一种多功能测试工装结构和方法与流程

1.本发明涉及一种电路领域，特别涉及一种多功能测试工装结构和方法。


背景技术：

2.目前现有的元器件测试设备中，一般只能通过厂家配套设备，配合原厂的上位机软件或者代码，进行测试。通过程序的编写或者设置，出一套方案后将待测物料放置于设备上进行测试。且现有的设备不能测试不同厂家的元器件，局限性大。现有技术上的不通用导致使用者需购入不同的设备进行调试。也就是说，现有技术方案中，用户测试工装的效率交底，并且测试的成本较大。


技术实现要素：

3.本发明其中一个发明目的在于提供一种多功能测试工装结构和方法，所述结构和方法采用集成化的电路设计，使得多个元器件的多个参数都可以在一个电路结构上实现，无需增加测试元件，可提高元件测试的效率，减少测试的成本。
4.本发明另一个发明目的在于提供一种多功能测试工装结构和方法，所述结构和方法多个测试电路通过耦接的方式集成于一个单片机的电路上，因此可减少检测电路的面积。
5.本发明另一个发明目的在于提供一种多功能测试工装结构和方法，所述结构和方法具有一个拨码开关，通过打开不同拨码开关上的码位可连接不同的测试电路，从而可以测试不同的参数，操作简便。
6.本发明另一个发明目的在于提供一种多功能测试工装结构和方法，所述结构和方法采用多种指示方式，通过对指示方式进行简单的识别可知道测试的基本数据，在集成化的电路结构中可提高检测效率。
7.为了实现至少一个上述发明目的，本发明进一步提供一种多功能测试工装结构，包括：
8.单片机；
9.电源电路；
10.多个测试电路；
11.通讯电路；
12.存储电路；
13.驱动电路；
14.其中所述电源电路、测试电路、通讯电路、存储电路和驱动电路分别连接所述单片机，电源电路连接变压器电源和dcdc电源，用于对测试工装结构供电，所述驱动电路连接多个指示器，指示器路用于发出指示信息，存储电路存储测试参数，通讯电路连接上位机，用于向上位机发送测试信息。
15.根据发明另一个较佳实施例，所述多功能测试工装结构具有一拨码开关，所述拨
码开关具有4个码位，所述拨码开关连接多个测试电路，用于调节测试模式。
16.根据发明其中一个较佳实施例，所述测试电路包括flash测试电路，所述 flash测试电路连接所述拨码开关，所述flash测试电路用于测试电子元件的 flash波形，并向所述单片机发送待测试的flash波形。
17.根据发明另一个较佳实施例，所述测试电路包括eeprom测试电路，所述 eeprom测试电路连接所述拨码开关，所述eeprom测试电路用于测试 eeprom通讯波形，并通过所述拨码开关设置eeprom擦写次数操作模式。
18.根据发明另一个较佳实施例，所述测试电路包括红外光电管测试电路，该红外光电管测试电路连接所述拨码开关，通过拨码开关用于设置测试脉冲电流光电管寿命。
19.根据发明另一个较佳实施例，所述测试电路包括继电器拉合闸测试电路，所述继电器拉合闸测试电路连接所述拨码开关，通过拨码开关用于设置继电器驱动脉宽测试。
20.为了实现至少一个上述发明目的，本发明进一步提供一种多功能测试工装测试方法，所述方法基于上述一种多功能测试工装结构，包括如下步骤：
21.拨动拨码开关至flash波形测试模式；
22.通过上位机设置单片机最大通讯速率；
23.单片机通过连读的方式读取flash波形；
24.驱动电路连接指示灯，当flash波形正常读取时指示灯常亮。
25.为了实现至少一个上述发明目的，本发明进一步提供一种多功能测试工装测试方法，所述方法基于上述一种多功能测试工装结构，包括如下步骤：
26.拨动拨码开关至eeprom波形测试模式；
27.单片机通过连读的方式读取eeprom，获取eeprom通讯波形；
28.设置时钟信号通讯速率为400khz；
29.驱动电路连接蜂鸣器，判断是否读取eeprom成功，若成功则指示灯常亮，若失败则蜂鸣器鸣叫，指示灯闪烁。
30.为了实现至少一个上述发明目的，本发明进一步提供一种多功能测试工装测试方法，所述方法基于上述一种多功能测试工装结构，包括如下步骤：
31.拨动拨码开关至eeprom擦写次数操作模式；
32.单片机选取每个eeprom中的四页进行测试，其中两页进行页写，另两页进行字节读写，四页读写完时，擦写次数加1；
33.设置上传次数阈值，eeprom擦写次数每隔所述上传次数阈值则上传擦写结果；
34.将所述擦写结果保存于铁电电路中。
35.为了实现至少一个上述发明目的，本发明进一步提供一种多功能测试工装测试方法，所述方法基于上述一种多功能测试工装结构，包括如下步骤：
36.拨动拨码开关至至flash擦写次数操作模式；
