显示面板及其测试方法与流程

1.本技术涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种显示面板以及显示面板的测试方法。


背景技术：

2.在传统的液晶显示器(lcd)的制作过程中，在液晶面板切割后并在贴附偏光片前，会进行简单的点灯确认，通常称为点灯测试(cell test，ct)。在点灯测试过程中，通常是将信号施加到液晶面板的点灯测试垫(cell test pad)，点灯测试垫再通过相应的测试线路传递到液晶面板的像素单元。在将偏光片贴附至液晶面板之后，会再进行一次点灯测试过程，称为第二次点灯测试ct2。经过第二次点灯测试ct2检查合格后，通过激光切割的方法将液晶面板中的点灯测试垫与像素单元之间的测试线路切断，后续的信号通过覆晶薄膜施加给液晶面板的像素单元。然而，在激光切割的过程中，公共电极走线的测试线不能被切断，因为后续的第三次点灯测试过程(ct3)还需要继续通过公共电极走线的测试线来外灌信号。但如果不切断公共电极走线的的测试线话，当水汽腐蚀点灯测试垫时，水汽会沿公共电极走线的测试线扩散至液晶面板的显示区域，从而对液晶面板的显示性能造成影响。


技术实现要素：

3.本技术的主要目的是提供一种显示面板及其测试方法，针对点灯测试，将非显示区内的公共电极测试垫通过薄膜晶体管连接到显示区内的公共电极走线，旨在解决现有技术中当水汽腐蚀点灯测试垫时，水汽会沿公共电极的测试引线扩散至液晶面板的显示区域，从而对液晶面板的显示性能造成影响的问题。
4.为实现上述目的，本技术一实施例提供了一种显示面板，包括：
5.阵列基板、彩膜基板以及设置在所述阵列基板和所述彩膜基板之间的液晶层，所述阵列基板具有显示区以及与所述显示区相邻的非显示区；
6.所述显示区具有多根数据线以及第一公共电极；
7.所述非显示区具有数据线测试垫，所述数据线测试垫通过第一测试引线与所述多根数据线电连接；
8.所述非显示区还具有第一公共电极测试垫、第一控制垫以及第一薄膜晶体管，所述第一公共电极测试垫通过所述第一薄膜晶体管连接到所述第一公共电极，所述第一控制垫与所述第一薄膜晶体管的控制端电连接。
9.在一实施例中，所述第一公共电极测试垫与所述第一薄膜晶体管的源极电连接，所述第一公共电极与所述第一薄膜晶体管的漏极电连接，所述第一控制垫与所述第一薄膜晶体管的栅极电连接。
10.在一实施例中，所述显示区还具有多根扫描线以及第二公共电极，所述非显示区还具有扫描线测试垫、第二公共电极测试垫、第二控制垫以及第二薄膜晶体管，所述扫描线测试垫通过第二测试引线与所述多根扫描线电连接，所述第二公共电极测试垫通过所述第
二薄膜晶体管连接到所述第二公共电极，所述第二控制垫与所述第二薄膜晶体管的控制端电连接。
11.在一实施例中，所述第二公共电极测试垫与所述第二薄膜晶体管的源极电连接，所述第二公共电极与所述第二薄膜晶体管的漏极电连接，所述第二控制垫与所述第二薄膜晶体管的栅极电连接。
12.在一实施例中，所述数据线测试垫，所述第一公共电极测试垫或者所述第一控制垫采用第一金属材料制成，所述第一测试引线或者所述第一公共电极采用第二金属材料制成。
13.在一实施例中，所述第一控制垫为设置在所述第一公共电极测试垫旁边的虚拟测试焊垫。
14.在一实施例中，所述显示区还具有多根扫描线以及第二公共电极，所述非显示区还具有扫描线测试垫、第二公共电极测试垫、第二控制垫以及第二薄膜晶体管，所述扫描线测试垫通过第二测试引线分别与所述多根扫描线电连接，所述第二公共电极测试垫通过所述第二薄膜晶体管连接到所述第二公共电极，所述第二控制垫与所述第二薄膜晶体管的控制端电连接。
15.在一实施例中，所述第二公共电极测试垫与所述第二薄膜晶体管的源极电连接，所述第二公共电极与所述第二薄膜晶体管的漏极电连接，所述第二控制垫与所述第二薄膜晶体管的栅极电连接。
16.在一实施例中，所述扫描线测试垫、所述第二公共电极测试垫和/或所述第二控制垫均采用第一金属材料制成，所述第二测试引线和/或所述第二公共电极采用第二金属材料制成。
17.在一实施例中，所述第二控制垫为设置在所述第二公共电极测试垫旁边的虚拟测试焊垫。
18.本技术另一实施例还提供一种显示面板的测试方法，用于对如以上任意一项实施例所述的显示面板进行测试。所述显示面板的测试方法包括以下步骤：
