存储器模块烧录测试系统的制作方法

1.本实用新型涉及一种存储器模块烧录与测试的技术领域，尤其涉及一种可以缩短存储器模块烧录与测试时间的存储器模块烧录测试系统。


背景技术：

2.存储器模块是电脑系统正常运作的必要元件，为使存储器模块能够正常运作，则需要将关于存储器模块的配置资信(serial presence detect，spd)烧录于存储器模块上的电子式可清除程序化只读存储器(electrically erasable programmable read
‑
only memory，eeprom)。
3.其中，现有技术是先将待测的存储器模块安装在烧录器进行对存储器模块上的eeprom写入spd资料，待烧录完成后，需将该待测的存储器模块自该烧录器拔除，再插设于一用于测试的主机板上进行测试。
4.然而，在采用现有技术的过程中，操作人员需要多次的插拔待测的存储器模块，不仅容易在插拔的过程中造成存储器模块的损坏，尤其当待测的存储器模块数量庞大时，确实相当费时费力。
5.因此，综观以上所述，本实用新型设计出一种存储器模块烧录测试系统，以期针对现有技术的缺失加以改善，进而增进产业上的实施利用。


技术实现要素：

6.本实用新型的主要目的在于提供一种存储器模块烧录测试系统，将烧录单元与插设于主机板的转接座电性连接，用户可将待烧待测模块插设于转接座先利用烧录单元将已储存于烧录单元的spd资料烧录于待烧待测模块，在不用将待烧待测模块拔除的状况下，直接利用主机板进行测试，因此减少操作人员多次插拔的过程，如此一来，不仅可提升操作效率，更能降低待烧待测模块与主机板存储器模块插槽的损坏程度。再者，由于可利用将来作为产品的主机板进行测试，从而达到模拟使用状态的功效，进而提升待烧待测模块与主机板的相容性。
7.因此，为达上述目的，本实用新型提供一种存储器模块烧录测试系统，其包括：主机板，该主机板上设有多个主机板存储器模块插槽，并在该些主机板存储器模块插槽插设一转接座，且该转接座供一待烧待测模块插设；以及一烧录单元，该烧录单元与该转接座通过一控制排线电性连接，且该烧录单元电性连接一供电单元。
8.所述的存储器模块烧录测试系统，其中该主机板设置于一主机设备，且该供电单元为该主机设备的电源供应器并与该主机板电性连接。
9.所述的存储器模块烧录测试系统，其中该主机板设有一i/o连接端口，该烧录单元与该i/o连接端口电性连接，通过该i/o连接端口将该电源供应器所供应的电力传输至该烧录单元。
10.所述的存储器模块烧录测试系统，其中当该i/o连接端口为一usb连接端口时，该
烧录单元设置于该主机设备外部，并通过一usb传输线与该usb连接端口电性连接，进而令该电源供应器所供应的电力通过该usb连接端口传输至该烧录单元。
11.所述的存储器模块烧录测试系统，其中当该i/o连接端口为设置于该主机设备内部的连接端口时，该烧录单元插设于该i/o连接端口并电性连接，进而使该烧录单元与该主机板电性连接，且令该电源供应器所供应的电力通过该i/o连接端口传输至该烧录单元。
12.所述的存储器模块烧录测试系统，其中该主机设备还设有一启动单元，且该启动单元与该该主机板及该烧录单元电性连接。
13.所述的存储器模块烧录测试系统，其中该供电单元还可为一外部电源。
14.所述的存储器模块烧录测试系统，其中该烧录单元还设有供一标准模块插设的烧录单元存储器模块插槽。
附图说明
15.图1为本实用新型的存储器模块烧录测试系统的第一架构示意图。
16.图2为本实用新型的存储器模块烧录测试系统的第二架构示意图。
17.图3为本实用新型的存储器模块烧录测试系统的第一分解示意图。
18.图4为本实用新型的存储器模块烧录测试系统的第二分解示意图。
19.图5为本实用新型的存储器模块烧录测试系统的第三分解示意图。
20.图6为本实用新型的存储器模块烧录测试系统的第四分解示意图。
21.图7为本实用新型的存储器模块烧录测试系统的使用方法流程图。
22.附图标记说明：
23.10：存储器模块烧录测试系统
24.11：主机板
25.111：主机板存储器模块插槽
26.112：usb连接端口
27.113：pci连接座
28.12：转接座
29.121：连接接口
30.122：转接座存储器模块插槽
31.13：待烧待测模块
32.14：烧录单元
33.141：烧录单元存储器模块插槽
34.15：控制排线
35.16：供电单元
36.17：标准模块
37.s1～s4：步骤
具体实施方式
38.以下根据图1至图7，而说明本实用新型的实施方式。该说明并非为限制本实用新型的实施方式，而为本实用新型的实施例的一种，且在附图及实施例中，相同或相似的附图
标记在所有附图中皆指相同、实质相同、或功能相同的部件和元件。附图为一简化形式，且在所有实施例中，附图不是依照精确的尺寸所绘制。
39.首先，请同时参阅图1至图6所示，本实用新型提供一种存储器模块烧录测试系统10，其包括：一主机板11，该主机板11上设有多个主机板存储器模块插槽111，并在该些主机板存储器模块插槽111插设一转接座12，且该转接座12供一待烧待测模块13插设；以及一烧录单元14，该烧录单元14与该转接座12通过一控制排线15电性连接，且该烧录单元14电性连接一供电单元16。
