非易失性存储器的检测方法及相关设备与流程

本发明涉及存储器检测技术领域，具体而言，涉及一种非易失性存储器的检测方法、一种非易失性存储器的检测系统、一种电子设备、计算机可读存储介质和一种非易失性存储器的检测装置。

背景技术：

非易失性存储器(non-volatiledualinmemorymodule，nvdimm)在功能检测过程中，需要对非易失性存储器的非易失属性进行测试。目前技术中非易失属性的测试需要在服务器上进行，执行从异常掉电到再次上电的操作，来检测非易失性存储器是否能正常备份/恢复数据。而由于一个完整测试过程需要等待两次服务器的正常启动，所以单次测试时间成本大，导致非易失性存储器的检测效率低。

技术实现要素：

本申请提供了一种非易失性存储器的检测方法及相关设备，通过该非易失性存储器的检测方法和检测装置能够解决现有技术中非易失性存储器测试时间成本大、检测效率低的技术问题，能够实现自动化检测，提高测试效率。

发明旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。

有鉴于此，根据本申请实施例的第一方面提出了一种非易失性存储器的检测方法，包括：

控制服务器模拟器向所述非易失性存储器发送设定格式数据；

向所述非易失性存储器发送保存指令，并在所述非易失性存储器响应于所述保存指令后，断开所述非易失性存储器的外部电源；

向所述非易失性存储器发送恢复指令；

在监测到所述非易失性存储器完成恢复动作后，获取所述非易失性存储器中存储的恢复数据，并将所述恢复数据与所述设定格式数据进行比对，以得到所述非易失性存储器的检测结果。

在第一方面的第一种可能的实施方式中，所述控制服务器模拟器向所述非易失性存储器发送设定格式数据的步骤包括：

获取连接有所述非易失性存储器的目标通道；

基于所述目标通道向所述非易失性存储器发送设定格式数据。

在第一方面的第二种可能的实施方式中，所述向所述非易失性存储器发送保存指令，并在所述非易失性存储器响应于所述保存指令后，断开所述非易失性存储器的外部电源的步骤包括：

在向所述非易失性存储器发送保存指令经过预设时间后，断开所述非易失性存储器与电源之间的通路，以使所述非易失性存储器启动内部电源，将存储在所述非易失性存储器的动态随机存取存储器中的所述设定格式数据写入到所述非易失性存储器的快闪存储器中。

在第一方面的第三种可能的实施方式中，所述恢复指令用于使所述非易失性存储器将存储在所述非易失性存储器的快闪存储器中的设定格式数据写入至所述非易失性存储器的动态随机存取存储器中。

在第一方面的第四种可能的实施方式中，所述在监测到所述非易失性存储器完成恢复动作后，获取所述非易失性存储器中存储的恢复数据，并将所述恢复数据与所述设定格式数据进行比对，以得到所述非易失性存储器的检测结果的步骤包括：

在监测到所述非易失性存储器完成恢复动作后，通过所述服务器模拟器获取存储在所述非易失性存储器的动态随机存取存储器中的恢复数据；

将所述恢复数据与所述设定格式数据进行比对；

若所述恢复数据与所述设定格式数据相同，则检测结果为合格；

若所述恢复数据与所述设定格式数据不同，则检测结果为不合格。

在第一方面的第五种可能的实施方式中，在所述通过服务器模拟器向非易失性存储器发送设定格式数据的步骤之前还包括：

控制所述非易失性存储器上电；

向所述非易失性存储器发送初始化指令；

向所述非易失性存储器发送触发工作指令，使得所述非易失性存储器工作；

向所述服务器模拟器发送预设数据格式，以使所述服务器模拟器生成基于所述预设数据格式的设定格式数据。

根据本申请实施例的第二方面提出了一种非易失性存储器的检测系统，包括：

数据发送模块，用于控制服务器模拟器向所述非易失性存储器发送设定格式数据；

保存指令模块，用于向所述非易失性存储器发送保存指令，并在所述非易失性存储器响应于所述保存指令后，断开所述非易失性存储器的外部电源；

恢复指令模块，用于向所述非易失性存储器发送恢复指令；

检测模块，用于在监测到所述非易失性存储器完成恢复动作后，获取所述非易失性存储器中存储的恢复数据，并将所述恢复数据与所述设定格式数据进行比对，以得到所述非易失性存储器的检测结果。

