SSD测试平台的制作方法

本申请涉及固态硬盘测试技术领域，特别涉及为一种ssd测试平台与测试方法。

背景技术：

固态硬盘(solidstatedisk)，简称ssd，是一种主要以闪存(nandflash)作为永久性存储器的计算机存储设备。固态硬盘由控制单元和存储单元(flash芯片、dram芯片)组成，被广泛应用于工控、视频监控、网络监控、网络终端、导航设备等诸多领域；为满足ssd测试开发过程中的需求，需要实现一种满足验证ssd的平台，以达到测试ssd的目的；

现有对于ssd的测试平台以及方法，是通过一个外接电源给变压电路，而后通过设计变压电路以实现对测试平台的主控芯片提供3.3v的电，并对ssd的测试电路设计4.5v与5.5v的电，以进行ssd的测试；

但现有的测试平台的给电方式存在如下弊端：

(1)、供电方式单一，测试广度不足；

(2)、供给于ssd的电信号的电压、电流、功率值单一，无法进行对比操作，故而无法确定不同电信号对ssd的影响；

(3)、需求多种电信号对ssd测试的情况下采用多变压芯片而产生的测试板过大，资源利用率过低，成本过高；

(4)、无法对多个ssd进行测试，测试效率慢。

针对于上述问题，本申请提出一种ssd测试平台与测试方法。

技术实现要素：

本申请提供一种ssd测试平台与测试方法，通过电源转换电路的输出电源可调，且可主控自动切换，进而达到可进行多种电源信号测试的目的，解决了测试模块单一电源供应和电信号切换的方法方式单一的问题；并设计单一主控控制14个测试模块进行测试以及数据传输，高效且简化测试电路极大提高资源利用率。

本申请为解决技术问题采用如下技术手段：

本申请提出的ssd测试平台，由pc端、处理电路和测试电路组成；所述pc端输出测试数据至处理电路，经所述处理电路对测试数据进行处理后生成测试指令输出至测试电路，所述测试电路根据测试指令对若干ssd进行测试并反馈测试结果至处理电路，最终由pc端获取若干个ssd的测试结果；

所述处理电路包括主控电路、电源电路、第一电压转换电路、第二电压转换电路和数据传输电路；所述测试电路包括若干测试模块以测试ssd，所述测试模块包括模数转换电路、电信号放大电路、ssd插口电路和变压及电压切换电路；

所述电源电路将12v的电分别输出至第一电压转换电路和变压及电压切换电路，具有如下第一分支和第二分支：

第一分支-所述第一电压转换电路对12v的电进行电压转换，生成6v的电分别输出至模数转换电路、数据传输电路和第二电压转换电路，所述第二电压转换电路将6v的电转换为3.3v的电并输出至主控电路，所述数据传输电路通过6v的电建立主控电路与pc端的数据交互通道；

第二分支-所述变压及电压切换电路根据12v的电可进行各种变压切换调节以输出不同电压、电流、功率值的电信号至电信号放大电路和ssd插口电路，所述ssd插口电路通过电信号对ssd进行测试，所述电信号放大电路对电信号进行放大处理输出至模数转换电路，所述主控电路获取模数转换电路中电信号进行模数转换以计算出供给ssd测试用的的电流、电压及功率的数值。

进一步地，所述变压及电压切换电路包括处理芯片u1，所述处理芯片u1的第2引脚和第7引脚接通电源电路以接入12v的电，其中所述第2引脚为电压输入脚，所述第7引脚串接使能开关s1为芯片使能脚；

所述处理芯片u1的第5引脚串接有若干电阻和变压开关组sw1，所述变压开关组sw1的各组开关还分别串接对应的电阻；

所述处理芯片u1的第3引脚输出电信号至电信号放大电路和ssd插口电路。

进一步地，所述电信号放大电路包括处理芯片u4，所述变压及电压切换电路输出电信号至处理芯片u4的第10引脚进行处理芯片u4的供能；

所述处理芯片u4的第16引脚接收变压及电压切换电路输出电信号，经过所述处理芯片u4的放大处理后由第9引脚携带电流信息的电压信号至模数转换电路。

进一步地，所述模数转换电路包括处理芯片u7，所述处理芯片u7的第8引脚接收第一电压转换电路输入的6v的电以进行供能，所述处理芯片u7的第1引脚、第5引脚、第6引脚、第7引脚均与主控电路接通。

