使用测试垫实时监测的存储器系统测试仪的制作方法

技术特征：

1.一种存储器系统测试仪，其包括：

测试流控制器，其经布置以产生使用到存储器系统的存储器系统接口到所述存储器系统的测试信号以耦合到所述存储器系统的控制器，所述存储器系统具有通过所述存储器系统的总线耦合到所述存储器系统的所述控制器的一或多个存储器装置；及

分析器，其耦合到所述测试流控制器，其中所述分析器经布置以使用到所述存储器系统的封装平台的测试垫的接口耦合到所述测试垫，其中所述测试垫耦合到所述存储器系统的所述总线，使得所述分析器可操作以将数据提供到所述测试流控制器以同时使用所述存储器系统接口及到所述测试垫的所述接口进行所述存储器系统的测试及/或调试，所述数据基于对所述封装平台的所述测试垫的实时监测。

2.根据权利要求1所述的存储器系统测试仪，其中所述测试流控制器及所述分析器一起集成于现场可编程门阵列系统中。

3.根据权利要求1所述的存储器系统测试仪，其中所述测试流控制器经布置以基于由所述分析器在所述封装平台的数个测试垫处监测的所述存储器系统的内部电压的状态控制所述存储器系统的测试流，相应测试垫在所述封装平台的数个测试垫处反映所述存储器系统的所述内部电压。

4.根据权利要求1所述的存储器系统测试仪，其中所述测试流控制器经布置以经由所述存储器系统接口产生到所述存储器系统的所述控制器的存储器命令及控制由所述存储器系统处理存储器命令的执行。

5.根据权利要求4所述的存储器系统测试仪，其中针对经产生用于测试的程序命令，所述测试流控制器经布置以响应于来自所述分析器的所述数据停止对所述存储器系统进行编程，所述数据包含确定编程错误的数目已达到或超过所允许的错误数目的阈值，所述编程错误的数目基于由所述分析器使用数个所述测试垫实时监测将所述控制器耦合到所述存储器系统的所述一或多个存储器装置的所述总线。

6.根据权利要求1所述的存储器系统测试仪，其中所述存储器系统是被管理nand系统，所述一或多个存储器装置是一或多个nand存储器装置，所述总线是nand总线，所述存储器系统接口是被管理nand接口，且到所述测试垫的所述接口是nand接口。

7.根据权利要求6所述的存储器系统测试仪，其中所述测试流控制器及所述分析器一起集成于现场可编程门阵列系统中。

8.根据权利要求6所述的存储器系统测试仪，其中所述测试流控制器经布置以基于由所述分析器在所述组测试垫中的数个测试垫处监测的所述nand存储器系统及/或所述被管理nand系统的内部电压的状态控制所述被管理nand系统的nand存储器装置及/或所述被管理nand系统的测试或调试流，所述相应测试垫在所述组测试垫中的数个测试垫处反映所述nand存储器装置及/或所述被管理nand系统的所述内部电压。

9.根据权利要求6所述的存储器系统测试仪，其中所述分析器可操作以将nand操作正在进行传达到所述测试流控制器，且所述测试流控制器可操作以响应于接收所述nand操作正在进行的传达在正在进行的所述nand操作期间进行电力耗损测试。

10.根据权利要求6所述的存储器系统测试仪，其中所述存储器系统测试仪可操作以通过根据由所述测试流控制器产生用以执行所述nand操作的命令测量与nand操作的执行相关联的时间及使用耦合到所述nand总线的所述组测试垫中的数个测试垫测量与在所述nand总线上的与对应于所述命令的所述执行的信号相关联的时间评估所述被管理nand系统的固件，其中所述被管理nand系统耦合到所述封装平台。

11.根据权利要求6所述的存储器系统测试仪，其中所述存储器系统测试仪可操作以根据监测所述被管理nand系统的所述nand总线在所述被管理nand系统的nand存储器装置上提供操作的测试覆盖及/或测量所述nand存储器装置的损耗平衡以直接检查所述nand存储器装置的状态。

