一种试卷分析方法、装置、电子设备及存储介质与流程

1.本发明涉及数据分析技术领域，尤其是一种试卷分析方法、装置、电子设备及存储介质。


背景技术：

2.随着参加各种各样的考试的人越来越多，不同的试卷内容也越来越多。因此，如何合理考虑难度、考查范围、题量等多方面因素来设置试卷，对命题工作者和考生来说就变得尤为重要。但目前教育相关工作研究者对考卷的评价侧重分析基于成绩的客观分析，缺少基于考生对试题主观评价的分析，无法准确衡量一份试卷的各方面质量。


技术实现要素：

3.有鉴于此，本发明实施例提供一种试卷分析方法、装置、电子设备及存储介质，以结合考生的主观评价与考生的客观成绩，得到更准确的试卷分析结果。
4.本发明的一方面提供了一种试卷分析方法，包括：
5.构建试题评价维度表；
6.获取考生对试题和试卷的主观评价信息；
7.将所述主观评价信息填充进所述试题评价维度表；
8.对所述试题评价维度表中的数据进行向量化处理，得到评价数据向量；
9.根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果。
10.可选地，所述构建试题评价维度表，包括：
11.确定试题的评价维度的数量和试卷的评价维度数量；
12.根据所述试题的评价维度的数量和试卷的评价维度数量，构建试题评价维度表；
13.其中，所述试题的评价维度包括难易程度、常见程度、考核能力、考查范围以及耗时程度；
14.所述试卷的评价维度包括难度分布、知识覆盖、创新程度、题型设置以及题量控制。
15.可选地，所述对所述试题评价维度表中的数据进行向量化处理，得到评价数据向量，包括：
16.对所述试题评价维度表中的试题评价数据进行第一向量化处理，得到各个试题的评价数据向量；
17.根据所述试题评价维度表中的试卷评价数据以及所述各个试题的评价数据向量，进行第二向量化处理，得到试卷的评价数据向量；
18.所述试卷的评价数据向量的计算公式为：
[0019][0020]
其中，s表示试卷的总分；ω
i
表示第i题的分值；v
i
表示第i题的评价数据向量；v0′
表示整张试卷的评价数据向量。
[0021]
可选地，所述根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果，包括：
[0022]
将所述各个试题的评价数据向量与所述试卷的评价数据向量进行对比，确定所述各个试题的评价数据向量与所述试卷的评价数据向量之间的偏差值；
[0023]
根据所述偏差值，确定所述评价数据向量的有效性。
[0024]
可选地，所述根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果，还包括：
[0025]
根据所述评价数据向量构建各个试题的雷达图和试卷的雷达图；
[0026]
根据所述各个试题的雷达图和试卷的雷达图，进行数据筛选。
[0027]
可选地，所述方法还包括以下步骤：
[0028]
计算所述各个试题的评价数据向量的第一元素之和；
[0029]
计算所述试卷的评价数据向量的第二元素之和；
[0030]
根据所述第一元素之和与所述第二元素之和之间的差值，确定所述偏差值；
[0031]
其中，所述第一元素之和的计算公式为：
[0032][0033]
其中，x代表第一元素之和；x
i
代表第i个试题的评价数据向量；n代表试题的题目总数。
[0034]
本发明实施例的另一方面提供了一种试卷分析装置，包括：
[0035]
第一模块，用于构建试题评价维度表；
[0036]
第二模块，用于获取考生对试题和试卷的主观评价信息；
[0037]
第三模块，用于将所述主观评价信息填充进所述试题评价维度表；
[0038]
第四模块，用于对所述试题评价维度表中的数据进行向量化处理，得到评价数据向量；
[0039]
第五模块，用于根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果。
[0040]
本发明实施例的另一方面提供了一种电子设备，包括处理器以及存储器；
[0041]
所述存储器用于存储程序；
[0042]
所述处理器执行所述程序实现如前面所述的方法。
[0043]
本发明实施例的另一方面提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有程序，所述程序被处理器执行实现如前面所述的方法。
[0044]
本发明实施例还公开了一种计算机程序产品或计算机程序，该计算机程序产品或计算机程序包括计算机指令，该计算机指令存储在计算机可读存储介质中。计算机设备的处理器可以从计算机可读存储介质读取该计算机指令，处理器执行该计算机指令，使得该计算机设备执行前面的方法。
[0045]
