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工况稳态检测方法、过程优化方法与流程

2021-10-24 07:44:00 来源:中国专利 TAG:稳态 工况 检测方法 工业控制 优化


1.本技术属于工业控制技术领域,具体涉及一种工况稳态检测方法、过程优化方法。


背景技术:

2.工况稳态是化工过程计算中常用的一个假设,物料衡算、热量衡算以及参数估算、操作优化等都是基于装置稳态的假设的条件下而进行的。过程优化软件需要获取装置稳态运行的数据进行优化计算,因此过程优化对工况运行稳定的需求日益提升。目前,常见的稳态检测方法包含两阶段组合统计检测法(cst)、基于证据理论的稳态检测法(mte)、f

检验法、小波变换方法和滤波方法。
3.cst和mte方法通过比较两相邻窗口内数据的方差和均值来判断变量是否处于稳态,计算量大,且算法需假定信号在检验窗口内处于稳态,可靠性较低。f

检验法需要引入三个对检验统计量的分布十分敏感的调节参数(加权系数),使得该算法在实际应用中难以控制和调节。小波变换方法具有多尺度分析和有利于时

频定位等优点,适合于识别和定位具有噪声的测量值的趋势,算法复杂,计算量大,只适合于离线稳态检测。滤波方法通过比较过程变量滤波前后的差异和允许变化限度来确定过程是否处于稳态,但需要操作者根据经验确定窗口大小,窗口难以确定。


技术实现要素:

4.(一)要解决的技术问题
5.鉴于现有技术的上述缺点、不足,本技术提供一种工况稳态检测方法、过程优化方法。
6.(二)技术方案
7.为达到上述目的,本技术采用如下技术方案:
8.第一方面,本技术提供一种工况稳态检测方法,该方法包括:
9.s10、针对装置运行过程中的每个关键变量,获取关键变量当前时刻之前预设时段内的采样测量数据;
10.s20、分别基于预设的高通滤波参数和低通滤波参数,对所述采样测量数据进行一阶滤波,得到每个采样值的高通滤波值和低通滤波值;
11.s30、基于所述高通滤波值和低通滤波值,统计得到所述采样测量数据中滤波绝对差满足预设点稳态区间的采样值比例,作为该关键变量的点稳态计量率;
12.基于所述低通滤波值和所述采样测量数据的平均值,统计得到所述采样测量数据中滤波相对差满足预设趋势稳态区间的采样值比例,作为该关键变量的趋势稳态计量率,所述滤波相对差为所述低通滤波值和所述平均值的差值的绝对值,所述滤波绝对差为所述高通滤波值和所述低通滤波值差值的绝对值;
13.s40、基于每个关键变量的点稳态计量率和趋势稳态计量率,确定装置当前时刻工况的稳定状态。
14.可选地,步骤s10之后、步骤s20之前还包括:
15.s11、对所述采样测量数据,根据预设的有效性检测规则进行数据有效性检测,剔除无效数据;
16.s12、对剔除无效数据的采样测量数据通过数据延拓补齐缺失的数据,得到完整的采样测量数据。
17.可选地,步骤s20包括:
18.基于预设的高通滤波参数,通过第一滤波公式对所述采样测量数据进行一阶滤波,得到每个采样值的高通滤波值:
19.v
1,i
=v
i
*f1 v
i
‑1*(1

f1)
20.其中,v
1,i
为高通滤波值,f1为高通滤波参数,v
i
为第i个采样值,i ∈(2,n),n为采样值个数;
21.基于预设的低通滤波参数,通过第二滤波公式对所述采样测量数据进行一阶滤波,得到每个采样值的低通滤波值:
22.v
2,i
=v
i
*f2 v
i
‑1*(1

f2)
23.其中,v
2,i
为低通滤波值,f2为低通滤波参数。
24.可选地,步骤s40包括:
25.当关键变量的点稳态计量率高于预设点稳态限制率时,则判定当前关键变量在所述预设时段内的状态为点稳态;否则,判定为非稳态;
26.当关键变量的趋势稳态计量率高于预设趋势稳态限制率时,则判定当前关键变量在所述预设时段内的状态为趋势稳态;否则,判定为非稳态;
27.当装置的每个关键变量同时满足点稳态和趋势稳态时,确定装置当前时刻工况为稳定状态。
28.可选地,基于所述高通滤波值和低通滤波值,统计得到所述采样测量数据中滤波绝对差满足预设点稳态区间的采样值比例,作为该关键变量的点稳态计量率,包括:
29.计算滤波绝对差,计算公式为:
30.δ
a,i
=|v
1,i

