基于ATE设备自检的方法和系统与流程

基于ate设备自检的方法和系统
技术领域
1.本发明涉及ate设备领域，尤其涉及了基于ate设备自检的方法和系统。


背景技术：

2.对于ate(automatic test equipment，自动测试设备)：集成了大量的硬件组件，tmu组件可以代替示波器，pmu组件可以代替万用表等；兼容一种高等语言，可以通过编程实现自动化控制；可以轻易的发送任何想要的激励。
3.在ate数字设备中，多通道任意数字波形发生器(dio)是一个核心的功能模块。此模块可通过软件进行任意通道选择，数字通道个数、组合形式多种多样。各通道根据测试向量集，可独立发送符合芯片测试需求的任意数字波形。并接收存储设备外部芯片的任意响应波形，作为鉴别被测芯片达标与否的依据。
4.例如专利名称，一种ate数字测试系统及其自检方法，专利申请号：201610867908.1，申请日期：2016
‑
09
‑
29，一种ate数字测试系统及其自检方法，该ate数字测试系统，包括地址发生器、图形存储器、指令存储器、自检存储器以及驱动器，地址发生器与图形存储器、指令存储器和自检存储器均连接，自检存储器与总线相连，图形存储器与驱动器相连。
5.现有技术不能很好地验证ate设备自身产生的任意形状的数字波形功能正确与否，不能对ate设备外部延时特性存在的差异进行自适应校准，不能动态调整验证的通道组合；对产生波形的vector正确与否；从而影响了设备功能、性能，测试自动化率。


