一种光学检测控制电路及控制方法与流程

技术特征：
1.一种光学检测控制电路，其特征在于，包括：电源管理模块、控制寄存器模块、时钟发生器、感光图像阵列、模数转换模块、图像处理模块及方向识别模块；所述控制寄存器模块、所述时钟发生器、所述感光图像阵列、所述模数转换模块、所述图像处理模块及所述方向识别模块分别与所述电源管理模块电连接；所述感光图像阵列分别与所述模数转换模块及所述时钟发生器电连接；所述时钟发生器、所述模数转换模块、所述图像处理模块及所述方向识别模块分别与所述控制寄存器模块电连接；所述电源管理模块与电源输入端及地端电连接，所述控制寄存器模块分别与串行数据端、串行时钟端及信号输出端电连接。2.根据权利要求1所述的一种光学检测控制电路，其特征在于，所述一种光学检测控制电路还包括led恒流驱动模块；所述恒流驱动模块分别与所述电源管理模块、所述时钟发生器、所述控制寄存器模块及led灯连接端电连接。3.根据权利要求1或2所述的一种光学检测控制电路，其特征在于，所述一种光学检测控制电路还包括接口处理模块；所述接口处理模块分别与所述电源管理模块及所述控制寄存器模块电连接；所述串行数据端及所述串行时钟端均与所述接口处理模块电连接。4.根据权利要求1所述的一种光学检测控制电路，其特征在于，所述电源管理模块包括电源管理单元、模拟ldo单元及数字ldo单元；所述模拟ldo单元及所述数字ldo单元分别与所述电源管理单元电连接；所述模拟ldo单元与所述感光图像阵列电连接，所述控制寄存器模块、所述时钟发生器、所述模数转换模块、所述图像处理模块及所述方向识别模块分别与所述数字ldo单元电连接。5.根据权利要求2所述的一种光学检测控制电路，其特征在于，所述led恒流驱动模块包括第一场效应管、第二场效应管、第三场效应管、恒流源及电流配置开关；所述恒流源的第一端与所述电源管理模块电连接，所述恒流源的第二端分别与所述第一场效应管的漏极、所述第一场效应管的栅极、所述第二场效应管的栅极及所述电流配置开关的第一端电连接，所述第一场效应管的源极接地，所述第二场效应管的漏极分别与所述第三场效应管的漏极及所述led灯连接端电连接，所述第二场效应管的源极接地，所述第三场效应管的栅极与所述电流配置开关的第二端电连接，所述第三场效应管的源极接地。6.根据权利要求4所述的一种光学检测控制电路，其特征在于，所述模拟ldo单元包括第一放大器、第一电阻、第一滑动电阻及第一电容；所述第一放大器的同相输入端用于输入基准电压源，所述第一放大器的反相输入端分别与所述第一电阻的第一端及所述第一滑动电阻的第一端电连接，所述第一放大器的输出端分别与第一电阻的第二端、所述第一电容的第一端及模拟电源输出端电连接，所述第一滑动电阻的第二端接地，所述第一电容的第二端接地。7.一种光学检测控制方法，其特征在于，包括权利要求1
‑
6任一项所述的一种光学检测控制电路，所述一种光学检测控制方法包括：光学检测控制电路与红外led电连接，控制红外led曝光；通过所述感光图像阵列采集图像信息；将所述图像信息的模拟信号转换成数字信号；对所述数字信号进行图像处理；接收图像处理结果实现光学移动检测；依据所述图像处理结果进行方向识别感应。
8.根据权利要求7所述的一种光学检测控制方法，其特征在于，所述一种光学检测控制方法还包括：获取所述感光图像阵列的图像转化数值；依据所述图像转化数值实现近距离感应。9.根据权利要求8所述的一种光学检测控制方法，其特征在于，所述一种光学检测控制方法还包括：依据所述感光图像阵列实现环境光检测。10.根据权利要求7所述的一种光学检测控制方法，其特征在于，所述对所述数字信号进行图像处理包括：通过高斯图像滤波方式，将第一幅n*m的图像进行滤波处理成(n
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1)*(m
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1)图像；通过高斯图像滤波方式，将第二幅n*m的图像进行滤波处理成(n
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1)*(m
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1)图像；将处理后的所述第一幅n*m的图像及所述第二幅n*m的图像通过lucas
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kanade光流算法，获取(vx,vy)；将(vx,vy)进行n次结果平滑处理；通过fifo(先进先出)的方式，每次将fifo里的类容进行累加在除以n后将结果存储到控制寄存器模块。

技术总结
本发明公开了一种光学检测控制电路及控制方法，包括：电源管理模块、控制寄存器模块、时钟发生器、感光图像阵列、模数转换模块、图像处理模块、方向识别模块、接口处理模块以及LED恒流驱动模块；感光图像阵列分别与模数转换模块及时钟发生器电连接；时钟发生器、模数转换模块、图像处理模块及方向识别模块分别与控制寄存器模块电连接；电源管理模块与电源输入端及地端电连接，控制寄存器模块分别与串行数据端、串行时钟端及信号输出端电连接。本发明集成度高，通过时序控制采集图像，分析处理感光图像变化，能集中实现光学移动、方向识别、近距离感应及环境光检测功能，降低了电路功耗，节省了外围应用成本，提高了电路可靠性。提高了电路可靠性。提高了电路可靠性。


技术研发人员：钟永红 唐忠元
受保护的技术使用者：深圳市国芯晟科技有限公司
技术研发日：2021.08.25
技术公布日：2021/10/26