一种液晶显示面板测试方法及设备与流程

1.本技术涉及液晶显示领域，特别涉及一种液晶显示面板测试方法及设备。


背景技术：

2.近年来，液晶显示技术获得了飞速发展，其具有成熟度较高、低辐射、低功耗和易集成等优异特点，因此，在显示领域获得了广泛的应用，特别是在便携式电子产品的显示上。
3.液晶显示面板在生产过程中需要进行测试，以确定液晶显示面板是否达到质量要求。但是，相关技术中，液晶显示面板测试过程粗糙，导致某些存在缺陷的液晶显示面板无法检测出来，从而导致漏检率高、液晶显示面板质量低、使用寿命短。


技术实现要素：

4.本技术的主要目的是提供一种液晶显示面板测试方法及设备，旨在解决现有液晶显示面板测试过程粗糙，导致漏检率高、液晶显示面板质量低、使用寿命短的问题。
5.为了实现上述目的，本技术提供一种液晶显示面板测试方法，所述液晶显示面板测试方法包括：
6.在阵列板的测试中，在阵列板的扫描线加持续第一时长的第一电压，数据线加持续所述第一时长的第二电压；其中，所述第一电压不属于所述扫描线的额定电压区间，所述第二电压不属于所述数据线的额定电压区间；
7.对加压后的所述阵列板进行测试，以确定所述阵列板是否异常；
8.基于测试通过的所述阵列板制成液晶显示面板后，在所述液晶显示面板的测试中，在所述液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压，数据线加持续所述第二时长的第四电压；所述第三电压不属于所述扫描线的额定电压区间，所述第四电压不属于所述数据线的额定电压区间；
9.对加压后的所述液晶显示面板进行测试，以确定所述液晶显示面板是否异常。
10.可选的，所述对加压后的所述液晶显示面板进行测试，以确定所述液晶显示面板是否异常的步骤，包括：
11.对加压后的所述液晶显示面板进行点亮测试，以确定所述液晶显示面板是否异常；
12.或，
13.对加压后的所述液晶显示面板的画面品质进行测试，以确定所述液晶显示面板的画面品质是否达到预设条件。
14.可选的，所述扫描线的额定电压区间为
‑
9v～30v，所述数据线的额定电压区间为0v～14v。
15.可选的，所述第一电压小于所述扫描线的额定电压区间的最小值，所述第二电压大于所述数据线的额定电压区间的最大值；所述第三电压小于所述扫描线的额定电压区间
的最小值，所述第四电压大于所述数据线的额定电压区间的最大值。
16.可选的，所述第一电压与所述第三电压不等；所述第二电压与所述第四电压不等。
17.可选的，所述对加压后的所述液晶显示面板进行测试，以确定所述液晶显示面板是否异常的步骤之后，还包括：
18.在老化测试中，将所述液晶显示面板置于第一老化环境中；其中，所述第一老化环境的温度大于55摄氏度；
19.在第三时长后，对所述液晶显示面板进行测试，以确定所述液晶显示面板是否异常。
20.可选的，所述第一老化环境的温度为60摄氏度。
21.可选的，所述第一电压比所述扫描线的额定电压区间的最小值小6v；所述第二电压比所述数据线的额定电压区间的最大值大16v。
22.可选的，所述第三电压比所述扫描线的额定电压区间的最小值小1v，所述第四电压比所述数据线的额定电压区间的最大值大21v。
23.此外，为实现上述目的，本技术还提出一种液晶显示面板测试设备，所述液晶显示面板测试设备用于：
24.在阵列板的测试中，在阵列板的扫描线加持续第一时长的第一电压，数据线加持续所述第一时长的第二电压；其中，所述第一电压不属于所述扫描线的额定电压区间，所述第二电压不属于所述数据线的额定电压区间；
25.对加压后的所述阵列板进行测试，以确定所述阵列板是否异常；
26.基于测试通过的所述阵列板制成液晶显示面板后，在所述液晶显示面板的测试中，在所述液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压，数据线加持续所述第二时长的第四电压；其中，所述第三电压不属于所述扫描线的额定电压区间，所述第四电压不属于所述数据线的额定电压区间；
27.对加压后的所述液晶显示面板进行测试，以确定所述液晶显示面板是否异常。
28.本技术技术方案采用一种液晶显示面板测试方法及设备，通过阵列板的测试中，在阵列板的扫描线加持续第一时长的第一电压，数据线加持续第一时长的第二电压；其中，第一电压不属于扫描线的额定电压区间，第二电压不属于数据线的额定电压区间；对加压后的阵列板进行测试，以确定阵列板是否异常；基于测试通过的阵列板制成液晶显示面板后，在液晶显示面板的测试中，在液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压，数据线加持续第二时长的第四电压；其中，第三电压不属于扫描线的额定电压区间，第四电压不属于数据线的额定电压区间；对加压后的液晶显示面板进行测试，以确定液晶显示面板是否异常；也就是说，本技术中，在阵列板的测试和液晶显示面板的测试过程中，对制作得到的液晶显示面板的半成品或成品施加的电压不属于额定电压区间，从而加速液晶显示面板的半成品或成品的老化或恶化，使得液晶显示面板的半成品或成品的隐藏缺陷暴露出来，从而降低漏检率、提升液晶显示面板的质量和使用寿命；并且，在制成阵列板之后，对阵列板施加的电压不属于额定电压区间，使得阵列板的隐藏缺陷暴露出来，从而避免存在隐藏缺陷的阵列板被用来制作液晶显示面板，导致浪费时间、材料的情况，提升了制作效率、良品率，降低了制作成本。
附图说明
29.为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