根据本申请实施例的第三方面提出了一种电子设备，包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现上述任一技术方案所述非易失性存储器的检测方法的步骤。

根据本申请实施例的第四方面提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一技术方案所述非易失性存储器的检测方法的步骤。

根据本申请实施例的第五方面提出了一种非易失性存储器的检测装置，包括：服务器模拟器、电源和处理器；

所述服务器模拟器用于模拟服务器向所述非易失性存储器发送数据，所述电源用于为所述非易失性存储器供电，所述处理器分别连接于所述服务器模拟器和所述电源，所述处理器用于：

控制所述服务器模拟器向所述非易失性存储器发送数据；

控制所述电源的启停状态。

在第五方面的第一种可能的实施方式中，所述服务器模拟器为现场可编程逻辑门阵列或复杂可编程逻辑器件。

在第五方面的第二种可能的实施方式中，还包括：

连接组件，所述连接组件分别连接于所述服务器模拟器、所述电源和所述处理器，所述连接组件用于连接所述非易失性存储器。

在第五方面的第三种可能的实施方式中，所述连接组件包括：

板卡，所述板卡连接于所述电源；

多个插槽，设置在所述板卡上，每个所述插槽连接于所述处理器和所述服务器模拟器，所述插槽用于插接所述非易失性存储器；

其中，所述处理器还用于：

在所述非易失性存储器插入至所述插槽之后，检测得到插有所述非易失性存储器的插槽地址；

基于所述插槽地址，控制所述服务器模拟器向非易失性存储器发送所述数据。

在第五方面的第四种可能的实施方式中，所述插槽为ddr插槽。

在第五方面的第五种可能的实施方式中，非易失性存储器的检测装置还包括：

选择器，所述服务器模拟器连接于所述选择器，所述选择器连接于多个所述插槽。

在第五方面的第六种可能的实施方式中，所述处理器通过接口分别与所述板卡、所述插槽、所述电源、所述服务器模拟器连接。

相比现有技术，本发明至少包括以下有益效果：

本申请实施例提供的非易失性存储器的检测方法及相关设备，在测试非易失性存储器的非易失属性过程中，可以控制服务器模拟器向非易失性存储器发送设定格式数据，而后为非易失性存储器进行断电以模拟非易失性存储器的异常断电现象，最后读取非易失性存储器中的恢复数据，通过恢复数据与向非易失性存储器发送的设定格式数据进行对比，基于对比结果确定非易失性存储器的非易失属性是否可靠。整个检测过程无需依赖于服务器，因此整个检测过程不会涉及到服务器的重启，能够节省服务器重启所需的时间，能够大大减小检测非易失性存储器的时间成本，提高非易失性存储器的检测效率。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本发明实施例提供的非易失性存储器的检测方法的示意性流程图；

图2为本申请实施例提供的非易失性存储器的检测系统的示意性结构框图；

图3为本申请实施例提供的电子设备的示意性结构框图；

图4为本申请实施例提供的计算机可读存储介质的示意性结构框图。

图5是本发明提供的非易失性存储器的检测装置的示意性结构图。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步地详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

如图1所示，根据本申请实施例的第一方面提出了一种非易失性存储器的检测方法，包括：

步骤101：控制服务器模拟器向非易失性存储器发送设定格式数据。通过控制服务器模拟器向非易失性存储器发送设定格式数据，非易失性存储器即可对设定格式数据进行存储。

步骤102：向非易失性存储器发送保存指令，并在非易失性存储器响应于保存指令后，断开非易失性存储器的外部电源。通过向非易失性存储器发送保存指令，非易失性存储器即可获知即将进行非易失属性的测试，在非易失性存储器响应于保存指令后断开非易失性存储器的外部电源，即可模拟非易失性存储器异常断电的现象。

