本发明涉及存储器测试技术领域，并且更具体地，涉及一种用于对存储器芯片进行测试的系统及方法。
背景技术：
要实现大容量存储器的全参数测试十分耗费时间，并且在实际测试中，传统测试系统及方法较难实现对存储器的各个单元实现完全覆盖，或者覆盖性不够全面。
存储芯片的测试与普通数字逻辑电路的测试从原理上和算法上都有着很大的不同，按照普通数字逻辑电路的测试方法，不可能找到无限支撑测试向量存储的办法，无法满足存储器的测试需求。另外，存储器的故障形式是多种多样的，有的故障是单一的存储单元的失效，比如锁定为0，锁定为1等，这种故障形式通过对存储单元的读写操作就可以测试发现；有的故障形式是相邻存储单元之间的相互影响，有的故障甚至是不稳定的，这些故障形式依靠简单的读写操作是无法发现的，需要采用各种复杂的存储器测试算法才能够检测到。目前，常用的存储器测试算法有棋盘格算法、march算法、对角线算法、移动对角线算法、行列跳步算法、走步算法等。每一种算法所针对的存储器单元的一些特定失效形式。要实现大容量存储器的测试，以及存储器测试算法，需要采用特殊的存储器测试图形发生的方式解决这一问题。
技术实现要素：
本发明提出一种用于对存储器芯片进行测试的系统及方法，以解决如何对存储器芯片进行测试的问题。
为了解决上述问题，根据本发明的一个方面，提供了一种用于对存储器芯片进行测试的系统，所述系统包括：
上位机，通过数字通道与测试平台系统相连接，用于根据测试需求产生与所述测试需求对应的波形激励样式和波形激励样式的调用顺序命令；用于获取被测存储器芯片输出的波形数据，将所述被测存储器输出的波形数据和预设的期望数据进行比较，获取测试结果，并根据所述测试结果确定所述被测存储器芯片的运行状态；
测试平台系统，与被测存储器芯片相连接，用于根据所述波形激励样式的调用顺序命令和波形激励样式产生激励波形以驱动所述被测存储器芯片。
优选地，其中所述测试平台系统通过连接器与设置于测试子板上的被测存储器芯片相连接；其中，所述测试子板上设置有不同类型的测量夹具，对于不同类型的存储器芯片，通过更换相应的测量夹具实现测试需求的覆盖。
优选地，其中所述测试平台系统通过2个100pin的连接器与被测存储器芯片通信，200pin的连接器包括地、电源和数字通道部分，根据被测存储器芯片的测试需求通过调用相应的资源完成测试的覆盖，整个连接器中能够调用的数字通道一共96个，每个数字通道能够被配置成输入、输出或双向的io资源，分配到被测存储器芯片的引脚。
优选地，其中所述上位机根据接收的用户按照编写的每个周期输出激励的状态产生一个能够使底层固件识别的波形文件，并把所述波形文件发给底层固件，以使得底层固件的执行单元根据所述波形文件产生对应的执行程序，并经过底层的翻译处理后，得到激励波形测试数据流，并按照时钟周期逐条输出到被测存储器芯片的激励引脚，完成测试激励波形的输出。
优选地，其中所述上位机还包括：
用户接口模块，包括：窗口管理子模块、配置信息管理子模块和显示管理子模块，用于对窗口信息、配置信息和显示信息进行管理；
芯片信息管理模块，用于实现芯片信息的增加、删除和修改，通过操作芯片信息数据模型及文件管理模块来实现数据的加载与保存；
硬件通讯模块，用于实现与下位机的通讯工作，包括数据转换子模块、通讯协议子模块以及端口模块；
测试流程控制模块，用于对芯片的测试流程进行控制。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于对存储器芯片进行测试的方法，所述方法包括：
上位机根据测试需求产生与所述测试需求对应的波形激励样式和波形激励样式的调用顺序命令；
