用于促进多种测试模式的测试访问端口架构的制作方法

技术特征：
1.一种存储器子系统控制器，其包括：一组引脚；测试模式寄存器，所述测试模式寄存器用于存储寄存器命令，所述寄存器命令用于将所述存储器子系统控制器从第一测试模式切换到第二测试模式；以及测试访问端口控制器，所述测试访问端口控制器用于执行包括以下的操作：启动所述第一测试模式，所述启动所述第一测试模式包括根据第一引脚协议配置所述一组引脚，所述根据所述第一引脚协议配置所述一组引脚包括：分配第一引脚接收第一测试模式数据，所述第一测试模式数据是基于与所述第一测试模式相对应的第一协定生成的；以及分配第二引脚输出第一测试结果数据，所述第一测试结果数据是通过将所述第一测试模式数据应用于所述存储器子系统控制器而产生的；检测存储在所述测试模式寄存器中的所述寄存器命令；以及基于检测到所述寄存器命令，启动所述第二测试模式，所述启动所述第二测试模式包括根据第二引脚协议重新配置所述一组引脚，所述根据所述第二引脚协议重新配置所述一组引脚包括：重新分配所述第一引脚接收第二测试模式数据，所述第二测试模式数据是基于与所述第二测试模式相对应的第二协定生成的；以及重新分配所述第二引脚输出第二测试结果数据，所述第二测试结果数据是通过将所述第二测试模式数据应用于所述存储器子系统控制器而产生的。2.根据权利要求1所述的存储器子系统控制器，其中：所述第一测试模式是联合测试行动组(jtag)模式，所述jtag模式使得能够基于jtag测试向量对所述存储器子系统控制器进行测试；所述第一测试模式数据是基于所述jtag测试向量生成的；所述第二测试模式是扫描模式，所述扫描模式促进基于自动测试模式生成(atpg)测试向量对所述存储器子系统控制器进行测试；并且所述第二测试模式数据是基于所述atpg测试向量生成的。3.根据权利要求2所述的存储器子系统控制器，其中所述根据所述第一引脚协议配置所述一组引脚进一步包括：分配第三引脚作为测试模式选择引脚接收测试模式选择信号；分配第四引脚作为测试复位引脚接收测试复位信号；以及分配第五引脚作为测试时钟引脚接收测试时钟信号。4.根据权利要求3所述的存储器子系统控制器，其中所述根据所述第二引脚协议重新配置所述一组引脚进一步包括：重新分配所述第三引脚作为扫描启用引脚接收扫描启用信号；重新分配所述第四引脚作为扫描复位引脚接收扫描复位信号；以及重新分配所述第五引脚作为扫描时钟引脚接收扫描时钟信号。5.根据权利要求1所述的存储器子系统控制器，其中所述测试访问端口控制器被进一步配置成执行包括以下的操作：检测所述存储器子系统控制器处的电力循环；以及
基于所述存储器子系统控制器处的所述电力循环恢复到所述第一测试模式，所述恢复到所述第一测试模式包括根据所述第一引脚协议配置所述一组引脚。6.根据权利要求5所述的存储器子系统控制器，其中所述操作进一步包括：当处于所述第一测试模式时，检测所述一组引脚中的第三引脚上断言的测试模式选择信号；以及基于检测到所述一组引脚中的所述第三引脚上断言的所述测试模式选择信号来启动第三测试模式，所述启动所述第三测试模式包括根据第三引脚协议重新配置所述一组引脚。7.根据权利要求6所述的存储器子系统控制器，其中所述根据所述第三引脚协议重新配置所述一组引脚包括：将所述一组引脚中的所述第三引脚的引脚分配从测试模式选择引脚改变为边界扫描模式引脚。8.根据权利要求6所述的存储器子系统控制器，其中所述第三测试模式是边界扫描模式。9.根据权利要求1所述的存储器子系统控制器，其进一步包括扫描输入寄存器，所述扫描输入寄存器用于存储所述第二测试模式数据，所述第二测试模式数据包括位串，所述第二测试模式被串行扫描到所述扫描输入寄存器中；串行
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并行转换器，所述串行
