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晶体管的制造方法、晶体管、基本存储单元、以及动态随机存取存储器与流程

2021-10-20 00:03:00 来源:中国专利 TAG:晶体管 存储器 存取 半导体 单元

技术特征:
1.一种晶体管的制造方法,其特征在于,包括如下步骤:形成柱状导电沟道;形成环绕所述柱状导电沟道的栅绝缘层,并暴露所述柱状导电沟道两端;形成环绕所述栅绝缘层的栅电极;在所述柱状导电沟道两端形成源电极和漏电极。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述柱状导电沟道的柱状结构选自于圆柱和棱柱中的任意一种。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述栅绝缘层的材料选自于氧化硅、氮化硅、以及氮氧化硅中的任意一种。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述栅电极、源电极、以及漏电极均采用金属材料制作。5.一种晶体管,其特征在于,包括:柱状导电沟道;环绕所述柱状导电沟道的栅绝缘层;环绕所述栅绝缘层的栅电极;以及所述柱状导电沟道两端的源电极和漏电极。6.根据权利要求5所述的晶体管,其特征在于,所述柱状导电沟道的柱状结构选自于圆柱和棱柱中的任意一种。7.根据权利要求5所述的晶体管,其特征在于,所述栅绝缘层的材料选自于氧化硅、氮化硅、以及氮氧化硅中的任意一种。8.根据权利要求5所述的晶体管,其特征在于,所述栅电极、源电极、以及漏电极均采用金属材料制作。9.一种动态随机存取存储器的基本存储单元,包括一晶体管和一电容,其特征在于,所述晶体管包括:柱状导电沟道;环绕所述柱状导电沟道的栅绝缘层;环绕所述栅绝缘层的栅电极;以及所述柱状导电沟道两端的源电极和漏电极。10.一种动态随机存取存储器,包括多个基本存储单元,所述基本存储单元包括一晶体管和一电容,其特征在于,所述晶体管包括:柱状导电沟道;环绕所述柱状导电沟道的栅绝缘层;环绕所述栅绝缘层的栅电极;以及所述柱状导电沟道两端的源电极和漏电极。

技术总结
本发明提供一种晶体管的制造方法、晶体管、基本存储单元、以及动态随机存取存储器。所述方法包括如下步骤:形成柱状导电沟道;形成环绕所述柱状导电沟道的栅绝缘层,并暴露所述柱状导电沟道两端;形成环绕所述栅绝缘层的栅电极;在所述柱状导电沟道两端形成源电极和漏电极。上述晶体管是从现有技术的水平方向的晶体管改进为垂直方向,从而使得单个晶体管在水平方向上所占的面积减少,单位面积的晶体管数量增加,提高了晶体管密度。提高了晶体管密度。提高了晶体管密度。


技术研发人员:华文宇 薛迎飞
受保护的技术使用者:芯盟科技有限公司
技术研发日:2021.04.16
技术公布日:2021/10/19
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