塑料光纤的芯径测量方法及用于该塑料光纤的芯径测量方法的塑料光纤的芯径测量装置、塑料光纤的缺陷检测方法及用于该塑料光纤的缺陷检测方法的塑料光纤的缺陷检测装置与流程

技术特征：
1.一种塑料光纤的芯径测量方法，用于测量塑料光纤的芯径，所述塑料光纤的芯径测量方法的特征在于，包括以下工序：摄像工序，设置朝向所述塑料光纤的一个侧面照射光的光照射机构和拍摄所述塑料光纤的、被照射光的侧面的相反侧的侧面的摄像机构，从所述光照射机构向塑料光纤的侧面照射光，通过所述摄像机构来拍摄所述塑料光纤的相反侧的侧面，来得到图像数据；以及数据处理工序，对由所述摄像机构得到的塑料光纤的图像数据进行处理，其中，在所述摄像工序中，将所述光照射机构的发光宽度设为w，将光照射机构的发光位置与所述塑料光纤的侧面之间的最短距离设为d，将所述光照射机构和塑料光纤配置为使最短距离d相对于所述发光宽度w的比即d/w为0.9～1.3，在所述数据处理工序中，根据所述塑料光纤的图像数据来获取塑料光纤的侧面的光强度分布，基于所述光强度分布来计算所述塑料光纤的芯径。2.根据权利要求1所述的塑料光纤的芯径测量方法，其特征在于，在所述摄像工序中，从至少两个方向对所述塑料光纤进行光照射和拍摄来得到所述塑料光纤的、方向不同的至少两个侧面的图像数据，并且，在所述数据处理工序中，基于根据至少两个所述图像数据获取到的光强度分布来计算所述塑料光纤的芯径。3.根据权利要求1或2所述的塑料光纤的芯径测量方法，其特征在于，在所述数据处理工序中，基于根据所述塑料光纤的图像数据获取到的塑料光纤的径向上的光强度分布，来计算所述塑料光纤的芯径和包层径。4.根据权利要求3所述的塑料光纤的芯径测量方法，其特征在于，在所述数据处理工序中，基于计算出的所述塑料光纤的芯径和包层径来计算所述塑料光纤的偏心量。5.一种塑料光纤的芯径测量装置，测量具有芯和包层的塑料光纤的芯径，所述芯径测量装置的特征在于，具备：光照射机构，其朝向所述塑料光纤的一个侧面照射光；摄像机构，其设置于相对于所述塑料光纤与所述光照射机构相反的一侧，所述摄像机构拍摄所述塑料光纤的、被照射光的侧面的相反侧的侧面；以及数据处理机构，其对由所述摄像机构得到的塑料光纤的图像数据进行处理，将所述光照射机构的发光宽度设为w，将所述光照射机构的发光位置与所述塑料光纤的侧面之间的最短距离设为d，所述光照射机构被配置为使最短距离d相对于所述发光宽度w的比即d/w为0.9～1.3，所述数据处理机构被设定为：根据所述塑料光纤的图像数据来获取塑料光纤的径向上的光强度分布，基于所述光强度分布来计算所述塑料光纤的芯径。6.根据权利要求5所述的塑料光纤的芯径测量装置，其特征在于，对所述塑料光纤至少从两个方向进行利用所述光照射机构进行的光照射和利用摄像机构进行的拍摄，得到所述塑料光纤的、方向不同的至少两个侧面的图像数据，所述数据处理机构被设定为：基于根据至少两个所述图像数据获取到的光强度分布，来计算所述塑料光纤的芯径。7.根据权利要求6所述的塑料光纤的芯径测量装置，其特征在于，包括隔着所述塑料光纤相对的光照射机构和摄像机构的摄像单元以相对于塑料光纤
而言方向不同的配置设置有至少两组。8.根据权利要求6所述的塑料光纤的芯径测量装置，其特征在于，包括隔着所述塑料光纤相对的光照射机构和摄像机构的摄像单元设置有单独一组，所述塑料光纤与所述摄像单元的相对配置能够变更。9.根据权利要求5至8中的任一项所述的塑料光纤的芯径测量装置，其特征在于，所述数据处理机构被设定为：基于根据所述塑料光纤的图像数据获取到的塑料光纤的径向上的光强度分布，来计算所述塑料光纤的芯径和包层径。10.根据权利要求9所述的塑料光纤的芯径测量装置，其特征在于，所述数据处理机构被设定为：基于计算出的所述塑料光纤的芯径和包层径，来计算所述塑料光纤的偏心量。11.一种塑料光纤的缺陷检测方法，用于检测塑料光纤的缺陷，所述塑料光纤的缺陷检测方法的特征在于，包括以下工序：摄像工序，设置朝向所述塑料光纤的一个侧面照射光的光照射机构和与所述光照射机构对应的拍摄所述塑料光纤的、被照射光的侧面的相反侧的侧面的摄像机构，所述光照射机构均向塑料光纤的侧面照射光，通过与所述光照射机构对应的摄像机构来拍摄所述塑料光纤的相反侧的侧面，来得到图像数据；以及数据处理工序，对由所述摄像机构得到的图像数据进行处理，其中，在所述摄像工序中，将所述光照射机构的发光宽度设为w，将光照射机构的发光位置与所述塑料光纤的侧面之间的最短距离设为d，将所述光照射机构和所述塑料光纤配置为使最短距离d相对于所述发光宽度w的比即d/w均为0.9～1.3，在所述摄像工序中，从至少两个方向对所述塑料光纤进行光照射和拍摄来得到所述塑料光纤的、方向不同的至少两个侧面的图像数据，并且，在所述数据处理工序中，根据至少两个所述图像数据来获取塑料光纤的侧面的至少两个光强度分布，基于所述至少两个光强度分布来检测所述塑料光纤的缺陷。