针对发光二极管的内建自测试的制作方法

技术特征：
1.一种包含内建自测试的设备，所述内建自测试用于检测在发光二极管led集合中的第一led和第二led之间的故障，所述设备包括：焊盘集合，包括：第一焊盘对，被配置为连接到所述第一led；第二焊盘对，被配置为连接到所述第二led；驱动器集合，其中所述驱动器集合中的每个驱动器包括通过设备，所述通过设备被配置为电连接到所述焊盘集合中的相应焊盘，并且其中所述驱动器集合中的每个驱动器被配置为控制所述led集合中的相应led是被导通还是关断；以及处理电路装置，被配置为：使得第一驱动器控制第一相应通过设备以导通所述第一led；使得第二驱动器控制第二相应通过设备以关断所述第二led；确定所述第一led两端的第一正向电压；确定所述第二led两端的第二正向电压；以及基于所述第一正向电压和所述第二正向电压，确定在所述第一led和所述第二led之间是否存在故障。2.根据权利要求1所述的设备，其中所述处理电路装置还被配置为：确定所述第一正向电压是否在被激活的led的第一可接受范围之外；以及确定所述第二正向电压是否在被去激活的led的第二可接受范围之外，其中所述处理电路装置被配置为响应于以下项而确定存在所述故障：确定所述第一正向电压在所述第一可接受范围之外；或者确定所述第二正向电压在所述第二可接受范围之外。3.根据权利要求2所述的设备，其中所述处理电路装置被配置为：通过确定所述第一正向电压小于被激活的led的第一阈值电平，确定所述第一正向电压是否在所述第一可接受范围之外。4.根据权利要求2所述的设备，其中所述处理电路装置被配置为：通过确定所述第二正向电压大于被去激活的led的第二阈值电平，确定所述第二正向电压是否在所述第二可接受范围之外。5.根据权利要求1所述的设备，还包括差分模数转换器adc，所述差分adc被配置为：在所述差分adc的第一输入处接收第一信号，所述第一信号指示所述第一焊盘对的阳极焊盘处的电压电平；在所述差分adc的第二输入处接收第二信号，所述第二信号指示所述第一焊盘对的阴极焊盘处的电压电平；以及将指示所述第一led两端的所述第一正向电压的数字数输出到所述处理电路装置。6.根据权利要求5所述的设备，其中所述处理电路装置还被配置为：使得所述差分adc的所述第一输入接收第三信号，而不是接收所述第一信号，所述第三信号指示所述第二焊盘对的阳极焊盘处的电压电平；以及使得所述差分adc的所述第二输入接收第四信号，而不是接收所述第二信号，所述第四信号指示所述第二焊盘对的阴极焊盘处的电压电平。7.根据权利要求1所述的设备，其中所述处理电路装置还被配置为：响应于确定在所述
第一led和所述第二led之间存在所述故障，递增计数器。8.根据权利要求7所述的设备，其中所述处理电路装置还被配置为：经由诊断接口，将所述计数器的值输出到外部设备。9.根据权利要求1所述的设备，还包括存储器，其中所述处理电路装置还被配置为：响应于确定在所述第一led和所述第二led之间存在所述故障，将所述第一led的位置和所述第二led的位置存储到所述存储器。10.根据权利要求9所述的设备，其中所述处理电路装置还被配置为：经由诊断接口，将所述第一led的所述位置和所述第二led的所述位置输出到外部设备。11.根据权利要求1所述的设备，其中所述处理电路装置还被配置为使得所述驱动器集合：将所述led集合的第一子集导通；以及将所述led集合的第二子集关断，其中所述第一子集和所述第二子集形成棋盘图案。12.根据权利要求1所述的设备，其中所述处理电路装置被配置为经由诊断接口而从外部设备接收信号，并且其中所述处理电路装置被配置为：响应于从所述外部设备接收所述信号，确定在所述第一led和所述第二led之间是否存在所述故障。13.根据权利要求1所述的设备，其中所述处理电路装置被配置为：在所述设备的启动阶段期间，确定在所述第一led和所述第二led之间是否存在所述故障。14.