19.s101：对所述显示面板进行第一次点灯测试；
20.s102：将偏光片贴附在所述显示面板上；
21.s103：对贴附有偏光片的所述显示面板进行第二次点灯测试；
22.s104：切断所述第一测试引线与所述多根数据线之间的电连接线路；
23.s105：将具有数据驱动电路的覆晶薄膜贴附在所述显示面板上，并使所述数据驱动电路与所述多根数据线形成电连接；
24.s106：对具有所述覆晶薄膜的所述显示面板进行第三次点灯测试，所述第三次点灯测试包括以下步骤：通过所述数据驱动电路将数据驱动信号传输至所述多根数据线；在所述第一公共电极测试垫灌注公共电压信号，以及在所述第一控制垫施加控制电压使所述第一薄膜晶体管导通，所述公共电压信号通过所述第一薄膜晶体管传输至所述第一公共电极。。
25.在一实施例中，所述第一次点灯测试或者所述第二次点灯测试包括以下步骤：在所述数据线测试垫灌注数据驱动信号，所述数据驱动信号通过所述第一测试引线传输至所述多根数据线；在所述第一公共电极测试垫灌注公共电压信号，以及在所述第一控制垫施
加控制电压使所述第一薄膜晶体管导通，所述公共电压信号通过所述第一薄膜晶体管传输至所述第一公共电极。
26.本技术再一实施例还提供了一种显示面板的测试方法，用于对如以上任意一项实施例所述的显示面板进行测试。所述显示面板的测试方法包括以下步骤：
27.s201：对所述显示面板进行第一次点灯测试；
28.s202：将偏光片贴附在所述显示面板上；
29.s203：对贴附有偏光片的所述显示面板进行第二次点灯测试；
30.s204：切断所述第一测试引线与所述多根数据线之间的电连接线路，以及切断所述第二测试引线与所述多根扫描线之间的电连接线路；
31.s205：将具有数据驱动电路和扫描驱动电路的覆晶薄膜贴附在所述显示面板上，所述数据驱动电路与所述多根数据线形成电连接，所述扫描驱动电路与所述多根扫描线形成电连接；
32.s206：对具有所述覆晶薄膜的所述显示面板进行第三次点灯测试，所述第三次点灯测试包括以下步骤：通过所述数据驱动电路将数据驱动信号传输至所述多根数据线；通过所述扫描驱动电路将扫描驱动信号传输至所述多根扫描线；在所述第一公共电极测试垫和所述第二公共电极测试垫灌注公共电压信号，以及在所述第一控制垫和第二控制垫施加控制电压使所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管导通，所述公共电压信号通过所述第一薄膜晶体管传输至所述第一公共电极，所述公共电压信号通过所述第二薄膜晶体管传输至所述第二公共电极。
33.在一实施例中，所述第一次点灯测试或者所述第二次点灯测试包括以下步骤：在所述数据线测试垫灌注数据驱动信号，所述数据驱动信号通过所述第一测试引线传输至所述多根数据线；在所述扫描线测试垫灌注扫描驱动信号，所述扫描驱动信号通过所述第二测试引线传输至所述多根扫描线；在所述第一公共电极测试垫和所述第二公共电极测试垫灌注公共电压信号，以及在所述第一控制垫和所述第二控制垫施加控制电压使所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管导通，所述公共电压信号通过所述第一薄膜晶体管传输至所述第一公共电极，所述公共电压信号通过所述第二薄膜晶体管传输至所述第二公共电极。
34.在本技术实施例所提供的显示面板和显示面板的测试方法中，所述非显示区设置有第一公共电极测试垫、第一控制垫以及第一薄膜晶体管。所述第一公共电极测试垫通过所述第一薄膜晶体管连接到所述第一公共电极。所述第一控制垫与所述第一薄膜晶体管的控制端电连接。在对显示面板进行测试时，可将测试信号施加在第一公共电极测试垫上，然后在第一控制垫施加一个控制电压使第一薄膜晶体管导通，从而使测试信号可以传递到第一公共电极中。所述显示面板在使用的过程中，即使第一公共电极测试垫被水汽腐蚀，由于第一薄膜晶体管的隔离作用，水汽不会通过第一公共电极测试垫传递到第一公共电极中，从而不会对液晶面板的显示性能造成影响。
附图说明
35.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本
申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