30.图1为本技术一实施例的液晶显示面板测试方法的流程示意图；
31.图2为本技术一实施例的液晶显示面板结构图；
32.图3为本技术一实施例的液晶显示面板的电路结构示意图一；
33.图4为本技术一实施例的液晶显示面板的电路结构示意图二；
34.图5为本技术又一实施例的液晶显示面板测试方法的流程示意图。
35.附图标号说明：
[0036][0037]
本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0038]
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0039]
下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0040]
需要说明，本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0041]
另外，若本技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义，包括三个并列的方案，以“a和/或b”为例，包括a方案、或b方案、或a和b同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。
[0042]
为了保证液晶显示面板的质量，在液晶显示面板的制作过程中，会对液晶显示面板进行测试。但是，相关测试中，测试方式比较粗糙，其仅能测试液晶显示面板的电路是否断开，但是，对于液晶显示面板的某些隐藏缺陷(例如，连接线路比较薄弱)，无法测试出，从
而导致制作出的液晶显示面板质量低、使用寿命短。例如，随着液晶显示面板的清晰度和质量的要求越来越高，液晶显示面板的制作难度也越来越大，使得制作出的液晶显示面板容易出现隐藏缺陷，在一个示例中，对于高性能tft
‑
lcd(thin film transistor
‑
liquid crystal display，薄膜晶体管
‑
液晶显示器)，其tft沟道长度相对较小，tft制程通常采用bce(back channel etching，背沟道刻蚀型)型结构，由于其特殊的制作工艺，很容易造成goa(gate on array，栅极电路集成在阵列面板上)区与面内pixel(像素)区出现pr(photo resist，光刻胶)remain(残留)，造成过蚀刻，导致线路薄弱，而相关测试中，仅能测试出线路是否断开，对于线路比较薄弱的情况，无法测试出来，从而导致液晶显示面板质量低、使用寿命短。
[0043]
为了解决上述技术问题，本实施例提供一种液晶显示面板测试方法，参见图1所示，图1为本实施例提供的液晶显示面板测试方法的流程示意图，液晶显示面板测试方法包括：
[0044]
步骤s11：在阵列板的测试中，在阵列板的扫描线加持续第一时长的第一电压，数据线加持续第一时长的第二电压。
[0045]
需要说明的是，阵列板为液晶显示面板的主要构件之一。阵列板上设置有电路，包括多条扫描线、多条数据线、多个tft(thin film transistor，薄膜晶体管)开关和多个像素电极等，tft开关的栅极连接扫描线，源极连接数据线，漏级连接像素电极。其中，阵列板上的电路可以根据实际需要灵活设置。在一个示例中，阵列板可以是tft阵列板。
[0046]
在一些实施方式中，为了降低成本，阵列板上的导电走线可以均由铝制成。例如，阵列板上的扫描线、数据线、以及tft开关与像素电极之间的连接线可以均由铝制成。
[0047]
在一些实施方式中，为了提升阵列板的导电性能，阵列板上的导电走线可以部分由铜制成。在一个示例中，阵列板上的扫描线可以由铜制成，其他走线(例如tft开关与像素电极之间的连接线、数据线走线)可以均由铝制成。
[0048]
在一些实施方式中，为了进一步提升阵列板的导电性能，阵列板上的导电走线可以均由铜制成。例如，阵列板上的扫描线、数据线、以及tft开关与像素电极之间的连接线可以均由铜制成。
[0049]
应当理解的是，在液晶显示面板的整个制程中，会生产出一系列的半成品，为了避免由于半成品的质量问题导致成品质量出现问题，会对生成的半成品进行测试。
[0050]
本发明实施例中，在制成阵列板后，需要对阵列板进行测试，即阵列电测(att，array technology test)。为了使阵列板的隐藏缺陷暴露出来，在测试过程中，在阵列板的扫描线加持续第一时长的第一电压，数据线加持续第一时长的第二电压，即，同时在阵列板的扫描线加第一电压，数据线加第二电压，并保持第一时长。其中，第一电压不属于扫描线的额定电压区间，第二电压不属于数据线的额定电压区间。由于施加在阵列板的扫描线和数据线上的电压均不属于对应的额定电压区间，因此，会加速阵列板上线路老化或恶化，使得阵列板的隐藏缺陷暴露出来。例如，由于光刻胶残留等情况，导致阵列板上的线路过蚀刻，某些连接点比较薄弱，在正常测试过程中，由于该连接点正常通电，无法检测出来；而本发明实施例中，在阵列板的扫描线和数据线施加的电压不属于额定电压区间，使得阵列板加速老化或恶化，从而导致薄弱的连接点断开，在后续的过程中，即可测试出该连接点断开，降低漏检率。
[0051]
应当理解的是，额定电压为用电器正常工作时的电压，额定电压区间为用电器正常工作时的电压范围。扫描线的额定电压区间和数据线的额定电压区间的具体取值由阵列板本身的性质决定。在一些实施方式中，可以选用扫描线的额定电压区间为
‑
9v～30v(即[
‑
