵、串或一串以上的发光二极管以照亮交通工具前方的
路。如本文所使用的，交通工具可指摩托车、卡车、船、高尔夫球车、雪地摩托、重型机械或使用定向照明的任意类型的交通工具。
29.在一些情况下，电源开关106、第一组开关器件116、第二组开关器件122和第三组开关器件132(统称为“开关器件106、116、122、132”)的任意一者或其组合可以包括功率开关，例如但不限于任意类型的场效应晶体管(fet)，其包括金属氧化物半导体场效应晶体管(mosfet)、双极结晶体管(bjts)、绝缘栅双极晶体管(igbts)、结场效应晶体管(jfets)、高电子迁移率晶体管(hemts)、或使用电压或电流进行控制的其他元件的任意组合。此外，开关器件106、116、122、132可包括n型晶体管、p型晶体管和功率晶体管，或其任意组合。在一些示例中，开关器件106、116、122、132包括垂直晶体管、横向晶体管和/或水平晶体管。在一些示例中，开关器件106、116、122、132包括其它模拟器件，例如二极管和/或晶闸管。在一些示例中，开关器件106、116、122、132可以作为开关和/或作为模拟器件来操作。
30.在一些示例中，开关器件106、116、122、132中的每一个包括三个端子：两个负载端子和一个控制端子。对于mosfet开关，开关器件106、116、122、132中的每一个可以包括漏极端子、源极端子和至少一个栅极端子，其中控制端子是栅极端子。对于bjt开关，控制端子可以是基极端。基于相应控制端子处的电压，电流可以在开关器件106、116、122、132中的每一个的两个负载端子之间流动。因此，电流可以基于通过处理电路装置102传送到开关器件116的相应控制端子的控制信号，流过开关器件106、116、122、132。在一个示例中，如果施加到开关器件106、116、122、132中的一个或多个的控制端子的电压大于或等于电压阈值，则开关器件106、116、122、132中的一个或多个可导通，允许开关器件106、116、122、132中的一个或多个导电。此外，当施加到开关器件106、116、122、132中的一个或多个的相应控制端子的电压低于阈值电压时，开关器件106、116、122、132中的一个或多个可被停用，从而防止开关器件106、116、122、132中的一个或多个导电。处理电路装置102可被配置为单独地控制开关器件106、116、122、132，使得开关器件106、116、122、132中的一个、组合、全部在某一时间点接通，或者在某一时间点都不接通。
31.开关器件106、116、122、132可包括各种材料化合物，例如硅、碳化硅、氮化镓或一种或多种半导体材料的任意其它组合。在一些示例中，碳化硅开关可能经历较低的开关功率损耗。磁性的改进和更快的开关，例如氮化镓开关，可以允许开关器件106、116、122、132汲取短脉冲电流。与低频开关器件相比，这些高频开关器件可能需要以更精确的定时(timing，时序)发送控制信号(例如，由处理电路装置102传送到开关器件106、116、122、132的相应控制端子的电压信号)。
32.第一组开关器件116中的每个开关器件可以控制led 112中的相应led从第一电源104接收的电量。换句话说，led 112中的每个led可以电连接到开关器件116中的相应开关器件。当第一组开关器件116中的一个开关器件接通时，电流可从第一电源104流过与该开关器件对应的led 112中的一个led并且流过该开关器件本身，导致该led发射光子(例如，光)。当该开关器件被关断时，该开关器件可阻止电流流过led 112的相应led，从而阻止led发射光子。
33.节点114可以包括对应于led 112的每个led的一个节点。在一些示例中，节点114中的一个节点可以将led 112中的一个led与第一组开关器件116中的相应一个开关器件、第二组开关器件122中的相应一个开关器件以及第三组开关器件132中的相应一个开关器
件电连接。以这种方式，第一组开关器件116中的一个开关器件、第二组开关器件122中的一个开关器件和第三组开关器件132中的一个开关器件中的每一者可以被配置为接收来自led 112中的相应led的输出电信号的至少一部分。
34.在一些示例中，处理电路装置102被配置为通过使用第一组开关器件116中的相应开关器件尝试阻止led 112中的每个led从第一电源104接收电信号，来确定led 112中的一组led与亮故障状况相关联。例如，处理电路装置102可以关断第一组开关器件116中的每个开关器件。另外，在一些情况下，处理电路装置可以接通第三组开关器件132的每个开关器件。第三组开关器件132中的每个开关器件被配置为将led 112中的每个led与感测装置134电连接或电断开。