12.根据权利要求6所述的存储器系统测试仪，其中所述分析器经构造为多个nand分析器，其中每一nand分析器经布置以存取所述被管理nand系统的所述nand总线的多个nand通道中的一个nand通道，所述一个nand通道不同于由所述多个nand分析器中的其它nand分析器存取的通道，由每一nand分析器进行的所述存取经由不同于由所述其它nand分析器使用的测试垫的所述组测试垫中的测试垫布置，其中每一nand通道将一或多个nand裸片耦合到所述被管理nand系统的所述控制器。

13.根据权利要求6所述的存储器系统测试仪，其中所述分析器包含根据监测耦合到nand总线的数个所述测试垫保持与nand操作的命令相关联的命令及地址的日志，其中所述被管理nand系统耦合到所述封装平台。

14.根据权利要求13所述的存储器系统测试仪，其中所述分析器连同所述测试流控制器可操作以使用所述日志进行调试。

15.根据权利要求6所述的存储器系统测试仪，其中所述分析器使用所述组测试垫中的测试垫连同所述测试流控制器可操作以产生在所述被管理nand系统的nand存储器装置中执行操作的命令、测量所述被管理nand系统中的电流、使所述电流与在所述nand存储器装置中正在进行的所述操作相关及产生关于所述nand存储器装置的峰值电流及状态的统计。

16.根据权利要求6所述的存储器系统测试仪，其中所述分析器根据通过使用耦合到所述nand总线的所述组测试垫中的测试垫的监测且连同所述测试流控制器可操作以实时地确定nand页编程或块擦除的数目何时大于页编程或块擦除的阈值。

17.根据权利要求6所述的存储器系统测试仪，其中所述分析器可操作以产生到所述测试流控制器的nand操作正在进行的传达，且所述测试流控制器可操作以响应于接收所述nand操作正在进行的所述传达在正在进行的所述nand操作期间进行nand及控制器电力管理的测试，其中所述分析器经布置以监测所述被管理nand系统的内部电压以连同所述测试流控制器进行所述测试。

18.一种处理器实施的方法，其包括：

产生使用耦合到存储器系统的控制器的存储器系统接口从测试流控制器到所述存储器系统的测试信号流，所述存储器系统具有通过所述存储器系统的总线耦合到所述存储器系统的所述控制器的一或多个存储器装置；

使用经由到所述测试垫的接口耦合到所述封装平台的所述测试垫的分析器监测所述存储器系统的封装平台的测试垫，其中所述测试垫耦合到所述存储器系统的所述总线且其中所述分析器耦合到作为存储器系统测试仪的部分的所述测试流控制器；

将数据从所述分析器提供到所述测试流控制器，所述数据基于对所述封装平台的所述测试垫的实时监测；及

由所述测试流控制器使用所述数据以同时使用所述存储器系统接口及到所述测试垫的所述接口进行所述存储器系统的测试及/或调试，包含基于所述数据控制所述测试信号的所述流。

19.根据权利要求18所述的处理器实施的方法，其中所述测试流控制器及所述分析器一起集成于现场可编程门阵列系统中。

20.根据权利要求18所述的处理器实施的方法，其中所述存储器系统是被管理nand系统，所述一或多个存储器装置是一或多个nand存储器装置，所述总线是nand总线，所述存储器系统接口是被管理nand接口，且到所述测试垫的所述接口是nand接口。

21.根据权利要求20所述的处理器实施的方法，其中控制所述测试信号的所述流包含基于由所述分析器在所述封装平台的所述测试垫的数个测试垫处监测的所述一或多个nand存储器装置及/或所述被管理nand系统的内部电压的状态控制所述流，所述相应测试垫在所述封装平台的所述测试垫的数个测试垫处反映所述nand存储器装置及/或所述被管理nand系统的所述内部电压。