9v，30v])，数据线额定电压区间为0v～14v(即[0v，14v])的阵列板。需要说明的是，本发明实施例中，a～b表示大于等于a且小于等于b，符号[]对应的区间包括端点值，符号()对应的区间不包括端点值，例如[a，b]表示大于等于a且小于等于b，(a，b)表示大于a且小于b，(a，b]表示大于a且小于等于b。
[0052]
其中，第一电压可以大于扫描线的额定电压区间的最大值，或，小于扫描线的额定电压区间的最小值；第二电压可以大于数据线的额定电压区间的最大值，或，小于数据线的额定电压区间的最小值。
[0053]
在一些实施方式中，为了进一步加速线路老化或恶化速度，第一电压可以大于扫描线额定电压区间的最大值，第二电压小于数据线额定电压区间的最小值。例如，假设扫描线额定电压区间为[
‑
9v，30v]，数据线额定电压区间为[0v，14v]，则第一电压可以大于30v，第二电压可以小于0v。其中，第一电压和第二电压的具体取值可以根据实际需要灵活设置。
[0054]
为了避免与额定电压区间偏差太大，线路烧断，第一电压与扫描线额定电压区间的最大值的差值绝对值可以小于等于a，第二电压与数据线额定电压区间的最小值的差值绝对值可以小于等于b，其中，a、b为正整数，a与b可以相等，也可以不等，a和b的具体取值可以根据实际需要灵活设置，例如，a可以设置为5v、10v等，b可以设置为4v、8v等。在一个示例中，假设a为5v，b为8v，扫描线额定电压区间为[
‑
9v，30v]，数据线额定电压区间为[0v，14v]，则第一电压的取值范围为(30v，35v]，即大于30v，且小于等于35v；第二电压的取值范围为[
‑
8v，0v)，即小于0v，且大于等于
‑
8v。
[0055]
在一些实施方式中，为了进一步加速线路老化或恶化速度，第一电压可以小于扫描线额定电压区间的最小值，第二电压大于数据线额定电压区间的最大值。例如，假设扫描线额定电压区间为[
‑
9v，30v]，数据线额定电压区间为[0v，14v]，则第一电压可以小于
‑
9v，第二电压可以大于14v。需要说明的是，第一电压、第二电压的具体取值可以根据实际需要灵活设置。
[0056]
为了避免与额定电压区间偏差太大，线路烧断，第一电压与扫描线额定电压区间最小值的差值绝对值可以小于等于x1，第二电压与数据线额定电压区间最大值的差值绝对值可以小于等于y1，其中，x1与y1可以相等，也可以不等，x1和y1的具体取值可以根据实际需要灵活设置，例如，x1可以设置为5v、10v等，y1可以设置为6v、8v等。在一个示例中，假设x1为5v，y1为25v，扫描线额定电压区间为[
‑
9v，30v]，数据线额定电压区间为[0v，14v]，则第一电压的取值范围为[
‑
14v，
‑
9v)，即大于等于
‑
14v，且小于
‑
9v；第二电压的取值范围为(14v，39v]，即大于14v，且小于等于39v。
[0057]
为了避免与额定电压区间偏差太小，恶化/老化速度较慢，第一电压与扫描线额定电压区间的最小值的差值绝对值可以大于等于x2，第二电压与数据线额定电压区间的最大值的差值绝对值可以大于等于y2，其中x2小于等于x1，y2小于等于y1，x2、y2的具体取值可以根据实际需要灵活设置。在一个示例中，假设x1为9v，x2为1v，y1为18v，y2为5v，扫描线额定电压区间为[
‑
9v，30v]，数据线额定电压区间为[0v，14v]，则第一电压的取值范围为[
‑
18v，
‑
10v]，即大于等于
‑
18v，且小于等于
‑
10v；第二电压的取值范围为[19v，32v]，即大于
19v，且小于等于32v；例如，第一电压可以是
‑
15v，第二电压可以是30v。
[0058]
本发明实施例中，第一时长可以根据实际需要灵活设置，例如，可以设置为3秒、4秒、5秒等。在一个示例中，为了避免过度老化/恶化，线路出现故障，第一时长可以根据第一电压与扫描线额定电压区间的偏差、第二电压与数据线额定电压区间的偏差确定，其中，第一电压与扫描线额定电压区间的偏差越大、第二电压与数据线额定电压区间的偏差越大，第一时长越小。例如，假设扫描线额定电压区间为[
‑
9v，30v]，数据线额定电压区间为[0v，14v]，若第一电压取值处于(
‑
10v，
‑
9v)，第二电压取值处于(14v，20v]，则第一时长可以是10秒，若第一电压取值处于[
‑
15v，
‑
10v]，第二电压取值处于(20v，30v]，则第一时长可以是4秒。
[0059]
需要说明的是，本发明实施例中，阵列板上可以设置测试点，通过测试点向阵列板的扫描线和数据线施加电压。
[0060]
步骤s12：对加压后的阵列板进行测试，以确定阵列板是否异常。
[0061]
本发明实施例中，在阵列板的扫描线加持续第一时长的第一电压，数据线加持续第一时长的第二电压之后，对阵列板进行测试，以确定阵列板是否异常。由于对阵列板的扫描线和数据线施加了不属于额定电压区间的电压，从而加速了阵列板的线路的老化/恶化，使得阵列板上隐藏的缺陷暴露出来，从而被检测到。例如，由于对阵列板的扫描线和数据线施加了不属于额定电压区间的电压，从而加速了阵列板的线路的老化/恶化，使得阵列板上薄弱的连接点断开，从而被测试出来，降低漏检率，保障阵列板的质量。
[0062]
其中，具体的测试方式可以根据实际需要灵活设置。
[0063]
步骤s13：基于测试通过的阵列板制成液晶显示面板后，在液晶显示面板的测试中，在液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压，数据线加持续第二时长的第四电压。
[0064]