36.图1为本技术实施例一提供的显示面板的结构示意图；
37.图2为图1中的显示面板的阵列基板的结构示意图；
38.图3为本技术实施例二提供的显示面板的结构示意图；
39.图4为图3中的显示面板的阵列基板的结构示意图；
40.图5为本技术实施例三提供的显示面板的测试方法的流程示意图；
41.图6为图5中对显示面板进行第一次点灯测试或第二次点灯测试的流程示意图；
42.图7为图5中对显示面板进行第三次点灯测试的流程示意图；
43.图8为图5中对显示面板进行第一次点灯测试前的显示面板结构示意图；
44.图9为图5中切断第一测试引线与多根数据线的电连接线路后的显示面板示意图；
45.图10为图5中对显示面板进行第三次点灯测试前的显示面板结构示意图；
46.图11为本技术实施例四提供的显示面板的测试方法的流程示意图；
47.图12为图11中对显示面板进行第一次点灯测试或第二次点灯测试的流程示意图；
48.图13为图11中对显示面板进行第三次点灯测试的流程示意图；
49.图14为图11中对显示面板进行第一次点灯测试前的显示面板结构示意图；
50.图15为图11中切断第一测试引线与多根数据线的电连接线路后的显示面板示意图；
51.图16为图11中对显示面板进行第三次点灯测试前的显示面板结构示意图。
52.附图标号说明：
[0053][0054]
具体实施方式
[0055]
下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完
整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0056]
需要说明，若本技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0057]
另外，若本技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，若全文中出现的“和/或”或者“及/或”，其含义包括三个并列的方案，以“a和/或b”为例，包括a方案、或b方案、或a和b同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。
[0058]
实施一：
[0059]
请参见图1，本技术一实施例提供了一种显示面板100，包括阵列基板110、彩膜基板210以及设置在所述阵列基板110和所述彩膜基板210之间的液晶层。请一并参见图2，所述阵列基板110上设置有多根数据线120、多根扫描线130以及多个像素单元140。在本实施例中，所述多根数据线120和所述多根扫描线130呈阵列状排布以定义出所述多个像素单元140所在区域。在本实施例中，所述显示面板100上还设置有偏光片200。
[0060]
所述阵列基板110具有显示区111以及与所述显示区111相邻的非显示区112。
[0061]
所述显示区111内设置有所述多根数据线120、所述多根扫描线130以及所述多个像素单元140。所述多个像素单元140具有第一公共电极141。在本实施例中，所述第一公共电极141为液晶面板中的cf_com线，即设置于cf(color filter，彩色滤光片)基板侧的公共电极走线。
[0062]
所述非显示区112内设置有数据线测试垫151，第一公共电极测试垫152、第一控制垫161和第一薄膜晶体管171。所述数据线测试垫151通过第一测试引线181与所述多根数据线120电连接。所述第一公共电极测试垫152通过所述第一薄膜晶体管171连接到所述第一公共电极141。所述第一控制垫161与所述第一薄膜晶体管171的控制端电连接。根据需要，所述数据线测试垫151，所述第一公共电极测试垫152以及所述第一控制垫161的制作材料与所述多根数据线120、所述多根扫描线130以及所述第一公共电极141的制作材料不同，以示区分。
[0063]
在其中一实施例中，所述第一公共电极测试垫152与所述第一薄膜晶体管171的源极电连接。所述第一公共电极141与所述第一薄膜晶体管171的漏极电连接。所述第一控制垫161与所述第一薄膜晶体管171的栅极电连接。在对显示面板100进行点灯测试时，在第一控制垫161施加一个高电平信号使第一薄膜晶体管171的源极和漏极导通，从而使施加在第一公共电极测试垫152上的测试信号可以有效地传递到第一公共电极141中。可以理解地，所述第一薄膜晶体管171也可以是低电平导通。即，在所述第一薄膜晶体管171的栅极施加一个低电平信号时，所述第一薄膜晶体管171的源极和漏极导通，从而使施加在第一公共电
