一种多数量存储芯片的测试设备的制作方法

[0001]
本发明涉及半导体存储的技术领域，特别涉及一种闪存芯片测试的应用领域, 本发明的测试设备可以满足多数量的芯片同时在线测试，减少了测试的时间，提高生产效率。


背景技术：

[0002]
闪存只是对芯片存储速度特点的一种形容，芯片内存指的是存储器，闪存是一种非易失性存储器，即断电数据也不会丢失；是一种可以储存任何格式文件和数据的移动数据储存器，它小巧轻便，便于携带，可以说是一个小小的个人移动数据库。


技术实现要素：

[0003]
本发明所要解决的问题是：闪存芯片同时测试的数量少；多数量同时测试时不好取放的问题；测试设备大量的占用空间的问题。
[0004]
为了解决以上技术问题，本发明提供芯片可多数量同时在线测试的设备。本发明由几种相同的模块组成，分为前后两部分，前半部分是测试部分，该部分采用托盘与导向板结合方式，将测试基板固定在托盘上，托盘可以在导向板的滑槽内前后滑动，托盘的前后滑动功能，解决了芯片测试中取放的难题。每对导向板都有多组滑道，多组滑道可放置多层托盘，层层的托盘设计，减少了测试的空间占用，增加了测试的数量；后半部分为测试用的电脑部分，该部分也采用托盘式设计，方便平时对测试电脑的维护，提高了工作效率；为减少芯片在测试过程中芯片发热对测试的影响，设备安装有散热风扇，提高了测试的效率和通过率；该设备包括测试托盘 导向板模块、 整体框架模块、测试电脑托盘模块、 网络分配器、kvm功能模块及放置产品的储物模块；本发明的优越功效在于：1）本发明使用托盘设计，减少了测试中空间的占用，增加了测试数量；2）本发明使用导向板滑道设计，托盘可以在滑道内前后滑动，方便测试芯片的取放，提高了测试的效率；3）本发明的电脑托盘式设计，方便了对测试电脑的维护，提高了工作效率；4）本发明结合网络分配器与kvm，可远程监控每个测试芯片的测试状态,减少了去设备现场查看的时间，提高了工作效率。
附图说明
[0005]
构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本架构开发的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定，在附图中：图1 为发明的整体结构正面的示意图；图2发明的整体结构反面示意图；图3为本发明托盘、导向板模块示意图；
图4为本发明电脑托盘模块示意图；1—整体框架模块;2—托盘、导向板模块；2.1—带滑道导向板；
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2.2—测试托盘；3—网络分配器 kvm模块；
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4—放置产品的抽屉模块；5—搬运的移动脚轮；6—电脑托盘模块；6.1—散热风扇；
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6.2—电脑主板部分；6.3—电脑电源模块；7—供电的pdu模块。
具体实施方式
[0006]
以下结合附图对本发明的实施例进行详细说明。
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图1 图2示出了本发明整体结构正反面示意图；由图1图2所示本设备是由多组托盘、导向板模块、电脑托盘模块组成，一个测试电脑可对应前面多个测试托盘的测试；托盘导向板模块、电脑托盘模块、及其它模块都固定在整体的框架模块上。
[0008]
图3示出了每个托盘上都安装有相同的测试基板，测试的托盘可在两边导向板的滑道内前后滑动，通过排线或转接板与后面的测试电脑连接。
[0009]
图4示出了单个电脑托盘的模块上除了固定测试的电脑部分之外，还固定了散热风扇。
[0010]
以上所述仅为本发明的优先实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围内。