v
2,i
|
31.其中,δ
a,i
为滤波绝对差;
32.统计滤波绝对差属于预设点稳态区间的个数,得到点稳态计量数;
33.计算点稳态计量率,计算公式为:
34.p
p
=n
p
/n
35.其中,p
p
为点稳态计量率,n
p
为点稳态计量数,n为采样值个数。
36.可选地,基于所述低通滤波值和所述采样测量数据的平均值,统计得到所述采样测量数据中滤波相对差满足预设趋势稳态区间的采样值比例,作为该关键变量的趋势稳态计量率,包括:
37.计算滤波相对差,计算公式为:
38.δ
r,i
=|v
2,i

v
m
|
39.其中,δ
r,i
为滤波相对差;
40.统计滤波相对差属于预设趋势稳态区间的个数,得到趋势稳态计量数;
41.计算趋势稳态计量率,计算公式为:
42.p
t
=n
t
/n
43.其中,p
t
为趋势稳态计量率,n
t
为趋势稳态计量数,n为采样值个数。
44.第二方面,本技术提供一种基于dcs系统的优化方法,该方法包括:
45.s100、过程优化系统针对目标装置,通过滑动时间窗口对所有关键变量的位号数据进行数据提取,得到窗口数据;
46.s200、所述过程优化系统通过如上述第一方面任一项所述的方法对所述窗口数据进行稳态检测,得到所述目标装置当前工况下的检测结果,并将所述检测结果发送至dcs系统,以在所述dcs系统上显示;
47.s300、所述dcs系统基于操作人员根据所述检测结果发出的操作指令对所述目标装置进行调控;
48.s400、循环执行步骤s100

s300,直至所述目标装置在当前工况处于稳定状态;
49.s500、在满足预设的优化条件时,所述过程优化系统生成优化目标,并将所述优化目标发送至apc系统,所述apc系统通过dcs系统触发所述目标装置的过程优化。
50.可选地,当前时刻t的滑动时间窗口为(t

m,t),m为时间窗的长度,窗口每次滑动的距离为1。
51.第三方面,本技术提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面任一项所述的工况稳态检测方法的步骤。
52.第四方面,本技术提供一种电子设备,包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上述第一方面任一项所述的工况稳态检测方法的步骤。
53.(三)有益效果
54.本技术的有益效果是:本技术提出了一种工况稳态检测方法、过程优化方法。本技术的检验方法简单,无需人工设定滤波窗口或在稳态分析时人工选取连续的稳态片段,提高了可靠性;相较于仅用于特定装置进行稳态判断的方法,本检验方法在稳态判断的应用上具有普适性。
附图说明
55.本技术借助于以下附图进行描述:
56.图1为本技术一个实施例中的工况稳态检测方法流程示意图;
57.图2为本技术另一个实施例中的工况稳态检测方法流程示意图;
58.图3为本技术再一个实施例中的过程优化流程示意图;
59.图4为本技术又一个实施例中的电子设备的架构示意图。
具体实施方式
60.为了更好的解释本发明,以便于理解,下面结合附图,通过具体实施方式,对本发明作详细描述。可以理解的是,以下所描述的具体的实施例仅仅用于解释相关发明,而非对该发明的限定。另外还需要说明的是,在不冲突的情况下,本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合;为了便于描述,附图中仅示出了与发明相关的部分。
61.针对现有技术存在的缺点,本技术提出了一种工况稳态检测方法和过程优化方法,以下通过实施例对本技术作详细描述。
62.实施例一
63.图1为本技术一个实施例中的工况稳态检测方法流程示意图,如图1 所示,该方法包括:
64.s10、针对装置运行过程中的每个关键变量,获取关键变量当前时刻之前预设时段内的采样测量数据;
65.s20、分别基于预设的高通滤波参数和低通滤波参数,对采样测量数据进行一阶滤波,得到每个采样值的高通滤波值和低通滤波值;
66.s30、基于高通滤波值和低通滤波值,统计得到采样测量数据中滤波绝对差满足预设点稳态区间的采样值比例,作为该关键变量的点稳态计量率;
67.基于低通滤波值和采样测量数据的平均值,统计得到采样测量数据中滤波相对差满足预设趋势稳态区间的采样值比例,作为该关键变量的趋势稳态计量率,滤波相对差为低通滤波值和平均值的差值的绝对值,滤波绝对差为高通滤波值和低通滤波值差值的绝对值;
68.s40、基于每个关键变量的点稳态计量率和趋势稳态计量率,确定装置当前时刻工况的稳定状态。
69.本实施例的检验方法简单,无需人工设定滤波窗口或在稳态分析时人工选取连续的稳态片段,提高了可靠性;相较于仅用于特定装置进行稳态判断的方法,本检验方法在稳态判断的应用上具有普适性。
70.以下对本实施例方法的各个步骤进行展开描述。
71.本实施例中,步骤s10之后、步骤s20之前还可以包括:
72.s11、对采样测量数据,根据预设的有效性检测规则进行数据有效性检测,剔除无效数据;
73.s12、对剔除无效数据的采样测量数据通过数据延拓补齐缺失的数据,得到完整的采样测量数据。
74.本实施例中,步骤s20可以包括:
75.基于预设的高通滤波参数,通过第一滤波公式对所述采样测量数据进行一阶滤波,得到每个采样值的高通滤波值:
76.v
1,i
=v
i
*f1 v
i
‑1*(1

