储存器件及其控制方法与流程

关联申请

本申请享受以日本专利申请2019-169218号(申请日：2019年9月18日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包括基础申请的全部内容。

实施方式主要涉及储存器件及其控制方法。

背景技术：

作为储存器件的一例，存在磁盘装置。磁盘装置向圆盘状的磁盘写入数据。

技术实现要素：

实施方式提供能够抑制写入速度的下降的储存器件及其控制方法。

实施方式的储存器件包括存储介质和控制数据相对于存储介质的读出及写入的控制器。控制器在数据的写入时，检测表示在数据的写入目的地的周边已记录的周边数据所受的影响度的写入偏离轨道量比阈值大的写入偏离轨道，在检测到写入偏离轨道的情况下，中断数据的写入，在写入偏离轨道量为阈值以下的情况下，计算写入速度的下降量和表示写入偏离轨道的程度的程度值中的至少一方，基于下降量和程度值中的至少一方来变更阈值。

附图说明

图1是示出第1实施方式的储存器件的构成的一例的框图。

图2是示出第1实施方式的储存器件的写入时的处理的一例的流程图。

图3是示出第2实施方式的储存器件的构成的一例的框图。

图4是示出第2实施方式的储存器件的写入时的处理的一例的流程图。

图5是示出第3实施方式的储存器件的构成的一例的框图。

图6是示出第3实施方式的储存器件的写入时的处理的一例的流程图。

图7是示出第4实施方式的储存器件的构成的一例的框图。

图8是示出第4实施方式的储存器件的写入时的处理的一例的流程图。

具体实施方式

以下，参照附图来对本实施方式进行具体说明。此外，在以下的说明中，关于实质上相同的构成要素及功能，标注同一标号，根据需要而进行说明。

以下，以储存器件是磁盘装置的情况为例来进行说明，但储存器件也可以是例如光盘装置等。

(第1实施方式)

图1是示出第1实施方式的磁盘装置1a的构成的一例的框图。

磁盘装置1a具备盘部2、控制器3及振动/冲击传感器4。磁盘装置1a与例如信息处理装置等主机装置5以能够通信的方式连接。

盘部2具备磁盘6、主轴马达(以下，称作“spm”)7、磁头8、音圈马达(以下，称作“vcm”)9、前置放大器10。

控制器3具备处理器11、r/w(读出/写入)通道12、硬盘控制器(以下，称作“hdc”)13、伺服组合(以下，称作“svc”)14、存储器15。

前置放大器10与r/w通道12由多个信号线16连接。

处理器11、r/w通道12、hdc13由片上系统以单芯片的形式形成。

磁盘6例如具有形成为圆盘状且由非磁性体构成的基板。在基板的各表面，按照记载的顺序层叠有作为基底层的由具有软磁特性的材料构成的软磁性层、位于软磁性层的上层部的相对于盘面在垂直方向上具有磁各向异性的磁记录层及保护膜层。

磁盘6固定于spm7。磁盘6通过spm7旋转而以预定的速度旋转。在第1实施方式中，设置于spm7的磁盘6的片数设为多片。然而，设置于spm7的磁盘6的片数只要是1片以上即可。spm7由从svc14供给的驱动电流(或驱动电压)驱动。

磁头8在顶端部具备滑块17。滑块17具备写入(记录)头17w及读出(再生)头17r。磁头8根据磁盘6的片数而设置多个。

写入头17w将写入信号向磁盘6的轨道写入。

读出头17r从磁盘6的轨道读出读出信号。

vcm9将在顶端部具备磁头8的致动器支撑为转动自如。vcm9按照控制器3的控制而使致动器转动。由此，磁头8向磁盘6的期望的轨道上移动，并被定位。vcm9由从svc14供给的驱动电流(或驱动电压)驱动。

前置放大器10将与从r/w通道12供给的数据相应的写入信号(写入电流)向写入头17w供给。另外，前置放大器10将从读出头17r输出的读出信号放大并向r/w通道12发送。

处理器11是磁盘装置1a的主控制器，执行盘部2的读出/写入动作的控制及磁头8的定位所需的伺服控制。作为处理器11，例如使用cpu(centralprocessingunit：中央处理单元)或mpu(microprocessorunit：微处理器单元)。

r/w通道12是处理与读出/写入相关联的信号的信号处理电路。r/w通道12包括执行读出数据的信号处理的读出通道和执行写入数据的信号处理的写入通道。r/w通道12将读出信号变换及解调为数字数据。r/w通道12将从hdc13传送的数字数据编码而生成写入信号，将写入信号向前置放大器10传送。

hdc13构成磁盘装置1a与主机装置5的接口，执行读出数据及写入数据的传送控制。即，hdc13作为接收从主机装置5传送的信号且向主机装置5传送信号的主机接口控制器来发挥功能。

hdc13在向主机装置5传送读出数据的情况下，按照处理器11而执行由磁头8读出并解调后的读出数据的错误订正(纠错)处理。另外，hdc13接收从主机装置5传送的指令(写入指令、读出指令等)，将接收到的指令向处理器11发送。

svc14按照处理器11的控制来控制spm7和vcm9的驱动。通过spm7和vcm9驱动，磁头8被置于磁盘6上的目标轨道。

存储器15例如可以设为包括作为非易失性存储器的rom(readonlymemory：只读存储器)及作为易失性存储器的ram(randomaccessmemory：随机存取存储器)。存储器15例如存储处理器11的处理所需的程序151、参数152、数据153、软件154。