测试平台系统根据所述波形激励样式的调用顺序命令和波形激励样式产生激励波形以驱动所述被测存储器芯片；
上位机获取被测存储器芯片输出的波形数据，将所述被测存储器输出的波形数据和预设的期望数据进行比较，获取测试结果，并根据所述测试结果确定所述被测存储器芯片的运行状态。
优选地，其中所述方法还包括：
将测试平台系统通过连接器与设置于测试子板上的被测存储器芯片相连接，根据存储器芯片的类型更换相应的测量夹具实现测试需求的覆盖；其中，所述测试子板上设置有不同类型的测量夹具。
优选地，其中所述测试平台系统通过2个100pin的连接器与被测存储器芯片通信，200pin的连接器包括地、电源和数字通道部分，根据被测存储器芯片的测试需求通过调用相应的资源完成测试的覆盖，整个连接器中能够调用的数字通道一共96个，每个数字通道能够被配置成输入、输出或双向的io资源，分配到被测存储器芯片的引脚。
优选地，其中所述上位机根据接收的用户按照编写的每个周期输出激励的状态产生一个能够使底层固件识别的波形文件，并把所述波形文件发给底层固件，以使得底层固件的执行单元根据所述波形文件产生对应的执行程序，并经过底层的翻译处理后，得到激励波形测试数据流，并按照时钟周期逐条输出到被测存储器芯片的激励引脚，完成测试激励波形的输出。
优选地，其中所述方法还包括：
上位机通过用户接口模块的窗口管理子模块、配置信息管理子模块和显示管理子模块对窗口信息、配置信息和显示信息进行管理；
上位机通过芯片信息管理模块实现芯片信息的增加、删除和修改，通过操作芯片信息数据模型及文件管理模块来实现数据的加载与保存；
上位机通过硬件通讯模块实现与下位机的通讯工作，所述硬件通讯模块包括数据转换子模块、通讯协议子模块以及端口模块；
上位机通过测试流程控制模块对芯片的测试流程进行控制。
本发明提供了一种用于对存储器芯片进行测试的系统及方法，上位机能够根据测试需求确定激励波形发送至测试系统平台以作用于被测存储器芯片，获取被测存储器芯片输出的波形数据，将所述被测存储器输出的波形数据和预设的期望数据进行比较，获取测试结果，并根据所述测试结果确定所述被测存储器芯片的运行状态；本发明系统能够提供多个通道，通过更换测量夹具设计不同的测试子板，实现多种存储器芯片的测试。
附图说明
通过参考下面的附图，可以更为完整地理解本发明的示例性实施方式：
图1为根据本发明实施方式的用于对存储器芯片进行测试的系统100的结构示意图；
图2为根据本发明实施方式的测试系统的架构图；
图3为根据本发明实施方式的上位机的模块关系图；
图4为根据本发明实施方式的系统的用户主界面图；
图5为根据本发明实施方式的测试主窗体的示例图；
图6为根据本发明实施方式的于对存储器芯片进行测试的方法600的流程图。
具体实施方式
现在参考附图介绍本发明的示例性实施方式，然而，本发明可以用许多不同的形式来实施，并且不局限于此处描述的实施例，提供这些实施例是为了详尽地且完全地公开本发明，并且向所属技术领域的技术人员充分传达本发明的范围。对于表示在附图中的示例性实施方式中的术语并不是对本发明的限定。在附图中，相同的单元/元件使用相同的附图标记。
除非另有说明，此处使用的术语(包括科技术语)对所属技术领域的技术人员具有通常的理解含义。另外，可以理解的是，以通常使用的词典限定的术语，应当被理解为与其相关领域的语境具有一致的含义，而不应该被理解为理想化的或过于正式的意义。