技术实现要素：

6.本发明针对现有技术不能很好地验证ate设备自身产生的任意形状的数字波形功能正确与否，性能是否达标；从而影响了设备功能、性能测试自动化率，以及测试效率缺点，提供了基于ate设备自检的方法和系统。
7.为了解决上述技术问题，本发明通过下述技术方案得以解决：
8.基于ate设备自检的方法，包括pc端和待测设备端，其方法包括，
9.测试文件的生成，pc端生成测试文件；
10.测试执行，pc端对待测设备端依据测试用例表进行测试的执行；
11.测试校验，pc端对待测设备端测试的相关信息进行校验；
12.测试结果判断，pc端对校验后的测试结果进行判断，测试结果通过则进行测试用例判断，否则测试失败；
13.测试用例判断，pc端对待测设备端的测试用例完成则测试成功，否则重新进行待测设备端的测试校验。
14.通过对ate设备进行自检，其能够保证输出波形的正确性，性能符合测试的需求；这样有利于提高ate设备功能、性能测试自动化率以及测试效率。
15.作为优选，测试执行前需进行通道延时；pc端对待测设备端的通道延时进行测量，
从而保证待测设备端通道的同步性。通过在待测设备端的通道进行延时，从而保证数据传输过程的同步性。
16.作为优选，待测设备端的通道包括接收通道和发送通道。
17.作为优选，通道延时，pc端测量设备测试端的发送通道和接收通道进行延时，接收通道预留测量阈值不做电平比较，设备测试端测试结束时，发送通道预留同样的测量阈值不做电平比较，测量阈值为delayvalue/t，其中，delayvalue延时值，t波形周期。
18.作为优选，测试的相关信息包括测试的数据、测试的波形数量和预期错误波形。
19.作为优选，测试结果判断包括执行结果判断、运行判断和失败判断，
20.执行结果判断，设备的采样数据通道采集到实际波形数据，与期望的波形数据进行逐条对比判断；
21.运行判断，设备实际运行的vector条数与期望的vector条数对比判断；
22.失败判断，设备实际运行的失败的vector条数和期望的vctor失败条数对比判断。
23.作为优选，测试文件包括管脚资源映射文件、待测信号组文件、波形定义文件。
24.基于ate设备自检的系统，包括pc端和待测设备端，还包括测试文件生成模块、测试执行模块、测试校验模块、测试结果判断模块和测试用例判断模块；
25.测试文件生成模块，用于生成测试文件通过pc端；
26.测试执行模块，用于对待测设备端依据测试用例表进行测试的执行通过pc端；
27.测试校验模块，用于对待测设备端测试的相关信息进行校验通过pc端；
28.测试结果判断模块，用于对校验后的测试结果进行判断通过pc端，测试结果通过则进行测试用例判断，否则测试失败；
29.测试用例判断，对待测设备端的测试用例完成则测试成功，否则重新进行待测设备端的测试校验。
30.作为优选，还包括通道延时模块；用于对待测设备端的通道延时进行测量pc端，从而保证待测设备端通道的同步性。
31.本发明由于采用了以上技术方案，具有显著的技术效果：
32.通过对ate设备进行自检，其能够保证输出波形的正确性，性能符合测试的需求；这样有利于提高ate设备功能、性能、设备稳定性以及测试效率。
33.本发明通过对待测设备端的接收通道延时进行调整，从而保证数据收发过程的同步性。
附图说明
34.图1是本发明的系统图。
35.图2是本发明的通道延时图。
36.图3是本发明的流程图。
37.图4是本发明的波形发生器各要素图。
具体实施方式
38.下面结合附图1至附图3与实施例对本发明作进一步详细描述。
39.实施例1
40.基于ate设备自检的方法，包括pc端和待测设备端，其方法包括，测试文件的生成，pc端生成测试文件；测试执行，pc端对待测设备端依据测试用例表进行测试的执行；测试校验，pc端对待测设备端测试的相关信息进行校验；测试结果判断，pc端对校验后的测试结果进行判断，测试结果通过则进行测试用例判断，否则测试失败；测试用例判断，pc端对待测设备端的测试用例完成则测试成功，否则重新进行待测设备端的测试校验。
41.通过对ate设备进行自检，其能够保证输出波形的正确性，性能符合测试的需求；这样有利于提高ate设备功能、性能测试自动化率以及测试效率。
42.测试的相关信息包括测试的数据、测试的波形数量和预期错误波形。
43.测试结果判断包括执行结果判断、运行判断和失败判断，执行结果判断，设备的采样数据通道采集到实际波形数据，与期望的波形数据进行逐条对比判断；运行判断，设备实际运行的vector条数与期望的vector条数对比判断；失败判断，设备实际运行的失败的vector条数和期望的vctor失败条数对比判断。
44.测试文件包括管脚资源映射文件、待测信号组文件、波形定义文件。
45.实施例2
46.在实施例1基础上，本实施例测试执行前需进行通道延时；pc端对待测设备端的通道延时进行测量，从而保证待测设备端通道的同步性。通过在待测设备端的通道进行延时，从而保证数据传输过程的同步性。
47.待测设备端的通道包括接收通道和发送通道。通道延时，pc端测量设备测试端的发送通道和接收通道进行延时，接收通道预留测量阈值不做电平比较，设备测试端测试结束时，发送通道预留同样的测量阈值不做电平比较，测量阈值为delayvalue/t，其中，delayvalue延时值，t波形周期。
48.实施例3
49.基于ate设备自检的系统，包括pc端和待测设备端，还包括测试文件生成模块、测试执行模块、测试校验模块、测试结果判断模块和测试用例判断模块；
50.测试文件生成模块，用于生成测试文件通过pc端；
51.测试执行模块，用于对待测设备端依据测试用例表进行测试的执行通过pc端；
52.测试校验模块，用于对待测设备端测试的相关信息进行校验通过pc端；
53.测试结果判断模块，用于对校验后的测试结果进行判断通过pc端，测试结果通过则进行测试用例判断，否则测试失败；
54.测试用例判断，对待测设备端的测试用例完成则测试成功，否则重新进行待测设备端的测试校验。
55.通道延时模块；用于对待测设备端的通道延时进行测量pc端，从而保证待测设备端通道的同步性。
56.实施例4
57.在上述实施例基础上，制作引脚定义文件表pins.sig，此文件将板卡上所有的dio资源映射到此文件。制作资源组文件chmap.grp。此文件可将特定的一些资源绑定成一组；
58.制作波形时序文件timing.tim，测试图形对应的时序文件timing.sig；对于测试的波形由多个同一/或者不同的wavetiming组成；制作测试用例文件pat.csv，此文件定义需要发送的数字波形和期望采集到的波形；
59.制作测试用例文件表test_case.csv，此文件表需设置期望运行的pat相关文件，以及期望得到的采样失败/成功的pat个数。测试工具生成测试case的同时，同步生成理论上期望的各个case执行vctor条数，期望的失败的vctor条数，期望的波形数据。设备的采样数据通道采集到实际波形数据，与期望的波形数据进行逐条，确认执行结果正确性；设备实际运行的vector条数与期望的vector条数比对；设备实际运行的失败的vector条数和期望的vctor失败条数比对；期望的各个case执行vctor条数，期望的失败的vctor条数，期望的波形数据均符合条件则测试项通过，否则测试不通过。
60.依据附图3可知，real tx表示ate设备发送通道输出的数字波形；
‘
0/1’表示发送的高低电平。
61.exprx表示ate设备接收通道期望收到的数字波形；
‘
x’表示不关注接收的电平。
‘
h’表示期望是高电平，
‘
l’表示期望是低电平。
62.real rx表示ate设备接收通道实际收到的数字波形；
‘
x’表示不关注接收的电平。
‘
h’表示接收到高电平，
‘
l’表示接收到低电平。
63.dealy表示ate设备发送通道至接收通道存在的物理延时。设备发送数字波形和接收电平同时启动，因发送和接收直接存在时延，故接收端预留一定计算好的数字波形个数不做电平比较，同理结束时发送端的最后波形也不做电平比较。
64.具体延时值delayvalue由pcb版图得到，并且根据发送端波形周期t，得到前期不予比较的波形个数为delayvalue/t。
65.err表示ate设备接收通道收到的数字信号与期望的不符；当存在接收与预期不符时fail cnt加1。