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一种调整介质承载组件的方法和装置与流程

2021-08-20 20:25:00 来源:中国专利 TAG:介质 承载 组件 调整 装置
一种调整介质承载组件的方法和装置与流程

本发明涉及移动控制技术领域,特别是涉及一种调整介质承载组件的方法和一种调整介质承载组件的装置。



背景技术:

如图1所示,在现有技术中,容器收取介质时,收纳组件101会高速转动将介质带入容器,介质进入容器后会掉落至介质承载组件102上,随着介质承载组件102上的介质越来越多,传动机构103会带动介质承载组件102逐渐下移,为后续的介质提供空间,同时可以通过位置检测组件104实时获取介质承载组件102的位置,以控制介质承载组件102的移动。

然而,若介质承载组件102每次移动量不固定,则介质在容器内的飘落形态不固定,介质飘落形态不固定极易出现介质收纳混乱的情况。



技术实现要素:

鉴于上述问题,提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种调整介质承载组件的方法和相应的一种调整介质承载组件的装置,通过fpga的运算与控制技术,解决了介质承载组件移动量不固定导致介质飘落形态不固定极易出现的介质收纳混乱问题。

为了解决上述问题,本发明实施例公开了一种调整介质承载组件的方法,所述的方法包括:

当接收到介质收纳指令时,统计收纳至预设介质承载组件上的所述收纳介质的收纳张数;

从预设存储器读取所述存储介质的存储张数;所述存储张数为接收到所述介质收纳指令前所述介质承载组件上的介质张数;

当所述介质承载组件满足预设下移条件时,采用所述收纳张数和所述存储张数,计算所述介质承载组件上的介质总张数;

根据所述介质总张数确定所述介质承载组件的下移时长;

按照所述下移时长控制所述介质承载组件下移。

可选地,所述根据所述介质总张数确定所述介质承载组件的下移时长的步骤,包括:

获取预设的空载耗时;

采用所述空载耗时和所述介质总张数计算所述介质承载组件的下移时长。

可选地,所述根据所述介质总张数确定所述介质承载组件的下移时长的步骤,包括:

根据所述介质总张数和所述介质承载组件的下移时长的对应关系,确定所述总张数对应的所述介质承载组件的下移时长。

可选地,所述的方法还包括:

将所述介质总张数保存至所述存储器中。

本发明实施例还公开了一种调整介质承载组件的装置,所述的装置包括:

收纳张数统计模块,用于当接收到介质收纳指令时,统计收纳至预设介质承载组件上的所述收纳介质的收纳张数;

存储张数读取模块,用于从预设存储器读取所述存储介质的存储张数;所述存储张数为接收到所述介质收纳指令前所述介质承载组件上的介质张数;

介质总张数计算模块,用于当所述介质承载组件满足预设下移条件时,采用所述收纳张数和所述存储张数,计算所述介质承载组件上的介质总张数;

下移时长确定模块,用于根据所述介质总张数确定所述介质承载组件的下移时长;

下移控制模块,用于按照所述下移时长控制所述介质承载组件下移。

可选地,所述下移时长确定模块,包括:

空载耗时获取子模块,用于获取预设的空载耗时;

下移时长计算子模块,用于采用所述空载耗时和所述介质总张数计算所述介质承载组件的下移时长。

可选地,所述下移时长确定模块,包括:

下移时长确定子模块,用于根据所述介质总张数和所述介质承载组件的下移时长的对应关系,确定所述总张数对应的所述介质承载组件的下移时长。

可选地,所述的装置还包括:

保存模块,用于将所述介质总张数保存至所述存储器中。

本发明实施例还公开了一种电子设备,包括存储器及处理器,所述存储器中储存有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如上任一项所述的调整介质承载组件的方法的步骤。

本发明实施例还公开了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上任一项所述的调整介质承载组件的方法。

本发明实施例包括以下优点:本发明实施例通过统计收纳至介质承载组件上的介质张数和从存储器获取原先介质承载组件上存在的存储张数,来计算介质承载组件触发移动操作时,介质承载组件上实际存在的介质总张数,以根据介质总张数来计算介质承载组件的下移时长,从而使得介质承载组件可以根据对应的下移时长每次移动固定的下移量,避免了介质因飘落形态不固定导致的收纳混乱。

附图说明

图1是本发明的一种容器内部介质承载组件移动的示意图;

图2是本发明的一种调整介质承载组件的方法实施例的步骤流程图;