f1)
77.其中,v
1,i
为高通滤波值,f1为高通滤波参数,v
i
为第i个采样值,i ∈(2,n),n为采样值个数;
78.基于预设的低通滤波参数,通过第二滤波公式对所述采样测量数据进行一阶滤波,得到每个采样值的低通滤波值:
79.v
2,i
=v
i
*f2 v
i
‑1*(1

f2)
80.其中,v
2,i
为低通滤波值,f2为低通滤波参数。
81.本实施例中,步骤s30中,基于高通滤波值和低通滤波值,统计得到采样测量数据中滤波绝对差满足预设点稳态区间的采样值比例,作为该关键变量的点稳态计量率,包括:
82.s311、计算滤波绝对差,计算公式为:
83.δ
a,i
=|v
1,i

v
2,i
|
84.其中,δ
a,i
为滤波绝对差;
85.s312、统计滤波绝对差属于预设点稳态区间的个数,得到点稳态计量数;
86.s313、计算点稳态计量率,计算公式为:
87.p
p
=n
p
/n
88.其中,p
p
为点稳态计量率,n
p
为点稳态计量数,n为采样值个数。
89.本实施例中,步骤s30中,基于低通滤波值和采样测量数据的平均值,统计得到采样测量数据中滤波相对差满足预设趋势稳态区间的采样值比例,作为该关键变量的趋势稳态计量率,包括:
90.s321、计算滤波相对差,计算公式为:
91.δ
r,i
=|v
2,i