37.单片机选取每个flash存储器中的四页进行测试，其中两页进行页写，另两页进行字节读写，四页读写完时，擦写次数加1；
38.设置上传次数阈值,flash擦写次数每隔所述上传次数阈值则上传擦写结果；
39.将所述擦写结果保存于铁电电路中。
附图说明
40.图1显示的是本发明一种多功能测试工装结构示意图。
41.图2显示的是本发明一种多功能测试工装测试方法流程示意图。
42.图3显示的是本发明另一种多功能测试工装测试方法流程示意图。
43.图4显示的是本发明另一种多功能测试工装测试方法流程示意图。
44.图5显示的是本发明另一种多功能测试工装测试方法流程示意图。
具体实施方式
45.以下描述用于揭露本发明以使本领域技术人员能够实现本发明。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本发明的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本发明的精神和范围的其他技术方案。
46.本领域技术人员应理解的是，在本发明的揭露中，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系是基于附图所示的方位或位置关系，其仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此上述术语不能理解为对本发明的限制。
47.可以理解的是，术语“一”应理解为“至少一”或“一个或多个”，即在一个实施例中，一个元件的数量可以为一个，而在另外的实施例中，该元件的数量可以为多个，术语“一”不能理解为对数量的限制。
48.请结合图1
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5，本发明公开了一种多功能测试工装结构和方法，所述结构包括至少一个单片机，所述单片机用于处理测试参数；电源电路，所述电源电路连接变压器电源和dcdc电源，用于对所述工装结构供电，所述结构包括通讯电路、存储电路和驱动电路，分别连接所述单片机。其中所述存储电路优选设置为铁电电路，可采用512k的铁电作为存储装置，使得工装结构成本较低，所述通讯电路优选设置为光电通讯电路，用于向上位机上传单片机中存储数据。所述光电通讯电路连接光电收发器，上位机液具有光电收发器，通过光电转换的方式实现单片机和上位机之间的通讯，可提高通讯的效率，所述驱动电路包括指示灯驱动电路和蜂鸣器驱动电路，指示灯驱动电路连接指示灯，蜂鸣器驱动电路连接蜂鸣器，所述指示灯和蜂鸣器用于发出测试的指示信号，根据指示信号可以判断相关的测试是否失败。
49.值得一提的是。所述工装结构具有多个测试电路，所述测试电路包括：flash 测试电路、eeprom测试电路、红外光电管测试电路和继电器拉合闸测试电路，其中上述4种测试电路都连接于单片机上，并集成设置于单片机周围，每一测试电路都具有一个测试端子，将电元件的端子连接于所述测试端子用于完成测试操作。
50.具体而言：所述单片机还连接一个拨码开关，所述拨码开关优选设置4个码位，所述拨码开关用于设置单片机的测试程序，波动相对的拨码开关码位可置信相关的测试程序：
51.将拨码开关的后三位调成(0001)，所述单片机可执行脉冲电流光电管寿命测试。具体测试方法包括：
52.采用两个工装结构进行测量，其中一个工装的测试端子连接红外光电管的输入端，另外一个测试工装的测试端子连接红外光电管的输出端。当两个工作结构通讯时，设置通讯程序的主从模式，其中拨码开关第一位为1的测试工装光电通讯程序为主，而拨码开关第一位为1的测试工装光电通讯程序为从，设定波特率9600bps,设置最低通讯率25帧/秒，将通讯数据0xaa上传给上位机。所述单片机记录红外光电管向外发送光电通讯的次数和时间，并且将光电通讯次数和时间保存于铁电电路中，单片机内设置程序间隔固定时间向上位机发送存储于铁电电路中的红外光电管总光电通讯次数和总光电通讯时间。优选地，本发明可设置5秒向上位机发送测试的红外光电管的总光电通讯次数、总光电通讯时间、光电通讯失败次数和光电通讯成功次数。当所述红外光电管连续20 次光电通讯失败，则通过所述驱动电路驱动指示灯闪烁以及驱动蜂鸣器发出蜂鸣。
53.将所述拨码开关后三位调节成(0011)时，单片机可通过所述eeprom测试电路执行eeprom波形的测试操作，具体如下：
54.将eeprom和eeprom测试电路的测试端子连接；
55.通过上位机设置单片机对eeprom采用连续读写的方式读取eeprom，获取eeprom波形，上位机控制scl(时钟信号)的通讯频率为400khz，单片机判断对eeprom的读取状态，若获取的eeprom波形不稳定或读取失败，则单片机控制指示电路和蜂鸣电路发出指示信息，指示灯闪烁，蜂鸣器发声。若波形稳定，则指示灯常亮。需要说明的是，eeprom是带电可擦可编程只读存储器，用于擦除已有信息。