图3是本发明的一种调整介质承载组件的方法实施例的步骤流程图;

图4是本发明的一种调整介质承载组件的方法实施例的流程图;

图5是本发明的一种调整介质承载组件的装置实施例的结构框图。

图6示意性地示出了用于执行根据本发明的方法的电子设备的框图;

图7示意性地示出了用于保持或者携带实现根据本发明的方法的程序代码的存储单元。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

本发明实施例的核心构思之一在于,针对容器在进行收纳介质时,介质承载组件在每次需要上移时,如果移动量不固定可能导致的介质飘落形态不固定而影响到收纳质量的问题,提出了根据介质承载组件上的介质张数来计算不同介质张数下,介质承载组件移动固定位移量所需的移动时间,从而根据介质张数对应的移动时间来移动介质承载组件,以保证介质承载组件每次移动的位移量是相同的。

参照图2,示出了本发明的一种调整介质承载组件的方法实施例的步骤流程图,包括容器本体;所述容器内部设置有介质承载组件和存储器;所述介质承载组件用于存放介质;所述介质包括收纳介质和存储介质;其中,本发明实施例所涉及的容器为可存储介质的容器,包括但不限于存储钞票的钞箱、存储票据的票据箱等;介质承载组件在不同的应用场景中,可以沿重力方向垂直移动,也可以沿水平方向横向移动。具体可以包括如下步骤:

步骤201,当接收到介质收纳指令时,统计收纳至预设介质承载组件上的所述收纳介质的收纳张数;

本发明实施例所涉及的介质可以为钞票、票据等扁平片状介质。

介质承载组件用于承载介质,通过传动装置可以控制介质承载组件的移动。在本发明实施例中,通过介质承载组件的移动可协助其他组件(如收纳组件或分离组件)进行介质的收纳与分离。当容器进行介质收纳时,介质承载组件会随着介质的进入逐渐下降,以增大介质的收纳空间,使得介质不会因为收纳量过大导致收纳空间堵塞;当容器进行介质分离时,介质承载组件会随着介质的分离逐渐上移,以抬高介质的位置,使得介质可以顺利地从容器出口传送出去。

当接收到介质收纳指令时,容器会进行介质收纳,收纳组件会高速转动将介质带入容器,此时可以实时统计收纳至介质承载组件上的收纳介质的收纳张数。

在一个示例中,由于介质是经由收纳组件转动带入到介质承载组件上的,而收纳组件每转动一次会进行一次介质收纳操作;因此,可以通过计算收纳组件的转动圈数来统计介质张数。

在另一个示例中,由于进入容器的介质都是质地、规格一致的标准介质,因此,还可以通过测算介质承载组件所增加的介质的重力来统计介质张数。

步骤202,从预设存储器读取所述存储介质的存储张数;所述存储张数为接收到所述介质收纳指令前所述介质承载组件上的介质张数;

在进行介质收纳前,介质承载组件上可能会存在一些介质,这部分介质是由介质收纳前进行的介质分离操作或介质收纳操作保存在介质承载组件上的。因此在当前介质收纳过程中,介质承载组件上实际存在的介质数量应该由收纳组件带入的收纳介质和原先存储在介质承载组件上的介质组成。

在本发明实施例中,可以通过设置在容器内的存储器存储介质承载组件上的介质张数,以便在下次进行介质分离操作或介质收纳操作时,可以直接从存储器中获取相关数据。

步骤203,当所述介质承载组件满足预设下移条件时,采用所述收纳张数和所述存储张数,计算所述介质承载组件上的介质总张数;

在判定介质承载组件需要进行下移以保证介质收纳不会造成堵塞时,可以计算此时介质承载组件上介质的总张数,具体可以通过计算经由收纳操作进入介质承载组件上的收纳介质张数与保存在存储器中的介质承载组件上的存储张数来计算总介质张数。

在一个示例中,可以通过以下方式判定介质承载组件是否需要下移:在收纳组件中心设置一个残留传感器,当残留传感器在一段时间内持续检测到遮挡信号时,表示介质的上表面高于残留传感器高度。此时可以判断介质承载组件需要进行下移,以保证介质收纳过程中不会形成堵塞。且介质承载组件下降的位移量必须固定,以保证收纳组件与介质上表面不会形成空间差导致介质飘落形态不固定,造成收纳混乱。

步骤204,根据所述介质总张数确定所述介质承载组件的下移时长;

