一种Android系统设备的自动测试系统及其方法与流程

一种android系统设备的自动测试系统及其方法
技术领域
1.本发明涉及一种测试系统，特别涉及一种android系统设备的自动测试系统及其方法。


背景技术：

2.目前，企业日益增多的android系统设备具有多机型和多版本的特点，面对如此繁多的android系统设备，android系统设备的系统测试一直是研发工作的一个痛点。各个机型的android系统设备都需要进行覆盖测试，而测试软件过于冗杂，如果针对每一款机型都要开发对应机型的系统测试软件，管理越来越繁杂，当我们需要某一个机型的测试软件时，不仅要花费时间去找文件所在位置，而且开发一个机型的测试软件也耗费大量的研发成本。
3.同时，由于android系统设备的机型会不断更新换代，所以也要不断的根据设备要求开发新的系统测试软件，增加了成本，而如何提出一种在android系统设备上的通用的系统测试软件的使用方法，能够在android系统设备中实现通用，即使是新机型的设备，也可以做到仅需要通过修改少量的参数，就可以调出测试所需要的功能，以使系统测试软件更加方便使用和管理，正在成为一个亟待解决的技术问题。
4.因此，为解决目前现有技术中存在的上述缺陷，本发明特别提出一种android系统设备的测试系统及其方法，同时，增加了通用自动测试方法，以解决现有技术中存在的测试版本繁多，测试效率低下，并且，开发新的测试软件费用高，造成资源浪费的技术问题。


