检查台和用于检查片材材料的方法与流程

1.本发明涉及一种检查台和一种用于检查片材材料，特别是卷曲片材材料的方法。本发明还涉及一种用于制造卷曲片材材料的包括检查台的设备。


背景技术：

2.方法是已知的，其中连续片材材料卷曲并聚集成连续条，所述条随后切割成个别段。特别地，在用于电子装置的气溶胶生成制品中，使用特定的连续片材材料，例如聚乳酸。这些材料的卷曲通常通过使连续片材材料穿过一对结构化辊来进行。此类卷曲可受若干因素影响，例如卷曲辊的条件或例如温度的片材条件。另一方面，卷曲效果可直接影响最终条的物理参数，例如抽吸阻力(rtd)、直径或椭圆度或条的硬度。
3.期望改进卷曲片材材料的制造过程，以便减少由卷曲片材材料制成的最终条中的质量问题，并且优选地能够提供此类条的连续生产过程。


技术实现要素：

4.根据本发明，提供一种用于片材材料，优选用于卷曲片材材料，更优选用于连续卷曲片材材料的检查台。所述检查台包括光源，所述光源被布置成照射处于检查位置的片材材料，并且包括振动装置，所述振动装置优选地至少部分地布置在所述检查位置中。优选地，振动装置能够在20khz至70khz之间范围内的高频率下产生振荡动作。所述振动装置适于振动处于所述检查位置的片材材料。如果片材材料是连续片材材料，则振动装置优选适于当连续片材材料在检查位置通过振动装置时振动处于检查位置的片材材料。所述检查台还包括用于检测从所振动的片材材料接收的光的检测器，优选相机，由此提供所述片材材料的图像。检查台的控制器适于从所述片材材料的图像确定所述片材材料的表面上的松散材料，以得到所述卷曲片材材料的卷曲表面的真实状态。控制器适于从卷曲片材材料的图像中删除关于松散材料的信息。所述控制器适于确定所述卷曲表面的图像，所述图像计算出在所述卷曲表面上存在的松散材料。因此，检查台可以检查卷曲片材材料的卷曲表面，尽管表面上可能存在任何松散材料。这优选地通过在检查过程期间使所述松散材料移位，以便使松散材料不阻碍对卷曲表面的检查来完成。
5.一般在卷曲过程期间，片材材料被压缩或变形，并且材料可能移位，或者灰尘可能聚集。这种松散的材料保留在卷曲装置的辊子处以及片材材料上。辊可以在执行卷曲动作时清洁，例如通过梳形剥离器。然而，片材表面上的松散材料不易移除。另外，一些箔材料，例如聚乳酸(pla)箔，倾向于带静电电荷，导致松散材料粘附到箔上。
6.片材材料上的松散材料降低了目视检查的质量。这通常适用于待处理的片材材料，但特别适用于片材材料的卷曲效果的视觉检查。
7.卷曲在片材材料中产生表面结构。然而，卷曲过程也可能损坏片材材料。需要检测受损部分。另外，片材材料表面上的松散材料可能在高机器速度下具有与片材材料中的不一致相同的视觉特征，并且可能误认为片材材料中的此类不一致。
8.为了能够忽略在检查期间从片材材料移除松散材料，在卷曲之后设置检查台，所述检查台允许目视检查卷曲效果，而不需要从卷曲片材材料移除松散材料。
9.在检查台中，片材材料经光学检查和振动，使得可以从片材材料的相同部分获取的图像识别任何松散材料。由于振动，在片材材料被振动时，松散材料将在片材材料的表面上移位。因此，随后获取的片材材料的相同部分的图像的比较包括关于片材材料的表面结构的信息，包括卷曲效果，以及关于不属于片材材料的移位的松散材料的信息。然后，可忽略移位的材料以确定卷曲片材材料的卷曲表面的表面质量。然后，被检查表面的结果，因此，所确定的没有松散材料的卷曲表面的质量可用于修改片材材料处理过程，特别是片材材料的卷曲过程。
10.通过适当的数据和图像处理，可以获得关于表面结构的改进的信息，特别是卷曲效果。该信息可用于片材材料处理。例如，经由控制器，信息可用于修改片材材料的卷曲过程。通常，其可用于修改片材材料处理过程。其还可用于例如通过中断片材传送装置来中断片材材料处理。
11.振动装置可以是适合于振动片材材料的任何振动装置。例如，振动装置可以是振动器，或者可以包括超声换能器。