极测试垫152上的测试信号可以有效地传递到第一公共电极141中。
[0064]
在其中一个实施例中，所述第一测试引线181包括第一部分1811、第二部分1812。所述第一部分1811设置在所述非显示区112的远离所述显示区111的区域。所述第二部分1812设置在所述非显示区112的靠近所述显示区111的区域。所述第二部分1812形成弯折的曲线状或折线状并环绕所述数据线测试垫151、第一公共电极测试垫152以及第一控制垫161周围。在本实施例中，所述第一测试引线181的第一部分1811为直线状。所述多根数据线120连接到所述第一测试引线181的第一部分1811。所述第一测试引线181的第二部分1812与所述阵列基板110的边缘组成近似长方形的区域，所述数据线测试垫151、所述第一公共电极测试垫152以及所述第一控制垫161位于所述第二部分1812所组成的区域之内。在本实施例中，所述数据线测试垫151、所述第一公共电极测试垫152以及所述第一控制垫161并排设置。所述第一公共电极测试垫152位于所述数据线测试垫151和所述第一控制垫161之间。在其中一实施例中，所述第一薄膜晶体管171设置在所述第一公共电极测试垫152与所述第一公共电极141之间。
[0065]
在其中一实施例中，所述数据线测试垫151，所述第一公共电极测试垫152或者所述第一控制垫161采用第一金属材料制成。所述第一测试引线181或者所述第一公共电极141采用第二金属材料制成。通过将测试垫或者控制垫的制作材料与所述第一测试引线181或者所述第一公共电极141的制作材料相区别，在后续显示面板100的制作和安装过程中，可以有效地对测试垫或者控制垫与显示面板100内的金属走线进行区分。根据需要，所述第一控制垫161与所述第一薄膜晶体管171之间的电连接走线，所述第一公共电极测试垫152与所述第一薄膜晶体管171之间的电连接走线，或者所述第一薄膜晶体管171与所述第一公共电极141之间的电连接走线也可以采用第二金属材料制成。所述第一金属材料或所述第二金属材料选自ti、mo、ta、nb、cu、al以及ag中的一种或者多种。所述第一金属材料与所述第二金属材料不同。
[0066]
在其中一实施例中，所述第一控制垫161为设置在所述第一公共电极测试垫152旁边的虚拟测试焊垫。此时，由于使用设置在所述第一公共电极测试垫152旁边的虚拟测试焊垫作为控制所述第一薄膜晶体管171开关的第一控制垫161，该方式可以节约所述显示面板100的制作步骤。
[0067]
可以理解地，在本实施例中，所述显示面板100为阵列基板行驱动(gate driver on array，goa)类型的液晶面板。具体地，所述显示面板100还包括goa电路。所述多根扫描线130由goa电路进行驱动。在本实施例中，所述goa电路设置在所述阵列基板110的显示区111的横向方向的侧部。根据需要，所述goa电路也可以为两个，其分别设置在所述阵列基板110的显示区111的横向方向的两侧。当所述goa电路设置在所述阵列基板110的显示区111的横向方向的两侧时，所述两个goa电路同时驱动所述显示区111中的所述多根扫描线130所连接的薄膜晶体管。此时，所述显示面板100为双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板。
[0068]
在以上实施例所提供的显示面板100中，所述非显示区112设置有第一公共电极测试垫152、第一控制垫161以及第一薄膜晶体管171。所述第一公共电极测试垫152通过所述第一薄膜晶体管171连接到所述第一公共电极141。所述第一控制垫161与所述第一薄膜晶体管171的控制端电连接。在对显示面板100进行测试时，可将测试信号施加在第一公共电