进一步地，所述ssd插口电路、电信号放大电路、模数转换电路和变压及电压切换电路可数量相同具有若干个，用于测试对应若干个ssd。

进一步地，所述第一电压转换电路包括处理芯片u3，所述处理芯片u3的第2引脚和第7引脚接通电源电路以接入12v的电，其中所述第2引脚为电压输入脚，所述第7引脚串接使能开关s3为芯片使能脚；

所述处理芯片u3的第5引脚串接有电阻r9和r20，实现所述处理芯片的第3引脚输出6v的电至数据传输电路、第二电压转换电路和模数转换电路。

进一步地，所述处理电路还包括烧录及监测电路，所述烧录及监测电路分别连接pc端和主控电路。

进一步地，所述处理电路还包括复位电路，所述复位电路连接主控电路。

本申请提出的ssd测试平台的测试方法，根据上述的ssd测试平台执行所述测试方法，包括：

s1，电源电路将12v的电分别输出至第一电压转换电路和变压及电压切换电路；

s2，所述第一电压转换电路将12v的电转换为6v的电，并将6v的电分别输出至模数转换电路、第二电压转换电路和数据传输电路，以实现对所述模数转换电路和数据传输电路的供电；

s3，所述第二电压转换电路将6v的电转换为3.3v的电并输出至主控电路，以对所述主控电路进行供电；

s4，所述主控电路采集模数转换电路中的电信号数据，并根据所述电信号数据生成反映ssd测试情况的测试结果，通过所述数据传输电路将测试结果反馈至pc端；

其中，

在所述主控电路采集模数转换电路中的电信号数据的步骤s4之前，包括：

s100，所述电源电路输出12v的电至变压及电压切换电路；

s200，所述变压及电压切换电路根据12v的电输出不同电压、电流、功率值的第一电信号至电信号放大电路和ssd插口电路，所述ssd插口电路根据第一电信号对ssd进行测试；

s300，所述电信号放大电路对第一电信号进行信号放大处理，生成第二电信号，并将所述第一电信号和第二电信号输出至模数转换电路；

s400，所述模数转换电路对第一电信号和第二电信号进行模数转换，形成电信号数据，后执行上述步骤s4。

进一步地，根据上述的ssd测试平台执行所述测试方法，所述变压及电压切换电路根据12v的电输出不同电压、电流、功率值的第一电信号至电信号放大电路和ssd插口电路的步骤，包括：

采用预设的开关组变压方法生成不同电压、电流、功率值的第一电信号，其中所述开关组变压方法如下：

方法一，变压开关组sw1的所有开关断开，处理芯片u1的第5引脚接收的信号由r4和r22决定，则输出为4.888v电压供给ssd测试；

方法二，只闭合变压开关组sw1的开关2，处理芯片u1的第5引脚接收的信号由r4、r22、r11决定，则输出为4.5v电压供给ssd测试；

方法三，变压开关组sw1只闭合开关4，处理芯片u1的第5引脚接收的信号只由r4、r22、r24决定，则输出为5.5v电压供给ssd测试；

方法四：闭合变压开关组sw1的开关4和开关2，处理芯片u1的变压开关组接收的信号只由r4、r22、r11、r24决定，则输出为5v电压供给ssd测试。

方法五：变压开关组只闭合sw1的开关3，而主控电路控制mos管q1是否导通达到控制是否使用r25电阻的目的，进而闭合变压开关组sw1的开关3就可由主控电路控制mos管是使用r4、r12、r22组合产生4.5v电压，或是使用r4、r11、r22、r25产生5v的测试电压，再或者是在测试过程中快速的来回切换4.5v和5.5v的电压。

