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将第一接口复制到第二接口上及相关系统、方法及装置与流程

2021-03-23 11:17:00 来源:中国专利 TAG:接口 申请 端口 装置 端口映射
将第一接口复制到第二接口上及相关系统、方法及装置与流程

优先权主张

本申请案主张2019年9月20日申请的针对“将第一接口复制到第二接口上及相关系统、方法及装置(replicationofafirstinterfaceontoasecondinterfaceandrelatedsystems,methods,anddevices)”序列号为16/577,267的美国专利申请案的申请日期的权益。

本发明大体上涉及将第一接口的端口映射到第二接口的端口上,并且更特定来说,涉及将p1500接口的端口映射到存储器装置中的直接存取(da)接口的端口。



背景技术:

联合电子装置工程委员会(jedec)固态技术协会规定存储器装置中的接口设计的可接受性。举例来说,jedec定义针对高带宽存储器2(hbm2)系统的三个接口。具体来说,jedec定义aword/dword接口(例如,命令、地址、dq等)、p1500接口及直接存取(da)接口。da接口是用于供应商的测试的特殊接口。jedec仅定义针对da接口的凸块(ubump)的数目及放置。因此,端口指派用法可变化(例如,特定于供应商)。



技术实现要素:

本申请案的一个方面提供一种存储器装置,其中所述存储器装置包括:第一接口,其包含测试探针不可存取的第一端口;第一接口控制电路,其经配置以控制所述第一接口的操作;第二接口,其包含第二端口,所述第二端口的至少一部分包含所述测试探针可存取的测试垫;及多路复用器,其经配置以可操作地将所述第一接口及所述第二接口的至少一部分耦合到所述第一接口控制电路,其中所述多路复用器经配置以选择性地使所述第二接口的所述至少所述部分能够操作为所述第一接口,以使测试探针能够经由所述第二接口的所述测试垫存取所述第一接口控制电路。

本申请案的另一方面提供一种验证用于存储器装置的逻辑裸片的第一接口控制电路的方法,其中所述方法包括:可操作地将第一接口的第一端口耦合到所述第一接口控制电路,测试探针不可存取所述第一端口;响应于控制信号而将第二接口的第二端口的至少一部分可操作地耦合到所述第一接口控制电路,所述测试探针可存取所述第二端口;以及使用所述第二端口的所述至少所述部分来测试所述第一接口控制电路的操作。

本申请案的另一方面提供一种计算系统,其中所述计算系统包括:一或多个存储器装置,所述一或多个存储器装置中的至少一个存储器装置包含:逻辑裸片,其包含可操作地耦合到p1500控制电路的p1500接口及可操作地耦合到直接存取(da)控制电路的da接口,所述逻辑裸片经配置以选择性地可操作地将所述da接口的测试垫的至少一部分耦合到所述p1500控制电路;及至少一个存储器裸片,其包含数据存储元件,所述至少一个存储器裸片可操作地耦合到所述p1500控制电路及所述da控制电路。

附图说明

尽管本发明以特定指出并明确主张特定实施例的权利要求书结束,但当结合附图阅读时,可从下文描述中更容易地确定本发明范围内的实施例的各种特征及优点,其中:

图1是根据一些实施例的高带宽存储器hbm 系统100的框图;

图2是图1的hbm 系统的逻辑裸片的框图;

图3是根据一些实施例的图2的逻辑裸片的da控制电路的功能流程图;

图4是说明根据一些实施例的验证第一接口控制电路的方法的流程图式;及

图5是根据一些实施例的计算系统的框图。

具体实施方式

在下文详细描述中,参考形成其一部分的附图,并且在附图中通过图示的方式展示可实践本发明的实施例的特定实例。足够详细地描述这些实施例,以使所属领域的一般技术人员能够实践本发明。然而,在不脱离本发明的范围的情况下,可利用本文启用的其它实施例,并且可进行结构、材料及工艺改变。

本文呈现的图示并不意在是任何特定方法、系统、装置或结构的实际视图,而仅仅是用以描述本发明的实施例的理想化表示。在一些情况下,为方便读者,各个图式中的相似结构或组件可能保留相同或类似编号;然而,编号上的类似性并不一定表示结构或组件在大小、组成、配置或任何其它属性上都等同。

下文描述可包含实例以帮助使所属领域的一般技术人员能够实践所揭示实施例。术语“示范性”、“通过实例”及“举例来说”的使用表示相关描述是解释性的,且尽管本发明的范围希望涵盖实例及合法等效物,但此类术语的使用不希望将实施例或本发明的范围限于指定的组件、步骤、特征、功能或类似者。