12.优选地，振动装置包括超声换能器。
13.振动装置可以在与片材材料直接物理接触的同时振动片材材料。振动装置也可以在振动装置不直接物理接触时间接振动片材材料，例如通过振动片材材料的支撑件。
14.优选地，振动装置包括振动元件，所述振动元件优选地与待振动的片材材料直接物理接触。优选地，卷曲的片材材料可沿着振动元件或在振动元件上方被引导，以便所述片材材料由振动元件引导和振动。优选地，振动元件是圆柱形杆。
15.振动元件还可用作引导元件，用于沿着片材材料的传送方向引导片材材料并且优选地通过检查位置。
16.振动装置的振动元件可以布置在检查位置中或靠近检查位置，使得待检查的片材材料可以通过检查台的检查位置。例如，振动元件或振动装置可以布置在检查位置的上游或下游。
17.优选地，检测器是适于检测来自振动的片材材料的光的相机。检测器可以布置在检查位置上方。检测器也可以布置在检查位置下方，例如当检查透明片材材料时，并且如果检查台的设置允许这种检测布置。
18.如果空间有限，振动装置和检测器的不同定位选项是有利的。
19.优选地，检查台包括用于检测在不同角度下从振动的片材材料接收的光的两个或两个以上检测器。
20.优选地，所述两个或两个以上检测器具有重叠视场。
21.优选地，检查台包括具有重叠视场的两个检测器。
22.优选地，两个或两个以上检测器相互邻近布置，在片材材料的传送路径的宽度上延伸。如果片材材料布置在检查台中，那么两个或两个以上检测器优选地被布置成在片材材料的整个宽度上延伸。
23.检查台的光源可以是可见光范围中的光。替代地，光在光谱的紫外或uv范围中。可根据将从所检查的片材材料获得的信息来选择光源。优选地，光具有某个波长，在此波长，
光由片材材料的卷曲表面上的灰尘或碎屑颗粒良好地吸收或反射。
24.优选地，可见光或紫外(uv)光用于检查片材材料。最优选地，光源是uv光源。有利地，另外，当用uv光照射片材材料时，uv光对片材材料具有灭菌效果。当片材材料例如在食品或医疗行业中使用时，这种灭菌效果，特别是杀菌效果是特别有利的。
25.在检查台的优选实施例中，两个或两个以上光源布置成彼此远离且优选地沿着片材材料的传送路径布置。所述两个或两个以上光源被布置成从两个或两个以上不同角度照射处于检查位置的片材材料。优选地，第一照射角度在片材材料的传送方向上，且第二照射角度朝向片材材料的传送方向。由此，从传送位置中的至少两侧照射片材材料，使得在检查位置的片材材料的照射被优化，并且来自外部光源的干扰效应减小或消除。
26.根据本发明，还提供了一种用于检查片材材料，优选卷曲片材材料或连续片材材料，更优选卷曲连续片材材料的方法。所述方法包括提供片材材料，并且在检查台的至少检查位置振动所述片材材料，并且在所述检查位置用光照射所述片材材料。该方法还包括检测(优选用相机)从振动的片材材料接收的光，所述光表示所述片材材料的图像，并且从片材材料的图像确定片材材料上存在松散材料，由此允许提供所述卷曲片材材料的卷曲表面的真实状态，其中已消除松散材料的信息。因此，在所述方法中，从图像中计算由松散材料产生的图像中的信息。通过这一点，可以提供卷曲表面的图像，其中已经消除基于松散材料的失真信息。
27.优选地，所述方法包括连续引导连续卷曲片材材料通过检查位置，使得可确定并且如果需要，可监测卷曲片材材料的连续的真实状态。
28.优选地，所述方法包括将卷曲片材材料的真实状态与参考片材条件进行比较；以及根据真实状态与参考片材条件的偏差，修改片材处理参数或中断卷曲片材材料的处理。如果卷曲片材材料的真实状态特别是片材材料的卷曲效果的偏差偏离参考片材条件，则可修改片材处理参数。例如，可以修改传送速度、拉紧力、加热温度、片材材料的形成或类似参数。具体地讲，可以修改片材材料的卷曲参数。例如，可以修改一对卷曲元件例如一对卷曲辊的两个卷曲元件之间的距离。特别地，两个卷曲辊之间的辊隙可以调成更小或可以调成更大。替代地或另外，如果片材材料的真实状态特别是片材材料的卷曲效果的偏差偏离参考片材条件，则可中断片材处理。这可以防止制造另外的缺陷片材材料或低质量的片材材料。