本申请提供了ssd测试平台与测试方法，具有以下有益效果：

1、本发明独特的灵活切换供电方法结合本发明包含的测试平台后可以进行五种可灵活切换的供电方式进行ssd供电测试；

2、本发明的测试模块可采集供给ssd在本发明所述不同的电信号的电压、电流、功率值，进而可以对比ssd测试时显示的测试结果，就可分析不同电信号对ssd的影响；

3、本发明独特的、简便的、合理的提供电信号的方式，采用一个变压芯片与开关和电阻的不同组合，进而提供5种电信号输出，解决了一个变压芯片只产生一种电信号的困境；

4、本发明特殊的ssd供电方式解决了在需求多种电信号对ssd测试的情况下采用多变压芯片而产生的测试板过大,资源利用率过低，及成本过高的问题；

5、本发明采用独特的变压技术即14测试模块的配置使一个ssd测试平台足以一次性测试14个ssd板，且能提供稳定的供能更不会发生供电不足的情况，极大提高了测试效率和测试成本。

6、本发明在每一测试模块及每一变压模块加入独立的保险丝，可避免万一产生短路时烧毁其它模块，极大的提高了测试平台的安全性。

附图说明

图1为本申请ssd测试平台一个实施例的结构示意框图；

图2为本申请ssd测试平台一个实施例的变压及电压切换电路的示意图；

图3为本申请ssd测试平台一个实施例的电信号放大电路的示意图；

图4为本申请ssd测试平台一个实施例的模数转换电路的示意图；

图5为本申请ssd测试平台一个实施例的电源电路的示意图；

图6为本申请ssd测试平台一个实施例的第一电压转换电路的示意图；

图7为本申请ssd测试平台一个实施例的第二电压转换电路的示意图；

图8为本申请ssd测试平台一个实施例的主控电路的示意图；

图9为本申请ssd测试平台的测试方法一个实施例的流程示意图；

图10为本申请ssd测试平台的测试方法一个实施例的流程示意图。

本申请为目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

下面将结合本申请的实施例中的附图，对本申请的实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”、“包含”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。在本申请的权利要求书、说明书以及说明书附图中的术语，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体/操作/对象与另一个实体/操作/对象区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体/操作/对象之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其他实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其他实施例相结合。

参考附图1-8，为本申请一实施例中的ssd测试平台的结构框图；

一种ssd测试平台，由pc端1、处理电路2和测试电路3组成；pc端1输出测试数据至处理电路2，经处理电路2对测试数据进行处理后生成测试指令输出至测试电路3，测试电路3根据测试指令对若干ssd进行测试并反馈测试结果至处理电路2，最终由pc端1获取若干个ssd的测试结果；

处理电路2包括主控电路21、电源电路22、第一电压转换电路23、第二电压转换电路24和数据传输电路25；测试电路3包括若干测试模块以测试ssd，测试模块包括模数转换电路34、电信号放大电路32、ssd插口电路33和变压及电压切换电路31；

电源电路22将12v的电分别输出至第一电压转换电路23和变压及电压切换电路31，具有如下第一分支和第二分支：

第一分支-第一电压转换电路23对12v的电进行电压转换，生成6v的电分别输出至模数转换电路34、数据传输电路25和第二电压转换电路24，第二电压转换电路24将6v的电转换为3.3v的电并输出至主控电路21，数据传输电路25通过6v的电建立主控电路21与pc端1的数据交互通道；

第二分支-变压及电压切换电路31根据12v的电可进行各种变压切换调节以输出不同电压、电流、功率值的电信号至电信号放大电路32和ssd插口电路33，ssd插口电路33通过电信号对ssd进行测试，电信号放大电路32对电信号进行放大处理输出至模数转换电路34，主控电路21获取模数转换电路34中电信号进行模数转换以计算出供给ssd测试用的的电流、电压及功率的数值。

上述的ssd测试平台的连接关系为：

电源电路22分别与第一电压转换电路23、和测试模块的变压及电压切换电路31连接；

第一电压转换电路23分别与第二电压转换电路24、数据传输电路25、和测试模块的模数转换电路34连接；

第二电压转换电路24与主控电路21连接；

主控电路21通过数据传输电路25与pc端1进行连接，主控电路21与模数转换电路34连接；

变压及电压切换电路31分别与电信号放大电路32、和ssd插口电路33连接；

电信号放大电路32与模数转换电路34连接。

具体的，

本申请提出的ssd测试平台将电源电路22设置于平台内，实现平台内供电；上述的测试电路3可以包含多个测试模块，测试模块的数量优选为14个，14个测试模块均分别与处理电路2进行连接，进而对14个ssd进行测试。