需要说明的是，在制作阵列板并对阵列板进行测试后，基于测试通过的阵列板进行进一步生产，以制成液晶显示面板。应当理解的是，液晶显示面板包括阵列板，因此，液晶显示面板上也设置有扫描线和数据线。其中，液晶显示面板还可以包括阵列板、彩色滤光片、偏光板、pcb(printed circuit board，印制线路板)等。在一个示例中，参见图2所示，制作得到的液晶显示面板沿着出光方向，依次为第一偏光片201、阵列板202、液晶盒203、彩色滤光片204、第二偏光片205。
[0065]
其中，液晶显示面板整个制作流程可以是：首先，制成阵列板，对阵列板进行测试(即att)，以筛选出质量不良的阵列板；其次，将测试通过后的阵列板与彩色滤光片进行贴合并切割，得到第一半成品，对得到的第一半成品进行点亮测试，以筛选出质量不良的第一半成品，其中，在切割时，阵列板的面积比彩色滤光片的面积大，以用于后续在阵列板空余的位置处贴合pcb；然后，将测试通过后的第一半成品与偏光片进行贴合，得到第二半成品，将第二半成品与pcb进行贴合，得到液晶显示面板。
[0066]
应当理解的是，在制成液晶显示面板后，需要对液晶显示面板进行测试，即芯片打线后点片测试(ct3，cell test 3，单元测试3)。本发明实施例中，在制成液晶显示面板后，对液晶显示面板进行测试，在测试过程中，在液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压，数据线加持续第二时长的第四电压，即，同时在液晶显示面板的扫描线加第三电压，数据线加第四电压，并保持第二时长。其中，第三电压不属于扫描线的额定电压区间，第
四电压不属于数据线的额定电压区间。由于施加在液晶显示面板的扫描线和数据线上的电压均不属于对应的额定电压区间，因此，会加速液晶显示面板上线路老化/恶化，使得液晶显示面板隐藏的缺陷暴露出来。例如，参见图3、4所示，图3为液晶显示面板的电路连接示意图，图3中，由于光刻胶残留等问题，导致过蚀刻，某些线路存在薄弱连接点301，在正常测试中，由于薄弱连接点301可以导电，无法测试出来，本发明实施例中，通过在液晶显示面板的扫描线和数据线施加不属于额定电压区间的电压，从而加速液晶显示面板的老化或恶化，使得薄弱连接点301断开，参见图4所示，图4为如图3所示的液晶显示面板，在扫描线施加第三电压、在数据线施加第四电压，并保持第二时长后，液晶显示面板的电路连接示意图，图4中，薄弱连接点301断开，在后续的测试中，即可将薄弱连接点301测试出来。
[0067]
其中，第三电压可以大于扫描线的额定电压区间的最大值，或，小于扫描线的额定电压区间的最小值；第四电压可以大于数据线的额定电压区间的最大值，或，小于数据线的额定电压区间的最小值。
[0068]
在一些实施方式中，为了进一步加速线路老化或恶化速度，第三电压可以大于扫描线额定电压区间的最大值，第四电压小于数据线额定电压区间的最小值。例如，假设扫描线额定电压区间为[
‑
9v，30v]，数据线额定电压区间为[0v，14v]，则第三电压可以大于30v，第四电压可以小于0v。其中，第三电压和第四电压的具体取值可以根据实际需要灵活设置。
[0069]
为了避免与额定电压区间偏差太大，线路烧断，第三电压与扫描线额定电压区间最大值的差值绝对值可以小于等于c，第四电压与数据线额定电压区间最小值的差值绝对值可以小于等于d，其中，c与d可以相等，也可以不等，c和d的具体取值可以根据实际需要灵活设置，例如，c可以设置为5v、8v等，d可以设置为3v、15v等。在一个示例中，假设c为4v，d为10v，扫描线额定电压区间为[
‑
9v，30v]，数据线额定电压区间为[0v，14v]，则第三电压的取值范围为(30v，34v]，即大于30v，且小于等于34v；第四电压的取值范围为[
‑
10v，0v)，即小于0v，且大于等于
‑
10v。
[0070]
在一些实施方式中，为了进一步加速线路老化或恶化速度，第三电压可以小于扫描线额定电压区间的最小值，第四电压大于数据线额定电压区间的最大值。例如，假设扫描线额定电压区间为[
‑
9v，30v]，数据线额定电压区间为[0v，14v]，则第三电压可以小于
‑
9v，第四电压可以大于14v。需要说明的是，第三电压、第四电压的具体取值可以根据实际需要灵活设置。
[0071]
为了避免与额定电压区间偏差太大，线路烧断，第三电压与扫描线额定电压区间最小值的差值绝对值可以小于等于e1，第四电压与数据线额定电压区间最大值的差值绝对值可以小于等于f1，其中，e1与f1可以相等，也可以不等，e1和f1的具体取值可以根据实际需要灵活设置，例如，e1可以设置为5v、10v等，f1可以设置为6v、8v等。在一个示例中，假设e1为5v，f1为25v，扫描线额定电压区间为[
‑
9v，30v]，数据线额定电压区间为[0v，14v]，则第三电压的取值范围为[
‑
14v，
‑
9v)，即大于等于
‑
14v，且小于
‑
9v；第四电压的取值范围为(14v，39v]，即大于14v，且小于等于39v。
[0072]
为了避免与额定电压区间偏差太小，恶化/老化速度较慢，第三电压与扫描线额定电压区间最小值的差值绝对值可以大于等于e2，第四电压与数据线额定电压区间最大值的差值绝对值可以大于等于f2，其中e2小于等于e1，f2小于等于f1，e2、f2的具体取值可以根据实际需要灵活设置。在一个示例中，假设e1为5v，e2为1v，f1为26v，f2为5v，扫描线额定电
压区间为[
‑
9v，30v]，数据线额定电压区间为[0v，14v]，则第三电压的取值范围为[