图1为根据本发明实施方式的用于对存储器芯片进行测试的系统100的结构示意图。如图1所示，本发明实施方式提供的用于对存储器芯片进行测试的系统，上位机能够根据测试需求确定激励波形发送至测试系统平台以作用于被测存储器芯片，获取被测存储器芯片输出的波形数据，将所述被测存储器输出的波形数据和预设的期望数据进行比较，获取测试结果，并根据所述测试结果确定所述被测存储器芯片的运行状态；本发明系统能够提供多个通道，通过更换测量夹具设计不同的测试子板，实现多种存储器芯片的测试。本发明实施方式提供的用于对存储器芯片进行测试的系统100，包括：上位机101和测试平台系统102。
优选地，所述上位机101，通过数字通道与测试平台系统相连接，用于根据测试需求产生与所述测试需求对应的波形激励样式和波形激励样式的调用顺序命令；用于获取被测存储器芯片输出的波形数据，将所述被测存储器输出的波形数据和预设的期望数据进行比较，获取测试结果，并根据所述测试结果确定所述被测存储器芯片的运行状态。
优选地，其中所述测试平台系统通过连接器与设置于测试子板上的被测存储器芯片相连接；其中，所述测试子板上设置有不同类型的测量夹具，对于不同类型的存储器芯片，通过更换相应的测量夹具实现测试需求的覆盖。
优选地，其中所述测试平台系统通过2个100pin的连接器与被测存储器芯片通信，200pin的连接器包括地、电源和数字通道部分，根据被测存储器芯片的测试需求通过调用相应的资源完成测试的覆盖，整个连接器中能够调用的数字通道一共96个，每个数字通道能够被配置成输入、输出或双向的io资源，分配到被测存储器芯片的引脚。
优选地，其中所述上位机根据接收的用户按照编写的每个周期输出激励的状态产生一个能够使底层固件识别的波形文件，并把所述波形文件发给底层固件，以使得底层固件的执行单元根据所述波形文件产生对应的执行程序，并经过底层的翻译处理后，得到激励波形测试数据流，并按照时钟周期逐条输出到被测存储器芯片的激励引脚，完成测试激励波形的输出。
优选地，所述测试平台系统102，与被测存储器芯片相连接，用于根据所述波形激励样式的调用顺序命令和波形激励样式产生激励波形以驱动所述被测存储器芯片。
优选地，其中所述上位机还包括：
用户接口模块，包括：窗口管理子模块、配置信息管理子模块和显示管理子模块，用于对窗口信息、配置信息和显示信息进行管理；
芯片信息管理模块，用于实现芯片信息的增加、删除和修改，通过操作芯片信息数据模型及文件管理模块来实现数据的加载与保存；
硬件通讯模块，用于实现与下位机的通讯工作，包括数据转换子模块、通讯协议子模块以及端口模块；
测试流程控制模块，用于对芯片的测试流程进行控制。
结合图2所示，本发明的专用的存储器测试系统，存储器芯片通过连接器与测试平台系统连接，测试平台系统需要通过上位机来进行控制，从上位机获取可编程的测试波形激励，覆盖被测芯片的测试项。系统能够灵活的测试不同的存储器芯片，完成存储器芯片的功能覆盖，能够测量数据的写入、读出以及存储器芯片的直流参数。测试系统能够提供多个通道，通过更换测量夹具，设计不同的测试子板，能够完成多种存储器芯片的测试。
上位机需要产生可编程的波形激励样式以及调用该样式的顺序命令，并下载到测试平台系统。上位机还需要支持平台系统的管理、检测、测试结果的分析等功能。支持多种存储器芯片波形的生成，并把生成后的波形文件传输给本测试平台系统，控制平台系统的运行，完成测试。
上位机通过千兆以太网和测试平台系统连接，实现1gbps的传输速率，通过发送以太网报文的形式将激励波形数据发送到测试平台系统，测试平台系统响应上位机的以太网报文，并将被测存储器芯片输出的数据按照约定的通讯协议，回传到上位机。
上位机可以编程产生特定的激励波形，波形按照固定的周期来编写，用户可指定每个周期输出激励的状态。状态可以是高电平、低电平和高阻态。一定数量的周期状态组成了一个可持续执行一定时间的激励波形，上位机将这些变化数据下载到测试平台系统。