在一些示例中，在非易失性存储器获知即将进行非易失属性的测试，且非易失性存储器与外部电源断开的情况下，非易失性存储器的控制器会启用非易失性存储器内部的配电电容，配电电容会对非易失性存储器进行供电，以使存储在非易失性存储器的动态随机存取存储器(dynamicrandomaccessmemory，dram)中的设定格式数据写入到快闪存储器(flashmemory，nand)中，以进行异常断电状态下的数据保存。

步骤103：向非易失性存储器发送恢复指令。在对非易失性存储器模拟异常断电后，且非易失性存储器会对异常断电状态下的数据进行恢复，以使非易失性存储器中存储有恢复数据。

在一些示例中，在非易失性存储器接收到恢复指令后，则非易失性存储器获知外部供电恢复为正常，非易失性存储器的控制器将写入到快闪存储器中的设定格式数据恢复到非易失性存储器的动态随机存取存储器中。

步骤104：在监测到非易失性存储器完成恢复动作后，获取非易失性存储器中存储的恢复数据，并将恢复数据与设定格式数据进行比对，以得到非易失性存储器的检测结果。在监测到非易失性存储器完成恢复动作后说明非易失性存储器已经完成了数据的恢复，此时再读取非易失性存储器中的恢复数据，将恢复数据与设定格式数据进行比对即可对非易失性存储器的非易失属性进行测试。

本发明提供的非易失性存储器的检测方法，在测试非易失性存储器的非易失属性过程中，可以控制服务器模拟器向非易失性存储器发送设定格式数据，而后为非易失性存储器进行断电以模拟非易失性存储器的异常断电现象，最后读取非易失性存储器中的恢复数据，通过恢复数据与向非易失性存储器发送的设定格式数据进行对比，基于对比结果确定非易失性存储器的非易失属性是否可靠。整个检测过程无需依赖于服务器，因此整个检测过程不会涉及到服务器的重启，能够节省服务器重启所需的时间，能够大大减小检测非易失性存储器的时间成本，提高非易失性存储器的检测效率。

在一些示例中，控制服务器模拟器向非易失性存储器发送设定格式数据的步骤包括：获取连接有非易失性存储器的目标通道；基于目标通道向非易失性存储器发送设定格式数据。

通过获取与非易失性存储器连接的目标通道，而后再基于目标通道向非易失性存储器发送设定格式数据，能够确保设定格式数据写入到非易失性存储器中。

在一些示例中，获取与非易失性存储器连接的目标通道的步骤可以包括：检测获取非易失性存储器插接的插口位置，基于插口位置确定目标通道。

在一些示例中，向非易失性存储器发送保存指令，并在非易失性存储器响应于保存指令后，断开非易失性存储器的外部电源的步骤包括：在向非易失性存储器发送保存指令经过预设时间后，断开非易失性存储器与电源之间的通路，以使非易失性存储器启动内部电源，将存储在非易失性存储器的动态随机存取存储器中的设定格式数据写入到非易失性存储器的快闪存储器中。

在向非易失性存储器发送保存指令经过预设时间后，断开非易失性存储器与电源之间的通路。通过该预设时间的设置，使得非易失性存储器有足够的时间相应于送保存指令，能够模拟通过服务器检测非易失性存储器性能过程中主板向非易失性存储器发送的断电信号，使得非易失性存储器获知即将会异常断电。

具体地，预设时间的取值范围为1至10毫秒。

而在断开非易失性存储器的外部电源，模拟异常断电后，非易失性存储器的控制器会启用非易失性存储器内部的配电电容，配电电容会对非易失性存储器进行供电，以使存储在非易失性存储器的动态随机存取存储器中的设定格式数据写入到快闪存储器中，以进行异常断电状态下的数据保存。

在一些示例中，恢复指令用于使非易失性存储器将存储在非易失性存储器的快闪存储器中的设定格式数据写入至非易失性存储器的动态随机存取存储器中。

在非易失性存储器接收到恢复指令后，则非易失性存储器获知外部供电恢复为正常，非易失性存储器的控制器将写入到快闪存储器中的设定格式数据恢复到非易失性存储器的动态随机存取存储器中。

