一种基于阵列产品的光学检测方法、系统和可读存储介质与流程

技术特征：
1.一种基于阵列产品的光学检测方法，其特征在于，所述方法包括：通过图像采集器对待检测的阵列产品采集获取对应的原始图像；对所述原始图像进行二值化处理，得到灰度图像；基于所述阵列产品中多个小元件呈现的阵列排布状态，将所述灰度图像划分为n个周期性的小图像块，且n个小图像块分别包括相同数量和相同排布状态的小元件；从n个小图像块中按照顺序依次选定一个小图像块，判断所述小图像块中某像素点的灰度值与其它小图像块对应像素点的灰度值的差值绝对值是否大于第一预设阈值，如果是，则将所述小图像块中的某像素点标记为缺陷参考点；将该小图像块中所有像素点的灰度值与剩余小图像块的对应像素点的灰度值进行逐一比对，并计算该小图像块中所有像素点标记为缺陷参考点的累计次数；将该小图像块所有像素点中标记为缺陷参考点的累计次数大于第二预设阈值的像素点标记为缺陷点。2.根据权利要求1所述的一种基于阵列产品的光学检测方法，其特征在于，将该小图像块所有像素点中标记为缺陷参考点的累计次数大于第二预设阈值的像素点标记为缺陷点，具体包括：根据历史检测数据库中的历史检测数据计算出单个像素点为缺陷点的概率p；根据概率p计算得出第二预设阈值，则第二预设阈值等于(n
‑
1)*(1
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k*p)，其中k为固定正整数，n为灰度图像中的小图像块总数。3.根据权利要求1所述的一种基于阵列产品的光学检测方法，其特征在于，在将该小图像块所有像素点中标记为缺陷参考点的累计次数大于第二预设阈值的像素点标记为缺陷点之后，所述方法还包括：依次按照灰度值作差比对方式完成对n个小图像块中缺陷点的标记；从缺陷点标记后的n个小图像块中选定出缺陷点数量最少的小图像块为基准小图像块；分别取出除所述基准小图像块以外的剩余小图像块中标记为缺陷点的灰度值，并将其分别与所述基准小图像块中相同像素点位置的灰度值进行比对；判断剩余小图像块中某缺陷点的灰度值与所述基准小图像块中相同像素点位置的灰度值的差值绝对值是否大于第一预设阈值，如果是，则该缺陷点的标记正确，如果否，则该缺陷点的标记错误，并对该缺陷点进行消除。4.根据权利要求1所述的一种基于阵列产品的光学检测方法，其特征在于，在将该小图像块所有像素点中标记为缺陷参考点的累计次数大于第二预设阈值的像素点标记为缺陷点之后，所述方法还包括：制定出与单个小图像块的形状、尺寸均相同的缺陷校对模板检测窗口；将所述缺陷校对模板检测窗口按照预设的周期步长依次遍历所述灰度图像，其中预设的周期步长为单个小元件在灰度图像中的尺寸；如果所述缺陷校对模板检测窗口遍历移动到所述灰度图像对应的位置，且所述缺陷校对模板检测窗口覆盖的图像区域没有缺陷点，则将该图像区域选定为缺陷校对模板图像；如果所述缺陷校对模板检测窗口遍历整个灰度图像，且均未出现所述缺陷校对模板检测窗口覆盖的图像区域零缺陷点的情况，则从之前所有次遍历移动过程所覆盖的图像区域中，
选定缺陷点最少的图像区域作为缺陷校对模板图像；分别获取n个小图像块中标记为缺陷点的灰度值，并将其分别与所述缺陷校对模板图像中相同像素点位置的灰度值进行比对；判断n个小图像块中某缺陷点的灰度值与所述缺陷校对模板图像中相同像素点位置的灰度值的差值绝对值是否大于第一预设阈值，如果是，则该缺陷点的标记正确，如果否，则该缺陷点的标记错误，并对该缺陷点进行消除。5.