如图3所示，上位机软件包括芯片用户接口模块、信息管理模块、硬件通讯模块、测试流程控制模块以及实现各个具体功能的子模块(数据转换、文件管理、文本输出等)。用户接口模块主要包括：窗口管理模块，配置信息管理模块以及显示管理模块等。芯片信息管理模块负责芯片信息的增加、删除和修改，通过操作芯片信息数据模型及文件管理模块来实现数据的加载与保存。硬件通讯模块负责与下位机的通讯工作，包括数据转换模块、通讯协议模块以及端口模块。测试流程控制模块通过调用各个子模块实现芯片测试所有方法，再将这些进行组织形成一整套的测试流程。
如图4所示，用户界面由一个主界面以及其内部所包含的测试主窗体、测试项列表、参数列表、汇总列表以及日志窗体所组成。其中，主界面作为其他子窗体容器，负责总体流程的控制(开始和结束测试)以及管理和协调协调各子窗体的状态。测试主窗体管理每一个槽位的状态(使能或失效槽位)，同时会显示每一个槽位的测试信息(测试结果、错误类型、测试完成个数、通过个数以及失败的个数)，测试主窗体如图5所示。
上位机通过人机界面的形式让用户录入波形信息，用户可以很容易的按照被测芯片的时序要求编辑激励波形，上位机软件会根据用户编辑产生的激励波形，产生一个底层固件可以识别的波形文件，并把这个波形文件发给底层的执行单元。底层固件会根据上位机的编程文件，产生对应的执行程序，经过底层的翻译处理后，得到一个激励波形测试数据流，测试数据流即为时间维度的激励波形，按照时钟周期逐条输出到被测芯片的激励引脚，完成测试激励的输出。上位机通过底层固件可以收集和检测存储器输出的波形数据，按照上位机传输的期望数值进行比较，比较后的结果，会存放在测试平台系统的内部，上位机可以从测试平台中读出测试的结果，通过对测试结果的分析就可以知道被测芯片的运行状态。
对于被测存储器芯片的dc参数，上位机可以通过编程，控制测试平台的运行，测试平台会读出系统上的adc参数，得到电流和电压的数值，完成dc参数的数据采样，采样后的数据会存放在测试平台系统内部，上位机可以读取相应的数值，完成dc参数的测试。
在本发明中，测试平台系统提供若干的连接器与测试子板连接，被测的存储器芯片通过测试子板，经连接器与测试平台系统连接，测试平台系统产生的波形激励可以驱动被测存储器芯片。当产生的激励满足被测芯片的手册要求时，相应的读写操作得到验证。对于不同的存储器芯片，只需要更换测量夹具或者测试子板即可覆盖测试需求。
测试平台系统向测试子板提供2个100pin的连接器用于连接被测芯片，200pin的连接器包括地、电源和数字通道部分，在使用本平台时，可以根据实际被测器件的需要，调用相应的资源完成测试的覆盖。整个连接器中可以调用的数字通道一共有96个，这些数字通道可以被配置成输入，输出以及双向的io资源，分配到被测芯片的引脚。
针对不同的测试子板，上位机可以更新分配96个数字通道的属性，在一次测试开始之前，上位机需要录入被测存储器ram的引脚位置信息，按照这个信息完成96个数字通道的分配，每个数字通到相互独立，互相之间没有干扰，可以将不同的数字通道捆绑在一起是想地址或者数据的总线，控制捆绑在一起的数字通道，就可以改变总线的数值，从而得到不同的激励。
例如，进行存储器ram的测量时，上位机可以通过编辑周期参数，设置被测ram的执行周期，达到调整ram读写速度的目的，以便测量被测芯片在不同的时钟周期下的表现。还可以通过调用激活不同的数字通道，扩展ram的地址和数据通道的个数，分配更宽的地址可以覆盖更深的ram空间，可调节的bit位宽，可以针对不同ram配置进行调整，覆盖不同配置下，同一款ram的不同位宽。最后实现使用同一个测量平台系统，对不同深度和位宽的ram进行测量的目的。