在一些示例中，在监测到非易失性存储器完成恢复动作后，获取非易失性存储器中存储的恢复数据，并将恢复数据与设定格式数据进行比对，以得到非易失性存储器的检测结果的步骤包括：在监测到非易失性存储器完成恢复动作后，通过服务器模拟器获取存储在非易失性存储器的动态随机存取存储器中的恢复数据；将恢复数据与设定格式数据进行比对；若恢复数据与设定格式数据相同，则检测结果为合格；若恢复数据与设定格式数据不同，则检测结果为不合格。

在监测到非易失性存储器完成恢复动作后说明非易失性存储器已经完成了数据的恢复，此时再读取非易失性存储器中的恢复数据，将恢复数据与设定格式数据进行比对即可对非易失性存储器的非易失属性进行测试。

如若恢复数据与设定格式数据相同，则说明在异常断电状态下非易失性存储器能够对数据进行完整的存储和恢复，非易失性存储器的非易失属性合格。如若恢复数据与设定格式数据不相同，则说明在异常断电状态下非易失性存储器能够对数据进行不能进行完整的存储和恢复，可能存在无法存储和恢复的风险，非易失性存储器的非易失属性不合格。

在一些示例中，在通过服务器模拟器向非易失性存储器发送设定格式数据的步骤之前还包括：控制非易失性存储器上电；向非易失性存储器发送初始化指令；向非易失性存储器发送触发工作指令，使得非易失性存储器工作；向服务器模拟器发送预设数据格式，以使服务器模拟器生成基于预设数据格式的设定格式数据。

通过控制非易失性存储器上电；向非易失性存储器发送初始化指令。能够使得非易失性存储器执行初始化操作，便于服务器模拟器向非易失性存储器发送设定格式数据，便于设定格式数据的写入。

向非易失性存储器发送触发工作指令，使得非易失性存储器工作，能够使得非易失性存储器处于正常工作的状态，便于在非易失性存储器工作状态下检测非易失性存储器的非易失属性。

向服务器模拟器发送预设数据格式，以使服务器模拟器生成基于预设数据格式的设定格式数据，可以理解的是设定格式数据为非易失性存储器可存储的数据，而预设数据格式的确定，便于后续将设定格式数据与恢复数据进行比对，能够更进一步地提高检测效率，缩短检测时间。

如图2所示，根据本申请实施例的第二方面提出了一种非易失性存储器的检测系统，包括：

数据发送模块201，用于控制服务器模拟器向非易失性存储器发送设定格式数据；

保存指令模块202，用于向非易失性存储器发送保存指令，并在非易失性存储器响应于保存指令后，断开非易失性存储器的外部电源；

恢复指令模块203，用于向非易失性存储器发送恢复指令；

检测模块204，用于在监测到非易失性存储器完成恢复动作后，获取非易失性存储器中存储的恢复数据，并将恢复数据与设定格式数据进行比对，以得到非易失性存储器的检测结果。

本发明提供的非易失性存储器的检测系统，在测试非易失性存储器的非易失属性过程中，通过数据发送模块201控制服务器模拟器向非易失性存储器发送设定格式数据，而后通过保存指令模块202为非易失性存储器进行断电以模拟非易失性存储器的异常断电现象，通过恢复指令模块203控制非易失性存储器进行数据的恢复，最后通过检测模块204读取非易失性存储器中的恢复数据，通过恢复数据与向非易失性存储器发送的设定格式数据进行对比，基于对比结果确定非易失性存储器的非易失属性是否可靠。整个检测过程无需依赖于服务器，因此整个检测过程不会涉及到服务器的重启，能够节省服务器重启所需的时间，能够大大减小检测非易失性存储器的时间成本，提高非易失性存储器的检测效率。

如图3所示，根据本申请实施例的第三方面提出了一种电子设备，包括：存储器301、处理器302以及存储在存储器301中并可在处理器上运行的计算机程序，处理器302用于执行存储器301中存储的计算机程序时实现上述任一技术方案非易失性存储器的检测方法的步骤。

该实施例提供的电子设备，处理器302用于执行存储器301中存储的计算机程序时实现如上述任意技术方案的非易失性存储器的检测方法的步骤，因此该电子设备具备非易失性存储器的检测方法的全部有意效果。