本发明的实施例首先构建试题评价维度表；然后获取考生对试题和试卷的主观评价信息；接着将所述主观评价信息填充进所述试题评价维度表；对所述试题评价维度表中的数据进行向量化处理，得到评价数据向量；最后根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果。本发明结合了考生对试卷的主观评价，以及考生考试成绩的客观评价，能够得到更准确的试卷分析结果。
附图说明
[0046]
为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0047]
图1为本发明实施例提供的整体步骤流程图；
[0048]
图2为本发明实施例提供的针对单个题的评价数据处理得到整张试卷的评价数据的算法流程图；
[0049]
图3为本发明实施例提供的雷达图示意图。
具体实施方式
[0050]
为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0051]
针对现有技术存在的问题，本发明实施例提供了一种试卷分析方法，包括：
[0052]
构建试题评价维度表；
[0053]
获取考生对试题和试卷的主观评价信息；
[0054]
将所述主观评价信息填充进所述试题评价维度表；
[0055]
对所述试题评价维度表中的数据进行向量化处理，得到评价数据向量；
[0056]
根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果。
[0057]
可选地，所述构建试题评价维度表，包括：
[0058]
确定试题的评价维度的数量和试卷的评价维度数量；
[0059]
根据所述试题的评价维度的数量和试卷的评价维度数量，构建试题评价维度表；
[0060]
其中，所述试题的评价维度包括难易程度、常见程度、考核能力、考查范围以及耗时程度；
[0061]
所述试卷的评价维度包括难度分布、知识覆盖、创新程度、题型设置以及题量控制。
[0062]
可选地，所述对所述试题评价维度表中的数据进行向量化处理，得到评价数据向量，包括：
[0063]
对所述试题评价维度表中的试题评价数据进行第一向量化处理，得到各个试题的评价数据向量；
[0064]
根据所述试题评价维度表中的试卷评价数据以及所述各个试题的评价数据向量，进行第二向量化处理，得到试卷的评价数据向量；
[0065]
所述试卷的评价数据向量的计算公式为：
[0066][0067]
其中，s表示试卷的总分；ω
i
表示第i题的分值；v
i
表示第i题的评价数据向量；v0′
表示整张试卷的评价数据向量。
[0068]
可选地，所述根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果，包括：
[0069]
将所述各个试题的评价数据向量与所述试卷的评价数据向量进行对比，确定所述各个试题的评价数据向量与所述试卷的评价数据向量之间的偏差值；
[0070]
根据所述偏差值，确定所述评价数据向量的有效性。
[0071]
可选地，所述根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果，还包括：
[0072]
根据所述评价数据向量构建各个试题的雷达图和试卷的雷达图；
[0073]
根据所述各个试题的雷达图和试卷的雷达图，进行数据筛选。
[0074]
可选地，所述方法还包括以下步骤：
[0075]
计算所述各个试题的评价数据向量的第一元素之和；
[0076]
计算所述试卷的评价数据向量的第二元素之和；
[0077]
根据所述第一元素之和与所述第二元素之和之间的差值，确定所述偏差值；
[0078]
其中，所述第一元素之和的计算公式为：
[0079][0080]
其中，x代表第一元素之和；x
i
代表第i个试题的评价数据向量；n代表试题的题目总数。
[0081]
本发明实施例的另一方面提供了一种试卷分析装置，包括：
[0082]
第一模块，用于构建试题评价维度表；
[0083]
第二模块，用于获取考生对试题和试卷的主观评价信息；
[0084]
第三模块，用于将所述主观评价信息填充进所述试题评价维度表；
[0085]
第四模块，用于对所述试题评价维度表中的数据进行向量化处理，得到评价数据向量；
[0086]
第五模块，用于根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果。
[0087]
本发明实施例的另一方面提供了一种电子设备，包括处理器以及存储器；
[0088]
所述存储器用于存储程序；
[0089]
所述处理器执行所述程序实现如前面所述的方法。
[0090]