极测试垫152上，然后在第一控制垫161施加一个控制电压使第一薄膜晶体管171导通，从而使测试信号可以传递到第一公共电极141中。所述显示面板100在使用的过程中，即使第一公共电极测试垫152被水汽腐蚀，由于第一薄膜晶体管171的隔离作用，水汽不会通过第一公共电极测试垫152传递到第一公共电极141中，从而不会对显示面板100的显示性能造成影响。
[0069]
实施例二：
[0070]
参见图3和图4，在其中一实施例中，所述显示区111内还设置有所述多根扫描线130以及第二公共电极142。所述非显示区112还设置有扫描线测试垫153、第二公共电极测试垫154、第二控制垫162以及第二薄膜晶体管172。所述扫描线测试垫153通过第二测试引线182与所述多根扫描线130电连接。所述第二公共电极测试垫154通过所述第二薄膜晶体管172连接到所述第二公共电极142。所述第二控制垫162与所述第二薄膜晶体管172的控制端电连接。具体地，所述第二公共电极测试垫154与所述第二薄膜晶体管172的源极电连接。所述第二公共电极142与所述第二薄膜晶体管172的漏极电连接。所述第二控制垫162与所述第二薄膜晶体管172的栅极电连接。
[0071]
可以理解地，当所述显示面板100为阵列基板行驱动(gate driver on array，goa)类型的液晶面板时，所述多根扫描线130由goa电路进行驱动。此时，所述显示面板100可以不包括扫描线测试垫153、第二公共电极测试垫154、第二控制垫162以及第二薄膜晶体管172等元器件。
[0072]
可以理解地，类似于实施例一，所述扫描线测试垫153、所述第二公共电极测试垫154和/或所述第二控制垫162均采用第一金属材料制成。所述第二测试引线182和/或所述第二公共电极142采用第二金属材料制成。具体地，所述第一金属材料或所述第二金属材料选自ti、mo、ta、nb、cu、al以及ag中的一种或者多种。所述第一金属材料与所述第二金属材料不同。
[0073]
同样地，在其中一实施例中，所述第二控制垫162为设置在所述第二公共电极测试垫154旁边的虚拟测试焊垫。
[0074]
在以上实施例提供的显示面板100中，在对显示面板100进行测试时，可将测试信号施加在第二公共电极测试垫154上，然后在第二控制垫162施加一个控制电压使第二薄膜晶体管172导通，从而使测试信号可以传递到第二公共电极142中。所述显示面板100在使用的过程中，即使第二公共电极测试垫154被水汽腐蚀，由于第二薄膜晶体管172的隔离作用，水汽不会通过第二公共电极测试垫154传递到第二公共电极142中，从而不会对显示面板100的显示性能造成影响。
[0075]
实施例三：
[0076]
请参见图5，本技术另一实施例还提供了如以上任意一项实施例所述的显示面板100的测试方法。需要说明的是，所述显示面板100通过常规的液晶面板的cell制程制作。具体为：将显示面板100的阵列基板110与彩膜基板组合，组合后再切割或裂片成单个显示单元，再往阵列基板110与彩膜基板之间灌注液晶，最后进行点灯测试。其中，每个所述显示单元的阵列基板110上都设有用于测试的测试垫。所制成的显示面板100如图8所示。所述显示面板100的测试方法包括以下步骤：
[0077]
s101：对所述显示面板100进行第一次点灯测试，以去除不良产品。具体地，所述第
一次点灯测试过程称为ct1检查。经过ct1检查后，如果液晶面板有明显的线缺陷的话就直接报废，节省后续的偏光片、印制电路板以及覆晶薄膜等元器件。具体地，如图6所示，所述第一次点灯测试ct1包括以下步骤：
[0078]
在所述数据线测试垫151灌注数据驱动信号。所述数据驱动信号通过所述第一测试引线181传输至所述多根数据线120。
[0079]
在所述第一公共电极测试垫152灌注公共电压信号；以及
[0080]
在所述第一控制垫161施加控制电压使所述第一薄膜晶体管171导通，所述公共电压信号通过所述第一薄膜晶体管171传输至所述第一公共电极141。
[0081]
所述第一次点灯测试过程ct1用于检查刚切割完成后的液晶面板是否具有明显的缺陷。
[0082]
若所述显示面板100经过第一次点灯测试后未出现问题，可以执行后续贴附偏光片200的步骤。
[0083]
s102：将偏光片200贴附在所述显示面板100上。贴附完偏光片200的显示面板100如图1所示。
[0084]
