电容感测装置操作方法与流程

技术特征：
1.一种电容感测装置操作方法，其特征在于，其通过一讯号处理电路、一基线处理电路及一近接感测电路实施，该电容感测装置操作方法包含：由该讯号处理电路接收一侦测数据；以该基线处理电路计算该侦测数据相较于先前数据框中接收到的侦测数据的一变化量；以该近接感测电路依据该侦测数据及所保存的一基线值进行比较运算，以判断是否发生近接事件；其中，在近接事件发生时，该基线处理电路依据该变化量所在的范围，来从数种近接基线值更新程序中择一对该基线值进行更新；在近接事件并未发生时，该基线处理电路依据一非近接基线值更新来对该基线值进行更新；以及该基线处理电路将更新后的基线值输出至该近接感测电路。2.如权利要求1所述电容感测装置操作方法，其特征在于，其中所述近接基线值更新程序包含一第一近接基线值更新及一第二近接基线值更新，该基线处理电路设有一预定范围，若该变化量落在该预定范围，则该基线处理电路以该第一近接基线值更新对该基线值进行更新；若该变化量超出该预定范围，则该基线处理电路以该第二近接基线值更新对基线值进行更新。3.如权利要求2所述电容感测装置操作方法，其特征在于，其中该第一近接基线值更新如下式所示：b[n]＝b[n
‑
1] β
×
diff[n]其中b[n]为更新后的基线值，b[n
‑
1]为该近接感测电路所保存的基线值，diff[n]为该变化量，β为一系数。4.如权利要求2所述电容感测装置操作方法，其特征在于，其中该第二近接基线值更新如下式所示：b[n]＝gp
×
raw[n] (1
‑
gp)
×
diff[n]其中b[n]为更新后的基线值，raw[n]为该侦测数据，diff[n]为该变化量，gp为一调整系数。5.如权利要求4所述电容感测装置操作方法，其特征在于，其中该非近接基线值更新如下式所示：b[n]＝gn
×
raw[n] (1
‑
gn)
×
diff[n]其中，gn为另一调整系数，且该另一调整系数gn大于前述第二近接基线值更新的调整系数gp。6.如权利要求5所述电容感测装置操作方法，其特征在于，其中，该另一调整系数gn设计在1/2～1/256之间。7.一种电容感测装置操作方法，其特征在于，其通过一讯号处理电路、一基线处理电路及一近接感测电路实施，该电容感测装置操作方法包含：由该讯号处理电路接收一侦测数据；以该基线处理电路计算该侦测数据相较于先前数据框中接收到的侦测数据的一变化量；
以该近接感测电路依据该侦测数据及所保存的一基线值进行比较运算，以判断是否发生近接事件；其中，在近接事件发生时，该基线处理电路依据该变化量所在的范围，来从数种近接基线值更新程序中择一对该基线值进行更新；在近接事件并未发生时，该基线处理电路依据该变化量所在的范围，来从数种非近接基线值更新程序中择一对该基线值进行更新；以及该基线处理电路将更新后的基线值输出至该近接感测电路。8.如权利要求7所述电容感测装置操作方法，其特征在于，其中所述近接基线值更新程序包含一第一近接基线值更新及一第二近接基线值更新，该基线处理电路设有一预定范围，若该变化量落在该预定范围，则该基线处理电路以该第一近接基线值更新对该基线值进行更新；若该变化量超出该预定范围，则该基线处理电路以该第二近接基线值更新对基线值进行更新；其中所述非近接基线值更新程序包含一第一非近接基线值更新及一第二非近接基线值更新，该基线处理电路设有另一预定范围，若该变化量落在该另一预定范围，则该基线处理电路以该第一非近接基线值更新对该基线值进行更新；若该变化量超出该另一预定范围，则该基线处理电路以该第二非近接基线值更新对基线值进行更新。9.如权利要求8所述电容感测装置操作方法，其特征在于，其中该第一近接基线值更新如下式所示：b[n]＝b[n
‑
1] β
×
diff[n]其中b[n]为更新后的基线值，b[n
‑
1]为该近接感测电路所保存的基线值，diff[n]为该变化量，β为一系数。10.如权利要求8所述电容感测装置操作方法，其特征在于，其中该第二近接基线值更新如下式所示：b[n]＝gp
×
raw[n] (1
‑
gp)
×
diff[n]其中b[n]为更新后的基线值，raw[n]为该侦测数据，diff[n]为该变化量，gp为一调整系数。11.如权利要求10所述电容感测装置操作方法，其特征在于，其中该第一非近接基线值更新如下式所示：b[n]＝gn
×
raw[n] (1
‑
gn)
×
diff[n]其中，gn为另一调整系数，且该另一调整系数gn大于前述第二近接基线值更新的调整系数gp。12.如权利要求11所述电容感测装置操作方法，其特征在于，其中，该另一调整系数gn设计在1/2～1/256之间。13.如权利要求8所述电容感测装置操作方法，其特征在于，其中该第一近接基线值更新如下式所示：b[n]＝b[n
‑
1] α
×
diff[n]其中b[n]为更新后的基线值，b[n
‑
1]为该近接感测电路所保存的基线值，diff[n]为该变化量，α为一系数。

技术总结
本发明是有关一种电容感测装置操作方法，其包含：计算该侦测数据相较于先前数据框中接收到的侦测数据的一变化量；依据该侦测数据及所保存的一基线值进行比较运算，以判断是否发生近接事件。在近接事件发生时，依据该变化量所在的范围，来从数种近接基线值更新程序中择一对该基线值进行更新，故能有效避免在物体长时间靠近电容感测装置的情形下，发生无法适时更新基线值而导致电容感测装置可能误判的问题。题。题。


技术研发人员：林王安 吴春蓉 王濬纶
受保护的技术使用者：昇佳电子股份有限公司
技术研发日：2021.04.02
技术公布日：2021/10/11