12.一种塑料光纤的缺陷检测装置，检测塑料光纤的缺陷，所述塑料光纤的缺陷检测装置的特征在于，具备：摄像机构，其设置朝向所述塑料光纤的一个侧面照射光的光照射机构和与所述光照射机构对应的拍摄所述塑料光纤的、被照射光的侧面的相反侧的侧面的摄像机构，所述光照射机构均向塑料光纤的侧面照射光，通过与所述光照射机构对应的摄像机构来拍摄所述塑料光纤的相反侧的侧面，来得到图像数据；以及数据处理机构，其对由所述摄像机构得到的图像数据进行处理，其中，将所述光照射机构的发光宽度设为w，将光照射机构的发光位置与所述塑料光纤的侧面之间的最短距离设为d，所述光照射机构被配置为使最短距离d相对于所述发光宽度w的比即d/w均为0.9～1.3，在上述摄像工序中，从至少两个方向对所述塑料光纤进行光照射和拍摄来得到所述塑料光纤的、方向不同的至少两个侧面的图像数据，所述数据处理机构被设定为：基于根据至少两个所述图像数据获取到的光强度分布，来检测所述塑料光纤的缺陷。13.一种塑料光纤的缺陷检测方法，用于检测塑料光纤的缺陷，所述塑料光纤的缺陷检
测方法的特征在于，包括以下工序：摄像工序，设置朝向所述塑料光纤的一个侧面照射光的至少三个光照射机构以及与所述光照射机构对应的拍摄所述塑料光纤的、被照射光的侧面的相反侧的侧面的摄像机构，所述光照射机构均向塑料光纤的侧面照射光，通过与所述光照射机构对应的摄像机构来拍摄所述塑料光纤的相反侧的侧面，来得到至少三个图像数据；以及数据处理工序，对由所述摄像机构得到的至少三个图像数据进行处理，其中，在所述摄像工序中，将所述光照射机构的发光宽度设为w，将光照射机构的发光位置与所述塑料光纤的侧面之间的最短距离设为d，将所述光照射机构和所述塑料光纤配置为使最短距离d相对于所述发光宽度w的比即d/w均为0.9～1.3，在所述数据处理工序中，根据所述至少三个图像数据来获取塑料光纤的侧面的至少三个光强度分布，基于所述至少三个光强度分布来检测所述塑料光纤的缺陷。14.一种塑料光纤的缺陷检测装置，检测塑料光纤的缺陷，所述塑料光纤的缺陷检测装置的特征在于，具备：摄像机构，其设置朝向所述塑料光纤的一个侧面照射光的至少三个光照射机构以及与所述光照射机构对应的拍摄所述塑料光纤的、被照射光的侧面的相反侧的侧面的摄像机构，所述光照射机构均向塑料光纤的侧面照射光，通过与所述光照射机构对应的摄像机构来拍摄所述塑料光纤的相反侧的侧面，来得到至少三个图像数据；以及数据处理机构，其对由所述摄像机构得到的至少三个图像数据进行处理，其中，将所述光照射机构的发光宽度设为w，将光照射机构的发光位置与所述塑料光纤的侧面之间的最短距离设为d，所述光照射机构被配置为使最短距离d相对于所述发光宽度w的比即d/w均为0.9～1.3，所述数据处理机构被设定为：根据所述至少三个图像数据来获取塑料光纤的侧面的至少三个光强度分布，基于所述至少三个光强度分布来检测所述塑料光纤的缺陷。

技术总结
为了提供一种能够准确地测量塑料光纤(POF)的芯径的POF的芯径测量方法及POF的芯径测量装置、POF的缺陷检测方法及用于该POF的缺陷检测方法的POF的缺陷检测装置，具备朝向POF(1)的侧面照射光的光照射机构(2、2')、设置于相对于上述POF(1)与上述光照射机构(2、2')相反的一侧的摄像机构(3、3')、以及对由上述摄像机构(3、3')得到的POF(1)的图像数据进行处理来计算POF(1)的芯径的数据处理机构，将上述光照射机构(2、2')的发光宽度设为W，将上述光照射机构(2、2')的发光位置与上述POF(1)的侧面之间的最短距离设为D，将上述光照射机构(2、2')配置为使最短距离D相对于上述发光宽度W的比(D/W)为0.9～1.3。比(D/W)为0.9～1.3。比(D/W)为0.9～1.3。


技术研发人员：坂本优 末广一郎
受保护的技术使用者：日东电工株式会社
技术研发日：2020.02.03
技术公布日：2021/10/19