35.感测装置134包括电路装置，该电路装置被配置为检测流过与感测装置134电连接的led 112中的每个led的电信号。因此，当处理电路装置102接通所有第三组开关器件132并关断所有第一组开关器件116时，处理电路装置102可被配置为基于由感测装置134生成的感测信号，来确定流过每个led 112的电流的电平。处理电路装置102可被配置为基于感测信号来确定led 112中的一组led，当第一组开关器件116中的相应一个开关器件被关断时，该组led 112继续传导高于电流阈值的电流。处理电路装置102可将继续传导高于电流阈值的电流的这组led标识为与亮故障状况相关联。
36.在一些情况下，处理电路装置102可以禁用处理电路装置102确定为与亮故障状况相关联的该组led。在一些示例中，处理电路装置102通过控制第二组开关器件122来禁用与亮故障状况相关联的该组led。第二组开关器件122中的每个开关器件被配置为将led 112中的每个led与第二电源124电连接或电断开。在一些情况下，为了禁用处理电路装置102确定为与亮故障状况相关联的该组led，处理电路装置102可以接通第二组开关器件122的每个开关器件，该第二组开关器件122中的每个开关器件被电连接到处理电路装置102确定为与亮故障状况相关联的led 112中的led。这样，第二组开关器件122可以将第二电源124电连接到与亮故障状况相关联的该组led。
37.第二电源124可将电压施加到与亮故障状况相关联的该组led，以便永久禁用与亮故障状况相关联的该组led。在一些示例中，第二电源124可以施加电压，以便单独地(例如，一次一个)禁用该组led。在一些示例中，第二电源124可以施加电压以便同时禁用该组led中的每个led。在任何情况下，处理电路装置102可以通过永久地禁用与亮故障相关联的led以使得它们不能发射光子，从而将这些led转换为与暗故障相关联的led。
38.在一些示例中，处理电路装置102可以确定led 112中的一个或多个led与弱光故障状况相关联。例如，处理电路装置102可接通所有第一组开关器件116并接通所有第三组开关器件132并产生感测信号。随后，处理电路装置102可基于感测信号确定与弱光故障状况相关联的led 112的一组led。弱光故障状况可以表示led发出光但未发出与不与弱光故障状况相关联的一个或多个其它led一样多的光的状况。禁用与弱光故障状况相关联的led，使得led 112中被导通的每个led发射均匀水平的光，可能是有益的。处理电路装置102可以控制第二组开关器件122，以便禁用与弱光故障状况相关联的该组led。另外，或可替换地，处理电路装置102可以标识与暗故障状况相关联的一组led。
39.图1的系统可以表示“低侧”配置，其中led 112被放置在第一电源104和第一组开关器件116之间。“高侧”配置也是可能的，其中开关器件被放置在电源和一组led之间。
40.图2a是示出根据本公开的一个或多个技术的用于测试led 212a
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212n的一个或多个故障状况的系统200a的电路图。如图2a所示，系统200a包括处理电路装置202、第一电源204、电源开关206、led 212a
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212n(统称为“led 212”)、节点214a
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214n(统称为“节点214”)、第一组开关器件216a
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216n(统称为“开关器件216”)、内部元件218a
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218n(统称为“内部元件218”)、接地引脚219、强制引脚220、第二组开关器件222a
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222n(统称为“开关器件222”)、第二电源224、感测焊盘230、第三组开关器件232a
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232n(统称为“开关器件232”)和感测装置234。处理电路装置202可以是图1所示的处理电路装置102的示例。第一电源204可以是图1所示第一电源104的示例。电源开关206可以是图1所示电源开关106的示例。led 212可以是图1的led 112的示例。节点214可以是图1的节点114的示例。第一组开关器件216可以是图1的第一组开关器件116的示例。第二组开关器件222可以是图1的第二组开关器件122的示例。第二电源224可以是图1的第二电源124的示例。第三组开关器件232可以是图1的第三组开关器件132的示例。感测装置234可以是图1的感测装置134的示例。