将容易理解的是,可以各种不同的配置来布置及设计如本文一般描述的以及在图式中说明的实施例的组件。因此,各种实施例的下文描述不希望限制本发明的范围,而仅仅是各个实施例的代表。尽管可在图式中呈现实施例的各个方面,但除非特定指出,否则图式不必按比例绘制。

此外,所展示及描述的特定实施方案仅是实例,并且不应被解释为实施本发明的唯一方式,除非本文另有说明。可以框图形式展示元件、电路及功能,以免在不必要的细节上使本发明模糊不清。相反,所展示及描述的特定实施方案仅是示范性的,并且不应解释为实施本发明的唯一方式,除非本文另有说明。另外,块定义及各个块之间的逻辑划分是特定实施方案的示范。对于所属领域的一般技术人员来说将是显而易见的是,可通过众多其它划分解决方案来实践本发明。在大多数情况下,已省略关于时序考量及类似者的细节,其中此类细节对于完全理解本发明不是必需的,并且在相关领域的一般技术人员的能力范围内。

所属领域的一般技术人员将理解,可使用各种不同技术及技巧中的任何者来表示信息及信号。为清楚呈现及描述,一些图式可将信号说明为单个信号。所属领域的一般技术人员将理解,信号可代表信号的总线,其中总线可具有各种位宽度,并且本发明可在包含单个数据信号的任何数目个数据信号上实施。

结合本文揭示的实施例描述的各种说明性逻辑块、模块及电路可用通用处理器、专用处理器、数字信号处理器(dsp)、集成电路(ic)、专用集成电路(asic)、现场可编程门阵列(fpga)或其它可编程逻辑装置、离散门或晶体管逻辑、离散硬件组件或经设计以执行本文描述的功能的其任一组合来实施或执行。通用处理器(在本文中也可称为主机处理器或简称为主机)可为微处理器,但替代地,所述处理器可为任何常规处理器、控制器、微控制器或状态机。处理器也可被实施为计算装置的组合,例如dsp及微处理器的组合、多个微处理器、与dsp核心结合的一或多个微处理器或任何其它此配置。包含处理器的通用计算机被认为是专用计算机,而通用计算机经配置以执行与本发明的实施例相关的计算指令(例如,软件代码)。

可依据被描绘为流程图式、流程图、结构图或框图的过程来描述实施例。尽管流程图式可将操作动作描述为循序过程,但许多这些动作可以另一顺序、并行或大体上同时执行。另外,可重新布置动作的次序。过程可对应于方法、线程、函数、程序、子例程、子程序、其它结构或其组合。此外,本文揭示的方法可以硬件、软件或两者来实施。如果以软件来实施,那么功能可作为一或多个指令或代码在计算机可读媒体上存储或传输。计算机可读媒体包含计算机存储媒体及通信媒体两者,所述通信媒体包含促进将计算机程序从一个地方传送到另一地方的任何媒体。

本文中使用例如“第一”、“第二”等的指示符对元件的任何参考均不限制所述元件的数目或次序,除非明确声明此限制。相反,这些指示符在本文中可用作区分两个或更多个元件或元件例子的便利方法。因此,对第一及第二元件的参考并不表示在那里仅可采用两个元件,或者第一元件必须以某一方式在第二元件之前。另外,除非另有声明,否则一组元件可包括一或多个元件。

如本文所用,关于给定参数、性质及条件的术语“大体上”在所属领域的一般技术人员将理解的程度上表示并包含在较小程度的差异下(例如(举例来说)在可接受的制造公差内)满足给定参数、性质或条件。通过实例的方式,取决于大体上满足的特定参数、性质或条件,所述参数、性质或条件可至少90%满足、至少95%满足或甚至至少99%满足。

jedec规定p1500接口仅具有凸块。因此,p1500接口不包含可由测试探针存取的测试垫。因此,即使希望使用探针测试来验证p1500控制电路,也可能无法直接从p1500接口验证可操作地耦合到p1500接口的p1500控制电路。相比之下,jedec允许da接口除包含凸块外还包含测试垫。因此,可使用测试探针来测试da接口。