图6为根据本发明实施方式的用于对存储器芯片进行测试的方法600的流程图。如图6所示，本发明实施方式提供的用于对存储器芯片进行测试的方法600，从步骤601处开始，在步骤601上位机根据测试需求产生与所述测试需求对应的波形激励样式和波形激励样式的调用顺序命令。
在步骤602，测试平台系统根据所述波形激励样式的调用顺序命令和波形激励样式产生激励波形以驱动所述被测存储器芯片。
在步骤603，上位机获取被测存储器芯片输出的波形数据，将所述被测存储器输出的波形数据和预设的期望数据进行比较，获取测试结果，并根据所述测试结果确定所述被测存储器芯片的运行状态。
优选地，其中所述方法还包括：
将测试平台系统通过连接器与设置于测试子板上的被测存储器芯片相连接，根据存储器芯片的类型更换相应的测量夹具实现测试需求的覆盖；其中，所述测试子板上设置有不同类型的测量夹具。
优选地，其中所述测试平台系统通过2个100pin的连接器与被测存储器芯片通信，200pin的连接器包括地、电源和数字通道部分，根据被测存储器芯片的测试需求通过调用相应的资源完成测试的覆盖，整个连接器中能够调用的数字通道一共96个，每个数字通道能够被配置成输入、输出或双向的io资源，分配到被测存储器芯片的引脚。
优选地，其中所述上位机根据接收的用户按照编写的每个周期输出激励的状态产生一个能够使底层固件识别的波形文件，并把所述波形文件发给底层固件，以使得底层固件的执行单元根据所述波形文件产生对应的执行程序，并经过底层的翻译处理后，得到激励波形测试数据流，并按照时钟周期逐条输出到被测存储器芯片的激励引脚，完成测试激励波形的输出。
优选地，其中所述方法还包括：
上位机通过用户接口模块的窗口管理子模块、配置信息管理子模块和显示管理子模块对窗口信息、配置信息和显示信息进行管理；
上位机通过芯片信息管理模块实现芯片信息的增加、删除和修改，通过操作芯片信息数据模型及文件管理模块来实现数据的加载与保存；
上位机通过硬件通讯模块实现与下位机的通讯工作，所述硬件通讯模块包括数据转换子模块、通讯协议子模块以及端口模块；
上位机通过测试流程控制模块对芯片的测试流程进行控制。
本发明的实施例的用于对存储器芯片进行测试的方法600与本发明的另一个实施例的用于对存储器芯片进行测试的系统100相对应，在此不再赘述。
已经通过参考少量实施方式描述了本发明。然而，本领域技术人员所公知的，正如附带的专利权利要求所限定的，除了本发明以上公开的其他的实施例等同地落在本发明的范围内。
通常地，在权利要求中使用的所有术语都根据他们在技术领域的通常含义被解释，除非在其中被另外明确地定义。所有的参考“一个/所述/该[装置、组件等]”都被开放地解释为所述装置、组件等中的至少一个实例，除非另外明确地说明。这里公开的任何方法的步骤都没必要以公开的准确的顺序运行，除非明确地说明。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
最后应当说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其限制，尽管参照上述实施例对本发明进行了详细的说明，所属领域的普通技术人员应当理解：依然可以对本发明的具体实施方式进行修改或者等同替换，而未脱离本发明精神和范围的任何修改或者等同替换，其均应涵盖在本发明的权利要求保护范围之内。
本文用于企业家、创业者技术爱好者查询，结果仅供参考。