41.开关器件116、开关器件222和开关器件232可形成开关矩阵，其控制led 112中的每个led是否从第一电源204接收电力，控制第二电源224是否向led 112中的每个led传递强制信号(force signal)，以及控制感测装置234是否从led 112中的每个led接收输出电信号。例如，节点214中的每个节点可将led 212中的一个led与开关器件216中的相应一个开关器件、开关器件222中的相应一个开关器件以及开关器件232中的相应一个开关器件电连接。节点214a电连接led 212a、开关器件216a、开关器件222a和开关器件232a。节点214b电连接led 212b、开关器件216b、开关器件222b和开关器件232b。节点214c电连接led 212c、开关器件216c、开关器件222c和开关器件232c。节点214n电连接led 212n、开关器件216n、开关器件222n和开关器件232n。
42.处理电路装置202可以测试led 212中的每个led，以便确定相应的led是否与亮故障状况相关联(例如，led在其本应被关断时发光)。例如，led 212b可与亮故障状况相关联。处理电路装置202可关关断关器件216b，该开关器件216b控制led 212b是否从第一电源204接收电流。在led 212b与亮故障状况相关联的一个或多个示例中，一个或多个短路连接(图2a中未示出)可导致电流流过led 212b，即使在开关器件216b被关断时，也会在处理电路装置202试图通过关断开关器件216b来阻止led 212b发光的同时导致led 212b发光。处理电路装置202可测试led 212b和led 212中的每个其他led以确定与亮故障状况相关联的一组led。
43.在一些示例中，为了测试led 212中的每个led的亮故障状况，处理电路装置202可以关断开关器件216中的每个开关器件，以便尝试阻止电流流过led 212流向接地引脚219。此外，在一些情况下，处理电路装置202可接通开关器件232n中的每个开关器件，允许感测装置234检测对应于led 212中的每个led的电信号。对应于led 212中的每个led的电信号可以指示流过led 212中的每个led的电流量。例如，对应于led 212中的每个led的电信号可以指示是否没有电流流过led 212中的每个相应led，并且对应于led 212中的每个led的电信号可以指示是否有至少一些电流流过led 212中的每个相应led。当开关器件232a至232n被接通并且开关器件216a
‑
216n关断时，感测装置234可将对应于led 212a至212n中的每个led的电信号输出到处理电路装置202，允许处理电路装置202确定流过led 212中的每个led的电流量。
44.处理电路装置202可确定led 212中的每个led(其中流过相应led的电流大于阈值量)与亮故障状况相关联。在某些示例中，电流量的阈值可能是零微安(μa)或非常接近于零μa(例如，小于1μa)。以这种方式，如果在开关器件216的相应开关器件被关断的同时流过led 212中的led的电流超过跟踪电平(trace level)，则处理电路装置202可确定led与亮故障状况相关联。在某些示例中，电流阈值量可能大于30μa。在某些示例中，电流阈值量可能大于100μa。在某些示例中，电流阈值量可能在15μa至150μa的范围内。以这种方式，在处理电路装置202确定led与亮故障状况相关联之前，必须有大量的电流流过led。
45.在一些示例中，处理电路装置可以测试led 212中的每个led，以便确定led是否在一个时间窗口期间与亮故障状况相关联。例如，感测装置234可以一次接收对应于led 212中的每个led的电信号。在一些示例中，处理电路装置可以以交错的间隔(例如，一次一个、一次两个或任意其它组合)测试led 212中的每个led的亮故障状况。例如，处理电路装置202可关断开关器件216a并接通开关器件232a，允许处理电路装置202测试led 212a的亮故障状况。随后，处理电路装置202可关断开关器件216b并导通开关器件232b，允许处理电路装置202测试led 212b的亮故障状况，然后处理电路装置202可关断开关器件216c并接通开关器件232c，允许处理电路装置202测试led 212c的亮故障状况，依此类推。