56.将所述拨码开关后三位调节成(0111)时，单片机可通过所述flash测试电路执行flash波形测试，具体过程如下：
57.上位机设置单片机对flash(闪存)为连续读写方式读取flash波形；
58.上位机设置单片机最大通讯速率；
59.根据flash波形判断读取是否不稳定或断连；
60.若出现不稳定或断连，单片机控制指示电路和蜂鸣电路发出指示信息，指示灯闪烁，蜂鸣器发声。若正常波形，则指示灯常亮。
61.将所述拨码开关后三位调节成(0100)时，单片机可通过所述eeprom测试电路执行eeprom擦写次数操作模式，该模式用于测试eeprom的擦写能力，具体如下：
62.单片机对选取的eeprom中的四页，其中两页采用页写，另两页采用字节写，当选取的四页全部写完时，单片机自动对eeprom擦写次数加1，若擦写失败则将失败次数加1，将擦写成功次数和擦写失败次数记录到铁电电路，同时记录总擦写时间和单次擦写的时间，并将eeprom擦写的时间数据保存于所述铁电电路。进一步的，上位机可在所述单片机中设置上传次数阈值，当铁电电路中保存的eeprom擦写数据次数满足所述上传次数阈值时，则通过所述光电通讯电路向上位机上传eeprom擦写数据。所述eeprom擦写数据包括：总擦写失败次数，页面擦写失败次数，字节擦写失败次数。在所述单片机在执行擦写操作时，若eeprom测试电路对eeprom无法读写，则同过单片机向所述驱动电路发送指示信息，蜂鸣器发出响声，指示灯常亮。
63.将所述拨码开关后三位调节成(1000)时，则单片机可通过flash测试电路执行flash擦写次数操作模式，具体步骤如下：
64.单片机选取flash存储器中的四页，对其中的两页采用页写，对另外两页采用字节
写，当对选取的四页的读写都完成时，flash擦写次数数据增加1，并将擦写数据保存于铁电电路(fram)中，上位机可在单片机中设置上传次数阈值，若存储于铁电电路中的flash擦写数据达到所述上传次数阈值，则可通过光电通讯电路上传保存于铁电电路(fram)中的flash擦写数据。flash擦写数据包括：总擦写失败次数，页面擦写失败次数，字节擦写失败次数。
65.特别地，根据本发明公开的实施例，上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如，本公开的实施例包括一种计算机程序产品，其包括承载在计算机可读介质上的计算机程序，该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中，该计算机程序可以通过通信部分从网络上被下载和安装，和/或从可拆卸介质被安装。在该计算机程序被中央处理单元(cpu)执行时，执行本申请的方法中限定的上述功能。需要说明的是，本申请上述的计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是但不限于电、磁、光、电磁、红外线段、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于：具有一个或多个导线段的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(cd
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rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本申请中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本申请中，计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：无线段、电线段、光缆、rf等等，或者上述的任意合适的组合。
66.附图中的流程图和框图，图示了按照本发明各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，该模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
67.本领域的技术人员应理解，上述描述及附图中所示的本发明的实施例只作为举例而并不限制本发明，本发明的目的已经完整并有效地实现，本发明的功能及结构原理已在实施例中展示和说明，在没有背离所述原理下，本发明的实施方式可以有任何变形或修改。