本发明实施例的另一方面提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有程序，所述程序被处理器执行实现如前面所述的方法。
[0091]
本发明实施例还公开了一种计算机程序产品或计算机程序，该计算机程序产品或计算机程序包括计算机指令，该计算机指令存储在计算机可读存储介质中。计算机设备的处理器可以从计算机可读存储介质读取该计算机指令，处理器执行该计算机指令，使得该计算机设备执行前面的方法。
[0092]
下面结合说明书附图，对本发明的实现原理进行详细说明，一种基于试题主观评价和客观成绩的试卷分析方法，如图1所示，方法包括以下步骤：
[0093]
1)设计试题和试卷的评价维度和评价表格。
[0094]
i.针对每个题的评价数据的评价表格如表1所示：
[0095]
表1
[0096][0097]
ii.针对整张试卷的评价数据的评价表格如表2所示：
[0098]
表2
[0099][0100][0101]
其中，上述表1和表2中，每个题的评价维度和整张试卷的评价维度均包括五个维度，每个评价维度划分成五个线性的层级。参与问卷的考生根据自己的主观认识选择相应的层次。在有必要的情况下，可以对拟定一个维度评定标准，参与问卷的考生可以参考评定标准再结合自己的主观认识来完成问卷。
[0102]
2)获取评价数据，即邀请作答过本次待评价的试卷的考生参与问卷调查来得到原始评价数据；原始评价数据包括每个题的评价数据和整张试卷的评价数据。
[0103]
本实施例可以邀请本次参加考试的考生对试题和试卷进行评价；
[0104]
评价的内容包括两个：1)、对每一个题进行评价，采用问卷调查的形式；2)、对试卷进行整体评价，采用的形式同1)。
[0105]
3)对评价数据进行处理，包括4)和5)两个步骤。
[0106]
4)将评价数据图形化，本发明中图形化的方式采用雷达图；这一步，数据图形化得到每一个题的雷达图和整张试卷的雷达图；
[0107]
步骤4)的目的是便于对比数据之间的差别。
[0108]
5)为得到基于每个题的整卷评价数据向量v0′
＝[x1,x2,x3,x4,x5]
t
，本发明中采用的算法其核心公式如下所示；
[0109][0110]
其中，s表示试卷的总分、ω
i
表示第i题的分值、v
i
表示第i题的评价数据向量；v0′
表示整张试卷的评价数据向量；
[0111]
通过上面的计算公式处理后得到基于各题的评价数据的整张试卷的评价数据向量。
[0112]
6)将上述两种途径获得的整张试卷评价结果(即v0＝[x1,x2,x3,x4,x5]
t
和v0′
＝[x1,x2,x3,x4,x5]
t
)进行对比，若二者的平均得分差值在一定范围内，则认为这份数据有一
定的参考价值。
[0113]
本实施例采用发明中的针对单个题的评价数据处理得到整张试卷的评价数据的算法思路如下：
[0114]
1)设每个题的评价数据为向量v
i
＝[x1,x2,x3,x4,x5]
t
，整张试卷的评价数据为向量v0＝[x1,x2,x3,x4,x5]
t
；
[0115]
2)设v0′
＝[x1,x2,x3,x4,x5]
t
是基于各题的评价数据得到的整张试卷的评价数据向量；为了得到v0′
，采用下述公式进行计算；
[0116][0117]
其中，s表示试卷的总分、ω
i
表示第i题的分值、v
i
表示第i题的评价数据向量；v0′
表示整张试卷的评价数据向量；
[0118]
经过上述的计算公式处理v
i
后，得到基于各题的评价数据的整张试卷的评价数据向量v0′
。将v0＝[x1,x2,x3,x4,x5]
t
与v0′
＝[x1,x2,x3,x4,x5]
t
进行对比，对比方法是按照公式求得两个向量的元素之和，若两者差值在一定范围内，则认定这份数据是有效数据，其具有本发明的发明目中所述的参考价值；
[0119]
另外，根据评价数据得到每个题和整张试卷的雷达图，雷达图的目的是易于对比和排除不合理的数据并直接舍弃该份样本数据。雷达图的示意图可以参考图3。
[0120]
通过本发明中的算法对每一个题的评价数据进行处理得到整张试卷的评价数据向量v0′
＝[x1,x2,x3,x4,x5]
t
与v0＝[x1,x2,x3,x4,x5]
t
，也可以形成雷达图用于对比；
[0121]
经过上述步骤，最后得到一些具有参考价值的v0′
＝[x1,x2,...,x
n
‑1,x
n
]
t
和v0＝[x1,x2,...,x
n
‑1,x
n
]
t
。
[0122]
经过上述步骤，最后得到一些具有参考价值的v0′
＝[x1,x2,...,x
n
‑1,x
n
]
t
和v0＝[x1,x2,...,x
n
‑1,x
n
]
t
。
[0123]
从评价结果分析，一套试卷的某一个维度数值越大，则该属性值越优秀；而从全局角度来看，一份优质的试卷应该是各维度均衡且各属性值较高。