46.在一些示例中，通过永久地阻止与亮故障状况相关联的led发光，将与亮故障状况相关联的led转换成与暗故障状况相关联的led可能是有益的。这是因为在一些情况下，led 212可形成矩阵，有时处理电路装置202可尝试关断矩阵中的每个led。如果当处理电路装置202输出命令关断所有led时，一些led继续发光，则led矩阵可能看起来发射一些光点，这是不理想的。处理电路装置202可确定与亮故障状况相关联的led 212的一组led。在一些示例中，该组led可包括led 212b。随后，处理电路装置202可禁用与亮故障状况相关联的该组led中的每个led。
47.处理电路装置202可响应于确定led 212b与亮故障状况相关联而禁用led 212b。例如，处理电路装置202可接通开关器件222b，经由节点214b将第二电源224与led 212b电连接。进而，第二电源224可将强制电信号传送到led 212b的阴极。在一些示例中，如果传送到led 212中的led的阴极的强制电信号的一个或多个参数大于阈值参数值，则强制电信号可以禁用led。例如，强制电信号可以表示4v电信号。当施加到相应led的阴极时，该4v信号可使led禁用。
48.在一些示例中，处理电路装置可以执行一个或多个测试，以便确定led 112中的每个led是否与暗故障状况和/或弱光故障状况相关联。例如，为了测试led 212中的led(例如，led 212a)是否与暗故障状况相关联，处理电路装置202可接通开关器件216a，通过led 212a在第一电源204和接地引脚219之间建立连接。处理电路装置202可接通开关器件232a，使得感测装置234可检测指示流过led 212a的电流量的电信号。如果在开关器件216a接通时流过led 212a的电流小于阈值量，则处理电路装置202可确定led 212a与暗故障状况相关联。在某些示例中，电流阈值量可为零μa或非常接近于零μa(例如，小于1μa)。以这种方式，如果在开关器件216a接通时没有电流或几乎没有电流流过led 212a，则处理电路装置202可确定led 212a与暗故障状况相关联。
49.为了测试led 212中的led(例如，led 212c)是否与弱光故障状况相关联，处理电路装置202可接通开关器件216c，通过led 212c在第一电源204和接地引脚219之间建立连
接。处理电路装置202可接通开关器件232c，使得感测装置234可检测指示流过led 212c的电流量的电信号。当在开关器件216a接通的同时流过led 212c的电流量在从下限电流阈值到上限电流阈值的范围内时，处理电路装置202可确定led 212c与弱光故障状况相关联。在一些示例中，处理电路装置202可以禁用与弱光故障状况相关联的一个或多个led。
50.处理电路装置202可响应于确定led 212c与弱光故障状况相关联而禁用led 212c。例如，处理电路装置202可接通开关器件222c，经由节点214c将第二电源224与led 212c电连接。进而，第二电源24可将强制电信号传送到led 212c的阴极。在一些示例中，如果传送到led 212中的led的阴极的强制电信号的一个或多个参数大于阈值参数值，则强制电信号可以禁用led。例如，强制电信号可以表示4v电信号。当施加到相应led的阴极时，该4v信号可禁用led。
51.尽管led 212a被描述为与暗故障状况相关联，led 212b被描述为与亮故障状况相关联，led 212c被描述为与弱光故障状况相关联，但这不是必需的。led 212中的每个led可以与本文描述的故障状况中的任何一个或组合相关联，或者可以与本文描述的故障状况中的任何一个都不相关联。
52.图2b是示出根据本公开的一个或多个技术的包括对地短路连接237的系统200b的电路图。在一些示例中，系统200b可以与系统200a基本相同，除了led 212b连接到对地短路连接237，该对地短路连接237产生从第一电源204通过led 212b到地的路径。这样，当处理电路装置202关断开关器件216b时，处理电路装置202可通过led 212b关断第一电源204与接地引脚219之间的连接。然而，由于对地短路连接237产生通过led 212b到地的路径，因此led 212b可以在开关器件216b关断的同时继续发光。这样，led 212b可以与亮故障状况相关联。