如图4所示，根据本申请实施例的第四方面提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序401，计算机程序401被处理器执行时实现上述任一技术方案非易失性存储器的检测方法的步骤。

该实施例提供的计算机可读存储介质，计算机程序401被处理器执行时实现上述任意技术方案的非易失性存储器的检测方法的步骤，因此该计算机可读存储介质具备非易失性存储器的检测方法的全部有意效果。

根据本申请实施例的第五方面提出了一种非易失性存储器的检测装置，包括：服务器模拟器1、电源5和处理器2；服务器模拟器1用于模拟服务器向非易失性存储器31发送数据，电源5用于为非易失性存储器31供电，处理器2连接于服务器模拟器1和电源5，处理器2用于：控制服务器模拟器1向非易失性存储器31发送数据；控制电源5的启停状态。

本发明提供的非易失性存储器的检测装置，在对非易失性存储器31进行检测过程中，通过处理器2控制服务器模拟器1向非易失性存储器31发送数据，非易失性存储器31的动态随机存取存储器即可对数据进行存储；而后通过处理器2控制电源5停止位为非易失性存储器31供电，模拟非易失性存储器31执行异常断电操作；非易失性存储器31在异常断电的情况下启动内部电源5，将存储在所述非易失性存储器31的动态随机存取存储器中的数据写入到所述非易失性存储器31的快闪存储器中；再恢复非易失性存储器31的上电，使得非易失性存储器31进行数据的恢复，存储在快闪存储器中的数据会重新写入到非易失性存储器31的动态随机存取存储器中，最后在通过服务器模拟器1读取存储在动态随机存取存储器中的恢复数据，通过将恢复数据与写入到非易失性存储器31中的数据进行比对即可对非易失性存储器31的非易失属性进行检测。整个检测过程中处理器2控制服务器模拟器1向非易失性存储器31，通过处理器2控制电源5为非易失性存储器31进行断电，无需依赖于服务器，因此不会涉及到服务器的重启，可以大大减小检测非易失性存储器31的时间成本，提高非易失性存储器31的检测效率。

可以理解的是，通过服务器模拟器1向非易失性存储器31可以为设定格式数据，设定格式数据为非易失性存储器31可以存储的且具备标准格式的数据，以便于将设定格式数据与恢复数据进行比对。

可以理解的是，若向非易失性存储器31发送的数据与非易失性存储器31中恢复的数据相同，则说明非易失性存储器31的非易失属性合格；若向非易失性存储器31发送的数据与非易失性存储器31中恢复的数据不相同，则说明非易失性存储器31的非易失属性不合格。

在一些示例中，处理器2电连接于电源5，用于控制电源5为非易失性存储器31进行供电或断电；处理器2电连接于服务器模拟器1，用于控制服务器模拟器1向非易失性存储器31发送数据；在对非易失性存储器31进行测试的过程中，处理器2用于连接于非易失性存储器31，以向非易失性存储器31发送使能信号和保存信号，服务器模拟器1用于连接于非易失性存储器31，以向非易失性存储器31发送数据，电源5用于连接于非易失性存储器31，以为非易失性存储器31进行供电或模拟断电状态。

在该技术方案中，服务器模拟器1为现场可编程逻辑门阵列或复杂可编程逻辑器件。

现场可编程逻辑门阵列和复杂可编程逻辑器件均可以生成非易失性存储器31能够存储的设定格式数据，且现场可编程逻辑门阵列和复杂可编程逻辑器件均可以读取存储在非易失性存储器31内的恢复数据，便于将设定格式数据与恢复数据进行比对确定非易失属性。

在一些示例中，非易失性存储器的检测装置还包括：连接组件，连接组件分别连接于服务器模拟器1、电源5和处理器2，连接组件用于连接非易失性存储器31。

通过连接组件的设置，非易失性存储器31可以连接于非易失性存储器31，电源5即可通过连接组件为非易失性存储器31进行供电，而在电源5关闭的情况下，断开了非易失性存储器31与电源5之间的通路即可模拟异常断电现象的发生。处理器2连接于连接组件即可获知是否有非易失性存储器31插接在连接组件上，在非易失性存储器31连接于连接组件的情况下，处理器2即可基于非易失性存储器31的连接位置，建立非易失性存储器31与服务器模拟器1之间的通信连接关系，处理器2可以控制服务器模拟器1向非易失性存储器31发送数据，也可以控制服务器模拟器1读取非易失性存储器31内存储的恢复数据。