技术实现要素：

5.本发明针对上述现有技术中存在的测试版本繁多，测试效率低下，并且，开发新的测试软件费用高，造成资源浪费的技术问题，提出一种android系统设备的自动测试系统及其方法。
6.为了达到上述目的，本发明采用的技术方案为：
7.本发明实施例提供一种android系统设备的自动测试系统，该系统包括：
8.底层硬件驱动模块：用于基于调用底层封装函数，对硬件设备发出硬件操作指令；
9.系统测试模块：用于根据测试需求定义待测参数读取和解析规则，并基于待测参数发出测试指令驱动底层硬件驱动模块，以完成对硬件的测试操作；
10.测试激活模块：用于定义待测参数，并将待测参数存储于外部可移动存储介质中，当外部可移动存储介质连接到android系统设备时，自动激活系统测试模块进行待测参数的读取和解析后，驱动硬件设备，完成系统测试。
11.作为优选，上述android系统设备的自动测试系统，该系统还包括：
12.初始化模块：用于安装软件开发工具包，以对后续系统测试进行服务。
13.作为优选，上述外部可移动存储介质为usb盘。
14.作为优选，上述系统测试模块还包括：
15.待测参数自动读取模块：用于通过软件应用层来给所有需要测试的待测项定义读取规则，并通过读取usb盘中的待测参数，以确定需要测试的测试项；
16.待测参数自动解析模块：通过系统测试模块的读取规则读取到待测参数，以控制需要显示的待测试项。
17.作为优选，上述测试激活模块还包括：
18.激活参数确定模块：用于定义待测参数；
19.usb口数量确定模块：用于确定检测设备的usb口数量；
20.串口号确定模块：用于确定客显的串口号；
21.波特率确定模块：用于确定串口的波特率；
22.delay参数确定模块：用于确定检测完一个项目切换到下一个项目的间隔时间；
23.串口地址确定模块：用于确定设备串口地址。
24.本发明还提供一种android系统设备的自动测试方法，采用如上任意一项所述测试系统，该方法包括：
25.底层硬件驱动步骤：用于基于调用底层封装函数，对硬件设备发出硬件操作指令；
26.系统测试步骤：用于根据测试需求定义待测参数读取和解析规则，并基于待测参数发出测试指令驱动底层硬件驱动模块，以完成对硬件的测试操作；
27.测试激活步骤：用于定义待测参数，并将待测参数存储于外部可移动存储介质中，当外部可移动存储介质连接到android系统设备时，自动激活系统测试模块进行待测参数的读取和解析后，驱动硬件设备，完成系统测试。
28.作为优选，上述android系统设备的自动测试方法，该方法还包括：
29.初始化步骤：用于安装软件开发工具包，以对后续系统测试进行服务。
30.作为优选，上述外部可移动存储介质为usb盘。
31.作为优选，上述系统测试步骤还包括：
32.待测参数自动读取步骤：用于通过软件应用层来给所有需要测试的待测项定义读取规则，并通过读取usb盘中的待测参数，以确定需要测试的测试项；
33.待测参数自动解析步骤：通过系统测试模块的读取规则读取到待测参数，以控制需要显示的待测试项。
34.作为优选，上述测试激活步骤还包括：
35.激活参数确定步骤：用于定义待测参数；
36.usb口数量确定步骤：用于确定检测设备的usb口数量；
37.串口号确定步骤：用于确定客显的串口号；
38.波特率确定步骤：用于确定串口的波特率；
39.delay参数确定步骤：用于确定检测完一个项目切换到下一个项目的间隔时间；
40.串口地址确定步骤：用于确定设备串口地址。
41.与现有技术相比，本发明的优点和积极效果在于：
42.(1)各个机型的android系统设备都需要进行覆盖测试，而测试软件过于冗杂，本发明针对提出了一种通用的，可扩展的系统测试方法；
43.(2)本发明系统测试方法，节约了花费时间去找文件所在位置，而且极大节约了开发一个机型的测试软件耗费大量的研发成本；
44.(3)通用的系统测试软件的使用方法，能够在android系统设备中实现通用，即使是新机型的设备，也可以做到仅需要通过修改少量的参数，就可以自动调出测试所需要的功能，并且方便了系统测试软件的使用和管理；
45.(4)同时，减少测试人员的工作量和工作时间，降低开发工作量，提高测试工作效率，确保产品无缝自动测试。
附图说明
46.图1为本发明自动测试系统结构示意图；
47.图2为本发明系统测试模块示意图；
48.图3为本发明测试激活模块示意图；
49.图4为本发明系统测试方法流程示意图。
50.以上各图中：
51.自动测试系统100
52.10、底层硬件驱动模块
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20、系统测试模块
53.30、测试激活模块
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40、初始化模块
54.21、待测参数自动读取模块
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22、待测参数自动解析模块
55.31、激活参数确定模块
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32、usb口数量确定模块
56.33、串口号确定模块
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34、波特率确定模块
57.35、delay参数确定模块
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36、串口地址确定模块
具体实施方式
58.下面将结合附图对本发明具体实施例中的技术方案进行详细、完整的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明总的技术方案的部分具体实施方式，而非全部的实施方式。基于本发明的总的构思，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都落于本发明保护的范围。
59.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
60.术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。
61.在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
62.本发明旨在解决现有android系统设备的机型会不断更新换代，所以也要不断的根据设备要求开发新的系统测试软件，增加了成本，而这种在android系统设备上的通用的系统测试软件的使用方法，会在android系统设备中实现通用，即使是新机型的设备，也可
以做到仅需要在txt文档修改少量的参数，就可以调出我们所需要的功能。这样可以使系统测试软件更加方便使用和管理。
63.为了实现系统测试软件的通用性，所以设计一款系统测试软件，在按照操作步骤安装后，通过将待测参数拷贝到外部可移动存储介质，如u盘，插入u盘自动控制测试项可轻松实现用一个测试软件在各个机型上使用。