‑
14v，
‑
10v]，即大于等于
‑
14v，且小于等于
‑
10v；第四电压的取值范围为[19v，40v]，即大于19v，且小于等于40v；例如，第三电压可以是
‑
10v，第四电压可以是35v。
[0073]
在一些实施方式中，由于第一电压和第三电压均是加在扫描线的电压，第二电压和第四电压均是加在数据线的电压，第一电压和第三电压可以相等，第二电压和第四电压可以相等；或者，第一电压和第三电压可以不等，第二电压和第四电压可以不等，即，第一电压可以大于或小于第三电压，第二电压可以大于或小于第四电压，在一个示例中，第一电压小于第三电压，第二电压小于第四电压，或，第一电压大于第三电压，第二电压大于第四电压。
[0074]
本发明实施例中，第二时长可以根据实际需要灵活设置，例如，可以设置为1秒、4秒、5秒等。在一个示例中，为了避免老化/恶化过度，线路出现故障，第二时长可以根据第三电压与扫描线额定电压区间的偏差、第四电压与数据线额定电压区间的偏差确定，其中，第三电压与扫描线额定电压区间的偏差越大、第四电压与数据线额定电压区间的偏差越大，第二时长越小。例如，假设扫描线额定电压区间为[
‑
9v，30v]，数据线额定电压区间为[0v，14v]，若第三电压取值处于(
‑
10v，
‑
9v)，第四电压取值处于(14v，20v]，则第二时长可以是3秒，若第三电压取值处于[
‑
15v，
‑
10v]，第四电压取值处于(20v，35v]，则第二时长可以是1秒。
[0075]
在一些实施方式中，第二时长与第一时长可以相等，也可以不等，例如，第二时长可以小于第一时长。
[0076]
步骤s14：对加压后的液晶显示面板进行测试，以确定液晶显示面板是否异常。
[0077]
本发明实施例中，在液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压，数据线加持续第二时长的第四电压之后，对液晶显示面板进行测试，以确定液晶显示面板是否异常。
[0078]
其中，具体的测试方式可以根据实际需要灵活设置。
[0079]
在一些实施方式中，步骤s14包括：对加压后的液晶显示面板进行点亮测试，以确定液晶显示面板是否异常。
[0080]
其中，可以通过在液晶显示面板的扫描线和数据线加额定电压，以驱动液晶显示面板点亮，从而测试液晶显示面板是否异常。
[0081]
在一些实施方式中，步骤s14包括：对加压后的液晶显示面板的画面品质进行测试，以确定液晶显示面板的画面品质是否达到预设条件。
[0082]
其中，可以通过在液晶显示面板的扫描线和数据线施加对应的电压，以驱动液晶显示面板显示画面，从而测试液晶显示面板的画面品质是否达到预设条件。预设条件可以根据实际需要灵活设置。
[0083]
本实施例采用一种液晶显示面板测试方法，在阵列板的测试中，在阵列板的扫描线加持续第一时长的第一电压，数据线加持续第一时长的第二电压；其中，第一电压不属于扫描线的额定电压区间，第二电压不属于数据线的额定电压区间；对加压后的阵列板进行测试，以确定阵列板是否异常；基于测试通过的阵列板制成液晶显示面板后，在液晶显示面板的测试中，在液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压，数据线加持续第二时长的第四电压；其中，第三电压不属于扫描线的额定电压区间，第四电压不属于数据线的额
定电压区间；对加压后的液晶显示面板进行测试，以确定液晶显示面板是否异常；也就是说，本技术中，在阵列板的测试和液晶显示面板的测试过程中，对制作得到的液晶显示面板的半成品或成品施加的电压不属于额定电压区间，从而加速液晶显示面板的半成品或成品的老化或恶化，使得液晶显示面板的半成品或成品的隐藏缺陷暴露出来，从而降低漏检率、提升液晶显示面板的质量和使用寿命；并且，在制成阵列板之后，对阵列板施加的电压不属于额定电压区间，使得阵列板的隐藏缺陷暴露出来，从而避免存在隐藏缺陷的阵列板被用来制作液晶显示面板，导致浪费时间、材料的情况，提升了制作效率、良品率，降低了制作成本。
[0084]
基于前述实施例，提出本技术的又一实施例。本发明实施例中，参见图4所示，步骤s14之后，液晶显示面板测试方法还可以包括：
[0085]
步骤s15：在老化测试中，将液晶显示面板置于第一老化环境中。
[0086]
其中，第一老化环境的温度大于55摄氏度。
[0087]
应当明确的是，本发明实施例中的老化测试指的是aging test，其中，将aging test对应的环境称之为老化环境。本发明实施例中，在液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压，数据线加持续第二时长的第四电压，对加压后的液晶显示面板进行测试，并测试通过之后，将液晶显示面板置于第一老化环境，以进行老化测试，其中，第一老化环境的温度大于55摄氏度；即将液晶显示面板置于55摄氏度以上的老化环境。可以理解的是，55摄氏度以上的温度已属于较高温度范畴，因而能够加速液晶显示面板的老化或恶化，降低测试时间，且通过加温处理，能够更加有效地检测到质量不良的液晶显示面板，降低了液晶显示面板的缺陷漏检率。
[0088]
在一些实施方式中，第一老化环境的温度大于55摄氏度，且小于等于65摄氏度；即第一老化环境的温度取值范围为(55℃，65℃]。为了提升老化速度，使得液晶显示面板的缺陷暴露出来，同时，避免温度太高导致液晶显示面板损坏，第一老化环境的温度可以为60摄氏度。当然，在实际应用中，第一老化环境的温度可以根据具体应用场景做灵活调整，例如，为65摄氏度等。
