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指纹模组的测试装置的制作方法

2021-10-22 22:24:00 来源:中国专利 TAG:模组 测试 指纹 光学 装置

技术特征:
1.一种指纹模组的测试装置,其特征在于,包括:底座,所述底座具有工作面,所述工作面上开设有透光孔,所述透光孔用于与设置于底座内的光源对应;测试模块,所述测试模块包括载物块和盖板,所述载物块设于所述工作面上,所述载物块远离所述透光孔的一侧设置有与所述透光孔相对的载物槽,所述载物槽用于放置待测物,所述载物块靠近所述透光孔的一侧设置有与所述透光孔相对的容纳腔,所述载物槽与所述容纳腔对应所述透光孔的区域相互连通,所述容纳腔的一端形成有插口,所述盖板可翻转地连接于所述载物块且可罩盖所述载物槽;切换件,所述切换件包括滑动体以及设于所述滑动体上的光学元件,所述切换件能够从所述插口伸入所述容纳腔且可在第一测试位置和第二测试位置之间移动切换,在所述第一测试位置,所述光学元件通过所述透光孔与所述光源相对,在第二测试位置,所述光学元件与所述透光孔错开;驱动单元,用于驱动所述切换件在第一测试位置和第二测试位置之间移动切换。2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述驱动单元为气缸,包括缸体、活塞杆、导向块,所述底座上设有第一安装座以及滑轨,所述驱动单元的缸体固定在所述第一安装座上,所述滑动体与所述导向块连接,所述导向块与所述滑轨滑动配合。3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,还包括在所述滑轨延伸方向上的两个位置分别设置的第一限位块和第二限位块;所述第一限位块用于在所述切换件处于第一测试位置时与所述导向块抵持,所述第二限位块用于在所述切换件处于第二测试位置时与所述导向块抵持。4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述底座上还设有第二安装座,所述第一限位块和所述第二限位块形成在所述第二安装座上,所述第二安装座的个数为两个且位于所述滑轨垂直于所述滑轨延伸方向的两侧,所述导向块靠近所述滑轨一侧具有连接凸部,所述连接凸部伸入两个所述第二安装座之间且与所述滑轨滑动配合。5.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于,所述第二安装座具有位于所述第一限位块与所述第二限位块之间的滑槽,所述导向块插入所述滑槽内以沿所述滑槽滑动。6.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于,所述连接凸部的下端具有可拆卸的凸块,所述凸块具有工字型的凹槽,所述滑轨的横截面为工字型,所述滑轨与所述凹槽滑动配合。7.根据权利要求1-6中任一项所述的测试装置,其特征在于,所述载物块的相背于所述载物槽的一侧具有第一锁定件和第二锁定件,在所述第一测试位置,所述第一锁定件与所述切换件相锁止,在所述第二测试位置,所述第二锁定件与所述切换件相锁止。8.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于,所述锁定件与所述切换件通过磁性吸合相锁止。9.根据权利要求8所述的测试装置,其特征在于,所述容纳腔通过通孔与所述载物槽连通,所述滑动体具有位于所述光学元件外侧的安装耳,所述安装耳上设有第一磁吸件,所述容纳腔的边框上设有第二磁吸件和第三磁吸件,在所述第一测试位置,所述第一磁吸件与所述第二磁吸件相吸合,在所述第二测试位置,所述第一磁吸件与所述第三磁吸件相吸合。
10.根据权利要求1-6中任一项所述的测试装置,其特征在于,所述测试模块的个数为至少两个,所述切换件、所述驱动单元的个数与所述测试模块相同,且一一对应地适配于所述测试模块。

技术总结
本发明公开了一种指纹模组的测试装置,包括:底座、至少一个测试模块、切换件和驱动单元。底座内设有靠近底座的顶面设置的光源,测试模块包括载物块和盖板,载物块设于底座的顶面,盖板可翻转地连接于载物块且可罩盖载物槽,切换件包括滑动体以及设于滑动体上的光学元件,驱动单元包括缸体以及活塞杆,活塞杆可伸缩地设于缸体内,缸体与底座连接。这样,让指纹模组能够在测试装置上进行多次测试,不仅让指纹模组的测试变得简单,同时因为在同一个测试装置上进行测试,能够显著减少指纹模组进行测试切换时产生的误差,增加测试精度,而且在底座上集成有多个测试模块,能够提升指纹模组的测试效率。的测试效率。的测试效率。


技术研发人员:黎亚奎 邓水冰 高其伟
受保护的技术使用者:江西欧迈斯微电子有限公司
技术研发日:2020.04.17
技术公布日:2021/10/21
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