一种激光器能量均匀度校正方法及装置与流程

1.本发明涉及激光器技术领域，尤其涉及一种可对激光器能量进行校正的激光器能量均匀度校正方法及装置。


背景技术：

2.印刷制版技术经历了铅字排版、照相制版、电子分色制版、激光照排制版(ctf技术)、计算机直接制版(ctp技术)。随着ctp技术的不断发展，ctp设备的种类也越来越多，如内鼓式ctp设备、外鼓式ctp设备和平台式ctp设备等等。ctp设备是一种采用光源密排技术的光处理设备，这里的光源密排技术通常是指多个光源排布成一排或多排结构，这种结构最终形成的成像光斑为一条直线，并在光处理时产生条带状的光处理图像。
3.目前，ctp设备在对曝光介质进行处理时，每路激光器对应输出一光源，每个光源对应一个曝光点位。然而，由于激光器的生产工艺存在差异，以及每个激光器对应的驱动电路的驱动能力存在差异，容易导致在相同参数条件下，不同激光器输出的功率存在差异，这些差异导致的最终结果是激光器能量存在差异。现有技术中，由于无法通过生产工艺来准确控制激光能量的差异，常通过调节激光器的电流来改善激光器的能量差异。然而在这些激光器中，电流可能调节过大，导致激光器的能量偏大，导致最终的网点过曝现象，也可能存在电流调节过小，导致激光器的能量偏小，导致最终的网点曝光不完全。由于激光器的能量存在不均匀问题，影响最终的打印质量。因而，如何确定存在问题的激光器并对其进行校正是亟需解决的问题。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于提供一种激光器能量均匀度校正方法，能够确定存在问题的激光器并对其进行校正，以使激光器的能量均匀，提高图像质量。本发明还揭示了一种实现上述激光器能量均匀度校正方法的装置。
5.为实现上述目的，本发明提出一种激光器能量均匀度校正方法，所述激光器能量均匀度校正方法包括如下步骤：
6.获取测试样图，所述测试样图是通过控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的；
7.根据所述测试样图确认是否存在曝光缺陷，并在存在曝光缺陷时控制每路激光器按照曝光方向单独对曝光介质进行曝光处理；
8.根据每路激光器的曝光结果确定存在问题的激光器并对该激光器进行补偿。
9.优选地，所述测试样图包括网点测试样图，所述网点测试样图是通过如下步骤控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的：
10.将密排激光器中的多路激光器每n个分为一组并控制多组激光器亮和暗交替排布；
11.控制密排激光器沿着曝光方向对曝光介质进行曝光处理，且在每步进n次后，每组
激光器交替变换亮和暗，n为大于或等于1的整数。
12.优选地，所述测试样图包括线条测试样图，所述线条测试样图是通过如下步骤控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的：
13.将密排激光器中的多路激光器每n个分为一组并控制多组激光器亮和暗交替；
14.控制密排激光器沿着曝光方向对曝光介质进行曝光处理，n为大于或等于1的整数。
15.优选地，所述测试样图还包括网点测试样图和线条测试样图，其中，所述网点测试样图是通过如下步骤控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的：
16.将密排激光器中的多路激光器每n个分为一组并控制多组激光器亮和暗交替排布；
17.控制密排激光器沿着曝光方向对曝光介质进行曝光处理，且在每步进n次后，每组激光器交替变换亮和暗；
18.所述线条测试样图是通过如下步骤控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的：
19.将密排激光器中的多路激光器每n个分为一组并控制多组激光器亮和暗交替；
20.控制密排激光器沿着曝光方向对曝光介质进行曝光处理，n为大于或等于1的整数。
21.优选地，根据所述测试样图确认是否存在曝光缺陷包括：
22.判断测试样图中是否存在曝光不完全或者竖纹的位置，并在存在时确定测试样图存在曝光缺陷。
23.优选地，根据每路激光器的曝光结果确定存在问题的激光器包括：
24.判断每路激光器曝光形成的曝光图像的宽度与理论宽度值是否匹配，并在不匹配时确定激光器存在能量不均匀问题。
25.优选地，对激光器进行补偿包括：
26.实时获取激光器的电流值；