本文揭示使得能够经由da接口的测试探针存取p1500控制电路的系统、方法及装置。在一些实施例中,存储器装置包含第一接口,其包含测试探针不可存取的第一端口。存储器装置还包含第一接口控制电路,其经配置以控制第一接口的操作。存储器装置进一步包含第二接口,其包含第二端口。第二端口的至少一部分包含测试探针可存取的测试垫。另外,存储器装置包含多路复用器,其经配置以可操作地将第一接口及第二接口的至少一部分耦合到第一接口控制电路。多路复用器经配置以选择性地使第二接口的至少部分能够操作为到第一接口的入口,以使得测试探针能够经由第二接口的测试垫存取第一接口控制电路。

在一些实施例中,一种验证用于存储器装置的逻辑裸片的第一接口控制电路的方法包含可操作地将第一接口的第一端口耦合到第一接口控制电路,测试探针不可存取第一端口。所述方法还包含响应于控制信号而将第二接口的第二端口的至少一部分可操作地耦合到第一接口控制电路。测试探针可存取第二端口。所述方法进一步包含使用第二端口的至少部分来测试第一接口控制电路的操作。

在一些实施例中,一种计算系统包含一或多个存储器装置。一或多个存储器装置中的至少一个存储器装置包含逻辑裸片及存储器裸片(例如,dram裸片)。逻辑裸片包含可操作地耦合到p1500控制电路的p1500接口及可操作地耦合到直接存取(da)控制电路的da接口。逻辑裸片经配置以将da接口的测试垫的至少一部分选择性地可操作地耦合到p1500控制电路。存储器裸片包含数据存储元件。存储器裸片可操作地耦合到逻辑裸片的p1500控制电路及da控制电路。

图1是根据一些实施例的hbm 系统100的框图。hbm 系统100包含hbm102及可操作地耦合到hbm102的处理单元104(例如,中央处理单元(cpu)、图形处理单元(gpu)、加速处理单元(apu)等)。hbm102包含呈dram裸片106形式的多个(例如,四个、八个、十六个、三十二个)动态随机存取存储器裸片及逻辑裸片200。逻辑裸片200包含控制电路108及近存储器控制器nmc110。处理单元104包含远存储器控制器fmc112。

nmc110及fmc112经配置以用作存储器控制器主控。fmc112包含hbm外存储器控制器,并且nmc110包含位于hbm102的逻辑裸片200上的hbm上存储器控制器。通过非限制性实例的方式,逻辑裸片200可对应于存储器加逻辑的3d堆叠(其为hbm102)的底层,而多个dram裸片106可对应于hbm102的上层。逻辑裸片200可使用nmc110控制dram裸片106,nmc110可由控制电路108指示以控制dram裸片106。应注意,nmc110及fmc112中的任一者或两者可由通用存储器控制器表示。

逻辑裸片200包含可操作地耦合到p1500控制电路的p1500接口。逻辑裸片200还包含可操作地耦合到da接口控制电路的直接存取接口。逻辑裸片200经配置以将包含测试垫的da接口的测试垫的至少一部分选择性地可操作地耦合到p1500控制电路,以使da接口能够操作为p1500接口。因此,da接口可使测试探针能够存取p1500控制电路,这可使p1500控制电路能够在探针测试中得到验证。

图2是图1的hbm 系统100的逻辑裸片200的框图。逻辑裸片200包含aword/dword接口204、p1500接口206及直接存取接口da接口208。逻辑裸片200还包含可操作地耦合到aword/dword接口204的命令地址数据控制电路202、经由多路复用器210可操作地耦合到p1500接口206的p1500控制电路216及可操作地耦合到da接口208的da控制电路214。命令地址数据控制电路202经配置以控制aword/dword接口204的操作,p1500控制电路216经配置以控制p1500接口206的操作,并且da控制电路214经配置以控制da接口208的操作。命令地址数据控制电路202、p1500控制电路216及da控制电路214中的每一者经配置以与dram裸片106(图1)直接通信。p1500控制电路216及da控制电路214还经配置以经由内置自测试bist212与dram裸片106间接通信。此外,p1500控制电路216及da控制电路214经配置以参与与dram裸片106的混合通信,其中混合通信包含与dram裸片106的直接及间接(经由bist212)通信。

aword/dword接口204是用于为图1的hbm102的正常操作提供地址/命令(aword)及数据(dword)的接口。通过非限制性实例的方式,aword/dword接口204经配置以充当用于传导操作信号(例如,命令、地址信号、dq输入/输出数据信号等)的接口。aword/dword接口204包含aword/dword端口220。aword/dword端口220不包含测试垫。