v
m
|
92.其中,δ
r,i
为滤波相对差;
93.s322、统计滤波相对差属于预设趋势稳态区间的个数,得到趋势稳态计量数;
94.s323、计算趋势稳态计量率,计算公式为:
95.p
t
=n
t
/n
96.其中,p
t
为趋势稳态计量率,n
t
为趋势稳态计量数,n为采样值个数。
97.本实施例中,步骤s40包括:
98.当关键变量的点稳态计量率高于预设点稳态限制率时,则判定当前关键变量在预设时段内的状态为点稳态;否则,判定为非稳态;
99.当关键变量的趋势稳态计量率高于预设趋势稳态限制率时,则判定当前关键变量在预设时段内的状态为趋势稳态;否则,判定为非稳态;
100.当装置的每个关键变量同时满足点稳态和趋势稳态时,确定装置当前时刻工况为稳定状态。
101.本实施例的稳态检测方法通过点稳态和趋势稳态两种规则结合的方式进行稳态判断,避免工况既因数据值波动导致的不稳以及虽数据平稳但总体趋势起伏的不稳状况,提高了检测的可靠性和准确性。
102.实施例二
103.图2为本技术另一个实施例中的工况稳态检测方法流程示意图,以下结合图2对本实施例中的各步骤进行展开说明。
104.需要说明的是,位号是工业现场中数据点的抽象,工业现场的实时数据通常是实时从设备或控制系统上采集的、以位号为单位基于时间的顺序数据,典型的位号数据包含数值、时间戳和状态码三个字段。本实施例中针对装置运行过程中的每个关键变量,获取的采样测量数据为位号数据,获取的方式为客户端从实时数据库中订阅得到的。
105.s1、对获取的位号数据进行有效性检测。
106.装置生产运行中因仪表、通讯等可能出现的故障,将导致过程优化软件获取的装置数据出现无效的情况,如数据值异常、数据值无法更新、数据值无法获取等情况。这样的情况,将其认为“坏点”,坏点的具体判定方式可根据装置、工艺、过程优化的需求而设置。若某关键变量的位号数据坏点过多,突破“坏位号”的规则——连续多个数据均为坏点或总计多个数据为坏点,则认为该位号为“坏位号”。若坏位号的数量过多,将影响过程优化数据的
准确性,导致优化计算结果出现偏差,因此,设置坏位号数量容忍值,若坏位号个数大于该容忍值,直接判定为非稳态,直到系统获取到新一批数据并判断其稳定状态后进行更新处理。
107.s2、数据处理。
108.对于某位号坏点个数尚未突破坏位号的判定规则的情况,对其坏点数据剔除后采用数据延拓进行处理,补齐剔除或原本缺失的数值。
109.s3、稳态参数计算。
110.取当前时间往前的一段时间内数据,做稳态判断的基础数据。经数据有效性检测以及数据处理后,计算稳态参数,用于进行工况稳态与否的判断。设置高通滤波参数f1、低通滤波参数f2,则在取数时间段内,根据各关键变量取得的一系列数据依次计算出各自的高通滤波值和低通滤波值。设数据个数为n,数据值为v
i
,则从第2个数据值开始,其通过以下公式计算第i个高通滤波值:
111.v
1,i
=v
i
*f1 v
i
‑1*(1

f1)
112.通过以下公式计算第i个低通滤波值:
113.v
2,i
=v
i
*f2 v
i
‑1*(1

f2)
114.第1个数据的高通滤波值、低通滤波值均为该数据值自身。计算该取数时间内经数据处理后的所有值的平均值:
[0115][0116]
其中,v
m
为平均值。
[0117]
s4、工况稳态判定。
[0118]
根据不同的装置、工艺、过程优化的需求,以及现场运行条件,设定点稳态区间a
p
、趋势稳态区间a
t
、点稳态限制率s
p
、趋势稳态限制率s
t
。将取数时间段内个数据点的高通滤波值v
1,i
与低通滤波值v
2,i
做差并取差值的绝对值,得到滤波绝对差δ
a,i
,如下公式所示:
[0119]
δ
a,i
=|v
1,i

v
2,i
|。
[0120]
统计滤波绝对差小于点稳态区间a
p
的个数,作为点稳态计量数n
p
。通过以下公式计算关键变量在取数时间段内的点稳态计量数占取数总个数的比例,得到点稳态计量率:
[0121]
p
p
=n
p
/n
[0122]
其中,p
p
为点稳态计量率。
[0123]
若点稳态计量率p
p
大于等于点稳态限制率s
p
,则将该取数时间段的关键变量状态称为点稳态;否则,判定为非稳态。
[0124]
将取数时间段内各低通滤波值v
2,i
与平均值v
m
做差并取差值的绝对值,得到滤波相对差,如下公式所示:
[0125]
δ
r,i
=|v
2,i