27.判断该电流值与正常激光器的电流值是否匹配，并在不匹配时调节该激光器的电流，直至实时获取的电流值与正常激光器的电流值相匹配。
28.优选地，所述调节激光器的电流包括：
29.将当前电流值与步进电流值相加或者相减。
30.优选地，所述曝光方向选自曝光介质转动方向、曝光介质平移方向中的一种。
31.本发明还揭示了一种激光器能量均匀度校正装置，包括
32.判断模块，根据所述测试样图确认是否存在曝光缺陷；
33.控制模块，用于在判断模块判断存在曝光缺陷时控制每路激光器按照曝光方向单独对曝光介质进行曝光处理；
34.补偿模块，用于根据每路激光器的曝光结果确定存在问题的激光器并对该激光器进行补偿。
35.本发明的有益效果是：
36.本发明通过控制密排激光器对曝光介质先进行曝光处理，以获取测试样图，并根据测试样图确认存在曝光缺陷时再控制密排激光器中每路激光器分别对曝光介质进行曝光处理，以确定哪些激光器需要进行能量补偿并对其进行补偿处理，最终使得激光器的能
量处于均匀范围内，进而提高图像打印质量。
附图说明
37.图1是本发明所揭示的激光器能量均匀度校正方法的流程图；
38.图2是密排激光器中多个激光器的排布示意图；
39.图3是第一网点测试样图示意图；
40.图4是第二网点测试样图示意图；
41.图5是第一线条测试样图示意图；
42.图6是第二线条测试样图示意图；
43.图7是每一路激光器对曝光介质进行曝光处理的示意图；
44.图8是密排激光器曝光方向示意图；
45.图9是本发明所揭示的激光器能量均匀度校正装置的结构框图示意图。
具体实施方式
46.下面将结合本发明的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。
47.本发明所揭示的一种激光器能量均匀度校正方法，通过控制密排激光器对曝光介质先进行曝光处理，以获取测试样图，并根据测试样图确认存在曝光缺陷时再控制密排激光器中每路激光器分别对曝光介质进行曝光处理，以确定哪些激光器需要进行能量补偿并对其进行补偿处理，最终使得激光器的能量处于均匀范围内，进而提高图像打印质量。
48.如图1所示，为发明所揭示的一种激光器能量均匀度校正方法，包括如下步骤：
49.s100，获取测试样图，所述测试样图是通过控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的；
50.具体地，测试样图可用于检测激光器的能量均匀度情况。实施时，通过观察测试样图，查看测试样图中是否存在曝光缺陷的位置，曝光缺陷如曝光不完全或者竖纹等等。当测试样图中某一位置存在曝光缺陷时，则表示该密排激光器中一路或多路激光器存在能量不均匀问题。这里的测试样图包括网点测试样图和/或线条测试样图，其中，如图3和图4所示，网点测试样图是指曝光介质上形成的曝光图像呈点状，阴影部分表示曝光形成的曝光图像；如图5和图6所示，线条测试样图是指曝光介质上形成的曝光图像呈线条状，阴影部分表示曝光形成的曝光图像。网点测试样图和线条测试样图均可通过控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得。
51.s200，根据所述测试样图确认是否存在曝光缺陷，并在存在曝光缺陷时控制每路激光器按照曝光方向单独对曝光介质进行曝光处理。
52.具体地，当获取测试样图后，通过对测试样图进行观察，以确定测试样图中是否存在某一位置有曝光缺陷的问题。当发现测试样图中某一位置有曝光缺陷的问题时，则控制密排激光器中的每路激光器均按照曝光方向单独对曝光介质进行曝光处理，也就是说在密排激光器中，每次只有一路激光器按照曝光方向对曝光介质进行曝光处理，直至每路激光器均对曝光介质进行了曝光处理，如图7所示。这里的曝光方向选自曝光介质转动方向、曝光介质平移方向中的一种，如图8所示，对于鼓式ctp设备，由于曝光介质是收卷于鼓上的，激光器l对曝光介质曝光时，曝光介质随着鼓的转动而转动，因而曝光方向为曝光介质的转
动方向w；而对于平台式ctp设备，由于曝光介质是平移的，因而曝光方向为曝光介质的平移方向w。
53.s300，根据每路激光器的曝光结果确定存在问题的激光器并对其进行补偿。
54.具体地，当每路激光器均对曝光介质进行曝光处理后，可针对每路激光器的曝光结果确定该激光器是否存在能量不均的问题。对于存在问题的激光器，则对其进行补偿处理，以使密排激光器的能量均匀度满足需求。
55.本实施例中，以三个实施例对本发明所述的一种激光器能量均匀度校正方法进行详细地说明：