29.优选地，修改或中断过程根据偏差的量值进行。例如，如果偏差的量值高于或低于某一阈值，但仍在某一范围内，则所述过程被修改或优选地至少记录所述偏差。如果偏差的量值超出所述范围，则优选中断过程。
30.优选地，所述方法还包括检测在不同角度下来自振动的卷曲片材材料的光。在不同角度下的光检测允许确定片材材料表面的三维图像。
31.优选地，所述方法还包括通过用uv光照射片材材料来对片材材料进行灭菌。优选地，uv光也用于片材材料检查目的。
32.根据本发明的方法可基本上用于任何片材材料处理方法中，在所述方法中处理和加工片材材料，并且将改进材料处理的结果。特别地，所述方法可在片材材料的表面结构的质量检测或评估至少部分地被例如灰尘和碎屑等松散材料阻挡时使用。优选地，该方法用于片材材料处理方法中，其中片材材料进行机械处理，例如卷曲。优选地，该方法用于检查
用于制造气溶胶形成制品例如聚乳酸(pla)箔的连续片材材料。
33.优选地，所述方法包括在振动所述卷曲片材材料之前卷曲连续片材材料，并将所述卷曲片材材料提供到所述检查台，在所述检查台检查所述卷曲和振动的片材材料。
34.所述方法还可包括测量多个片材参数，例如片材材料的厚度、传送速度或张力。在该方法中，所测量的片材参数可以另外用于确定片材材料的延伸状态；将片材材料的延伸状态与参考片材条件进行比较，并且根据延伸状态与参考片材条件的差，修改片材处理参数或中断片材材料的处理。
35.在所述方法的这些实施例中，除了在检查台中确定的数据之外，附加的片材参数，例如从在片材处理方法中提供的一个或多个传感器获得的额外数据，也可用于修改或中断片材处理。
36.优选地，在检查台中或附近获得此类额外片材参数。优选地，为片材参数提供时间信息，以便将片材材料的特定部分的片材参数分配到在检查台中检查的片材材料的相同部分。
37.然后可以根据更广泛范围的可用片材信息，因此根据表面图像以及另外的片材参数修改或中断过程。如果测量或确定的值中有三个超出特定范围，则可以例如初始化过程的中断，而如果测量或确定的值中仅两个超出特定范围，则不初始化中断。
38.从检查台确定的信息和不同片材参数也可以例如具有加权相关性，例如，测量或确定的值中的一个对于要实现的最终结果可能更相关，另一个确定或测量的值可能不太相关。相应地，与不太重要的参数相比，更重要的参数的相关性对是否应中断过程的决定具有更大的关系。例如，对于更重要的参数，偏离目标值两个百分点可以触发中断。对于不太重要的参数，例如，仅在不太重要的参数偏离目标值百分之五或两个不太重要的参数偏离百分之四时，才会触发中断。
39.片材材料的状态可对应于真实状态。片材材料的真实状态对应于由检查台基于来自片材材料的表面的图像确定的片材材料的状态。真实状态表示片材材料的表面，优选卷曲表面的状态，优选不存在任何松散的材料。从任何检测的或确定的图像数据中删除关于松散材料的信息，以便获得卷曲片材材料的表面的真实状态。真实状态尤其代表片材材料的卷曲过程的质量。
40.片材材料的状态也可以对应于片材材料的延伸状态。片材材料的延伸状态对应于片材材料的真实状态(由检查台确定)与由至少一个额外片材参数确定优选由一个或几个传感器测量的片材材料的状态组合。因此，片材材料的延伸状态包括从片材材料的目视检查获得的信息以及额外片材参数的信息，例如温度、张力或速度。
41.片材材料可以连续地或逐步地引入到检查台中。片材材料可自动或手动地通过检查台。
42.优选地，片材材料连续且自动地引入到检查台中。
43.本发明还涉及一种用于制造和检查卷曲连续片材材料，优选地用于从卷曲连续片材材料制造条状连续制品的设备。