40.其中，又如图3至图6所示，该转接座12的一侧具有一插设于该主机板11的主机板存储器模块插槽111的连接接口121，而另一侧具有一供该待烧待测模块13插设的转接座存储器模块插槽122。
41.再者，该主机板11设置于一主机设备(图未示)，且该供电单元16为该主机设备的电源供应器(图未示)并与该主机板11电性连接，从而提供电源，而该主机板11设有一i/o连接端口，该烧录单元14与该i/o连接端口电性连接，通过该i/o连接端口将该电源供应器所供应的电力传输至该烧录单元14，其中当该i/o连接端口为一usb连接端口112时，该烧录单元14以一独立设备的形式电性连接于该主机设备外部，并通过一usb传输线与该usb连接端口112电性连接，进而令该电源供应器所供应的电力通过该usb连接端口112传输至该烧录单元14；或者，当该i/o连接端口为设置于该主机设备内部的连接端口(例如：pci连接座113、pcie连接座、m.2连接座等)时，该烧录单元14以一板体形式直接插设于该i/o连接端口电性连接，进而使该烧录单元14与该主机板11电性连接，且令该电源供应器所供应的电力通过该pci连接座113传输至该烧录单元14。然而，不论是何种形式的烧录单元14，还可与一作为供电单元16的外部电源(例如：市电)电性连接，如此一来，即使在该主机板11未进行工作时，仍可将该烧录单元14所存有的spd资料烧录至该待烧待测模块13进行烧录程序，而不进行测试程序。
42.此外，该主机设备还设有一启动单元(图未示)，且该启动单元与该主机板及该烧录单元14电性连接，尤其当该烧录单元14完成烧录程序后，可传送开机指令至该启动单元，使该主机板11取得该电源供应器的电力并开始运作。
43.另外，不论是上述何种实施例，其中该烧录单元14还设有供一标准模块17插设的烧录单元存储器模块插槽141，以利该烧录单元14读取该标准模块17所具有的spd资料并储存。
44.最后，请参阅图7并同时参阅图1至图6所示，使用本实用新型的存储器模块烧录测试系统的方法，其包括：步骤s1：将该转接座12插设于该主机板11的主机板存储器模块插槽111；步骤s2：将该待烧待测模块13插设于该转接座12；步骤s3：进行一烧录程序，将该烧录单元14与该供电单元16电性连接并将所存有的spd资料通过该控制排线15烧录至该待烧待测模块13；以及步骤s4：进行一测试程序，通过该主机板11测试该待烧待测模块13的功能是否正常。
45.其中，该待烧待测模块13可通过不同方式存有spd资料，如图3及图4所示，当烧录单元14并未设有供该标准模块17插设的烧录单元存储器模块插槽141时，在将该待烧待测模块13插设于该转接座12前，可先将一标准模块17插设于该转接座12，并将该标准模块17所具有的spd资料通过该控制排线15传到该烧录单元14储存，而该烧录单元14存有该spd资
料后，再将该标准模块17由该转接座12拔除；若如图5及图6所示，该烧录单元14设有供该标准模块17插设的烧录单元存储器模块插槽141，则是在进行该烧录程序前，可将一标准模块17插设于该烧录单元14的插槽141，以供该烧录单元14读取该标准模块17所具有的spd资料并储存。
46.但不论是以上述何种方式将spd资料储存于该待烧待测模块13，在完成该烧录程序后，该烧录单元14可传送一指令至一与该主机板11及该烧录单元14电性连接的启动单元(图未示)，并通过该启动单元使该主机板11开始运作，以进行该测试程序，其中，当首次进行该测试程序前，可通过该启动单元使该主机板11开始运作，以进行该测试程序，完成该测试程序后，可将已完成该测试程序的该待烧待测模块13自该转接座12移除并插设未经该烧录程序及该测试程序的该待烧待测模块13，再通过一与该烧录单元14及该主机板11电性连接的重置单元(图未示)再次进行该烧录程序及该测试程序；也就是说，当完成烧录程序及该测试程序的该待烧待测模块13自该转接座12移除后，用户可将未经该烧录程序及该测试程序的该待烧待测模块13插设于该转接座12，并按下该重置单元，以再次进行该烧录程序及该测试程序。
47.故本实用新型确实提供一种存储器模块烧录测试系统，将烧录单元与插设结合于主机板的转接座电性连接，用户可将待烧待测模块插设于转接座先利用烧录单元将已储存于烧录单元的spd资料烧录于待烧待测模块，在不用将待烧待测模块拔除的状况下，直接利用主机板进行测试，从而减少操作人员多次插拔的过程，如此一来，不仅可提升操作效率，更能降低待烧待测模块与主机板存储器模块插槽的损坏程度。再者，由于可利用将来作为产品的主机板进行测试，从而达到模拟使用状态的功效，进而提升待烧待测模块与主机板的相容性。
48.以上所述，仅为本实用新型的优选实施例而已，当不能以此限定本实用新型实施的范围，即凡依本实用新型申请专利范围及实用新型说明内容所作简单的等效变化与修饰，皆仍属本实用新型专利涵盖的范围内。