根据权利要求1所述的一种基于阵列产品的光学检测方法，其特征在于，在对所述原始图像进行二值化处理，得到灰度图像之后，所述方法包括；基于所述阵列产品中多个小元件呈现的阵列排布状态，将所述灰度图像沿着横向划分为n1个周期性的横向小图像块，且n1个横向小图像块分别包括相同数量和相同排布状态的小元件；从n1个横向小图像块中按照顺序依次选定一个横向小图像块，判断所述横向小图像块中某像素点的灰度值与其它横向小图像块对应像素点的灰度值的差值绝对值是否大于第一预设阈值，如果是，则将所述横向小图像块中的某像素点标记为缺陷参考点；将该横向小图像块中所有像素点的灰度值与剩余横向小图像块的对应像素点的灰度值进行逐一比对，并计算该横向小图像块中所有像素点标记为缺陷参考点的累计次数；将该横向小图像块所有像素点中标记为缺陷参考点的累计次数大于第二预设阈值的像素点标记为缺陷点，依次按照灰度值作差比对方式完成对n1个横向小图像块中缺陷点的标记，并将完成缺陷点标记的n1个横向小图像块进行拼接为缺陷点标记的第一灰度图像；将所述灰度图像沿着纵向划分为n2个周期性的纵向小图像块，且n2个纵向小图像块分别包括相同数量和相同排布状态的小元件；从n2个纵向小图像块中按照顺序依次选定一个纵向小图像块，判断所述纵向小图像块中某像素点的灰度值与其它纵向小图像块对应像素点的灰度值的差值绝对值是否大于第一预设阈值，如果是，则将所述纵向小图像块中的某像素点标记为缺陷参考点；将该纵向小图像块中所有像素点的灰度值与剩余纵向小图像块的对应像素点的灰度值进行逐一比对，并计算该纵向小图像块中所有像素点标记为缺陷参考点的累计次数；将该纵向小图像块所有像素点中标记为缺陷参考点的累计次数大于第二预设阈值的像素点标记为缺陷点，依次按照灰度值作差比对方式完成对n2个纵向小图像块中缺陷点的标记，并将完成缺陷点标记的n2个纵向小图像块进行拼接为缺陷点标记的第二灰度图像；判断缺陷点标记的第一灰度图像与第二灰度图像之间相同像素点位置的缺陷点标记状态是否一致，如果一致，则认定对应像素点位置的缺陷点标记状态正确，如果不一致，则对该像素点位置的缺陷点标记状态进行校正。6.根据权利要求5所述的一种基于阵列产品的光学检测方法，其特征在于，对该像素点位置的缺陷点标记状态进行校正，具体包括：将第一灰度图像与第二灰度图像进行重叠设置，按照相同的纵横交叉分割方式将第一灰度图像和第二灰度图像分别换分为h个第一小图像块和h个第二小图像块，其中h个第一小图像块和h个第二小图像块一一对应，且h等于n1*n2；
制定出与单个第一小图像块或第二小图像块的形状、尺寸均相同的校正图像检测窗口；将所述校正图像检测窗口按照预设的周期步长依次遍历重叠设置的第一灰度图像与第二灰度图像，其中预设的周期步长为单个小元件在第一灰度图像或第二灰度图像中的尺寸；如果所述校正图像检测窗口遍历移动到重叠设置的第一灰度图像与第二灰度图像对应的位置，且所述校正图像检测窗口覆盖的第一灰度图像上的第一图像区域与第二灰度图像上的第二图像区域均没有缺陷点，则将该第一图像区域或第二图像区域选定为校正图像模板；如果某个第一小图像块与对应的第二小图像块有需要校正缺陷点标记状态，则确定出需要校正缺陷点标记状态的像素点位置，并获取该像素点位置对应的灰度值；从所述校正图像模板中找出与该像素点位置相对应的校正像素点，并获取该校正像素点位置处的灰度值，并将其与需要校正缺陷点标记状态的像素点位置处的灰度值进行比对，并判断两者灰度值的差值绝对值是否大于第一预设阈值，如果是，则将需要校正缺陷点标记状态校正为缺陷点，如果否，则将需要校正缺陷点标记状态校正为非缺陷点。7.