在一些示例中，连接组件包括：板卡3，板卡3连接于电源5；多个插槽，设置在板卡3上，每个插槽分别连接于处理器2和服务器模拟器1，插槽用于插接非易失性存储器31；其中，处理器2还用于：在非易失性存储器31插入至插槽之后，检测得到插有非易失性存储器31的插槽地址；基于插槽地址，控制服务器模拟器1向非易失性存储器31发送设定格式数据。

连接组件包括了板卡3和多个插槽，电源5连接于卡板，电源5可以通过卡板为多个卡槽进行上电，而在非易失性存储器31插接在卡槽内的情况下，电源5即可为非易失性存储器31供电，通过多个插槽的设置，可以同时检测多个非易失性存储器31的非易失属性，能够大大提高检测效率。

处理器2还可以用于：检测得到插有非易失性存储器31的插槽地址；基于插槽地址，控制服务器模拟器1向非易失性存储器31发送设定格式数据，便于建立服务器模拟器1与非易失性存储器31之间的通信通道，便于服务器模拟器1向非易失性存储器31发送数据，便于服务器模拟器1读取非易失性存储器31内的恢复数据。

在一些示例中，插槽为ddr插槽。

插槽为ddr插槽，一方面便于非易失性存储器31的插接，另一方面便于非易失性存储器31与处理器2和服务器模拟器1之间建立通信连接关系。

在一些示例中，非易失性存储器的检测装置还包括：选择器4，服务器模拟器1连接于选择器4，选择器4连接于多个插槽。

通过选择器4的设置，处理器2在获知到非易失性存储器31的插接位置时，可以将选择器4的数据通道切换至插接有非易失性存储器31的插槽，便于服务器模拟器1向非易失性存储器31发送数据，便于服务器模拟器1通过插槽读取非易失性存储器31内的恢复数据。

在一些示例中，处理器2通过接口分别与板卡3、插槽、电源5、服务器模拟器1连接。

可以理解的是为了便于接线处理，处理器2可以通过不同的接口分别与板卡3、插槽、电源5、服务器模拟器1连接

在一些示例中，处理器2通过i2c总线与板卡3通信连接，以使处理器2与非易失性存储器31进行数据通信。

处理器2通过i2c总线(inter－integratedcircuit，双向二线制同步串行总线)与板卡3通信连接，处理器2可以通过i2c总线与主板上的每个插槽进行通信连接，在插槽内插接有非易失性存储器31的情况下，处理器2即可于非易失性存储器31进行通信，处理器2可以通过i2c总线向非易失性存储器31发送恢复指令，以使非易失性存储器31存储在快闪存储器中的数据恢复写入到动态随机存取存储器中。同样的处理器2可以通过i2c总线获知非易失性存储器31的恢复状态，在非易失性存储器31完成恢复动作后，处理器2即可控制服务器模拟器1读取非易失性存储器31中的恢复数据。i2c总线通信可靠，且成本低，利于非易失性存储器的检测装置的平稳工作，同时能够降低产品生产成本。

在一些示例中，处理器2通过第一gpio接口(general-purposeinput/output，通用型之输入输出接口)与多个插槽电连接，以使处理器2向非易失性存储器31发送使能信号。

处理器2通过第一gpio接口与多个插槽电连接，以使处理器2向非易失性存储器31发送使能信号，使得处理器2可以通过第一gpio接口向非易失性存储器31发送保存指令，使得非易失性存储器31即可获知即将进行非易失属性的测试，确保了在异常断电的情况下，非易失性存储器31具备足够的时间相应于保存指令，第一gpio接口的选取可以降低生产成本降低故障率。