v
m
|
[0126]
其中,δ
r,i
为滤波相对差。
[0127]
统计滤波相对差δ
r,i
小于趋势稳态区间a
t
的个数,作为趋势稳态计量数n
t
。通过以下公式计算关键变量在取数时间段内的趋势稳态计量数占取数总个数的比例,得到趋势稳态计量率:
[0128]
p
t
=n
t
/n
[0129]
其中,p
t
为趋势稳态计量率。
[0130]
若趋势稳态计量率p
t
高于趋势稳态限制率s
t
,则将该取数时间段的关键变量状态称为趋势稳态;否则,判定为非稳态。
[0131]
当某关键变量位号取数时间段内同时满足点稳态和趋势稳态时,则称该段时间该关键变量为稳态,其余情况均判定为非稳态。当且仅当选取的所有关键变量均为稳态时,则判断装置工况为稳态。
[0132]
本实施例针对过程优化技术提出一种装置工况稳态判断方法,提出了判定稳态的方式和计算步骤,该方法简单可靠。
[0133]
以下以常减压装置过程优化稳态判断为例说明本专利的特点。
[0134]
常减压过程是炼油工艺的上游,原油进入常减压装置后经初馏塔馏出大部分轻组分,初馏塔侧线产品与塔底抽出产品经常压炉进入常压塔。由于常减压装置的原料是原油,其性质波动较大,同时该装置生产又受到下游装置需求的影响,导致装置操作波动频繁。因此可以选取原油进料量、原油密度、初顶温度、初侧温度、常压炉出口温度、常顶温度、常二线温度、减压炉出口温度、减顶温度为关键变量。
[0135]
以下以原油进料量为例,说明该变量稳态判断的过程。表1是原油进料量稳态判断中相关数据表。
[0136]
表1
[0137]
[0138][0139]
常减压装置原油进料量的变化将引起各塔负荷的波动,导致装置不稳定,根据现场经验,当原油进料量变化超过5t/h时,即会导致初馏塔负荷产生较大的波动。因此,设定点稳态区间和趋势稳态区间分别为5 和2.5,限定点稳态限制率和趋势稳态限制率分别为0.95。由上表可知,在取数时间内,所有滤波绝对差均小于点稳态区间值,所有滤波相对差均小于趋势稳态区间值,则点稳态计量率和趋势稳态剂量率均为1,高于设定的点稳态限制率和趋势稳态限制率,因此原油进料量为稳态。
[0140]
以下以初侧温度为例,说明该变量稳态判断的过程。表2是初侧温度稳态判断中相关数据表。
[0141]
表2
[0142]
[0143]
[0144][0145]
以初侧温度为例,其值反应了初馏塔负荷以及初侧流量等操作参数的波动,在平稳操作中变动不宜超过3℃。因此选取点稳态区间和趋势稳态区间分别为3和1.5,限定点稳态限制率和趋势稳态限制率分别为0.95。由上表可得知,取数时间段内各滤波绝对差均小于点稳态区间值,点稳态计量率为1,大于点稳态限制率,判定其为点稳态;而滤波相对差大于趋势稳态区间值的有11个,相对于60个数据总个数,仅有占0.82的滤波相对差在趋势稳态区间内,小于趋势稳态限制率0.95,趋势非稳态。综上可知,在取数时间内,初侧温度为点稳态而趋势非稳态,因此此位号为非稳态。
[0146]
根据所选取的各个关键变量的稳态信息,综合评判装置工况稳态情况,由于初侧温度为非稳态,因此在取数时间段内,该装置工况为非稳态。
[0147]
本实施例提供的方法简单,无需人工设定滤波窗口或在稳态分析时人工选取连续的稳态片段,排除了不可靠性。相较于仅用于特定装置进行稳态判断的方法,本实施例方法在稳态判断的应用上具有普适性。对装置生产过程的特点不做要求,因此在炼油、化工的绝大部分装置均适用。
[0148]
实施例三
[0149]
第二方面,本技术提供一种基于dcs系统的过程优化方法,该方法包括:
[0150]
s100、过程优化系统针对目标装置,通过滑动时间窗口对所有关键变量的位号数据进行数据提取,得到窗口数据;
[0151]
s200、过程优化系统通过如上述第一方面任一项所述的方法对窗口数据进行稳态检测,得到目标装置当前工况下的检测结果,并将检测结果发送至dcs系统,以在dcs系统上显示;
[0152]
s300、dcs系统基于操作人员根据检测结果发出的操作指令对目标装置进行调控;
[0153]
s400、循环执行步骤s100

s300,直至目标装置在当前工况处于稳定状态;
[0154]
s500、在满足预设的优化条件时,过程优化系统生成优化目标,并将优化目标发送至apc系统,apc系统通过dcs系统触发目标装置的过程优化。
[0155]
本实施例中,当前时刻t的滑动时间窗口为(t