53.在一些示例中，永久禁用led 212b以阻止led 212b在矩阵内的邻近led被关断时继续发光，可能是有益的。永久禁用led 212b可以解决在大部分被关断的led矩阵中具有光点的问题。在一些示例中，处理电路装置202可将电压输入引脚211设置为零伏(v)并且允许接地引脚219浮置。在一些示例中，处理电路装置202可以关断系统200b的内部防泄漏设置。处理电路装置202可使第二电源224将包括预定强制电压(例如，4v)的强制电信号传送到强制引脚220。此外，处理电路装置可确定led 212b与亮故障状况相关联，并接通开关器件222b，在强制引脚220和led 212b的阴极之间产生电连接。这样，强制引脚220将强制电压施加到led 212b的阴极，永久禁用(例如，破坏)led 212b，而不损坏led 212a和led 212c至212n。在一些示例中，强制电压可以被称为“反向击穿电压”。替代地或附加地，处理电路装置202可使接地引脚219接收包括强制电压的电信号，并将电压输入引脚211设置为0v。处理电路装置202可接通开关器件216b并关断开关器件216a和216c至216n，使得接地引脚219将强制电压传送到led 212b的阴极，而不会损坏led 212a和led 212c至212n。处理电路装置202可执行本公开的一个或多个技术以永久禁用处理电路装置202标识为与亮故障状况相关联的led 112中的一个led或组合。
54.图2c是示出了根据本公开的一个或多个技术的包括对电池短路连接238的系统200c的电路图。在一些示例中，系统200c可以与系统200a基本相同，除了对电池短路连接238产生从第一电源204围绕led 212a的电路径。这样，当处理电路装置202接通开关器件216a时，从第一电源204流经开关器件216a的电流的一部分可流经对电池短路连接238，并
且流经开关器件216a的电流的一部分可流经led 212a。这样，当处理电路装置202接通开关器件216a和开关器件216n时，led 212n可能发出比led 212a更多的光。这是因为在led 212n周围可能不存在对电池短路连接，并且流经开关器件216n的整个电流可能首先流过led 212n。因此，led 212a可与弱光故障状况相关联。
55.在一些示例中，响应于确定led 212a与弱光故障状况相关联而永久禁用led 212a可能是有益的。在一些示例中，处理电路装置202可将电压输入引脚211设置为零伏(v)并且允许接地引脚219浮置。在一些示例中，处理电路装置202可以关断系统200c的内部防泄漏设置。处理电路装置202可使第二电源224将包括预定强制电压(例如，4v)的强制电信号传送到强制引脚220。此外，处理电路装置202可接通开关器件222a，在强制引脚220和led 212a的阴极之间产生电连接。这样，强制引脚220将强制电压施加到led 212a的阴极，永久禁用(例如，破坏)led 212a，而不损坏led 212b至212n。在一些实施例中，强制电压可以被称为“反向击穿电压”。替代地或附加地，处理电路装置20可使接地引脚219接收包括强制电压的电信号，并将电压输入引脚211设置为0v。处理电路装置202可接通开关器件216a并关断开关器件216b至216n，使得接地引脚219将强制电压传送到led 212a的阴极，而不会损坏led 212b至212n。处理电路装置202可执行本公开的一个或多个技术以永久禁用处理电路装置202标识为与弱光故障状况相关联的led 112中的一个led或组合。
56.图2d是示出根据本公开的一个或多个技术的包括弱连接239的系统200d的电路图。在一些示例中，系统200d可以与系统200a基本相同，除了与led 212中的一个或多个其他led相比，弱连接239导致通过led 212c的电阻增加。这样，当处理电路装置202接通开关器件216时，与led 212中的一个或多个其它led相比，流过led 212c的电流可能更少，因为通过led 212c的路径包括比通过一个或多个其它led的路径更大的电阻。因此，led 212c可与弱光故障状况相关联。
57.在一些示例中，响应于确定led 212c与弱光故障状况相关联而永久禁用led 212c可能是有益的。为了禁用led 212c，处理电路装置202可以关断电源开关206。在一些示例中，处理电路装置202可以关断系统200d的内部防泄漏设置。另外，处理电路装置202可以从电流源模式切换到类似系统200d的电阻的模式。换句话说，处理电路装置202可以基于通过led 212中的每个相应led的路径的电阻来禁用led 212c。在一些示例中，处理电路装置202可以接通led 212a并且增加通过led 212a的电流。例如，处理电路装置202可向输入引脚211施加强制电流，从而永久禁用led 212a。
58.图3a是示出根据本公开的一个或多个技术的用于测试led的一个或多个故障状况的系统300a的高侧配置的电路图。系统300a包括led 342a至342n(统称为“led 342”)、led 344a至344n(统称为“led 344”)、led 346a至346n(统称为“led 346”)、开关器件352a至352n(统称为“开关器件352”)、开关器件354a至354n(统称为“开关器件354”)、开关器件356a至356n(统称为“开关器件356”)、第一电源357、输入引脚358a至358c(统称为“输入引脚358”)、强制引脚360、第二电源362、接地引脚364、第三电源366、开关器件368和对地短路连接370。