[0089]
步骤s16：在第三时长后，对液晶显示面板进行测试，以确定液晶显示面板是否异常。
[0090]
本发明实施例中需要将液晶显示面板置于第一老化环境中以达到第三时长；即需要将液晶显示面板置于温度55摄氏度以上的老化环境持续第三时长，并在置于温度55摄氏度以上的老化环境持续第三时长之后对液晶显示面板进行测试，以确定液晶显示面板是否异常。可以理解的是，本发明实施例中确定液晶显示面板是否异常可以是确定线路连接是否异常，开关通断是否异常等；在实际应用中，所涉及的确定液晶显示面板是否异常的方面可以根据具体应用场景做灵活调整。
[0091]
在一些实施方式中，第三时长大于等于1小时，且小于等于2小时；即第三时长的取值范围为[1h，2h]，可选的，第三时长可以取值1h、1.5h、2h等；在实际应用中，第三时长可以根据具体应用场景做灵活调整。通常情况下，将液晶显示面板置于第一老化环境中持续的第三时长越长，更加使得液晶显示面板的隐藏缺陷能够暴露出来，从而能够更加有效地检测到质量不良的液晶显示面板。
[0092]
本发明实施例中，通过在老化测试中，将液晶显示面板置于温度大于55摄氏度的
第一老化环境中，进一步地，在第三时长后，对液晶显示面板进行测试，以确定液晶显示面板是否异常；解决了现有液晶显示面板测试时间长，从而导致液晶显示面板的制作周期长，影响液晶显示面板的制作进程的问题。
[0093]
也就是说，本发明实施例中，在老化测试过程中，对制作得到的液晶显示面板施加超出55摄氏度温度的这种加温处理，加速了液晶显示面板的老化或恶化，降低了测试时间，使得液晶显示面板的制作周期更短，从而提升了液晶显示面板制作速率。并且，加温处理会加速液晶显示面板上线路老化或恶化，使得液晶显示面板的隐藏缺陷能够暴露出来，例如由于光刻胶残留等情况，导致液晶显示面板过蚀刻，某些连接点比较薄弱，在正常测试过程中，由于该连接点正常通电，并无法检测出来；而本发明实施例中，由于施加在液晶显示面板上的温度较高，使得液晶显示面板上薄弱的连接点断开，因此在后续的过程中，即可测试出该连接点断开，从而能够更加有效地检测到质量不良的液晶显示面板，降低了液晶显示面板的缺陷漏检率，使得最终流向市场的液晶显示面板的质量更好。
[0094]
基于前述实施例，提出本技术另一实施例的液晶显示面板测试方法；本发明实施例中，步骤s15将液晶显示面板置于第一老化环境中的步骤之后，液晶显示面板测试方法还包括以下步骤：
[0095]
步骤s17：对液晶显示面板的扫描线施加第五电压，数据线施加第六电压，并保持第四时长；其中，第五电压与第六电压之间的压差高于目标压差，目标压差为扫描线的额定电压与数据线的额定电压之间的最大压差，第四时长小于第三时长。
[0096]
应当明确的是，本发明实施例中在液晶显示面板处于第一老化环境过程中，在液晶显示面板的扫描线施加第五电压，数据线施加第六电压，并保持第四时长；即在液晶显示面板的扫描线施加持续第四时长的第五电压，数据线施加持续第四时长的第六电压，例如在液晶显示面板的扫描线施加持续t3的v1，数据线施加持续t3的v2。
[0097]
其中，第五电压与第六电压之间的压差高于目标压差，目标压差为扫描线的额定电压与数据线的额定电压之间的最大压差；即在液晶显示面板的扫描线施加的第五电压，数据线施加的第六电压的压差是高于扫描线的额定电压与数据线的额定电压之间的最大压差的。可以理解的是，因为在液晶显示面板的扫描线施加的第五电压，数据线施加的第六电压的压差是高于扫描线的额定电压与数据线的额定电压之间的最大压差的，因此，本发明实施例中必然存在至少有一侧施加的电压是超出该侧对应的额定电压区间的。其中，本发明实施例中可以是在液晶显示面板的扫描线施加的第五电压小于扫描线的额定电压区间的最小值；或者可以是在液晶显示面板的数据线施加的第六电压大于数据线的额定电压区间的最大值；或者可以是在液晶显示面板的扫描线施加的第五电压小于扫描线的额定电压区间的最小值，以及在液晶显示面板的数据线施加的第六电压大于数据线的额定电压区间的最大值；在实际应用中，可以根据具体应用场景做灵活调整。在一些示例中，在液晶显示面板的扫描线施加的第五电压可以小于扫描线的额定电压区间的最小值，数据线施加的第六电压可以大于数据线的额定电压区间的最大值，例如，在液晶显示面板的扫描线施加的第五电压可以为负极电压，相应地，在液晶显示面板的数据线施加的第六电压为正极电压。
[0098]
在实际应用中，目标压差可以根据扫描线的额定电压和数据线的额定电压的具体取值做灵活调整。假设目标压差为35v，则第五电压与第六电压之间的压差高于目标压差
35v即可。
[0099]
在一些实施方式中，第五电压与第六电压之间的压差可以比目标压差高5～15v，即第五电压与第六电压之间的压差比目标压差最少高5v，最多高15v。例如第五电压取值为
‑
10v，第六电压取值为30v，此时第五电压与第六电压的压差为|
‑
10v
‑
(30v)|＝40v，其比目标压差35v高5v；或者第五电压取值为
‑
10v，第六电压取值为35v，此时第五电压与第六电压的压差为|
‑
10v
‑
(35v)|＝45v，其比目标压差35v高10v；或者第五电压取值为
‑
10v，第六电压取值为40v，此时第五电压与第六电压的压差为|
‑
10v
‑
(40v)|＝50v，其比目标压差35v高15v。
[0100]
