技术特征:
1.一种显影方法,其特征在于,包括:在控制显影液喷洒装置对第n个晶圆完成喷涂阶段之后,控制显影液喷洒装置运动至起始位置等待一预设时间,再运动至喷涂工位,以对第n 1个晶圆完成所述喷涂阶段;其中n为正整数。2.如权利要求1所述的显影方法,其特征在于,在所述喷涂阶段中,所述显影液喷洒装置对一所述晶圆进行1次以上喷涂,对每个所述晶圆完成所述喷涂阶段之后,控制所述显影液喷洒装置运动至起始位置等待一预设时间。3.如权利要求1所述的显影方法,其特征在于,所述显影液喷洒装置对每个所述晶圆进行2次喷涂。4.如权利要求1所述的显影方法,其特征在于,利用机械臂对所述显影液喷洒装置的位置进行调整。5.一种电子设备,其特征在于,存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1至4中任一项所述的显影方法。6.一种显影装置,其特征在于,包括:如权利要求1所述的电子设备。7.如权利要求6所述的显影装置,其特征在于,所述显影装置还包括:机械臂;以及,显影液喷洒装置,设置于所述机械臂的自由端。8.如权利要求7所述的显影装置,其特征在于,所述显影液喷洒装置,包括喷嘴和与喷嘴连接的用于输送显影液的管路。9.如权利要求6所述的显影装置,其特征在于,所述显影装置还包括:承载台,用于承载晶圆;清洗单元,用于对所述晶圆进行清洗;以及,旋转单元,用于使所述晶圆旋转。10.一种可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质内存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1
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4中任一项所述的方法步骤。
技术总结
本发明公开显影方法及显影装置,所述显影方法,包括:在控制显影液喷洒装置对第n个晶圆完成喷涂阶段之后,控制显影液喷洒装置运动至起始位置等待一预设时间,再运动至喷涂工位,以对第n 1个晶圆完成所述喷涂阶段;其中n为正整数。利用本发明的方法,能有效地解决晶圆表面缺陷的问题。面缺陷的问题。面缺陷的问题。
技术研发人员:秦利鹏 郑海昌 王晓龙
受保护的技术使用者:上海华力微电子有限公司
技术研发日:2021.07.29
技术公布日:2021/9/28
再多了解一些
本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。