59.系统300b可以表示高侧配置，其中开关器件352、开关器件354和开关器件356(统称为“开关器件352、354、356”)位于led 342、led 344和led 346(统称为“led 342、344、346)与第一电源357之间。在一些示例中，处理电路装置(图3a中未示出)可确定led 342、
344、346中的每个led是否与一个或多个故障状况相关联。例如，处理电路装置可确定led 342与弱光故障状况相关联。例如，处理电路装置可基于由感测装置(图3a中未示出)接收的一个或多个信号来确定流过led 342a的电流由于对地短路连接370而小于电流阈值。进而，处理电路装置可永久禁用led 342a。
60.为了永久禁用led342a，处理电路装置可使用第三电源366将接地引脚364处的电压设置为预定电压值，并允许输入引脚358处的电压浮置。处理电路装置可以关断系统300a的内部防泄漏设置。在一些示例中，处理电路装置可使第二电源362在强制引脚360处施加0v的电压。响应于确定led 342a与弱光故障相关联，处理电路装置可接通开关器件368，从而通过led 342a将接地引脚364与强制引脚360电连接。接地引脚364和强制引脚360之间的强制差可永久禁用led342a，而不损坏led 342、344、346中的其他led。或者，在一些示例中，处理电路装置可向输入引脚358施加0v的电压，并且接通开关器件352，从而在输入引脚358a和接地引脚364之间产生电连接。进而，输入引脚358a和接地引脚364之间的电压差可永久禁用led 342a。
61.系统300a可以包括开关矩阵，该开关矩阵包括第一组开关器件352、354、356；第二组开关器件，该第二组开关器件中的每个开关器件将led 342、344、346中的相应led与第二电源362连接；以及第三组开关器件，每个将led 342、344、346中的相应led与感测装置(图3a中未示出)连接。同样地，开关器件368可以是第二组开关器件之一。第三组开关器件和感测装置可确定流过led 342、344、346中的每一个的电流量。第二组开关器件、第二电源362和第三电源366可允许处理电路装置禁用led 342、344、346中的任何一个或多个。
62.图3b是示出根据本公开的一个或多个技术的用于测试led的一个或多个故障状况的另一个系统300b的高侧配置的电路图。系统300b可以基本上类似于图3a所示的系统300a，除了系统300b包括对电池短路连接372，该对电池短路连接372产生从输入管脚358a围绕开关器件352a的路径。这样，当处理电路装置(图3b中未示出)关断开关器件352a时，电流可通过对电池短路连接372绕开开关器件352a流动，从而在开关器件352a关断时导致led 342a继续发光。这样，开关器件352a可以与亮故障状况相关联。响应于确定led 342a与亮故障状况相关联而永久禁用led 342a可能是有益的。处理电路装置可应用本文所述的一种或多种技术来永久禁用led 342a。
63.图4a是示出根据本公开的一个或多个技术的用于检测由对地短路连接437引起的亮故障状况的系统400a的电路图。系统400a包括第一电源404、输入引脚411、led 412a至412n(统称为“led 412”)、开关器件416a至416n(统称为“开关器件416”)、内部元件418a至418n(统称为“内部元件418”)、接地引脚419、强制引脚420、开关器件422a至422n(统称为“开关器件422”)、第二电源424、感测引脚430、开关器件432a至432n(统称为“开关器件432”)和感测装置434。
64.在一些示例中，为了检测与亮故障状况相关联的led 412中的一个或多个led，处理电路装置(图4a中未示出)被配置为关断开关器件416中的每个开关器件。随后，处理电路装置可选择要在其中测试亮故障状况的led。例如，当处理电路装置选择led 412a时，处理电路装置可接通开关器件432a，使得led 412a和感测引脚430电连接。这样，感测装置434可检测从led 412a输出的电流量或电压量。如果从led 412a输出的电流量和/或电压量为零或接近零，则处理电路装置可确定led 412a与亮故障状况相关联。如果从led 412a输出的
电压与输入引脚411处的电压匹配，则处理电路装置可确定led 412a与亮故障状况不相关联。第二电源424可响应于确定led 412a与亮故障状况相关联而施加强制电压以永久禁用led412a。在一些示例中，输入引脚411被设置为预定电压(例如，5v)。在某些示例中，流过与故障状况无关的led的电流量范围为从30μa至70μa(如50μa)。