44.该设备包括用于卷曲连续片材材料的卷曲装置，并且还包括根据本发明的和如本文中所描述的检查台。所述检查台布置在所述卷曲装置下游。
45.优选地，所述设备还包括用于形成所述卷曲连续片材材料的连续条的条形成装
置。在这些实施例中，检查台布置在卷曲装置与条形成装置之间。
46.优选地，所述设备包括片材传送装置。优选地，片材传送装置可由检查台的控制器中断。此类中断优选地取决于从片材材料的图像导出的片材材料的真实状态。另外或替代地，中断取决于片材材料的图像的偏差的量值或测量或确定的片材参数与参考片材条件的偏差的量值。另外或替代地，中断取决于考虑片材材料的真实状态并且另外还考虑测量或确定的片材参数的片材材料的延伸状态。
47.优选地，卷曲装置的卷曲参数，特别是一对卷曲元件的卷曲元件的距离，可由检查台的控制器修改。除其它影响，卷曲元件之间的距离对片材材料的卷曲深度有影响。
48.这种修改优选地取决于从片材材料的图像导出的片材材料的真实状态或片材材料的图像与参考片材条件偏离的量值。修改还可以取决于片材材料的真实状态和片材材料的图像的偏差的量值的组合。
49.相应地，修改还可取决于片材材料的延伸状态、测得或确定的片材参数与参考片材条件的偏差的量值或延伸状态和测得片材参数与参考片材条件偏差的量值的组合。
50.优选地，该设备包括用于测量或确定至少一个片材参数的至少一个传感器。优选地，测量或确定若干片材参数。例如，提供用于测量或确定多个片材参数例如片材材料的张力、速度或厚度的多个传感器。
51.优选地，一个或多个传感器布置在检查台中或附近。更优选地，一个或多个传感器布置在检查台的上游。
52.与检查台有关地提到和描述的特征和元件也与本发明的方法和设备有关，在适用的情况下，反之亦然。
[0053]“卷曲”在本文中理解为片材材料中的规则纵向结构，优选地由在一对或几对结构辊之间传递片材材料引起。片材材料也可以例如在两个结构化板之间传递。因此，“卷曲效果”是在通过卷曲装置之后在片材材料表面上的结构。卷曲片材材料包括具有限定深度的凹槽。此深度被称为卷曲深度。
[0054]
图像处理和图像评估可以用图像处理和图像评估的已知手段来执行。例如，图像处理可以使用诸如黑色和白色、对比度、亮度或饱和度等滤波器。在这种图像处理之后，可以通过比较两个相机的图像并且识别移位的松散材料和背景来以数字方式去除松散的材料。图像评估可以由计算机执行，并且通过与参考样本进行比较在线或手动地执行。取决于用户的需要，可选择适当的评估方法。
[0055]
在线图像评估可例如包括测量每个卷曲线的密度、卷曲线的密度、卷曲线之间的距离等。然后，此图像评估的结果可用于向片材材料处理设备提供反馈，特别是向卷曲装置提供反馈，以针对卷曲设置参数。
附图说明
[0056]
本发明进一步参照实施方案进行描述，这些实施方案借助于下列各图进行说明，其中：
[0057]
图1是检查台的透视图；
[0058]
图2是图1的检查台的侧视图的示意图；
[0059]
图3示出条形成设备；
[0060]
图4示出另一个条形成设备；
[0061]
图5是片材材料的控制过程的示意图。
具体实施方式
[0062]
图1示出包括振动装置及照明和检测装置的检查台2。连续片材材料5，例如pla箔的卷曲片材，在振动装置的圆柱形杆20与照明和检测装置之间被引导。
[0063]
振动装置包括超声换能器24、过渡区段25和圆柱形杆20。圆柱形杆20与片材材料5接触并且振动片材材料。过渡区段通常以低振幅振动，而与片材材料接触的圆柱形杆优选以高振幅振动，优选地在约5微米与10微米之间。圆柱形杆20可以是由金属制成的固体。优选地，选择过渡区段25以放大波长高达200nm的20khz与70khz之间，例如35khz的共振频率。圆柱形杆20也可以以不同形状例如矩形块状形状实现。
[0064]
照明和检测装置布置在圆柱形杆20上方且与其相距较远。
[0065]