其中，第四时长小于第三时长，即在液晶显示面板的扫描线施加第五电压，数据线施加第六电压的时长要小于液晶显示面板置于第一老化环境的时长，由此可以灵活调整在液晶显示面板的扫描线施加第五电压，数据线施加第六电压的时间点。例如第三时长的取值范围为[1h，2h]，则第四时长的取值范围为[0.5h，1h)，可选的，第三时长可以取值0.5h、0.6h、0.8h等。
[0101]
本发明实施例中，通过在老化测试中，将液晶显示面板处于第一老化环境中，在液晶显示面板的扫描线施加第五电压，数据线施加第六电压，且在液晶显示面板的扫描线施加的第五电压，数据线施加的第六电压的压差高于扫描线的额定电压与数据线的额定电压之间的最大压差，这种加压处理，能够更进一步加速液晶显示面板的老化或恶化速度，降低测试时间，使得液晶显示面板的制作周期更短，从而提升了液晶显示面板制作进程的速率。并且，由于施加在液晶显示面板上的电压较高，即液晶显示面板经过加压处理，因此会加速液晶显示面板上线路老化或恶化，使得液晶显示面板的隐藏缺陷暴露出来，例如由于光刻胶残留等情况，导致液晶显示面板过蚀刻，某些连接点比较薄弱，在正常测试过程中，由于该连接点正常通电，无法检测出来；而本发明实施例中，施加在液晶显示面板上的电压较高，使得液晶显示面板上薄弱的连接点断开，在后续的过程中，即可测试出该连接点断开，因而能够更加有效地检测到质量不良的液晶显示面板，降低了液晶显示面板的缺陷漏检率，使得最终流向市场的液晶显示面板的质量更好。
[0102]
基于前述实施例，提出本技术另一实施例的液晶显示面板测试方法；本发明实施例中，步骤s16之后，液晶显示面板测试方法还包括以下步骤：
[0103]
步骤s18：将液晶显示面板置于第二老化环境中；
[0104]
步骤s19：在第五时长后，再次对液晶显示面板进行测试，以确定液晶显示面板是否异常。
[0105]
应当明确的是，本发明实施例中将液晶显示面板置于第一老化环境中达到第一时长并测试通过之后，需要再将液晶显示面板置于第二老化环境中以达到第五时长，实现了对液晶显示面板进行再次测试，从而再次确定液晶显示面板是否异常，以进一步提高液晶显示面板的不良拦检率。
[0106]
可以理解的是，步骤s18
‑
s19可以重复多次执行，以实现对液晶显示面板进行多次测试，例如执行5次，则可以实现对液晶显示面板进行共6次老化测试，在实际应用中，步骤s18
‑
s19执行次数可以灵活进行调整。
[0107]
在一些实施方式中，在步骤s18
‑
s19执行次数为大于等于2时，第五时长可以是不变时长；例如步骤s18
‑
s19执行2次，则可以实现对液晶显示面板进行共3次老化测试，步骤
s18
‑
s19执行第1次时，第五时长取值1h，步骤s18
‑
s19执行第2次时，第五时长也取值1h。
[0108]
在一些实施方式中，在步骤s18
‑
s19执行次数为大于等于2时，第五时长可以是按照预设增长值依次增长的可变时长；例如步骤s18
‑
s19执行3次，则可以实现对液晶显示面板进行共4次老化测试，步骤s18
‑
s19执行第1次时，第五时长取值1h，步骤s18
‑
s19执行第2次时，第五时长取值1.2h，步骤s18
‑
s19执行第3次时，第五时长取值1.4h，即预设增长值为0.2h；在实际应用中，预设增长值可以根据具体应用场景做灵活调整。
[0109]
在一些实施方式中，在步骤s18
‑
s19执行次数为大于等于2时，第五时长可以是按照预设减少值依次减少的可变时长；例如步骤s18
‑
s19执行3次，则可以实现对液晶显示面板进行共4次老化测试，步骤s18
‑
s19执行第1次时，第五时长取值1.4h，步骤s18
‑
s19执行第2次时，第五时长取值1.2h，步骤s18
‑
s19执行第3次时，第五时长取值1h，即预设减少值为0.2h；在实际应用中，预设减少值可以根据具体应用场景做灵活调整。
[0110]
在一些实施方式中，第一老化环境的温度和第二老化环境的温度相同；其中，当第一老化环境的温度大于55摄氏度时，相应地，第二老化环境的温度也大于55摄氏度；当第一老化环境的温度大于55摄氏度，且小于等于65摄氏度时，相应地，第二老化环境的温度也大于55摄氏度，且小于等于65摄氏度；当第一老化环境的温度等于65摄氏度时，相应地，第二老化环境的温度等于65摄氏度。即第二老化环境的温度始终和第一老化环境的温度保持相同，这样再次老化测试区别仅在于第三时长和第五时长的不同，可选的，第五时长小于第三时长。
[0111]
在一些实施方式中，第二老化环境的温度低于常温；通常情况下，常温为25摄氏度，可选的，第二老化环境的温度可以取值20摄氏度、0摄氏度、
‑
10摄氏度等；在实际应用中，第二老化环境的温度可以根据具体应用场景做灵活调整。
[0112]
本发明实施例中，通过先对液晶显示面板在高温的第一老化环境温下进行老化测试，再对液晶显示面板在低温或低于常温的第二老化环境下进行老化测试；这样实现了在更加全面的温度下进行老化测试，从而能够更加有效地检测到质量不良的液晶显示面板，降低了液晶显示面板的缺陷漏检率，使得最终流向市场的液晶显示面板的质量更好。
[0113]
基于前述实施例，提出本技术的又一实施例。参见图5所示，图5为本实施例提供的液晶显示面板测试方法的流程示意图，液晶显示面板测试方法包括：
[0114]
步骤s51：在阵列板的测试中，在阵列板的扫描线加持续第一时长的第一电压，数据线加持续第一时长的第二电压。
[0115]
阵列板上设置有扫描线、数据线、tft开关等。其中，为了提升阵列板的导电性能，扫描线、数据线等走线可以均由铜制成。本发明实施例中，阵列板的扫描线额定电压区间为[
‑
9v，30v]，数据线额定电压区间为[0v，14v]。