介质承载组件上的介质数量随着收纳的进行而不断增加,同时介质承载组件也要在相应的时刻下移来配合介质的收纳操作。在这个过程中,每次介质承载组件下移,介质承载组件上介质的数量是不同的。受重力影响,介质承载组件每次下移固定位移量所需要的时间会随着重力的增加而缩短。因此,为了保证介质承载组件每次下降的位移量一致,可以计算每次介质承载组件移动时,介质承载组件上介质总张数对应的介质承载组件下移固定位移量所需要的下移时长。

而在本发明实施例中,介质承载组件上介质总张数可以通过计算收纳介质的介质张数和存储介质的介质张数的加和来得到。进一步地,在确定了介质承载组件准备移动时,介质承载组件上的介质总张数后,便可以根据介质总张数计算介质承载组件的下移时长。

步骤205,按照所述下移时长控制所述介质承载组件在所述容器中下移。

在本发明实施例中,当确定了在下移时刻点,介质承载组件进行移动的下移时长后,便可以控制介质承载组件在容器中下移。

本发明实施例通过统计收纳至介质承载组件上的介质张数和从存储器获取原先介质承载组件上存在的存储张数,来计算介质承载组件触发移动操作时,介质承载组件上实际存在的介质总张数,以根据介质总张数来计算介质承载组件的下移时长,从而使得介质承载组件可以根据对应的下移时长每次移动固定的下移量,避免了介质因飘落形态不固定导致的收纳混乱。

参照图3,示出了本发明的一种调整介质承载组件的方法实施例的步骤流程图,所述容器包括存储器;所述介质承载组件用于存放介质;所述介质包括收纳介质和存储介质;具体可以包括如下步骤:

步骤301,当接收到介质收纳指令时,统计收纳至预设介质承载组件上的所述收纳介质的收纳张数;

介质承载组件用于存放介质,通过传动装置可以控制介质承载组件的移动,通过介质承载组件的移动可协助其他组件(如收纳组件或分离组件)进行介质的收纳与分离。当容器进行介质收纳时,介质承载组件会随着介质的进入逐渐下降,以增大介质的收纳空间,使得介质不会因为收纳量过大导致收纳空间堵塞;当容器进行介质分离时,介质承载组件会随着介质的分离逐渐上移,以抬高介质的位置,使得介质可以顺利地从容器出口传送出去。

在本发明实施例中,当接收到介质收纳指令时,容器会进行介质收纳,通过收纳组件高速转动将介质带入容器,此时可以实时统计收纳至介质承载组件上的收纳介质的收纳张数。

在一个示例中,由于介质是经由收纳组件转动带入到介质承载组件上的,而收纳组件每进行一次转动会进行一次介质收纳操作。因此,可以通过计算收纳组件的转动圈数来统计介质张数。

在另一个示例中,由于进入容器的介质都是质地、规格一致的标准介质,因此,还可以通过测算介质承载组件所增加的介质的重力来统计介质张数。

步骤302,从预设存储器读取所述存储介质的存储张数;所述存储张数为接收到所述介质收纳指令前所述介质承载组件上的介质张数;

在进行介质收纳前,介质承载组件上可能会存在一些介质,这部分介质由介质收纳前进行的介质分离操作或介质收纳操作保存在介质承载组件上的。因此在本次介质收纳过程中,介质承载组件上实际存在的介质数量应该由收纳组件带入的收纳介质和原先存储在介质承载组件上的存储介质组成。

在一个示例中,可以通过设置在容器内的存储器存储介质承载组件上的介质张数,以便在下次进行介质分离操作或介质收纳操作时,可以直接从存储器中直接获取相关数据。

步骤303,当所述介质承载组件满足预设下移条件时,采用所述收纳张数和所述存储张数,计算所述介质承载组件上的介质总张数;

在判定介质承载组件需要进行下移以保证介质收纳不会造成堵塞时,可以计算此时介质承载组件上介质的总张数,具体可以通过计算通过收纳操作进入介质承载组件上的收纳介质张数与保存在存储器中的介质承载组件上的存储张数来计算总介质张数。

在一个示例中,可以通过以下方式判定介质承载组件是否需要下移:在收纳组件中心设置一个残留传感器,当残留传感器在一段时间内持续检测到遮挡信号时,表示介质的上表面高于残留传感器高度。此时可以判断介质承载组件需要进行下移,以保证介质收纳过程中不会形成堵塞。且介质承载组件下降的位移量必须固定,以保证收纳组件与介质上表面不会形成空间差导致介质飘落形态不固定,造成收纳混乱。