65.图4b是示出根据本公开的一个或多个技术的用于检测由对电池短路连接438引起的亮故障状况的系统400b的电路图。系统400b可以基本上类似于图4a所示的系统400a，除了系统400b包括对电池短路连接438，导致led 412a与弱光故障状况相关联。处理电路装置(图4b中未示出)可基于感测装置434检测到的一个或多个感测信号来确定led 412a与弱光故障状况相关联。在一些示例中，第二电源424可导致强制电流流过led 412a和强制引脚420，从而永久禁用led 412a。在某些情况下，强制电流可在从50μa至150μa(例如100μa)的范围内。
66.图4c是示出根据本公开的一个或多个技术的用于检测由关断连接441引起的暗故障状况的系统400c的电路图。系统400c可以基本上类似于图4a所示的系统400a，除了系统400c包括开路连接441，导致led 412a与暗故障状况相关联。处理电路装置(图4c中未示出)可基于由感测装置434检测到的一个或多个感测信号来确定led 412a与暗故障状况相关联。在一些示例中，第二电源424可导致强制电流流过led 412a和强制引脚420，从而永久禁用led412a。在某些情况下，强制电流可能在从10μa至50μa(如20μa)的范围内。在一些示例中，系统400c的强制电流可能低于50μa的防泄漏电流。
67.图4d是示出根据本公开的一个或多个技术的用于检测由弱连接439引起的弱光故障状况的系统400d的电路图。系统400d可以基本上类似于图4a所示的系统400a，除了系统400d包括弱连接449，导致led 412a与弱光故障状况相关联。处理电路装置(图4d中未示出)可基于感测装置434检测到的一个或多个感测信号来确定led412a与弱光故障状况相关联。在一些示例中，第二电源424可导致强制电流流过led 412a和强制引脚420，从而永久禁用led 412a。在某些情况下，强制电流可能在10μa至50μa(如20μa)的范围内。在一些示例中，系统400d的强制电流可低于50μa的防泄漏电流。
68.图5是示出根据本公开一个或多个技术的用于标识与亮故障状况相关联的一个或多个led的示例操作的流程图。参照图1的系统100来描述图5。然而，图5的技术可以由系统100的不同部件或由附加的或替代的系统来执行。
69.处理电路装置102可以控制led 112中的led是否从第一电源104接收电信号(502)。例如，处理电路装置102可以关断开关器件116的一个开关器件，关断第一电源104与地之间的连接。处理电路装置102可以通过尝试阻止led从第一电源104接收电信号来确定led与亮故障状况相关联(504)。例如，通过关断对应于led的开关器件116中的一个开关器件，处理电路装置102可以试图阻止led发光。随后，处理电路装置响应于检测到亮故障状况而禁用led(506)。在一些示例中，处理电路装置102通过使用第二电源124向led的阴极施加强制电压来禁用led。
70.以下编号的示例示出了本公开的一个或多个方面。
71.示例1.一种用于控制多个led的电路，电路包括：开关器件，其中开关器件被电连接到多个led中的一个led，并且其中开关器件被配置为控制led是否从电源接收电信号；以及处理电路装置，被配置为：通过使用开关器件试图阻止led从电源接收电信号，来确定led
与亮故障状况相关联；并且响应于检测到亮故障状况而禁用led。
72.示例2.如示例1的电路，其中开关器件是一组开关器件中的开关器件，其中该组开关器件中的每个开关器件被电连接到多个led中的相应led，并且其中处理电路装置还被配置为：通过使用该组开关器件中的相应开关器件来尝试阻止led从电源接收电信号，来确定多个led中的至少一个其它led与亮故障状况相关联；以及响应于检测到亮故障状况而禁用至少一个其它led。
73.示例3.如示例1
‑
2或其任意组合的电路，其中电源是第一电源，其中电信号是第一电信号，其中电路还包括节点，节点被配置为从第二电源接收第二电信号，并且其中为了禁用led，处理电路装置被配置为使得节点将第二电信号传送到led，以便永久地防止led发射光子。
74.示例4.如示例1
‑
3或其任意组合的电路，其中开关器件是第一开关器件，其中电路还包括电连接到led的第二开关器件，并且其中为了使节点将第二电信号传送到led，处理电路装置被配置为接通第二开关器件，使得第二电源经由节点将第二电信号传送到led。
75.示例5.如示例1
‑
4或其任意组合的电路，其中led的阴极被电连接到第一开关器件，其中led的阴极被电连接到第二开关器件，并且其中为了使节点向led传送第二电信号，处理电路装置被配置为使节点向led的阴极传送第二电信号，其中第二电信号包括在从led的安全操作电压和led的击穿电压的范围内的电压。