22.根据权利要求20所述的处理器实施的方法，其中所述处理器实施的方法包含：

产生从所述分析器到所述测试流控制器的nand操作正在进行的传达；及

响应于所述测试流控制器接收所述nand操作正在进行的所述传达在正在进行的所述nand操作期间从所述测试流控制器进行电力耗损测试。

23.根据权利要求20所述的处理器实施的方法，其中所述处理器实施的方法包含：

根据由所述测试流控制器产生用以执行所述nand操作的命令测量与nand操作的执行相关联的时间；

使用所述分析器测量与在所述被管理nand系统的所述nand总线上的对应于所述命令的所述执行的信号相关联的时间，所述分析器监测耦合到所述nand总线的所述封装平台的所述测试垫中的数个测试垫，其中所述被管理nand系统耦合到所述封装平台；及

使用所述经测量的与由所述测试流控制器执行所述nand操作相关联的时间及所述经测量的与由所述分析器监测的所述被管理nand系统的所述nand总线上的信号相关联的时间评估所述被管理nand系统的固件。

24.一种存储指令的机器可读存储装置，所述指令在由一或多个处理器执行时致使机器执行操作以：

由所述机器的测试流控制器产生使用耦合到存储器系统的控制器的存储器系统接口到所述存储器系统的测试信号流，所述存储器系统具有通过所述存储器系统的总线耦合到所述存储器系统的所述控制器的一或多个存储器装置；

当所述分析器经由到封装平台的测试垫的接口耦合到所述测试垫时，由所述机器的分析器监测所述存储器系统的所述封装平台的所述测试垫，其中所述测试垫耦合到所述存储器系统的所述总线，其中所述分析器耦合到作为存储器系统测试仪的部分的所述测试流控制器；

将数据从所述分析器提供到所述测试流控制器，所述数据基于对所述封装平台的所述测试垫的实时监测；及

由所述测试流控制器使用所述数据同时使用所述存储器系统接口及到所述测试垫的所述接口进行所述存储器系统的测试及/或调试，包含基于所述数据控制所述测试信号的所述流。

25.根据权利要求24所述的机器可读存储装置，其中所述存储器系统是被管理nand系统，所述一或多个存储器装置是一或多个nand存储器装置，所述总线是nand总线，所述存储器系统接口是被管理nand接口，且到所述测试垫的所述接口是nand接口。

26.根据权利要求25所述的机器可读存储装置，其中所述操作包含通过监测耦合到所述nand总线的所述封装平台的所述测试垫中的测试垫连同由所述测试流控制器控制到所述被管理nand系统的命令的流实时地确定nand页编程或块擦除的发生数目大于页编程或块擦除的阈值。

27.根据权利要求25所述的机器可读存储装置，其中所述操作包含：

维护根据监测耦合到所述nand总线的数个所述测试垫含有与nand操作的所述命令相关联的命令及地址的日志，其中被管理nand系统耦合到所述封装平台；及

由所述分析器连同所述测试流控制器通过使用所述日志中的数据执行调试。

技术总结
本申请案涉及使用测试垫实时监测的存储器系统测试仪。多种应用可包含系统及方法，其包含具有耦合到测试流控制器的分析器的存储器系统测试仪。所述测试流控制器可经布置以产生到存储器系统的测试信号，其中所述分析器经布置以耦合到所述存储器系统的封装平台的测试垫。所述分析器可将数据提供到所述测试流控制器以进行所述存储器系统的测试及/或调试，其中所述数据基于对所述封装平台的所述测试垫的实时监测。在各种实施例中，所述分析器可实时地将数据反馈提供到所述测试流控制器使得所述测试流控制器可实时地控制到所述存储器系统的测试信号流。揭示额外设备、系统及方法。

技术研发人员：A·维吉兰特;G·斯卡利西;A·波扎托;A·萨尔维奥尼;M·L·萨利
受保护的技术使用者：美光科技公司
技术研发日：2020.05.29
技术公布日：2020.12.29