根据需要，在将所述偏光片200贴附至所述显示面板100之后，重复执行第一次点灯测试的步骤s101。所述重复执行所述第一次点灯测试的过程称为第二次点灯测试ct2。即：
[0085]
s103：对贴附有偏光片200的所述显示面板100进行第二次点灯测试。所述第二次点灯测试的步骤具体为：
[0086]
在所述数据线测试垫151灌注数据驱动信号。所述数据驱动信号通过所述第一测试引线181传输至所述多根数据线120。
[0087]
在所述第一公共电极测试垫152灌注公共电压信号；以及
[0088]
在所述第一控制垫161施加控制电压使所述第一薄膜晶体管171导通，所述公共电压信号通过所述第一薄膜晶体管171传输至所述第一公共电极141。
[0089]
所述第二次点灯测试的目的在于：检查贴附完偏光片后的液晶面板是否具有明显的缺陷。
[0090]
在经过第一次点灯测试和第二次点灯测试之后，如显示面板100都没有出现问题，则可以对所述显示面板100执行切断步骤。
[0091]
s104：切断所述第一测试引线181与所述多根数据线120的电连接线路。由于在之前的第一次点灯测试和第二次点灯测试的过程中，所有的数据线120都通过所述第一测试引线181连接到所述数据线测试垫151。假如不切断所述第一测试引线181与所述多根数据线120之间的电连接线路的话，会导致所有的数据线120短路。如图9所示，为切断所述第一测试引线181与所述多根数据线120之间的电连接线路后的显示面板100的结构示意图。
[0092]
s105：在切断所述第一测试引线181与所述多根数据线120之间的电连接线路之后，执行贴附步骤。即，将具有数据驱动电路的覆晶薄膜190贴附在所述显示面板100上，并使所述数据驱动电路与所述多根数据线120形成电连接。在本实施例中，所述覆晶薄膜190上设置有驱动芯片191，所述驱动芯片191内部设置有数据驱动电路。在贴附完所述覆晶薄膜190后，所述覆晶薄膜190中的所述数据驱动电路可以为所述显示面板100中的所述数据线120提供数据驱动信号。其中，具有数据驱动电路的覆晶薄膜190可以为阵列基板110上的
多根数据线120提供驱动信号。在本实施例中，所述覆晶薄膜190设置在所述显示区111的纵向方向一侧，用于给所述多根数据线120提供数据驱动信号。具体地，所述覆晶薄膜190上具有多个与所述多根数据线120数量相对应的引脚，以在贴附过程中与所述多根数据线120分别形成电连接。根据需要，所述覆晶薄膜190可以根据实际需要设置一个或者多个，在此不作具体限定。贴附完所述覆晶薄膜190的显示面板100如图10所示。
[0093]
s106：在贴附完所述覆晶薄膜190后，对具有所述覆晶薄膜190的所述显示面板100进行第三次点灯测试，以再次去除不良产品。如图7所示，所述第三次点灯测试的过程包括以下步骤：
[0094]
通过所述数据驱动电路将数据驱动信号传输至所述多根数据线120；
[0095]
在所述第一公共电极测试垫152灌注公共电压信号；以及
[0096]
在所述第一控制垫161施加控制电压使所述第一薄膜晶体管171导通，所述公共电压信号通过所述第一薄膜晶体管171传输至所述第一公共电极141。
[0097]
在以上实施例提供的显示面板100的测试方法中，所述阵列基板110的非显示区112设置有第一公共电极测试垫152、第一控制垫161以及第一薄膜晶体管171。所述第一公共电极测试垫152通过所述第一薄膜晶体管171连接到所述第一公共电极141。所述第一控制垫161与所述第一薄膜晶体管171的控制端电连接。在对显示面板100进行测试时，无论是在ct1检查，或者是ct2检查，或者是在ct3检查中，都可以将测试信号施加在第一公共电极测试垫152上，然后在第一控制垫161施加一个控制电压使第一薄膜晶体管171导通，从而使测试信号可以传递到第一公共电极141中。所述显示面板100在使用的过程中，即使第一公共电极测试垫152被水汽腐蚀，由于第一薄膜晶体管171的隔离作用，水汽不会通过第一公共电极测试垫152传递到第一公共电极141中，从而不会对液晶面板的显示性能造成影响。
[0098]
实施例四：
[0099]
可以理解地，在其中一实施例中，所述显示面板100还可以包括扫描线测试垫153、第二公共电极测试垫154、第二控制垫162以及第二薄膜晶体管172等元器件。请参见图11，此时，所述显示面板100的测试方法包括以下步骤：