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并行转换器用于对所述位串执行串行
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并行转换，以将一或多个位加载到一组扫描链中的每个扫描链中；扫描输出寄存器，所述扫描输出寄存器用于存储从所述一组扫描链中移出的测试响应；以及并行
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串行转换器，所述并行
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串行转换器用于对所述测试响应执行并行
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串行转换，以生成所述第二测试结果数据。10.根据权利要求1所述的存储器子系统控制器，其中：所述第一引脚：当处于所述第一测试模式时，接收所述第一测试模式数据；并且当处于所述第二测试模式时，接收所述第二测试模式数据；并且所述第二引脚：当处于所述第一测试模式时，输出所述第一测试结果数据；并且当处于所述第二测试模式时，输出所述第二测试结果数据。11.一种方法，其包括：在包括一组引脚的存储器子系统控制器处启动第一测试模式，所述启动所述第一测试模式包括根据第一引脚协议配置所述一组引脚，所述根据所述第一引脚协议配置所述一组引脚包括：分配第一引脚接收第一测试模式数据，所述第一测试模式数据是基于与所述第一测试模式相对应的第一协定生成的；以及分配第二引脚输出第一测试结果数据，所述第一测试结果数据是通过将所述第一测试模式数据应用于所述存储器子系统控制器而产生的；检测存储在与所述存储器子系统控制器相关联的测试模式寄存器中的寄存器命令；以
及基于检测到所述寄存器命令，在所述存储器子系统控制器处启动第二测试模式，所述启动所述第二测试模式包括根据第二引脚协议重新配置所述一组引脚，所述根据所述第二引脚协议重新配置所述一组引脚包括：重新分配所述第一引脚接收第二测试模式数据，所述第二测试模式数据是基于与所述第二测试模式相对应的第二协定生成的；以及重新分配所述第二引脚输出第二测试结果数据，所述第二测试结果数据是通过将所述第二测试模式数据应用于所述存储器子系统控制器而产生的。12.根据权利要求11所述的方法，其进一步包括：当处于所述第一测试模式时，在所述第一引脚处接收所述第一测试模式数据，所述第一测试模式数据是基于与所述第一测试模式相对应的第一协定生成的；当处于所述第一测试模式时，在所述第二引脚处输出第一测试结果数据，所述第一测试结果数据是通过将所述第一测试模式数据应用于所述存储器子系统控制器而产生的；当处于所述第二测试模式时，在所述第一引脚处接收所述第二测试模式数据，所述第二测试模式数据是基于与所述第二测试模式相对应的第二协定生成的；以及当处于所述第二测试模式时，在所述第二引脚处输出所述第二测试结果数据，所述第二测试结果数据是通过将所述第二测试模式数据应用于所述存储器子系统控制器而产生的。13.根据权利要求11所述的方法，其中所述第一测试模式是联合测试行动组(jtag)模式，所述jtag模式使得能够基于jtag测试向量对所述存储器子系统控制器进行测试；所述第一测试模式数据是基于jtag测试向量生成的；所述第二测试模式是扫描模式，所述扫描模式促进基于自动测试模式生成(atpg)测试向量对所述存储器子系统控制器进行测试；并且所述第二测试模式数据是基于atpg测试向量生成的。14.根据权利要求13所述的方法，其中：所述根据所述第一引脚协议配置所述一组引脚进一步包括：分配第三引脚作为测试模式选择引脚接收测试模式选择信号；分配第四引脚作为测试复位引脚接收测试复位信号；分配第五引脚作为测试时钟引脚接收测试时钟信号；并且所述根据所述第二引脚协议重新配置所述一组引脚进一步包括：重新分配所述第三引脚作为扫描启用引脚接收扫描启用信号；重新分配所述第四引脚作为扫描复位引脚接收扫描复位信号；以及重新分配所述第五引脚作为扫描时钟引脚接收扫描时钟信号。15.根据权利要求11所述的方法，其进一步包括：检测所述存储器子系统控制器处的电力循环；以及基于所述存储器子系统控制器处的所述电力循环恢复到所述第一测试模式，所述恢复到所述第一测试模式包括根据所述第一引脚协议配置所述一组引脚。16.根据权利要求15所述的方法，其中所述操作进一步包括：