p1500接口206是用于测试由jedec指定的操作的接口。p1500接口206包含p1500端口224。由jedec指定的p1500端口224的数目是十五个p1500端口224。p1500测试接口是嵌入式核心及系统芯片之间的测试接口,其可用以测试核心互操作性。jedec指定p1500接口包含凸块,但不包含测试垫。因此,在涉及p1500接口的测试操作期间,可能无法经由p1500端口224使用测试探针存取p1500控制电路216。各种不同hbm之间的p1500接口的功能及电路(例如,p1500控制电路216)可能相对类似,这是因为jedec严格规定p1500接口206。

da接口208是用于其它操作(例如,主要是测试操作)的接口。da接口208的基本作用是在不使用其它接口(例如,aword/dword接口204、p1500接口206)的情况下验证hbm(例如,图1的hbm 系统100)的功能。da接口208包含da端口222。da端口222中的至少一些具有测试垫226。da端口222的数目是60个da端口222。用于da接口208的功能及电路(例如,da控制电路214)可能因hbm而相对不同,这是因为da接口208的功能及电路不像p1500接口206的功能及电路那样有严格规定。举例来说,jedec定义da端口222的凸块的数目及放置。然而,da接口208的端口指派及用法可因hbm而异。

由于aword/dword接口204及p1500接口206不包含测试垫,因此在aword/dword接口204、p1500接口206及da接口208中,仅da接口208包含测试垫。多路复用器210经配置以实现经由da接口208的测试垫226对p1500控制电路216的探针存取。换句话说,可将p1500端口224指派到da端口222的一部分上。因此,p1500控制电路216可包含双接口(即,p1500接口206及da接口208)。

可响应于da28信号218(例如,da端口222的da28端口上的信号,da端口222可经编号为da0到da59)选择将p1500接口206或da接口208经由多路复用器210可操作地耦合到p1500控制电路216。da28信号218可为控制信号(例如,由存储器控制器提供到da端口222中的一者)。通过非限制性实例的方式,当da28信号218经去断言(例如,保持在逻辑电平低电压电势)时,多路复用器210可经配置以将p1500接口206可操作地耦合到p1500控制电路216。此外,当da28信号218经断言(例如,保持在逻辑电平高电压电势)时,多路复用器210可经配置以将da接口208可操作地耦合到p1500控制电路216。当然,在一些实施例中,da28信号218可代替地经断言以将p1500接口206可操作地耦合到p1500控制电路216,并且da28信号218可经去断言以将da接口208可操作地耦合到p1500控制电路216,而不脱离本文所揭示的实施例。

由于da端口222的数目(60个da端口222)大于p1500端口224的数目(15个p1500端口224),因此p1500端口224中的每一者可指派到da端口222中的不同一者。因此,六十个da端口222中的十五者经设置以用作p1500端口224。此外,p1500控制电路216的功能可在可操作地耦合到da接口208的同时扩展,这是因为da端口222的数目大于p1500端口224的数目。

p1500控制电路216的双接口能力所带来的另一益处是,在逻辑裸片200在系统级封装(sip)上实施的情况下,可运行探针测试以测试p1500控制电路216。此探针测试可保证p1500功能性(例如,完美的p1500功能性)。此外,即使p1500接口206停用,也可经由da接口208使用p1500协议。

在图2中展示指示信号方向的各种箭头。应注意,地址/命令信号及对应测试信号在一个方向上从逻辑裸片200的外部朝向dram裸片106(图1)被驱动。另一方面,数据信号及对应测试信号在两个方向上(即,往返于dram裸片106)被驱动。

图3是根据一些实施例的图2的逻辑裸片200的da控制电路214的功能流程图300。功能流程图300包含操作模式hbm备用模式306、hbm备用da锁定模式308、da1500模式310及测试模式312(例如,模式0314、模式1316,模式2318、模式3320、模式4322)。在hbm备用模式306及hbm备用da锁定模式308期间,da控制电路214可在da接口关模式302下操作。在da1500模式310及测试模式312中,da控制电路214可在da接口开模式304中操作。可由da28信号218控制da接口关模式302与da接口开模式304之间的切换。当da28信号218处于逻辑电平高电压电势(h)时,da控制电路214被启用(例如,da接口开启模式304),并且当da28信号218处于逻辑电平低电压电势(l)时,da控制电路214被停用(例如,da接口关模式302)。如先前论述,da28信号218被提供到多路复用器210以将在da端口222处接收的信号传送到p1500控制电路216并实现其功能。