步骤304,根据所述介质总张数确定所述介质承载组件的下移时长;

介质承载组件上的介质数量随着收纳的进行而不断增加,同时介质承载组件也要在相应的时刻下移来配合介质的收纳操作。在这个过程中,每次介质承载组件下移,介质承载组件上介质的数量是不同的。受重力影响,介质承载组件每次下移固定位移量所需要的时间会随着重力的增加而缩短。因此,为了保证介质承载组件每次下降的位移量一致,可以计算每次介质承载组件移动时,介质承载组件上介质总张数对应的介质承载组件下移固定位移量所需要的下移时长。

而在本发明实施例中,介质承载组件上介质总张数可以通过计算收纳介质的介质张数和存储介质的介质张数的加和来得到。进一步地,在确定了介质承载组件准备移动时,介质承载组件上的介质总张数后,便可以根据介质总张数计算介质承载组件的下移时长。

在一个示例中,步骤304可以包括以下子步骤:

s11,获取预设的空载耗时;

s12,采用所述空载耗时和所述介质总张数计算所述介质承载组件的下移时长。

通过实验可以得到介质承载组件上介质数量与介质承载组件移动固定位移量存在以下关系式:

公式1:vn=sfix/(t0±(32*n/1000))

其中,n:介质承载组件放置标准介质张数;

sfix:实际测量得到的固定位移量;

vn:当介质承载组件上的介质总张数为n时,介质承载组件移动固定位移sfix,平均速度;

±: 为上升过程,-为下降过程;

t0:空载情况下下移sfix的耗时值;

对上述公式进行简化,可以得到如下关系式:

公式2:vn=sunit/(tunit±(32*n/1000))

其中,sunit:单位位移量;

tunit:单位位移空载耗时;

n:介质承载组件放置标准介质总张数;

由上述公式2可知,当位移量和空载耗时固定时,介质承载组件上的介质总张数直接影响到介质承载组件的移动速度,也即介质承载组件上介质总张数直接影响到介质承载组件的下移时长。公式2可以转换为介质总张数与下移时长的关系式。

将公式2进行拆解,拆解为时间量,可以得到以下关系式:

由上述公式3-公式5可知,介质承载组件下移单位位移量的下移时长只与移动前介质承载组件上介质数量n和单位位移空载耗时tunit相关。单位位移空载耗时tunit为固定量,在此处,可以将单位位移空载耗时tunit视为固定量tfix。

因此,在本发明实施例中,计算介质承载组件的下移固定位移量的下移时长首先需要获取介质承载组件的空载耗时,即得到时间常量t1。再根据介质承载组件上的介质数量n计算得到时间变量t2,从而根据t1和t2计算得到介质承载组件下移固定位移量的下移时长。

在另一个示例中,步骤304可以包括以下子步骤:

s21,根据所述介质总张数和所述介质承载组件的下移时长的对应关系,确定所述总张数对应的所述介质承载组件的下移时长。

由于直接代入公式3-公式5进行计算的执行效率低,在本发明实施例中,还可以提前将介质数量对应的下移时长计算好,生成张数时间关系表。当获得到介质承载组件上的介质数量时,直接查表获取数据,以快速用于介质承载组件的移动控制。避免因计算耗时而未及时移动介质承载组件带来的控制偏差。

步骤305,按照所述下移时长控制所述介质承载组件在所述容器中下移。

在本发明实施例中,当确定了在下移时刻点,介质承载组件进行移动的下移时长后,便可以控制介质承载组件在容器中下移。

步骤306,将所述介质总张数保存至所述存储器中。

在本发明实施例中,为了下一次介质承载组件上移或下移时,存储器上存储的介质总张数能够正确地反映介质承载组件上实际的介质总张数,可以在下移结束时,将介质承载组件上实际具有的介质总张数的相关数据保存在存储器中。

参照图4,示出了本发明实施例的一种调整介质承载组件的方法实施例的流程图。

当接收到介质收纳指令时,收纳组件会转动带入介质并统计进入容器的介质张数k。同时读取存储器中存储的介质张数m。(存储器中存储了每一次介质收纳操作或介质分离操作后介质承载组件上实际存在的介质张数的数值。如,当进行介质分离操作时,会从存储器中读取数值,在分离完成后,会统计介质分离张数,从而根据介质分离张数和从存储器中读取的数值计算此时介质承载组件上实际存在的介质张数,并保存在存储器中。)