14个测试模块中任一模块均包括模数转换电路34、电信号放大电路32、ssd插口电路33和变压及电压切换电路31，其中变压及电压切换电路31接收电源电路22的12v的电，并且能够每次形成不同电压、电流、功率值的电信号分别输出至电信号放大电路32和ssd插口电路33；

通过ssd插口电路33与ssd连接，因此能够采用上述的不同电压、电流、功率值的电信号对ssd进行测试；

该电信号还被输出至电信号放大电路32，进而被进行电信号放大处理，最终原电信号(第一电信号)和放大后电信号(第二电信号)输出至模数转换电路34，最终被主控电路21所采集计算。

主控电路21由两个晶振连接谐振电容、单片机主控、滤波稳压电容组成，两个晶振y1和y2和各自的谐振电容连接分别提供25mhz晶振及32.768khz晶振信号给单片机主控。主控电路21与数据传输电路25连接用来接收pc的测试数据以及传出测试所得数据；主控电路21与测试电路3连接协同工作提供测试ssd所需的测试信号且获得其测试后的测试所得数据。

在一个实施例中，参考附图2，变压及电压切换电路31包括处理芯片u1，处理芯片u1的第2引脚和第7引脚接通电源电路22以接入12v的电，其中第2引脚为电压输入脚，第7引脚串接使能开关s1为芯片使能脚；

处理芯片u1的第5引脚串接有若干电阻和变压开关组sw1，变压开关组sw1的各组开关还分别串接对应的电阻；

处理芯片u1的第3引脚输出电信号至电信号放大电路32和ssd插口电路33。

具体的，处理芯片u1的第3引脚用于输出电信号，第5引脚通过变压开关组sw1调节第3引脚输出电信号的电压、电流、功率值。

上述处理芯片u1与变压开关组sw1串接，处理芯片u1与变压开关组sw1串接的电路中设置有与第5引脚串接的r4与r22。

变压开关组分为4路，因此处理芯片u1的第5引脚通过变压开关组sw1分为了4个电线支路，其中变压开关组sw1接通的第1路为断路，第2路接通后r11与第5引脚串接，第3路接通后r12和r25、q1与第5引脚串接，第4路接通后r24与第5引脚串接。最终通过调节变压开关组sw1的各个开关，实现调节电信号的不同电压、电流、功率值的输出。

在一个实施例中，参考附图3，电信号放大电路32包括处理芯片u4，变压及电压切换电路31输出电信号至处理芯片u4的第10引脚进行处理芯片u4的供能；

处理芯片u4的第16引脚接收变压及电压切换电路31输出电信号，经过处理芯片u4的放大处理后由第9引脚携带电流信息的电压信号至模数转换电路34。

具体的，处理芯片u4的第10引脚接入变压及电压切换电路31输入的电信号进行供能，第16引脚接收到电信号进行电信号放大处理，第9引脚用于将电信号放大处理后的电信号(第二电信号)输出至模数转换电路34，第1引脚用于将未进行放大处理的电信号(第一电信号)输出至模数转换电路34，因此模数转换电路34获取到两个电信号。

在一个实施例中，参考附图4，模数转换电路34包括处理芯片u7，处理芯片u7的第8引脚接收第一电压转换电路23输入的6v的电以进行供能，处理芯片u7的第1引脚、第5引脚、第6引脚、第7引脚均与主控电路21接通由2脚和3脚传入电信号，芯片进行模拟电信号转换成数字信号，由6脚传输给主控电路21的处理芯片u1进行测试电信号的收集。

具体的，主控电路21通过控制处理芯片u7的第1引脚、第5引脚、第7引脚，进行模数转换将两个电信号(即第一电信号和第二电信号)通过第6引脚输出至主控电路，进而计算出供给ssd测试用的的电流、电压及功率的数值，达到测试所得数据的获取。