如由功能流程图300所说明,在加电之后,逻辑裸片200可在hbm备用模式306中操作。在hbm备用模式306中,如果da锁定信号经断言(例如,经由mr8op[0]=1),da控制电路214可转变为hbm备用da锁定模式308。然而,如果da28信号218经断言为高(h),那么da控制电路214可转变为da1500模式310,在此期间,da接口208经由多路复用器210(图2)可操作地耦合到p1500控制电路216。

在da控制电路214在da接口开模式304中操作并且da接口208可操作地耦合到p1500控制电路216的情况下,da控制电路214可响应于tmdamode[2:0]信号324转变为各种测试模式312中的任何者。

在da控制电路214在da1500模式310中操作时,当da28信号218经去断言到逻辑电平低电压电势(l)时,da控制电路214转变为da接口关模式302内的hbm备用模式306。

图4是说明根据一些实施例的验证第一接口控制电路(例如,图2的p1500控制电路216)的方法400的流程图。在操作402中,方法400将第一接口的第一端口可操作地耦合到第一接口控制电路。测试探针无法存取第一端口(例如,因为第一端口是凸块)。在一些实施例中,第一接口控制电路包含p1500控制电路216,且第一端口包含p1500端口224。在一些实施例中,将第一端口可操作地耦合到第一接口包含将第一接口与第二接口(例如,da接口208)隔离。在一些实施例中,将第一端口可操作地耦合到第一接口包含以da接口关模式302(图3)操作可操作地耦合到第二接口的第二控制电路。

在操作404中,方法400响应于控制信号而将第二接口的第二端口的至少一部分可操作地耦合到第一接口控制电路,测试探针可存取第二端口。在一些实施例中,控制信号可为提供到第二端口中的一者的控制信号(例如,da28信号218)。在一些实施例中,将第二接口的第二端口的至少一部分可操作地耦合到第一接口控制电路包含:响应da28信号218(图2)而经由多路复用器210将da接口208的da端口222的至少一部分可操作地耦合到p1500控制电路216。在一些实施例中,将第二接口的第二端口的至少一部分可操作地耦合到第一控制电路包含da控制电路214从da接口关模式302转变为da接口开模式304。在一些实施例中,响应于控制信号而将第二接口的第二端口的至少部分可操作地耦合到第一接口控制电路包含响应于控制信号而操作可操作地耦合到第一接口及第二接口的多路复用器以将第一接口的第一端口指派到第二接口的第二端口的至少部分上。

在操作406中,方法400使用第二端口的至少部分来测试第一接口控制电路的操作。在操作408中,方法400使测试探针触碰到第二端口的至少部分中的一或多者的测试垫。

图5是根据一些实施例的计算系统500的框图。计算系统500包含可操作地耦合到一或多个存储器装置502、一或多个非易失性数据存储器装置510、一或多个输入装置506以及一或多个输出装置508的一或多个处理器504。在一些实施例中,计算系统500包含个人计算机(pc),例如桌上型计算机、膝上型计算机、平板计算机、移动计算机(例如,智能电话、个人数字助理(pda)等)、网络服务器或其它计算机装置。

在一些实施例中,一或多个处理器504可包含中央处理单元(cpu)或经配置以控制计算系统500的其它处理器。在一些实施例中,一或多个存储器装置502包含随机存取存储器(ram),例如易失性数据存储装置(例如,动态ram(dram)静态ram(sram)等)。在一些实施例中,一或多个非易失性数据存储器装置510包含硬盘驱动器、固态驱动器、闪存、可擦可编程只读存储器(eprom)、其它非易失性数据存储器装置或其任一组合。在一些实施例中,输入装置506包含键盘512、指向装置514(例如,鼠标、跟踪垫等)、麦克风516、小键盘518、扫描仪520、照相机522、其它输入装置或其任何组合。在一些实施例中,输出装置508包含电子显示器524、扬声器526、打印机528、其它输出装置或其任一组合。

在一些实施例中,存储器装置502中的至少一者包含hbm 系统100。举例来说,存储器装置502中的至少一者可包含逻辑裸片(例如,图1及图2的逻辑裸片200),其包含可操作地耦合到p1500控制电路(例如,图2的p1500控制电路216)的p1500接口(例如,图2的p1500接口206),及可操作地耦合到da控制电路(例如,图2的da控制电路214)的直接存取(da)接口(例如,图2的da接口208),逻辑裸片经配置以选择性地将da接口的测试垫(例如,图2的测试垫226)的至少一部分可操作地耦合到p1500控制电路(例如,响应于da28信号218经由多路复用器210)。存储器装置502中的至少一者还可包含一或多个存储器裸片(例如,图1的dram裸片106),其包含数据存储元件(例如,电容性数据存储元件)。一或多个存储器裸片可操作地耦合到p1500控制电路及da控制电路。