m,t),m为时间窗的长度,窗口每次滑动的距离为1。本实施例的执行过程优化的主体可以是安装有过程优化软件的服务器。图3为本技术再一个实施例中的过程优化流程示意图,如图3所示,在过程优化软件中预先设定稳态检测参数,包括高通滤波参数、低通滤波参数、点稳态区间、趋势稳态区间、点稳态限制率以及趋势稳态限制率,以及稳态检测取数时间段窗口,过程优化软件稳态检测计算引
擎开启后,进行数据获取,然后开始以设定处理、计算以及判定规则进行稳态检测工作。稳态检测取数时间窗口按每分钟随时间滑动,新的一批数据进入、旧的一批数据去除,总数据量不变。按上述计算、判定步骤运行完成后将稳态判定的结果在软件窗口显示。
[0156]
过程优化软件按照设定程序进行数据获取、稳态检测,在得到当前工况稳态与否的判断后,软件将根据不同的判定结果继续执行优化周期或是结束本周期优化工作等待下个稳态工况。当判断装置为稳态时触发优化流程包括工况分析、优化计算等步骤。
[0157]
过程优化软件在非稳态工况下,处于休眠状态,当工况再次稳定后,软件根据设定程序判定是否触发新一轮优化周期的开始,否则将继续休眠直到优化周期触发条件达到。
[0158]
在优化过程中,通过过程优化软件与dcs的通讯,稳态检测信息在 dcs组态位号中显示,从而每个关键变量的稳态信息均可进行展示。举例来说,组态在dcs的关键变量位号状态信息根据各位号的稳定状态显示出不同的颜色,红色代表非稳态,绿色代表稳态。当所有位号均为绿色时,装置总体稳态灯才为绿色。
[0159]
本实施例中,将稳态判断方法应用于过程优化中,从而工况稳态的判断可以为过程优化软件提供优化计算的触发条件,也可为装置操作人员查找引起装置非稳态的原因起到参考作用。
[0160]
最终,在满足预设的优化条件时,过程优化系统生成优化结果,确定当前生产过程的优化目标,并将优化目标发送至先进过程控制系统 (advanced process control,apc)系统,apc系统通过dcs系统触发目标装置的过程优化。
[0161]
过程优化软件根据各关键变量的稳定状态通过实时数据库映射到装置操作dcs系统上,可为过程优化工程师、装置工艺工程师以及操作人员判断优化周期的进程以及当前装置操作合理性提供参考。
[0162]
实施例四
[0163]
本技术第三方面通过另一实施例提供了一种电子设备,包括:存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现如上实施例中任意一项所述的工况稳态检测方法的步骤。
[0164]
图4为本技术另一个实施例中的电子设备的架构示意图。
[0165]
图4所示的电子设备可包括:至少一个处理器101、至少一个存储器 102、至少一个网络接口104和其他的用户接口103。电子设备中的各个组件通过总线系统105耦合在一起。可理解,总线系统105用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统105除包括数据总线之外,还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见,在图4中将各种总线都标为总线系统105。
[0166]
其中,用户接口103可以包括显示器、键盘或者点击设备(例如,鼠标,轨迹球(trackball)或者触感板等。
[0167]
可以理解,本实施例中的存储器102可以是易失性存储器或非易失性存储器,或可包括易失性和非易失性存储器两者。其中,非易失性存储器可以是只读存储器(read