具有两个线性布置的相机34、35的线性相机阵列布置在两个发光杆31、32，优选uv光之间。相机阵列和两个发光杆31、32平行于圆柱形杆20并且横向于片材材料5的传送路径布置。
[0066]
优选地，相机阵列捕获来自被照射的片材材料5的图像序列。从片材材料5反射并前进到相机34、35的光由参考标志37指示。每个相机34、35从不同角度捕获片材材料5的表面，以便获得表面的不同视角。两个uv发光杆31、32从不同角度照射片材材料5，由此减少对另一光源的光干扰。
[0067]
圆柱形杆20将频率传输到片材材料5。通过片材材料5的张力，振动通常不可见，然而，半松散或完全松散材料受振动影响且被搅动。松散材料的振动揭示了先前被松散材料覆盖的卷曲脊部。这降低了对片材材料5的表面的视觉图像的误解的风险。
[0068]
所捕获的图像可以在计算机系统(未示出)中处理或直接在设备的控制器中处理，如下所述。来自两个相机34、35的图片组合，以便确定被检查的片材材料5的卷曲效果的几何形状，并且还识别片材材料5的表面上的松散材料或片材材料5中的污染和缺陷。
[0069]
优选地，uv光具有在100nm与300nm之间，例如180nm的波长。uv光对细菌和其它病原体具有杀菌作用。因此，在被检查时，片材材料可以被灭菌，优选地是以连续模式被灭菌。
[0070]
如可从图1看到，检查台也可以独立于另外的制造或片材处理步骤来实现和应用。例如，如果可以检查预制造的箔片片材，则可以将其手动插入到检查台中。
[0071]
在图2中，示出了图1的检查台2的示意性绘制侧视图。相同参考数字用于相同元件。
[0072]
片材材料5在传送方向100上在圆柱形杆20上方被引导。由此，片材材料5从杆20下方被引导与杆20接触，并围绕杆20被引导至检查位置39。在图2中，传送方向100向上指向圆柱形杆20，并且在进入检查位置39时以及在离开检查台2之后基本水平地布置。检查位置39在下游方向上布置成从圆柱形杆20的中心略微移位。图像捕获区域38布置在检查位置39的中心中，并且当在传送方向100上观察时布置在杆20的中心附近和下游。图像捕获区域38基本上布置在片材材料5和杆20的接触区域下游。以双线绘制的片材材料5的超声激励区域26基本上从片材材料5快接触圆柱形杆20之前延伸到片材材料5不再与圆柱形杆20物理接触的刚过杆20位置的下游。
[0073]
两个光源31、32从检查位置39的上游和下游照射片材材料5。
[0074]
来自检查位置和来自片材材料5上的区域的光37(其中来自两个光源31、32的光干涉)发射到相机34、35，在相机处检测到发射的光。相机34、35布置在两个光源31、32之间。
[0075]
如果片材材料5是半透明材料，例如pla箔，那么在箔的底侧上的卷曲效果也由相机34、35捕获。
[0076]
图3中所示的设备大体上包括：供应装置，其用于提供在制造用于电子气溶胶生成装置中的气溶胶生成制品的过滤器或其它区段中使用的pla材料或另一片材材料的连续片材；用于卷曲连续片材材料的卷曲装置；条形成装置，其用于聚集连续卷曲片材材料且用包装物限定聚集材料以形成连续条；和切割装置，其用于将连续条切割成多个分立条。该设备还包括传送装置，其用于将连续片材材料从供应装置经由卷曲装置向下游传送通过设备到条形成装置。
[0077]
其它合适的材料是聚丙烯膜、聚乙烯膜、聚对苯二甲酸乙二醇酯膜、聚酯膜或乙酸纤维素膜。如图3所示，用于提供例如pla材料的连续片材的供应装置包括安装于筒管10上的连续片材材料5。卷曲装置包括一对可旋转卷曲辊11。在使用中，从筒管10抽取连续片材材料5，并且例如经由一系列导向辊和张紧辊(未示出)，由传送机构将连续片材材料从下游传送到一对卷曲辊11。当连续片材材料5在一对卷曲辊11之间进料时，卷曲辊接合连续片材材料5并且使其卷曲，以形成连续卷曲片材材料，所述连续卷曲片材材料具有与通过设备的片材材料的纵向轴线基本平行的多个间隔开的隆脊或波纹。
[0078]