在一些实施例中,计算系统500包含系统级封装(sip)。sip包含一或多个存储器装置502中的至少一个存储器装置。在一些实施例中,da接口经配置以在p1500接口的停用状态期间代替p1500接口作为p1500接口进行操作。

上文已论述各种实施例。这些实施例使得能够经由探针测试来容易地验证p1500控制电路(例如,p1500控制电路216)。此外,这些实施例使得能够用额外da端口(例如,da端口222)来扩展p1500功能性。此外,这些实施例使得能够在探针测试与sip测试之间运行相同的测试。另外,这些实施例使得即使当中间堆叠中的主要p1500接口(例如,图2的p1500控制电路216)被停用时也能够经由da接口(例如,图2的da接口208)使用p1500协议。

如本发明中所使用,术语“模块”或“组件”可指经配置以执行模块或组件及/或软件对象或软件例程的动作的特定硬件实施方案,所述动作可存储在计算系统的通用硬件(例如,计算机可读媒体、处理装置等)上及/或由其执行。在一些实施例中,本发明中描述的不同组件、模块、引擎及服务可被实施为在计算系统上执行的对象或过程(例如,作为单独线程)。尽管将本发明中描述的一些系统及方法大体描述为以软件(存储在通用硬件上及/或由通用硬件执行)实施,但特定硬件实施方案或软件与特定硬件实施方案的组合也是可能的并且是可预期的。

如本发明中所使用,关于多个元件的术语“组合”可包含所有元件的组合或一些元件的各种不同子组合中的任何者。举例来说,短语“a、b、c、d或其组合”可指代a、b、c或d中的任一者;a、b、c及d中的每一者的组合;及a、b、c或d的任一子组合,例如a、b及c;a、b及d;a、c及d;b、c及d;a及b;a及c;a及d;b及c;b及d;或c及d。

在本发明中尤其是在所附权利要求书中使用的术语(例如,所附权利要求书的主体)通常希望作为“开放”术语(例如,术语“包含”应解释为“包含但不限于”,术语“具有”应解释为“至少具有”,术语“包含”应解释为“包含但不限于”等)。

另外,如果希望特定数目的引入权利要求叙述,那么此意图将在权利要求中明确地叙述,并且在没有此叙述的情况下,不存在此意图。举例来说,为帮助理解,下文所附权利要求书可含有介绍性短语“至少一个”及“一或多个”的使用以引入权利要求叙述。然而,使用此短语不应被解释为暗示通过不定冠词“一(a)”或“一(an)”引入权利要求叙述将含有此引入的权利要求叙述的任何特定权利要求限制为仅含有一个此叙述的实施例,即使当同一权利要求包含介绍性短语“一或多个”或“至少一个”及不定冠词,例如“一(a)”或“一(an)”(例如,“一(a)”及/或“一(an)”应解释为意指“至少一个”或“一或多个”);使用用于引入权利要求叙述的定冠词也是如此。

另外,即使明确叙述特定数目的引入的权利要求叙述,所属领域技术人员将认识到,此叙述应被解释为至少意指所叙述数目(例如,没有其它修饰语的纯叙述“两个叙述”,意指至少两个叙述,或两个或更多个叙述)。此外,在使用类似于“a、b及c等中的至少一者”或“a、b及c等中的一或多者”的约定的情况下的那些例子中,一般来说,此构造希望包含仅a、仅b、仅c、a及b一起、a及c一起、b及c一起或a、b及c一起等。

此外,无论是在描述、权利要求书还是图式中,呈现两个或更多个替代术语的任一析构词或短语都应理解为预期包含术语中的一者、术语中的任一者或两个术语的可能性。举例来说,短语“a或b”应被理解为包含“a”或“b”或“a及b”的可能性。

尽管本文已关于某些所说明实施例描述本发明,但所属领域的一般技术人员将认识并了解,本发明不如此受限。而是,在不脱离如在下文中主张的本发明的范围以及其合法等效物的情况下,可对所说明及描述的实施例进行许多增加、删除及修改。另外,来自一个实施例的特征可与另一实施例的特征组合,同时仍然涵盖在由发明者所预期的本发明的范围内。

再多了解一些

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