当处于所述第一测试模式时，检测所述一组引脚中的第三引脚上断言的测试模式选择信号；以及基于检测到所述一组引脚中的所述第三引脚上断言的所述测试模式选择信号来启动第三测试模式，所述启动所述第三测试模式包括根据第三引脚协议重新配置所述一组引脚。17.根据权利要求16所述的方法，其中所述根据所述第三引脚协议重新配置所述一组引脚包括：将所述一组引脚中的所述第三引脚的引脚分配从测试模式选择引脚改变为边界扫描模式引脚。18.根据权利要求16所述的方法，其中所述第三测试模式是边界扫描模式，所述边界扫描模式使得能够对所述存储器子系统控制器进行基于边界扫描的测试。19.根据权利要求11所述的方法，其进一步包括：将与所述第二测试模式数据相对应的位串串行扫描到扫描输入寄存器中；对所述位串执行串行
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并行转换，以将一或多个位加载到一组扫描链中的每个扫描链中；将测试响应移出所述一组扫描链；以及对所述测试响应执行并行
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串行转换以生成所述第二测试结果数据。20.一种系统，其包括：存储器组件；以及处理装置，所述处理装置操作性地耦接到所述存储器组件，所述处理装置被配置成执行包括以下的操作：在包括一组引脚的存储器子系统控制器处启动第一测试模式，所述启动所述第一测试模式包括根据第一引脚协议配置所述一组引脚；当处于所述第一测试模式时，在第一引脚处接收第一测试模式数据，所述第一测试模式数据是基于与所述第一测试模式相对应的第一协定生成的；当处于所述第一测试模式时，在第二引脚处输出第一测试结果数据，所述第一测试结果数据是通过将所述第一测试模式数据应用于所述存储器子系统控制器而产生的；检测存储在与所述存储器子系统控制器相关联的测试模式寄存器中的寄存器命令；基于检测到所述寄存器命令，在所述存储器子系统控制器处启动第二测试模式，所述启动所述第二测试模式包括根据第二引脚协议重新配置所述一组引脚；当处于所述第二测试模式时，在所述第一引脚处接收第二测试模式数据，所述第二测试模式数据是基于与所述第二测试模式相对应的第二协定生成的；以及当处于所述第二测试模式时，在所述第二引脚处输出第二测试结果数据，所述第二测试结果数据是通过将所述第二测试模式数据应用于所述存储器子系统控制器而产生的。

技术总结
一种系统包括测试模式寄存器、一组引脚和测试访问端口控制器。所述测试访问端口控制器通过根据第一引脚协议配置所述一组引脚来启动第一测试模式。所述测试访问端口控制器将第一引脚配置成接收基于第一协定的第一测试模式数据，并且将第二引脚配置成输出基于所述第一测试模式数据的第一测试结果数据。基于检测到存储在所述测试模式寄存器中的寄存器命令，所述测试访问端口控制器通过根据第二引脚协议配置所述一组引脚来启动第二测试模式。所述测试访问端口控制器将所述第一引脚配置成接收基于第二协定生成的第二测试模式数据，并且将所述第二引脚配置成输出基于所述第二测试模式数据的第二测试结果数据。模式数据的第二测试结果数据。模式数据的第二测试结果数据。


技术研发人员：M
受保护的技术使用者：美光科技公司
技术研发日：2020.02.05
技术公布日：2021/10/23