在一些示例中，处理器2通过第二gpio接口连接于电源5。

处理器2通过第二gpio接口连接于电源5，处理器2通过第二gpio接口向电源5发送使能信号，可以控制电源5断开为非易失性存储器31供电的通路，以模拟非易失性存储器31的异常断电现象，第二gpio接口的选取可以降低生产成本降低故障率。

在一些示例中，服务器模拟器1通过qspi接口(quadspi，6线串行外设接口)连接于处理器2。

服务器模拟器1通过qspi接口连接于处理器2，考虑到了服务器模拟器1与处理器2之间需要满足走线要求，而服务器模拟器1与处理器2之间数据发送量较小，因此选用qspi接口可以在保障数据传输稳定性的同时，能够降低非易失性存储器的检测装置的生产成本，降低故障率。

服务器模拟器1通过qspi接口与非易失性存储器31通讯连接，用于发送设定格式数据至非易失性存储器31，以及在非易失性存储器31恢复完成后，获取非易失性存储器31中的当前数据，并将当前数据与设定格式数据进行比对，得到非易失性存储器31的检测结果。

具体的，服务器模拟器1通过qspi接口与处理器2通讯连接，处理器2在获取了插有非易失性存储器31的卡槽槽位地址之后，将卡槽槽位地址发送给服务器模拟器1，服务器模拟器1利用卡槽槽位地址，控制数据选择器4将服务器模拟器1与对应卡槽槽位接通，以发送设定格式数据至非易失性存储器31。

可以理解的是，服务器模拟器1也可以选用其他高功率的接口连接于处理器2。

当有多个内存卡槽上插有非易失性存储器31时，服务器模拟器1还用于在非易失性存储器31的控制器将闪存中的设定格式数据完全写入动态随机存取存储器后，控制数据选择器4将服务器模拟器1与待测试的非易失性存储器31的卡槽槽位重新接通，以便服务器模拟器1再读取待测试的非易失性存储器31中的设定格式数据。

服务器模拟器1还用于在发送设定格式数据至非易失性存储器31之前，根据预设数据格式，生成设定格式数据，以及将当前数据与预设数据格式进行校对，判断当前数据是否满足预设数据格式，若是，则确定非易失性存储器31恢复成功，若否，则确定非易失性存储器31恢复失败。

处理器2分别通过第一gpio接口和i2c总线与非易失性存储器31连接，用于检测到在非易失性存储器31写完设定格式数据后，通过第一gpio接口发送保存指令至非易失性存储器31，在非易失性存储器31相应于保存指令，通过第二gpio接口给非易失性存储器31断电，以及在非易失性存储器31保存完设定格式数据后，通过i2c总线发送恢复指令至非易失性存储器31，控制非易失性存储器31进行恢复。

具体的，处理器2用于在非易失性存储器31中的动态随机存取存储器写完设定格式数据后，发送保存指令至非易失性存储器31中的控制器，控制非易失性存储器31的电源5在预设时长后断电。具体的，可以将多个非易失性存储器31设置在板卡3的内存卡槽上，并通过电源5给板卡3供电。

处理器2中可以设置多个预设数据格式，根据用户选择，发送预设数据格式至服务器模拟器1。

处理器2检测闪存中设定格式数据的写入状态，在控制器将设定格式数据完全写入快闪存储器后，发送恢复指令至非易失性存储器31的控制器，通过控制器将快闪存储器中的设定格式数据写入动态随机存取存储器。

处理器2还用于在通过服务器模拟器1发送设定格式数据至非易失性存储器31之前，且在非易失性存储器31插入内存卡槽后，检测得到插有非易失性存储器31的卡槽槽位地址。

处理器2还用于在通过服务器模拟器1发送设定格式数据至非易失性存储器31之前，给非易失性存储器31上电，完成非易失性存储器31的初始化，以及发送触发工作信号至非易失性存储器31，触发非易失性存储器31的工作。

在本发明的描述中，术语“多个”则指两个或两个以上，除非另有明确的限定，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制；术语“连接”、“安装”、“固定”等均应做广义理解，例如，“连接”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明的描述中，术语“一个实施例”、“一些实施例”、“具体实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本发明中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或实例。而且，描述的具体特征、结构、材料或特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。