56.实施例一
57.本实施例中，以测试样图为网点测试样图为例，对本发明所述的激光器能量均匀度校正方法进行详细的说明。一种激光器能量均匀度校正方法，包括如下步骤：
58.s100'，获取网点测试样图，所述网点测试样图是通过控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的；
59.具体地，如上所述，网点测试样图是指曝光介质上形成的曝光图像为点状的测试样图。通过网点测试样图可初步检测密排激光器中激光器能量均匀度情况。本实施例中，网点测试样图通过如下步骤获得：
60.首先，将密排激光器中的多路激光器每n个分为一组并控制多组激光器亮和暗交替排布，如图2所示，密排激光器包括96路激光器并呈直线形排布，可将该密排激光器中的96路激光器分为96组，每组1路激光器，以图2示从左到右方向，第1组激光器为亮，第2组激光器为暗，第3组激光器为亮，以此类推，第96组激光器为暗，96组激光器中，亮和暗是交替排布的。当然，在上述96路激光器中，也可分为48组，每组包含2路激光器，以图2示从左到右方向，第1组激光器中的2个激光器均为亮，而第2组激光器中的2个激光器均为暗，以此类推，第48组激光器中的2个激光器均为暗。实施时可根据实际需求对激光器进行分组及多组激光器的亮和暗的顺序。
61.最后，控制密排激光器沿着曝光方向对曝光介质进行曝光处理，且在每步进n次后，每组激光器交替变换亮和暗，如密排激光器包括96路激光器，将该密排激光器中的96路激光器分为96组，由上述可知，初始时，从左到右方向，第1组激光器为亮，第2组激光器为暗，第3组激光器为亮，以此类推，第96组激光器为暗；当沿曝光方向步进1次后，每组激光器交替变换亮和暗，即：第1组激光器变由亮变为暗，第2组激光器由暗变为亮，第3组激光器由亮变暗，以此类推，第96路激光器由暗变亮。当沿曝光方向再步进1次时，每组激光器继续交替变换亮和暗，即：第1组激光器由暗变为亮，第2组激光器由亮变为暗，第3组激光器由暗变量，以此类推，第96组激光器由亮变暗。又如，将密排激光器中的96路激光器分为48组，由上述可知，初始时，从左到右方向，第1组激光器中的2个激光器为亮，第2组激光器中的2个激光器为暗，第3组激光器中的2个激光器为暗，以此类推，第48组激光器中的2个激光器为暗。当沿曝光方向步进1次后，每组激光器不交替变换亮和暗。当沿曝光方向步进2次后，每组激光器交替变换亮和暗，第1组激光器中的2个激光器在步进2次后由亮变为暗，第2组激光器中的2个激光器在步进2次后由暗变为亮，第3组激光器中的2个激光器在步进2次后由亮变为暗，依次类推，第48组激光器中的2个激光器在步进2次后由暗变为亮。
62.通过上述过程，可获得网点测试样图。本实施例中，网点测试样图包括第一网点测
试样图和第二网点测试样图，其中，第一网点测试样图是通过将密排激光器中的多路激光器每1个分为一组并按照上述方法控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的。第二网点测试样图是通过将密排激光器中的多路激光器每2个分为一组并按照上述方法控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的。
63.s200'，根据所述网点测试样图确认是否存在曝光缺陷，并在存在曝光缺陷时控制每路激光器按照曝光方向单独对曝光介质进行曝光处理。
64.具体地，当获取到上述网点测试样图后，通过对网点测试样图进行观察，以确定网点测试样图中是否存在曝光不完全的位置，也即存在曝光缺陷的位置。实施时，可选择第一网点测试样图和第二网点测试样图中的任意一种来观察其上是否存在曝光缺陷的位置，当然，也可将两者结合，以确定是否存在曝光缺陷的位置。
65.当确定网点测试样图中存在曝光缺陷的位置后，需进一步确定哪一路或几路激光器存在能量偏差较大的问题，此时需控制每路激光器按照曝光方向单独对曝光介质进行曝光处理。如图7所示，实施时，在密排激光器中，每次控制1路激光器按照曝光方向对曝光介质进行曝光处理，直至所有激光器均按照曝光方向对曝光介质进行曝光处理。如密排激光器包括96路激光器，可按照由左到右的顺序每次控制1路激光器沿着曝光方向对曝光介质进行曝光处理，即当第1路激光器曝光完成后，再控制第2路激光器进行曝光，直至第96路激光器完成曝光。通过每次控制1路激光器对曝光介质进行曝光处理，可避免其他路激光器的干扰，提高识别的准确性。