[0124]
本实施例中，对评价数据进行向量化，每个题或整张试卷的评价数据是一个多维向量。
[0125]
综上所述，本发明从评价结果分析，一套试卷的某一个维度数值越大，则该属性值越优秀；而从全局角度来看，一份优质的试卷应该是各维度均衡且各属性值较高。
[0126]
目前教育研究者一般都是通过分析考生的成绩数据来得到考题和试卷的质量，进而形成对一份试卷的评价。也就是说，用数据说话，即现有的评价方式极为客观，因为考生的成绩数据是唯一的分析依据来源。但是，在本发明中通过另一种方式来对考题和试卷进行评价，即通过收集考生对试题和试卷的主观评价，然后对评价数据进行一定的分析流程得到对试题和试卷的评价。
[0127]
本发明实施过程中，通过分析参考考生对本次考试试卷的评价数据得到一些具有参考价值的v0'＝[x1,x2,...,x
n
‑1,x
n
]
t
和v0＝[x1,x2,...,x
n
‑1,x
n
]
t
,这些向量各个元素的值对应各个评价维度，它们反应出该考生对试卷的主观想法。由此再结合该考生的考试成绩，可以反映出试卷的一些预期与实际的差距。这部分差距可以为命题工作者提供参考；命题
者结合上述差距以及多方面因素，从而命制出一套各方面品质都更优秀的试卷。
[0128]
在一些可选择的实施例中，在方框图中提到的功能/操作可以不按照操作示图提到的顺序发生。例如，取决于所涉及的功能/操作，连续示出的两个方框实际上可以被大体上同时地执行或所述方框有时能以相反顺序被执行。此外，在本发明的流程图中所呈现和描述的实施例以示例的方式被提供，目的在于提供对技术更全面的理解。所公开的方法不限于本文所呈现的操作和逻辑流程。可选择的实施例是可预期的，其中各种操作的顺序被改变以及其中被描述为较大操作的一部分的子操作被独立地执行。
[0129]
此外，虽然在功能性模块的背景下描述了本发明，但应当理解的是，除非另有相反说明，所述的功能和/或特征中的一个或多个可以被集成在单个物理装置和/或软件模块中，或者一个或多个功能和/或特征可以在单独的物理装置或软件模块中被实现。还可以理解的是，有关每个模块的实际实现的详细讨论对于理解本发明是不必要的。更确切地说，考虑到在本文中公开的装置中各种功能模块的属性、功能和内部关系的情况下，在工程师的常规技术内将会了解该模块的实际实现。因此，本领域技术人员运用普通技术就能够在无需过度试验的情况下实现在权利要求书中所阐明的本发明。还可以理解的是，所公开的特定概念仅仅是说明性的，并不意在限制本发明的范围，本发明的范围由所附权利要求书及其等同方案的全部范围来决定。
[0130]
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read
‑
only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0131]
在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，“计算机可读介质”可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。
[0132]
计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(ram)，只读存储器(rom)，可擦除可编辑只读存储器(eprom或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(cdrom)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。
[0133]
应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下
列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(pga)，现场可编程门阵列(fpga)等。
[0134]
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
[0135]
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。
[0136]
以上是对本发明的较佳实施进行了具体说明，但本发明并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明精神的前提下还可做出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本技术权利要求所限定的范围内。