64.以下结合具体实施例及附图对本发明android系统设备的自动测试系统及其方法进行详尽说明：
65.图1为本发明自动测试系统结构示意图，如图1所示，本发明实施例提供一种android系统设备的自动测试系统100，该系统包括：
66.底层硬件驱动模块10：用于基于调用底层封装函数，对硬件设备发出硬件操作指令；
67.系统测试模块20：用于根据测试需求定义待测参数读取和解析规则，并基于待测参数发出测试指令驱动底层硬件驱动模块，以完成对硬件的测试操作；
68.测试激活模块30：用于定义待测参数，并将待测参数存储于外部可移动存储介质中，当外部可移动存储介质连接到android系统设备时，自动激活系统测试模块进行待测参数的读取和解析后，驱动硬件设备，完成系统测试。
69.本发明具体实施例中，采用外部可移动存储介质为usb盘。但本发明并不限于其他可移动存储介质，还可以为cd光盘等。
70.作为优选，上述android系统设备的自动测试系统100，该系统还包括：
71.初始化模块40：用于安装软件开发工具包，以对后续系统测试进行服务。
72.其中，图2为本发明系统测试模块示意图，如图2所示，系统测试模块20还包括：
73.待测参数自动读取模块21：用于通过软件应用层来给所有需要测试的待测项定义读取规则，并通过读取usb盘中的待测参数，以确定需要测试的测试项；
74.待测参数自动解析模块22：通过系统测试模块的读取规则读取到待测参数，以控制需要显示的待测试项。
75.其中，图3为本发明测试激活模块示意图，如图3所示，测试激活模块30还包括：
76.激活参数确定模块31：用于定义待测参数；
77.usb口数量确定模块32：用于确定检测设备的usb口数量；
78.串口号确定模块33：用于确定客显的串口号；
79.波特率确定模块34：用于确定串口的波特率；
80.delay参数确定模块35：用于确定检测完一个项目切换到下一个项目的间隔时间；
81.串口地址确定模块36：用于确定设备串口地址。
82.本发明还提供一种android系统设备的自动测试方法，采用如上任意一项所述测试系统100，图4为本发明系统测试方法流程示意图，如图4所示，该方法包括：
83.底层硬件驱动步骤：用于基于调用底层封装函数，对硬件设备发出硬件操作指令；
84.系统测试步骤：用于根据测试需求定义待测参数读取和解析规则，并基于待测参数发出测试指令驱动底层硬件驱动模块，以完成对硬件的测试操作；
85.测试激活步骤：用于定义待测参数，并将待测参数存储于外部可移动存储介质中，当外部可移动存储介质连接到android系统设备时，自动激活系统测试模块进行待测参数
的读取和解析后，驱动硬件设备，完成系统测试。
86.本发明具体实施例中，采用外部可移动存储介质为usb盘。但本发明并不限于其他可移动存储介质，还可以为cd光盘等。
87.进一步的，该方法还包括：
88.初始化步骤：用于安装软件开发工具包，以对后续系统测试进行服务。
89.其中，系统测试步骤还包括：
90.待测参数自动读取步骤：用于通过软件应用层来给所有需要测试的待测项定义读取规则，并通过读取usb盘中的待测参数，以确定需要测试的测试项；
91.待测参数自动解析步骤：通过系统测试模块的读取规则读取到待测参数，以控制需要显示的待测试项。
92.其中，测试激活步骤还包括：
93.激活参数确定步骤：用于定义待测参数；
94.usb口数量确定步骤：用于确定检测设备的usb口数量；
95.串口号确定步骤：用于确定客显的串口号；
96.波特率确定步骤：用于确定串口的波特率；
97.delay参数确定步骤：用于确定检测完一个项目切换到下一个项目的间隔时间；
98.串口地址确定步骤：用于确定设备串口地址。
99.以下通过本发明具体实施例一对本发明方法的原理及步骤进行详细说明：
100.1.安装sdk包，用来服务后续安装的系统测试软件apk.sdk叫软件开发工具包，我们这是将对硬件的操作(比如对打印机的打印指令)都封装起来，对外开放一些功能。应用层开发无需关心如何操作硬件，而是直接调用sdk封装好的函数即可，机器指令被封装起来，提高了系统的安全性。
101.2.系统测试软件，这是在安装设备的页面显示的。通过软件应用层来给所有需要测试的项定义好读取的顺序(比如屏幕测试我们定义顺序1，触摸屏测试定义顺序2，以次类推)，然后通过读取u盘中的“item”参数，来确定我们需要显示的测试项。“item”参数有多少项，即说明测试软件定义了多少项，而这些被测试单项通过第3步骤激活的，通过测试软件的读取程序读取到item参数，来控制显示的测试单项。
102.3.修改txt文档的参数，根据txt里面的内容来激活对应的测试项，适应所选机型，然后把文档拷贝到u盘，需要测试时，将u盘插入所要测试机器的usb口，保持插入的状态，进行后续的测试操作。
103.txt文档内容：
[0104][0105]
通过item参数选择软件中的激活单项，"0"代表不选，"1"代表选择；
[0106]
通过usbchecknum参数，确定检测设备的usb口数量；
[0107]
通过dspport参数，确定客显的串口号；
[0108]
通过dspbaud参数，确定串口的波特率；
[0109]
通过delay参数，确定自动检测，检测完一个项目切换到下一个项目的时间。越短越快，不能为0；
[0110]
通过sclcomio参数，确定电子秤串口地址；
[0111]
需要注意的时当我们要测试的设备没有相关参数项时，那么相关参数也会失效。比如有一设备没有称台，那么sclcomio参数也就是无效参数。
[0112]
4.打开软件，完成系统测试。
[0113]
本发明的关键点是通过插入的u盘控制需要展示在系统测试软件的测试项更有选择性，并且通过修改txt文档里的参数可以控制需要测试的接口数量以及显示在系统测试软件里面的测试项的个数，这样既可以保证针对不同机型的测试项不同做出选择，也可以针对不同的接口做出合理的调试。并且通过软件开发者直接调用sdk封装好的函数进行软件开发，更加安全，底层机器指令被封装，提高了测试系统的通用性和可维护性。
[0114]
本发明测试系统针对目前各个机型的android系统设备都需要进行覆盖测试，而测试软件过于冗杂的技术问题，本发明针对提出了一种通用的，可扩展的系统测试方法；本发明系统测试方法，节约了花费时间去找文件所在位置，而且极大节约了开发一个机型的测试软件耗费大量的研发成本；通用的系统测试软件的使用方法，能够在android系统设备中实现通用，即使是新机型的设备，也可以做到仅需要通过修改少量的参数，就可以自动调出测试所需要的功能，并且方便了系统测试软件的使用和管理；同时，减少测试人员的工作量和工作时间，降低开发工作量，提高测试工作效率，确保产品无缝自动测试。
[0115]
以上所述为本发明的具体实施方式，其目的在于让技术人员能够了解本发明的内容并加以实施，并不能以此限制本发明的保护范围，任何根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围内。需要说明的是，在附图或说明书正文中，未绘出或描述的实现方式，均为所属技术领域中普通技术人员所知的形式，并未
进行详细说明。此外，上述对各部件和工艺方法的定义并不仅限于实施例中提到的各种具体结构、形状或方式。