[0100]
s201：对所述显示面板100进行第一次点灯测试。此时，进行第一次点灯测试的显示面板100的结构如图14所示。具体地，如图12所示，所述第一次点灯测试的过程包括以下步骤：在所述数据线测试垫151灌注数据驱动信号。所述数据驱动信号通过所述第一测试引线181传输至所述多根数据线120。在所述扫描线测试垫153灌注扫描驱动信号。所述扫描驱动信号通过所述第二测试引线182传输至所述多根扫描线130。在所述第一公共电极测试垫152和所述第二公共电极测试垫154灌注公共电压信号，以及在所述第一控制垫161和所述第二控制垫162施加控制电压使所述第一薄膜晶体管171和所述第二薄膜晶体管172导通。所述公共电压信号通过所述第一薄膜晶体管171传输至所述第一公共电极141。所述公共电压信号通过所述第二薄膜晶体管172传输至所述第二公共电极142。
[0101]
s202：将偏光片200贴附在所述显示面板100上。贴附完偏光片200的显示面板100如图3所示。
[0102]
s203：对贴附有偏光片200的所述显示面板100进行第二次点灯测试。
[0103]
s204：切断所述第一测试引线181与所述多根数据线120之间的电连接线路，以及切断所述第二测试引线182与所述多根扫描线130之间的电连接线路。相应电连接线路被切
断后的显示面板100的结构如15所示。
[0104]
s205：将具有数据驱动电路和扫描驱动电路的覆晶薄膜190贴附在所述显示面板100上。所述数据驱动电路与所述多根数据线120形成电连接。所述扫描驱动电路与所述多根扫描线130形成电连接。所制成的显示面板100如图16所示。在本实施例中，所述覆晶薄膜190上设置有驱动芯片191，所述驱动芯片191内部设置有所述数据驱动电路或者所述扫描驱动电路。
[0105]
s206：对具有所述覆晶薄膜190的所述显示面板100进行第三次点灯测试。所述第三次点灯测试的过程包括以下步骤：通过所述数据驱动电路将数据驱动信号传输至所述多根数据线120；通过所述扫描驱动电路将扫描驱动信号传输至所述多根扫描线130；在所述第一公共电极测试垫152和所述第二公共电极测试垫154灌注公共电压信号，以及在所述第一控制垫161和第二控制垫162施加控制电压使所述第一薄膜晶体管171和所述第二薄膜晶体管172导通。所述公共电压信号通过所述第一薄膜晶体管171传输至所述第一公共电极141。所述公共电压信号通过所述第二薄膜晶体管172传输至所述第二公共电极142。
[0106]
在以上实施例提供的显示面板100的测试方法中，所述阵列基板110的非显示区112设置有第一公共电极测试垫152、第二公共电极测试垫154、第一控制垫161、第二控制垫162、第一薄膜晶体管171以及第二薄膜晶体管172。所述第一公共电极测试垫152通过所述第一薄膜晶体管171连接到所述第一公共电极141。所述第一控制垫161与所述第一薄膜晶体管171的控制端电连接。所述第二公共电极测试垫154通过所述第二薄膜晶体管172连接到所述第二公共电极142。所述第二控制垫162与所述第二薄膜晶体管172的控制端电连接。在对显示面板100进行测试时，可以将测试信号施加在第一公共电极测试垫152和第二公共电极测试垫154上，然后在第一控制垫161和第二控制垫162施加一个控制电压使第一薄膜晶体管171和第二薄膜晶体管172导通，从而使测试信号可以传递到第一公共电极141和第二公共电极142中。所述显示面板100在使用的过程中，即使第一公共电极测试垫152或者第二公共电极测试垫154被水汽腐蚀，由于第一薄膜晶体管171和第二薄膜晶体管172的隔离作用，水汽不会通过第一公共电极测试垫152或者第二公共电极测试垫154传递到第一公共电极141或者第二公共电极142中，从而不会对液晶面板的显示性能造成影响。
[0107]
以上所述仅为本技术的优选实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是在本技术的发明构思下，利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本技术的专利保护范围内。