识别集成电路缺陷的系统和方法以及计算机可读存储介质与流程

技术特征：
1.一种识别集成电路的缺陷的方法，包括：获得集成电路的电路设计，所述电路设计包括彼此通信连接的一个或多个单元的相应网表；识别与所述一个或多个单元中的一个对应的所述网表，所述单元包括一个或多个输入端、一个或多个输出端以及经由所述单元内的相应的一个或多个互连件而彼此通信连接的多个电路元件；将缺陷注入所述多个电路元件中的一个以及所述一个或多个互连件；通过向所述单元的所述一个或多个输入端施加多个激励来获取被注入所述缺陷的所述单元的位置处的第一电流波形；通过向所述单元的所述一个或多个输入端施加相同激励来在未注入所述缺陷的情况下获取所述单元的所述位置处的第二电流波形；以及基于所述第一电流波形和所述第二电流波形用所述缺陷来选择性地注释所述单元的输入/输出表。2.根据权利要求1所述的方法，其中，识别所述单元的所述网表还包括：定位与所述一个或多个单元中的至少第二个连接的所述单元的所述一个或多个输入；以及定位与所述一个或多个单元中的至少第三个连接的所述单元的所述一个或多个输入。3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个电路元件包括至少一个有源电路元件，注入所述缺陷还包括：断开所述至少一个有源电路元件的多个端子中的两个。4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个电路元件包括至少一个有源电路元件，注入所述缺陷还包括：短接所述至少一个有源电路元件的多个端子中的两个。5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个电路元件包括无源电路元件，注入所述缺陷还包括：在一定范围内变化所述无源电路元件的设计意图值。6.根据权利要求1所述的方法，其中，注入所述缺陷还包括：断开所述一个或多个互连件中的至少一个。7.根据权利要求1所述的方法，还包括：通过向所述单元的所述一个或多个输入端施加相同激励来在注入所述缺陷的情况下获取所述单元的所述一个或多个输出端处的第一电压波形；通过向所述单元的所述一个或多个输入端施加相同激励来在未注入所述缺陷的情况下获取所述单元的所述一个或多个输出端处的第二电压波形；将所述第一电压波形与所述第二电压波形进行比较；以及响应于确定所述第一电压波形与所述第二电压波形之间的差异满足第一阈值，将所述缺陷识别为第一类型的缺陷。8.根据权利要求7所述的方法，还包括：响应于确定所述第一电压波形与所述第二电压波形之间的所述差异满足所述第一阈值，识别所述激励中的哪一个对应于所确定的所述差异；以及
通过关联所识别的所述激励与所述缺陷来注释所述单元的所述输入/输出表。9.一种识别集成电路缺陷的系统，包括一个或多个处理器，所述一个或多个处理器被配置为：识别与彼此通信连接以形成集成电路的多个单元中的单元对应的网表；向所述单元内的位置注入缺陷；通过向所述单元的一个或多个输入端施加多个激励来获取被注入所述缺陷的所述单元的一个或多个输出端处的第一电压波形；通过向所述单元的所述一个或多个输入端施加相同激励来获取未被注入所述缺陷的所述单元的所述一个或多个输出端处的第二电压波形；将所述第一电压波形与所述第二电压波形进行比较；响应于确定所述第一电压波形与所述第二电压波形之间的差异满足第一阈值来用第一类型的所述缺陷注释所述单元的输入/输出表；响应于确定在注入了所述缺陷的情况下所述第一电压波形与所述第二电压波形之间的所述差异不满足所述第一阈值，通过向所述单元的所述一个或多个输入端施加相同激励来获取所述单元内的所述位置处的第一电流波形；通过向所述单元的所述一个或多个输入端施加相同激励来在未注入所述缺陷的情况下获取所述单元内的所述位置处的第二电流波形；以及响应于确定所述第一电压波形与所述第二电压波形之间的差异满足第二阈值来用第二类型的所述缺陷注释所述单元的所述输入/输出表。10.一种计算机可读存储介质，其上面具有存储的指令，当由计算机执行时所述指令使得所述计算机执行方法，所述方法包括：识别与彼此通信连接以形成集成电路的多个单元中的单元对应的网表；从所述网表识别所述单元的一个或多个输入端、所述单元的一个或多个输出端以及经由所述单元内的一个或多个相应互连件彼此通信连接的多个电路元件；将缺陷注入所述多个电路元件中的一个以及所述一个或多个互连件；模拟具有注入的所述缺陷的所述单元，以获取所述单元内的注入所述缺陷的位置处的第一电流波形；模拟不具有注入的所述缺陷的所述单元，以获取所述单元内的注入所述缺陷的所述位置处的第二电流波形；以及基于所述第一电流波形与所述第二电流波形的比较来用电流类型的所述缺陷选择性地注释所述单元的输入/输出表。

技术总结
识别集成电路缺陷的方法：获得集成电路的电路设计，电路设计包括彼此耦接的一个或多个单元的网表；识别与一个或多个单元中的一个对应的网表；将缺陷注入多个电路元件之一以及单元的一个或多个互连件；通过向单元的输入端施加激励来获取单元的被注入缺陷的位置处的第一电流波形；通过向单元的输入端施加相同激励来在未注入缺陷的情况下获取单元的位置处的第二电流波形；以及基于第一电流波形和第二电流波形来选择性注释具有缺陷的单元的输入/输出表。本发明的实施例还涉及识别集成电路缺陷检的系统以及计算机可读存储介质。检的系统以及计算机可读存储介质。检的系统以及计算机可读存储介质。


技术研发人员：安基达
受保护的技术使用者：台湾积体电路制造股份有限公司
技术研发日：2021.02.10
技术公布日：2021/10/19