66.s300'，根据曝光结果确定存在问题的激光器并对其进行补偿。
67.具体地，当每路激光器均对曝光介质进行曝光处理后，通过每路激光器的曝光结果可判断该路激光器是否存在能量不均匀问题。实施时，可通过激光器在曝光介质上曝光形成的曝光图像的宽度来确定激光器是否存在不均匀问题。当曝光图像的宽度与理论值不匹配时，则表明该路激光器存在能量不均匀问题，如曝光图像的宽度大于理论值时，则表明该路激光器存在能量偏大的问题，反之，则表明该路激光器存在能量偏小的问题。如密排激光器包括96激光器，其光斑总体大小为960um，因而每路激光器曝光宽度为10um。实施时，可通过判断每路激光器的曝光图像的宽度是否等等于10um匹配，若不等于，则表明该路激光器存在能量不均匀问题。
68.当确定激光器能量存在偏差后，需要对该激光器进行能量补偿处理，以实现对激光器的校正。通常情况下，激光器的能量大小与电流大小相关，可通过调节电流的大小来调节激光器的能量。在对激光器进行能量补偿时，首先实时获取该路激光器的当前电流值，其次将获取的当前电流值与正常激光器的电流值进行比较，在不匹配时调节电流，直至当前电流值与正常激光器的电流值相同，如实时获取的电流值大于正常激光器的电流值，则进一步对电流进行调小处理，直至当前电流值与正常激光器的电流值相同。实施时，可通过相应电路及上位机软件获取激光器的电流值及调节激光器的电流大小，并在调节电流大小时将当前电流值与步进电流值相加或相减，这里的步进电流值为当前电流值与预设的百分比的乘积，当然，也可为固定值。通过上述补偿方法，对存在问题的激光器进行补偿处理，直至每路激光器的曝光图像的宽度与理论值相匹配，从而实现了激光器能量均匀度校正，改善打印图像质量。
69.实施例二
70.本实施例中，以测试样图为线条测试样图为例，对本发明所述的激光器能量均匀度校正方法进行详细的说明。一种激光器能量均匀度校正方法，包括如下步骤：
71.s100”，获取线条测试样图，所述线条测试样图是通过控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的；
72.具体地，如上所述，线条测试样图是指曝光介质上形成的曝光图像为线条状的测试样图。通过线条测试样图可检测密排激光器的能量均匀度情况。本实施例中，线条测试样图通过如下步骤获得：
73.首先，将密排激光器中的多路激光器每n个分为一组并控制多组激光器亮和暗交替，如密排激光器包括96路激光器，可将该密排激光器中的96路激光器分为96组，每组1路激光器，以图2示从左到右方向，第1组激光器为亮，第2组激光器为暗，第3组激光器为亮，以此类推，第96组激光器为暗，,96组激光器中，亮和暗是交替排布的。当然，在上述96路激光器中，也可分为48组，每组包含2路激光器，以图2示从左到右方向，第1组激光器中的2个激光器均为亮，而第2组激光器中的2个激光器均为暗，以此类推，第48组激光器中的2个激光器均为暗。实施时可根据实际需求对激光器进行分组及多组激光器的亮和暗的顺序。
74.最后，控制密排激光器沿着曝光方向对曝光介质进行曝光处理，如以密排激光器包括96路激光器为例，将该密排激光器中的96路激光器分为96组，由上述可知，初始时，从左到右方向，第1组激光器为亮，第2组激光器为暗，第3组激光器为亮，以此类推，第96组激光器为暗。当沿曝光方向步进1次后，每组激光器不交替变换亮和暗，依然保持原状态，即：第1组激光器变依然为亮，第2组激光器依然为暗，第3组激光器依然为亮，以此类推，第96路激光器依然为暗。直至在曝光介质上完成曝光。又如，将该密排激光器中的96路激光器分为48组，由上述可知，初始时，从左到有方向，第1组激光器中的2个激光器为亮，第2组激光器中的2个激光器为暗，第3组激光器中的2个激光器为暗，以此类推，第48组激光器中的2个激光器为暗，当沿曝光方向步进1次后，每组激光器不交替变换亮和暗，当密排激光器沿曝光方向步进2次后，每组密排激光器依然不交替变换亮和暗，也即是说不同于实施例一，每组激光器在步进n次不交替变换亮和暗。
75.本实施例中，线条测试样图包括第一线条测试样图和第二线条测试样图，其中，第一线条测试样图是通过将密排激光器中的多路激光器每1个分为一组，并按照上述方法控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的。第二线条测试样图是通过将密排激光器中的多路激光器每2个分为一组，并按照上述方法控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的。