当检测到介质承载组件的移动时刻点时,会通过k和m计算得到介质总张数n,并根据介质总张数确定下移时长,按照下移时长执行介质承载组件移动。当移动结束后,会判断是否需要再次进行移动,若是,则再次统计介质承载组件上的介质总张数并执行介质承载组件移动操作,直至判定移动到位,表征收纳完成,此时需将介质承载组件上的介质总张数保存在存储器中(介质承载组件每一次移动到位都需要将介质承载组件上实际存在的介质总张数保存在存储器中,以保证介质承载组件下次移动时,存储器的数值可以准确表示操作开始前介质承载组件上的介质张数)。

本发明实施例通过统计收纳至介质承载组件上的介质张数和从存储器获取原先介质承载组件上存在的存储张数,来计算介质承载组件触发移动操作时,介质承载组件上实际存在的介质总张数,以根据介质总张数来计算介质承载组件的下移时长,从而使得介质承载组件可以根据对应的下移时长每次移动固定的下移量,避免了介质因飘落形态不固定导致的收纳混乱。

需要说明的是,对于方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本发明实施例,某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。

参照图5,示出了本发明的一种调整介质承载组件的装置实施例的结构框图,具体可以包括如下模块:

收纳张数统计模块501,用于当接收到介质收纳指令时,统计收纳至预设介质承载组件上的所述收纳介质的收纳张数;

存储张数读取模块502,用于从预设存储器读取所述存储介质的存储张数;所述存储张数为接收到所述介质收纳指令前所述介质承载组件上的介质张数;

介质总张数计算模块503,用于当所述介质承载组件满足预设下移条件时,采用所述收纳张数和所述存储张数,计算所述介质承载组件上的介质总张数;

下移时长确定模块504,用于根据所述介质总张数确定所述介质承载组件的下移时长;

下移控制模块505,用于按照所述下移时长控制所述介质承载组件在所述容器中下移。

在本发明实施例中,所述下移时长确定模块,可以包括:

空载耗时获取子模块,用于获取预设的空载耗时;

下移时长计算子模块,用于采用所述空载耗时和所述介质总张数计算所述介质承载组件的下移时长。

在本发明实施例中,所述下移时长确定模块,可以包括:

下移时长确定子模块,用于根据所述介质总张数和所述介质承载组件的下移时长的对应关系,确定所述总张数对应的所述介质承载组件的下移时长。

在本发明实施例中,所述的装置还可以包括:

保存模块,用于将所述介质总张数保存至所述存储器中。

对于装置实施例而言,由于其与方法实施例基本相似,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

本发明实施例还公开了一种电子设备,包括存储器及处理器,所述存储器中储存有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如本发明实施例所述的方法。

本发明实施例还公开了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如本发明实施例所述的方法。

本发明的各个部件实施例可以以硬件实现,或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现,或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解,可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(dsp)来实现根据本发明实施例的计算处理设备中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如,计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上,或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到,或者在载体信号上提供,或者以任何其他形式提供。

例如,图6示出了可以实现根据本发明的方法的计算处理设备。该计算处理设备传统上包括处理器610和以存储器620形式的计算机程序产品或者计算机可读介质。存储器620可以是诸如闪存、eeprom(电可擦除可编程只读存储器)、eprom、硬盘或者rom之类的电子存储器。存储器620具有用于执行上述方法中的任何方法步骤的程序代码631的存储空间630。例如,用于程序代码的存储空间630可以包括分别用于实现上面的方法中的各种步骤的各个程序代码631。这些程序代码可以从一个或者多个计算机程序产品中读出或者写入到这一个或者多个计算机程序产品中。这些计算机程序产品包括诸如硬盘,紧致盘(cd)、存储卡或者软盘之类的程序代码载体。这样的计算机程序产品通常为如参考图7所述的便携式或者固定存储单元。该存储单元可以具有与图6的计算处理设备中的存储器620类似布置的存储段、存储空间等。程序代码可以例如以适当形式进行压缩。通常,存储单元包括计算机可读代码631’,即可以由例如诸如610之类的处理器读取的代码,这些代码当由计算处理设备运行时,导致该计算处理设备执行上面所描述的方法中的各个步骤。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

本领域内的技术人员应明白,本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此,本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上,使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明实施例的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。

最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种调整介质承载组件的方法和一种调整介质承载组件的装置,进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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