76.示例6.如示例1
‑
5或其任意组合的电路，其中led的阳极被电连接到第一开关器件，其中led的阳极被电连接到第二开关器件，并且其中为了使节点向led传送第二电信号，处理电路装置被配置为使节点向led的阳极传送第二电信号，其中第二电信号包括0v的电压。
77.示例7.如示例1
‑
6或其任意组合的电路，其中节点是第一节点，并且其中电路还包括：第二节点；以及电连接到led的第三开关器件，并且其中，为了确定led与亮故障状况相关联，处理电路装置被配置为：关断第一开关器件；接通第三开关器件，以便将第三电信号从led传送到第二节点；从电连接到第二节点的感测装置接收感测信号，感测信号标识led在第一开关器件关断时导电；以及基于感测信号确定led与亮故障状况相关联。
78.示例8.如示例1
‑
7或其任意组合的电路，其中led是第一led，并且其中处理电路装置还被配置为确定多个led中的第二led与暗故障状况相关联。
79.示例9.如示例1
‑
8或其任意组合的电路，其中处理电路装置还被配置为：确定多个led中的第三led与弱光故障状况相关联；以及响应于检测到弱光故障状况而禁用第三led。
80.示例10.如示例1
‑
9或其任意组合的电路，其中为了确定第三led与弱光故障状况相关联，处理电路装置被配置为：标识对应于第三led的输出电压值；确定第三led对应的输出电压值是否小于阈值输出电压值；以及基于第三led的输出电压值小于阈值输出电压值来确定第三led与弱光故障状况相关联。
81.示例11.一种用于控制多个led的方法，方法包括：控制多个led中的一个led是否从电源接收电信号；由处理电路装置，通过使用开关器件尝试阻止led从电源接收电信号，确定led与亮故障状况相关联，其中开关器件被电连接到led；以及由处理电路装置响应于检测到亮故障状况而禁用led。
82.示例12.如示例11的方法，其中开关器件是一组开关器件中的开关器件，其中该组
开关器件中的每个开关器件被电连接到多个led中的相应led，且其中方法还包括：通过使用该组开关器件中的相应开关器件来尝试阻止led从电源接收电信号，确定多个led中的至少一个其它led与亮故障状况相关联；以及响应于检测到亮故障状况而禁用至少一个其它led。
83.示例13.如示例11
‑
12或其任意组合的方法，其中电源是第一电源，其中电信号是第一电信号，该方法还包括：由节点从第二电源接收第二电信号，并且其中禁用led包括：使节点向所述led传送第二电信号，以便永久地阻止led发射光子。
84.示例14.如示例11
‑
13或其任意组合的方法，其中开关器件是第一开关器件，其中第二开关器件电连接到led，并且其中使节点向led传送第二电信号包括：由处理电路装置接通第二开关器件，使第二电源经由节点向led传送第二电信号。
85.示例15.如示例11
‑
14或其任意组合的方法，其中led的阴极被电连接到第一开关器件，其中led的阴极被电连接到第二开关器件，并且其中使节点向led传送第二电信号包括使节点向led的阴极传送第二电信号，其中第二电信号包括在从led的安全操作电压和led的击穿电压的范围内的电压。
86.示例16.如示例11
‑
15或其任意组合的方法，其中led的阳极被电连接到第一开关器件，其中led的阳极被电连接到第二开关器件，并且其中使节点向led传送第二电信号包括使节点向led的阳极传送第二电信号，其中第二电信号包括0v的电压。
87.示例17.如示例11
‑
16或其任意组合的方法，其中确定led与亮故障状况相关联包括：关断第一开关器件；接通第三开关器件，以便将第三电信号从led传送到第二节点，其中第三开关器件被电连接到led；从电连接到第二节点的感测装置接收感测信号，感测信号标识led在第一开关器件关断时导电；以及基于感测信号确定led与亮故障状况相关联。
88.示例18.如示例11
‑
17或其任意组合的方法，其中led是第一led，并且其中方法还包括通过处理电路装置确定多个led中的第二led与暗故障状况相关联。
89.示例19.如示例11
‑
18或其任意组合的方法，还包括：由处理电路装置确定多个led中的第三led与弱光故障状况相关联；以及响应于检测到弱光故障状况而禁用第三led。
90.示例20.一种用于控制多个led的系统，电路包括：多个led；开关器件，其中开关器件被电连接到多个led中的一个led，并且其中开关器件被配置为控制led是否从电源接收电信号；以及处理电路装置，被配置为：通过使用开关器件试图阻止led从电源接收电信号，来确定led与亮故障状况相关联；并且响应于检测到亮故障状况而禁用led。
91.已经描述了本公开的各种示例。这些和其它示例在所附权利要求书的范围内。