76.s200”，根据所述线条测试样图确认是否存在曝光缺陷，并在存在曝光缺陷时控制每路激光器按照曝光方向单独对曝光介质进行曝光处理。
77.具体地，当获取到上述线条测试样图后，通过对线条测试样图进行观察，以确定线条测试样图中某一位置是否存在竖纹，也即确定是否存在曝光缺陷的位置。实施时，可选择第一线条测试样图和第二线条测试样图中的任意一种来观察其上是否存在曝光缺陷的位置，当然，也可将两者结合，以确定是否存在曝光缺陷的位置。
78.当确定网点测试样图中存在曝光缺陷的位置后，需进一步确定哪一路或几路激光器存在能量偏差较大的问题。对于如何确定哪一路或几路激光器存在能量偏差较大的问题，详见实施例一，在此不再一一赘述。
79.s300”，根据曝光结果确定存在问题的激光器并对其进行补偿。
80.具体地，如何根据曝光结果确定存在问题的激光器及如何对激光器进行补偿，详见实施例一，在此不再一一赘述。
81.实施例三
82.本实施例中，以测试样图为网点测试样图和线条测试样图为例，对本发明所述的激光器能量均匀度校正方法进行详细的说明。一种激光器能量均匀度校正方法，包括如下步骤：
83.s100”'，获取网点测试样图和线条测试样图，所述网点测试样图和线条测试样图均是通过控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的；
84.具体地，如上所述，网点测试样图是指曝光介质上形成的曝光图像为点状的测试样图；线条测试样图是指曝光介质上形成的曝光图像为线条状的测试样图。通过网点测试样图和线条测试样图可初步检测密排激光器中激光器能量均匀度情况。其中，网点测试样图是如何通过控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的，详见实施例一，在此不再一一赘述，同时，对于线条测试样图是如何通过控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的，详见实施例二，在此也不再一一赘述。
85.s200”'，根据所述网点测试样图和线条测试样图确认是否存在曝光缺陷，并在存在曝光缺陷时控制每路激光器按照曝光方向单独对曝光介质进行曝光处理。
86.具体地，当获取到上述网点测试样图和线条测试样图后，通过对网点测试样图和线条测试样图进行观察，以确定网点测试样图和/或线条测试样图中是否存在竖纹或曝光不完全的位置，也即存在曝光缺陷的位置。实施时，可选择第一网点测试样图和第二网点测试样图中的至少一个，及第一线条测试样图和第二线条测试样图中的至少一个来观察是否存在曝光缺陷的位置，实施时，以同时选择第一网点测试样图、第二网点测试样图、第一线条测试样图和第二线条测试样图来观察是否存在曝光缺陷为最佳。
87.s300，根据曝光结果确定存在问题的激光器并对其进行补偿。
88.具体地，如何根据曝光结果确定存在问题的激光器及如何对激光器进行补偿，详见实施例一或者实施例二，在此不再一一赘述。
89.如图9所示，本发明还揭示了一种激光器能量均匀度校正装置，包括图像获取模块、判断模块、控制模块和补偿模块，其中，图像获取模块用于获取测试样图，所述测试样图是通过控制密排激光器对曝光介质进行曝光获得的，判断模块用于根据所述测试样图确认是否存在曝光缺陷，控制模块用于在存在曝光缺陷时控制每路激光器按照曝光方向单独对曝光介质进行曝光处理，补偿模块用于根据每路激光器的曝光结果确定存在问题的激光器并对该激光器进行补偿。
90.具体地，测试样图包括网点测试样图和/或线条测试样图，其中，图像获取模块如何获取网点测试样图和/或线条测试样图，详见上述，在此不再一一赘述。判断模块可通过判断网点测试样图和/或线条测试样图中是否存在竖纹或曝光不完全的位置，以确定网点测试样图和/或线条测试样图是否存在曝光缺陷。控制模块如何控制每路激光器按照曝光方向单独对曝光介质进行曝光以及如何根据每路激光器的曝光结果确定存在问题的激光器并对该激光器进行补偿详见上述，在此不在一一赘述。
91.本发明能够对密排激光器中存在能量不均匀的激光器进行校正处理，使其能量处于均匀范围内，进而提高图像打印质量。
92.本发明的技术内容及技术特征已揭示如上，然而熟悉本领域的技术人员仍可能基于本发明的教示及揭示而作种种不背离本发明精神的替换及修饰，因此，本发明保护范围应不限于实施例所揭示的内容，而应包括各种不背离本发明的替换及修饰，并为本专利申请权利要求所涵盖。