[0116]
本发明实施例中，在制成阵列板后，同时在阵列板的扫描线加第一电压，数据线加第二电压，并保持第一时长，其中，第一电压小于扫描线额定电压区间的最小值，第二电压大于数据线额定电压区间的最大值，以加速阵列板的老化或恶化，从而使得阵列板上，连接薄弱的点断开，从而使得隐藏的缺陷暴露出来。
[0117]
其中，为了避免老化或恶化过度，影响正常电路，且避免老化或恶化不足，使得隐藏缺陷无法暴露出来，第一时长为4秒，第一电压比扫描线额定电压区间最小值小6v，第二电压比数据线额定电压区间的最大值大16v，即第一电压为
‑
15v，第二电压为30v。
[0118]
步骤s52：对加压后的阵列板进行测试，以确定阵列板是否异常。
[0119]
本发明实施例中，在阵列板的扫描线加持续第一时长的第一电压，数据线加持续第一时长的第二电压之后，对阵列板进行测试，以确定阵列板是否异常。
[0120]
步骤s53：基于测试通过的阵列板制成液晶显示面板后，在液晶显示面板的测试中，在液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压，数据线加持续第二时长的第四电压。
[0121]
应当理解的是，在制作阵列板并对阵列板进行测试后，基于测试通过的阵列板进行进一步生产，以制成液晶显示面板，其中，液晶显示面板包括阵列板、彩色滤光片、偏光板等。
[0122]
本发明实施例中，在制成液晶显示面板后，对液晶显示面板进行测试，在测试过程中，同时在液晶显示面板的扫描线加第三电压，数据线加第四电压，并保持第二时长，其中，第三电压小于扫描线额定电压区间的最小值，第四电压大于数据线额定电压区间的最大值，以加速液晶显示面板的老化或恶化，使得液晶显示面板，连接薄弱的点断开，从而使得隐藏的缺陷暴露出来。
[0123]
其中，为了避免老化或恶化过度，影响正常电路，且避免老化或恶化不足，使得隐藏缺陷无法暴露出来，第二时长为1秒，第三电压比扫描线额定电压区间最小值小1v，第四电压比数据线额定电压区间最大值大21v，即第三电压为
‑
10v，第四电压为35v。
[0124]
步骤s54：对加压后的液晶显示面板的画面品质进行测试，以确定液晶显示面板的画面品质是否达到预设条件。
[0125]
预设条件可以根据实际需要灵活设置。
[0126]
在液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压，数据线加持续第二时长的第四电压之后，可以获取对应的显示数据输入至液晶显示面板，以驱动液晶显示面板显示画面，从而测试液晶显示面板的画面品质是否达到预设条件。
[0127]
本实施例采用一种液晶显示面板测试方法，通过在阵列板的测试中，在阵列板的扫描线加持续第一时长的第一电压，数据线加持续第一时长的第二电压；其中，第一电压不属于扫描线的额定电压区间，第二电压不属于数据线的额定电压区间；对加压后的阵列板进行测试，以确定阵列板是否异常；基于测试通过的阵列板制成液晶显示面板后，在液晶显示面板的测试中，在液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压，数据线加持续第二时长的第四电压；其中，第三电压不属于扫描线的额定电压区间，第四电压不属于数据线的额定电压区间；对加压后的液晶显示面板的画面品质进行测试，以确定液晶显示面板的画面品质是否达到预设条件；也就是说，本技术中，在阵列板的测试和液晶显示面板的测试过程中，对制作得到的液晶显示面板的半成品或成品施加的电压不属于额定电压区间，从而加速液晶显示面板的半成品或成品的老化或恶化，使得液晶显示面板的半成品或成品的隐藏缺陷暴露出来，从而降低漏检率，提升液晶显示面板的质量和使用寿命；并且，在制成阵列板之后，对阵列板施加的电压不属于额定电压区间，使得阵列板的隐藏缺陷暴露出来，从而避免存在隐藏缺陷的阵列板被用来制作液晶显示面板，导致浪费时间、材料的情况，提升了制作效率、良品率，降低了制作成本。
[0128]
基于前述实施例，提出本技术的液晶显示面板测试设备，液晶显示面板测试设备用于：
[0129]
在阵列板的测试中，在阵列板的扫描线加持续第一时长的第一电压，数据线加持续第一时长的第二电压；其中，第一电压不属于扫描线的额定电压区间，第二电压不属于数据线的额定电压区间；对加压后的阵列板进行测试，以确定阵列板是否异常；基于测试通过的阵列板制成液晶显示面板后，在液晶显示面板的测试中，在液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压，数据线加持续第二时长的第四电压；其中，液晶显示面板包括阵列板，第三电压不属于扫描线的额定电压区间，第四电压不属于数据线的额定电压区间；对加压后的液晶显示面板进行测试，以确定液晶显示面板是否异常。
[0130]
液晶显示面板测试设备还可用于实施前述液晶显示面板测试方法中的其他步骤。
[0131]
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
[0132]
上述本技术实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
[0133]
以上所述仅为本技术的可选实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是在本技术的申请构思下，利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本技术的专利保护范围内。