onlymemory,rom)、可编程只读存储器 (programmablerom,prom)、可擦除可编程只读存储器(erasableprom, eprom)、电可擦除可编程只读存储器(electricallyeprom,eeprom)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(randomaccessmemory, ram),其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明,许多形式的ram可用,例如静态随机存取存储器
(staticram,sram)、动态随机存取存储器(dynamicram,dram)、同步动态随机存取存储器 (synchronousdram,sdram)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器 (doubledatarate sdram,ddrsdram)、增强型同步动态随机存取存储器(enhanced sdram,esdram)、同步连接动态随机存取存储器 (synchlinkdram,sldram)和直接内存总线随机存取存储器 (directrambusram,drram)。本文描述的存储器62旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
[0168]
在一些实施方式中,存储器102存储了如下的元素,可执行单元或者数据结构,或者他们的子集,或者他们的扩展集:操作系统1021和应用程序1022。
[0169]
其中,操作系统1021,包含各种系统程序,例如框架层、核心库层、驱动层等,用于实现各种基础业务以及处理基于硬件的任务。应用程序 622,包含各种应用程序,用于实现各种应用业务。实现本发明实施例方法的程序可以包含在应用程序1022中。
[0170]
在本发明实施例中,处理器101通过调用存储器102存储的程序或指令,具体的,可以是应用程序1022中存储的程序或指令,处理器101 用于执行第一方面所提供的方法步骤,例如包括以下步骤:
[0171]
s10、针对装置运行过程中的每个关键变量,获取关键变量当前时刻之前预设时段内的采样测量数据;
[0172]
s20、分别基于预设的高通滤波参数和低通滤波参数,对采样测量数据进行一阶滤波,得到每个采样值的高通滤波值和低通滤波值;
[0173]
s30、基于高通滤波值和低通滤波值,统计得到采样测量数据中滤波绝对差满足预设点稳态区间的采样值比例,作为该关键变量的点稳态计量率;
[0174]
基于低通滤波值和采样测量数据的平均值,统计得到采样测量数据中滤波相对差满足预设趋势稳态区间的采样值比例,作为该关键变量的趋势稳态计量率,滤波相对差为低通滤波值和平均值的差值的绝对值,滤波绝对差为高通滤波值和低通滤波值差值的绝对值;
[0175]
s40、基于每个关键变量的点稳态计量率和趋势稳态计量率,确定装置当前时刻工况的稳定状态。
[0176]
上述本发明实施例揭示的方法可以应用于处理器101中,或者由处理器101实现。处理器101可能是一种集成电路芯片,具有信号的处理能力。在实现过程中,上述方法的各步骤可以通过处理器101中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器101可以是通用处理器、数字信号处理器(digitalsignalprocessor,dsp)、专用集成电路 (applicationspecific integratedcircuit,asic)、现成可编程门阵列 (fieldprogrammablegatearray,fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成,或者用译码处理器中的硬件及软件单元组合执行完成。软件单元可以位于随机存储器,闪存、只读存储器,可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器102,处理器101 读取存储器102中的信息,结合其硬件完成上述方法的步骤。
[0177]
另外,结合上述实施例中的工况稳态检测方法,本发明实施例可提供一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现如上方法实施例中的任意一种工况稳态检测方法。
[0178]
可以理解的是,本文描述的这些实施例可以用硬件、软件、固件、中间件、微码或其组合来实现。对于硬件实现,处理单元可以实现在一个或多个专用集成电路(asic)、数字信号处理器(dsp)、数字信号处理设备(dspdevice,dspd)、可编程逻辑设备(pld)、现场可编程门阵列 (fpga)、通用处理器、控制器、微控制器、微处理器、用于执行本技术所述功能的其它电子单元或其组合中。
[0179]
对于软件实现,可通过执行本文所述功能的单元来实现本文所述的技术。软件代码可存储在存储器中并通过处理器执行。存储器可以在处理器中或在处理器外部实现。
[0180]
在本技术公开的上述实施例中,应该理解到,所揭露的设备和方法,也可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备和方法实施例仅仅是示意性的,例如,附图中的流程图和框图显示了根据本公开的多个实施例的方法、设备和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上,流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分,所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意,在有些作为替换的实现方式中,方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如,两个连续的方框实际上可以基本并行地执行,它们有时也可以按相反的顺序执行,这依所涉及的功能而定。也要注意的是,框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合,可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现,或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
[0181]
应当注意的是,在权利要求中,不应将位于括号之间的任何附图标记理解成对权利要求的限制。词语“包含”不排除存在未列在权利要求中的部件或步骤。位于部件之前的词语“一”或“一个”不排除存在多个这样的部件。此外,需要说明的是,在本说明书的描述中,术语“一个实施例”、“一些实施例”、“实施例”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述,是指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
[0182]
尽管已描述了本发明的优选实施例,但本领域的技术人员在得知了基本创造性概念后,则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以,权利要求应该解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
[0183]
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种修改和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也应该包含这些修改和变型在内。
再多了解一些

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