一种基于阵列产品的光学检测系统，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器中包括一种基于阵列产品的光学检测方法程序，所述基于阵列产品的光学检测方法程序被所述处理器执行时实现如下步骤：通过图像采集器对待检测的阵列产品采集获取对应的原始图像；对所述原始图像进行二值化处理，得到灰度图像；基于所述阵列产品中多个小元件呈现的阵列排布状态，将所述灰度图像划分为n个周期性的小图像块，且n个小图像块分别包括相同数量和相同排布状态的小元件；从n个小图像块中按照顺序依次选定一个小图像块，判断所述小图像块中某像素点的灰度值与其它小图像块对应像素点的灰度值的差值绝对值是否大于第一预设阈值，如果是，则将所述小图像块中的某像素点标记为缺陷参考点；将该小图像块中所有像素点的灰度值与剩余小图像块的对应像素点的灰度值进行逐一比对，并计算该小图像块中所有像素点标记为缺陷参考点的累计次数；将该小图像块所有像素点中标记为缺陷参考点的累计次数大于第二预设阈值的像素点标记为缺陷点。8.根据权利要求7所述的一种基于阵列产品的光学检测系统，其特征在于，将该小图像块所有像素点中标记为缺陷参考点的累计次数大于第二预设阈值的像素点标记为缺陷点，具体包括：根据历史检测数据库中的历史检测数据计算出单个像素点为缺陷点的概率p；根据概率p计算得出第二预设阈值，则第二预设阈值等于(n
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1)*(1
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k*p)，其中k为固定正整数，n为灰度图像中的小图像块总数。9.根据权利要求7所述的一种基于阵列产品的光学检测系统，其特征在于，在将该小图像块所有像素点中标记为缺陷参考点的累计次数大于第二预设阈值的像素点标记为缺陷点之后，所述基于知识图谱的数据处理方法程序被所述处理器执行时还实现如下步骤：依次按照灰度值作差比对方式完成对n个小图像块中缺陷点的标记；
从缺陷点标记后的n个小图像块中选定出缺陷点数量最少的小图像块为基准小图像块；分别取出除所述基准小图像块以外的剩余小图像块中标记为缺陷点的灰度值，并将其分别与所述基准小图像块中相同像素点位置的灰度值进行比对；判断剩余小图像块中某缺陷点的灰度值与所述基准小图像块中相同像素点位置的灰度值的差值绝对值是否大于第一预设阈值，如果是，则该缺陷点的标记正确，如果否，则该缺陷点的标记错误，并对该缺陷点进行消除。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中包括一种基于阵列产品的光学检测方法程序，所述基于阵列产品的光学检测方法程序被处理器执行时，实现如权利要求1至6中任一项所述的一种基于阵列产品的光学检测方法的步骤。

技术总结
本发明提供一种基于阵列产品的光学检测方法、系统和可读存储介质，所述方法包括：通过图像采集器对待检测的阵列产品采集获取对应的原始图像；对原始图像进行二值化处理得到灰度图像；将所述灰度图像划分为N个周期性的小图像块；从N个小图像块中按照顺序依次选定一个小图像块，将该小图像块中某像素点的灰度值与其它小图像块对应像素点的灰度值的差值绝对值大于第一预设阈值像素点标记为缺陷参考点；将该小图像块中所有像素点的灰度值与剩余小图像块的对应像素点的灰度值进行逐一比对，并计算各像素点标记为缺陷参考点的累计次数；将累计次数大于第二预设阈值的像素点标记为缺陷点。本发明替代人工视觉检测方式，并提升检测效率和准确度。检测效率和准确度。检测效率和准确度。


技术研发人员：周芬芬
受保护的技术使用者：深圳市光明顶照明科技有限公司
技术研发日：2021.09.16
技术公布日：2021/10/23