一种软切换的测试装置方法与流程

1.本发明涉及plc模拟量模块测试技术领域，具体为一种软切换的测试装置方法。


背景技术：

2.plc指可编程逻辑控制器，是种专门为在工业环境下应用而设计的数字运算操作电子系统，它采用一种可编程的存储器，在其内部存储执行逻辑运算、顺序控制、定时、计数和算术运算等操作的指令，通过数字式或模拟式的输入输出来控制各种类型的机械设备或生产过程，为了适应工业控制中大量模拟量控制信号采集的需求，plc在数据处理和模拟量处理等方面的功能不断增强，使其可以广泛应用于模拟控制系统中。
3.现有的plc模拟量模块测试的方案主要采用上位机通用平台 通用装备平台 型号小工装，通过通用装备平台里面的pcb板电路和通过继电器切换不同的信号，末端通过型号小工装和待测件连接，以实现多种型号的兼容测试，而通过pcb板电路和继电器电路在进行硬切换会导致在切换过程中模拟量模块测试的稳定性差，且制作和设计pcb板电路切换电路的成本较高，与待测件连接的工装夹具占取空间大，为此我们提出了一种软切换的测试装置方法。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于提供一种软切换的测试装置方法，以解决上述背景技术中提出的通过pcb板电路和继电器电路在进行硬切换会导致在切换过程中模拟量模块测试的稳定性差，且制作和设计pcb板电路切换电路的成本较高，与待测件连接的夹具占取空间大的问题。
5.为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种软切换的测试装置方法，包括ate上位机通用平台、ate下位机系统、ate机柜、针板和仪表，所述ate上位机通用平台和ate下位机系统通过通讯协议进行通信，所述ate机柜内置所述针板，其测试流程包括如下步骤：
6.s1：上位机通用平台通过扫描二维码获取相关产品型号，传递给ate下位机系统；
7.s2：ate下位机系统根据型号选定内置的ate下位机测试程序，并在ate下位机测试程序内部预先选定对应的模块上下行信号；
8.s3：通过针板切换和待测件进行连接，并对待测件进行模拟量模块测试。
9.优选的，所述s2中ate下位机测试程序兼容多款型号，并根据待测模块硬件接口进行分类。
10.与现有技术相比，本发明的有益效果是：该软切换的测试装置方法，通过上位机获取产品型号配合ate下位机系统选定对应的ate下位机测试程序并选定对应的模块的上下行信号，通过软切换把多个一对一测试进行集合，减少了pcb板及继电器电路，提高模拟量模块测试的稳定性，同时也减少了制作pcb切换电路的硬件及设计成本，通过使用针板切换代替工装夹具，并内置存放于ate机柜，减少了夹具存放空间。
具体实施方式
11.下面本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
12.实施例
13.一种软切换的测试装置方法，包括ate上位机通用平台、ate下位机系统、ate机柜、针板和仪表，所述ate上位机通用平台和ate下位机系统通过通讯协议进行通信，所述ate机柜内置所述针板；
14.其测试流程为首先上位机通用平台通过扫描二维码获取相关产品型号，传递给ate下位机系统，然后ate下位机系统根据型号选定内置的ate下位机测试程序，并在ate下位机测试程序内部预先选定对应的模块上下行信号，通过针板切换和待测件进行连接，并对待测件进行模拟量模块测试。
15.其中，ate下位机测试程序兼容多款型号，并根据待测模块硬件接口进行分类。
16.本发明中通过上位机获取产品型号配合ate下位机系统选定对应的ate下位机测试程序并选定对应的模块的上下行信号，通过软切换把多个一对一测试进行集合，减少了pcb板及继电器电路，提高模拟量模块测试的稳定性，同时也减少了制作pcb切换电路的硬件及设计成本，通过使用针板切换代替工装夹具，并内置存放于ate机柜，减少了夹具存放空间。
17.需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
18.虽然在上文中已经参考实施例对本发明进行了描述，然而在不脱离本发明的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，本发明所披露的实施例中的各项特征均可通过任意方式相互结合起来使用，在本说明书中未对这些组合的情况进行穷举性的描述仅仅是出于省略篇幅和节约资源的考虑。因此，本发明并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。


技术特征：
1.一种软切换的测试装置方法，其特征在于，包括ate上位机通用平台、ate下位机系统、ate机柜、针板和仪表，所述ate上位机通用平台和ate下位机系统通过通讯协议进行通信，所述ate机柜内置所述针板，其测试流程包括如下步骤：s1：上位机通用平台通过扫描二维码获取相关产品型号，传递给ate下位机系统；s2：ate下位机系统根据型号选定内置的ate下位机测试程序，并在ate下位机测试程序内部预先选定对应的模块上下行信号；s3：通过针板切换和待测件进行连接，并对待测件进行模拟量模块测试。2.根据权利要求1所述的一种软切换的测试装置方法，其特征在于：所述s2中ate下位机测试程序兼容多款型号，并根据待测模块硬件接口进行分类。

技术总结
本发明公开了PLC模拟量模块测试技术领域的一种软切换的测试装置方法，包括ATE上位机通用平台、ATE下位机系统、ATE机柜、针板和仪表，所述ATE上位机通用平台和ATE下位机系统通过通讯协议进行通信，所述ATE机柜内置所述针板,该软切换的测试装置方法通过上位机获取产品型号配合ATE下位机系统选定对应的ATE下位机测试程序并选定对应的模块的上下行信号，通过软切换把多个一对一测试进行集合，减少了PCB板及继电器电路，提高模拟量模块测试的稳定性，同时也减少了制作PCB切换电路的硬件及设计成本，通过使用针板切换代替工装夹具，并内置存放于ATE机柜，减少了夹具存放空间。减少了夹具存放空间。


技术研发人员：万燕斌 邹杰 蔡传传
受保护的技术使用者：深圳市合信自动化技术有限公司
技术研发日：2021.07.01
技术公布日：2021/9/9