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一led与所述第二led相邻。15.根据权利要求1所述的设备，其中所述处理电路装置被配置为：通过确定在所述第一焊盘对的阴极焊盘与所述第二焊盘对的阴极焊盘之间存在短路，确定存在所述故障。16.一种用于内建自测试的方法，所述内建自测试用于检测在led集合中的第一led和第二led之间的故障，所述方法包括：使得驱动器集合中的第一驱动器控制第一相应通过设备以导通所述第一led，其中所述驱动器集合中的每个驱动器包括通过设备，所述通过设备被电连接到所述led集合中的相应led，并且其中所述驱动器集合中的每个驱动器被配置为控制所述led集合中的相应led是被导通还是关断；使得所述驱动器集合中的第二驱动器控制第二相应通过设备以关断所述第二led；确定所述第一led两端的第一正向电压；确定所述第二led两端的第二正向电压；以及基于所述第一正向电压和所述第二正向电压，确定在所述led集合中的所述第一led和所述第二led之间存在故障。17.根据权利要求16所述的方法，其中所述处理电路装置还被配置为：确定所述第一正向电压是否在被激活的led的第一可接受范围之外；以及确定所述第二正向电压是否在被去激活的led的第二可接受范围之外，其中所述处理电路装置被配置为响应于以下项而确定存在所述故障：确定所述第一正向电压在所述第一可接受范围之外；或者确定所述第二正向电压在所述第二可接受范围之外。18.根据权利要求16所述的方法，还包括：
将所述led集合的第一子集导通；以及将所述led集合的第二子集关断，其中所述第一子集和所述第二子集形成棋盘图案。19.一种内建自测试设备，包括其上存储有可执行指令的计算机可读介质，所述可执行指令被配置为能够由处理电路装置执行以使得所述处理电路装置：使得驱动器集合中的第一驱动器控制第一相应通过设备以导通led集合中的第一led，其中所述驱动器集合中的每个驱动器包括通过设备，所述通过设备被配置为电连接至焊盘集合的相应焊盘，其中第一焊盘对被配置为连接到所述第一led，并且其中所述驱动器集合中的每个驱动器被配置为控制所述led集合中的相应led是被导通还是关断；使得所述驱动器集合中的第二驱动器控制第二相应通过设备以关断所述led集合中的第二led，其中第二焊盘对被配置为连接到所述第二led；确定所述第一led两端的第一正向电压；确定所述第二led两端的第二正向电压；以及基于所述第一正向电压和所述第二正向电压，确定在所述led集合中的所述第一led和所述第二led之间存在故障。20.根据权利要求19所述的内建自测试，还包括被配置为使得所述处理电路装置执行以下操作的指令：确定所述第一正向电压是否在被激活的led的第一可接受范围之外；以及确定所述第二正向电压是否在被去激活的led的第二可接受范围之外，其中用于确定存在所述故障的指令包括用于响应于以下项而确定存在所述故障的指令：确定所述第一正向电压在所述第一可接受范围之外；或者确定所述第二正向电压在所述第二可接受范围之外。

技术总结
本公开的实施例涉及针对发光二极管的内建自测试。在一些示例中，设备包括内建自测试，该内建自测试用于检测第一发光二极管(LED)和第二LED之间的故障。设备包括第一焊盘对和第二焊盘对，第一焊盘对被配置为连接至第一LED，第二焊盘对被配置为连接至第二LED。内建自测试被配置为：控制第一驱动器和第二驱动器以逐个导通连接到第一焊盘对和第二焊盘对的相应通过开关。内建自测试被配置为然后确定第一LED和第二LED两端的第一正向电压和第二正向电压。内建自测试可以基于正向电压来确定第一LED和第二LED之间是否存在故障。LED和第二LED之间是否存在故障。LED和第二LED之间是否存在故障。


技术研发人员：A
受保护的技术使用者：英飞凌科技股份有限公司
技术研发日：2021.04.01
技术公布日：2021/10/26