连续卷曲片材材料5从一对卷曲辊11向下游朝向条形成装置输送。连续片材材料5通过汇聚漏斗或喇叭12进料。汇聚漏斗12相对于其纵向轴线，横向地聚集连续片材材料5。当连续材料片材5穿过汇聚漏斗12时，其呈现基本上圆柱形构形。
[0079]
当离开汇聚漏斗12时，聚集pla片材50包装在包装材料的连续片材中。包装材料的连续片材从筒管13进料，并且通过循环带式输送机或配件(garniture)14，包围在聚集的连续卷曲片材材料周围。如图3中所示，条形成装置包括胶粘剂施加装置15，其将胶粘剂施加于包装材料的连续片材的纵向边缘之一，使得当包装材料的连续片材的相对纵向边缘接触时，它们彼此粘附以形成连续条。
[0080]
条形成装置还包括在胶粘剂施加装置15下游的干燥装置16，在使用中，当连续条从条形成装置向下游传送到切割装置17时，所述干燥装置使施加于连续条的接缝的胶粘剂干燥。干燥装置优选地包括加热和压缩装置，使得片材材料51的包装条固定为其最终条形状。
[0081]
切割装置17通常包括旋转切割机，其将包装的连续条51切断成具有单位长度或多重单位长度的多根分立条52。
[0082]
图3中所示的设备还包括定位于卷曲装置和条形成装置之间的检查台2，用于在卷曲连续片材材料由汇聚漏斗12相对于其纵向轴线横向地聚集之前，检查卷曲连续片材材料。
[0083]
优选地，检查台2是如图1和图2中所描述和示出的检查台。连续片材材料5通过导辊18被引导和偏转，使得片材材料5接着从下方馈送到检查台2的圆柱形振动元件20上方。片材材料5通过检查台2的照明和检测单元30下方的检查位置前进。由检查台2获得的关于卷曲片材材料5的信息被发送到控制单元(未示出)。
[0084]
图3中所示的设备还包括布置在卷曲辊11上游的传感器单元40。传感器单元40可包括一个传感器，优选若干传感器，以用于测量或检测片材材料5的物理参数。此类参数可以是例如片材材料的厚度、片材材料5的拉伸或速度。因此，传感器单元40可包括厚度传感器和速度传感器。由传感器单元40的传感器测量的数据设置有时间戳，该时间戳也被发送至控制单元以进行进一步处理。
[0085]
图4示出条形成过程，然而，其中两个检查台2、22串联布置。其它设备部分与参照图3所示和描述的设备的设备部分基本上相同。图3中所示的设备的引导辊18由振动装置的圆柱形杆21替换。分配给圆柱形杆21的照明和检测单元33布置在片材材料5的传送路径下方，原因是片材材料5在圆柱形杆18下方水平地被引导并且围绕杆18被引导以与布置在更下游的另一个检查台的圆柱形杆20接触。
[0086]
在图4中，相同参考数字用于相同元件和相同设备部分。
[0087]
在材料不透明或单个检查台不足以检查两个表面的情况下，第二个检查台从下方检查pla的另一面。
[0088]
优选地，第二检查台22布置在圆柱形杆21下方和圆柱形杆20的上游，在检查台之间具有约20厘米与50厘米之间的优选距离。
[0089]
在图5中，以简化方式示出控制环的实例。
[0090]
来自在线检查台2、22的数据被发送至计算机系统81以进行数据评估。还将例如参考片材条件等目标值发送至计算机系统81。此评估的结果可用于反馈到片材处理设备，特别是反馈到卷曲装置。如果计算机系统81中的评估结果指示与期望结果有偏差，则该信息被发送至控制器83。然后，控制器启动卷曲辊之间辊隙110的改变。在检查台2、22中检查所得的修改的卷曲片材材料84，并且循环重新开始。在不可接受的不一致的情况下，由于通过改变设备参数无法校正与期望结果的偏差，来自计算机系统81的数据也将发送至控制器83，控制器随后停止生产设备，使得不制造不一致产品。
[0091]
计算机系统81可以例如生成关于传感器数据和图像集合的状态报告。这可以缩短设备的停机时间。
[0092]
计算机系统可以是控制器的整体部分，或者也可以部分地布置在检查台2、22的检测系统中。