在一个实施例中，参考附图5-6，第一电压转换电路23包括处理芯片u3，处理芯片u3的第2引脚和第7引脚接通电源电路22以接入12v的电，其中第2引脚为电压输入脚，第7引脚串接使能开关s3为芯片使能脚；

处理芯片u3的第5引脚串接有电阻r9和r20，实现处理芯片的第3引脚输出6v的电至数据传输电路25、第二电压转换电路24和模数转换电路34。

由上述可知，电源电路22将12v的电输出至第一电压转换电路23，电源电路22的j1获取12v的电并通过开关s16输出至第一电压转换电路23。

经过保险丝f3之后，12v的电输出至处理芯片u3的第2引脚和第7引脚，进而电压转换后，由第1引脚和第3引脚输出6v的电至第二电压转换电路24、数据传输电路25、和测试模块的模数转换电路34中。

在输出6v的电的过程中由发光二极管r33判断是否输出6v的电。

在一个实施例中，处理电路2还包括烧录及监测电路26，烧录及监测电路26分别连接pc端1和主控电路21。

在一个实施例中，处理电路2还包括复位电路，复位电路连接主控电路21。

参考附图9-10、一种ssd测试平台的测试方法，根据上述的ssd测试平台执行测试方法，包括：

s1，电源电路22将12v的电分别输出至第一电压转换电路23和变压及电压切换电路31；

s2，第一电压转换电路23将12v的电转换为6v的电，并将6v的电分别输出至模数转换电路34、第二电压转换电路24和数据传输电路25，以实现对模数转换电路34和数据传输电路25的供电；

s3，第二电压转换电路24将6v的电转换为3.3v的电并输出至主控电路21，以对主控电路21进行供电；

s4，主控电路21采集模数转换电路34中的电信号数据，并根据电信号数据生成反映ssd测试情况的测试结果，通过数据传输电路25将测试结果反馈至pc端1；

其中，

在主控电路21采集模数转换电路34中的电信号数据的步骤s4之前，包括：

s100，电源电路22输出12v的电至变压及电压切换电路31；

s200，变压及电压切换电路31根据12v的电输出不同电压、电流、功率值的第一电信号至电信号放大电路32和ssd插口电路33，ssd插口电路33根据第一电信号对ssd进行测试；

s300，电信号放大电路32对第一电信号进行信号放大处理，生成第二电信号，并将第一电信号和第二电信号输出至模数转换电路34；

s400，模数转换电路34对第一电信号和第二电信号进行模数转换，形成电信号数据，后执行上述步骤s4。

一个实施例中，上述的ssd测试平台执行测试方法，变压及电压切换电路31根据12v的电输出不同电压、电流、功率值的第一电信号至电信号放大电路32和ssd插口电路33的步骤，包括：

采用预设的开关组变压方法生成不同电压、电流、功率值的第一电信号，其中开关组变压方法如下：

方法一，变压开关组sw1的所有开关断开，处理芯片u1的第5引脚接收的信号由r4和r22决定，则输出为4.888v电压供给ssd测试；

方法二，只闭合变压开关组sw1的开关2，处理芯片u1的第5引脚接收的信号由r4、r22、r11决定，则输出为4.5v电压供给ssd测试；

方法三，变压开关组sw1只闭合开关4，处理芯片u1的第5引脚接收的信号只由r4、r22、r24决定，则输出为5.5v电压供给ssd测试；

方法四：闭合变压开关组sw1的开关4和开关2，处理芯片u1的变压开关组接收的信号只由r4、r22、r11、r24决定，则输出为5v电压供给ssd测试。

方法五：变压开关组只闭合sw1的开关3，而主控电路21控制mos管q1是否导通达到控制是否使用r25电阻的目的，进而闭合变压开关组sw1的开关3就可由主控电路21控制mos管是使用r4、r12、r22组合产生4.5v电压，或是使用r4、r11、r22、r25产生5v的测试电压，再或者是在测试过程中快速的来回切换4.5v和5.5v的电压。

尽管已经示出和描述了本申请的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本申请的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本申请的范围由所附权利要求及其等同物限定。