在第1实施方式中，处理器11例如作为目标位置计算部18、头位置计算部19、误差位置计算部20、传感器输出值计算部21、写入偏离轨道(写入离轨)检测部22、写入速度计算部23、检测限制目标计算部24、检测限制变更部25来发挥功能。

此外，目标位置计算部18、头位置计算部19、误差位置计算部20、传感器输出值计算部21、写入偏离轨道检测部22、写入速度计算部23、检测限制目标计算部24、检测限制变更部25中的至少一部分可以由电子电路实现，也可以通过处理器11执行存储于存储器15的软件154来实现。目标位置计算部18、头位置计算部19、误差位置计算部20、传感器输出值计算部21、写入偏离轨道检测部22、写入速度计算部23、检测限制目标计算部24、检测限制变更部25中的至少一部分还可以由与处理器11不同的构成要素实现。

目标位置计算部18基于轨道和与该轨道相邻的轨道的间距来计算轨道的写入目标位置。轨道在微观上以在周向上划分出的扇区为单位来接受记录。

头位置计算部19基于由读出头17r读出的读出信号中包含的伺服读出信号来计算写入头17w的位置。

误差位置计算部20基于写入目标位置和写入头17w的位置，针对轨道的各扇区来计算定位误差。

振动/冲击传感器4利用压电效应、静电容量变化或其他手段来检测传感器内部的可动质量块的姿势变化，将检测结果变换为电信号，将电信号向传感器输出值计算部21发送。此外，振动/冲击传感器4也可以设为盘部2的一部分，或者，还可以设为控制器3的一部分。

传感器输出值计算部21接收来自振动/冲击传感器4的电信号，若有需要则对电信号执行滤波处理/积分处理或其他处理，将电信号变换为数值。

写入偏离轨道检测部22将写入偏离轨道量与检测限制进行比较，在写入偏离轨道量比检测限制大的情况下，中断写入。此外，根据安装，写入偏离轨道检测部22也可以在写入偏离轨道量为检测限制以上的情况下中断写入。

在第1实施方式中，写入偏离轨道量例如设为表示在向磁盘6写入数据的情况下在该数据的写入目的地的周边写入的周边数据所受的影响度的值。更具体而言，写入偏离轨道量设为将破坏在数据的写入目的地的周边写入的周边数据的风险定量化而得到的量。作为写入偏离轨道量，例如可以使用定位误差量或传感器输出值等，也可以使用其他值。

在第1实施方式中，检测限制设为为了基于写入偏离轨道量来判定/检测写入偏离轨道而使用的基准量。换言之，检测限制是阈值。

写入偏离轨道量比检测限制大的状态也可以仅记为写入偏离轨道。写入偏离轨道量与检测限制的比较可以是破坏周边数据的风险被定量化而得到的量中的1个与检测限制的1个的比较，也可以是多个写入偏离轨道量与多个检测限制的比较。

在第1实施方式的磁盘装置1a中进行数据的写入时，磁盘装置1首先使写入头17w向写入最初的数据的写入对象扇区移动。接着，误差位置计算部20基于伺服信号的解调结果来计算写入头17w相对于目标位置的定位误差。接着，写入偏离轨道检测部22在写入偏离轨道量比检测限制大的情况下，中断写入，进行旋转等待直到该扇区下次出现在写入头17w的下方为止，再次尝试进行写入。在写入偏离轨道量为检测限制以下的情况下，磁盘装置1a在残留有要写入的数据的情况下，更新要写入的数据并再次进行写入。在写入偏离轨道量为检测限制以下且未残留要写入的数据的情况下，磁盘装置1a结束写入。

如上所述，磁盘装置1a在数据写入中的写入偏离轨道量超过了检测限制的情况下，中断写入。在第1实施方式的磁盘装置1a中，为了该中断动作而使用的检测限制在出货后的实际动作环境内动态地设定。此外，检测限制的可变范围的上限及下限例如也可以在磁盘装置1a的设计时或制造工序中设定。磁盘装置1a通过写入的中断动作而使由写入的旋转等待引起的写入速度下降与相邻记录的品质下降风险的平衡最佳化。

为了这样的最佳化，第1实施方式的磁盘装置1a具备写入偏离轨道检测部22并且具备写入速度计算部23、检测限制目标计算部24、检测限制变更部25。

写入速度计算部23关于直到当前的写入时间点为止写入的扇区，基于当前的写入时间点下的检测限制下的写入偏离轨道频度来计算写入速度的下降量。在此，写入速度意味着写入动作的每单位时间的效率，例如可以设为每单位时间的写入传送量(单位mib/s)，或者也可以设为每单位时间处理好的写入要求数(单位iops)。此外，也可以取代写入速度或与写入速度一起使用其他的表示写入性能的值。

检测限制目标计算部24基于计算出的写入速度的下降量和表示向磁盘装置1a要求的写入速度的目标值来计算应该新设定的检测限制(以下，称作“检测限制目标”)。具体而言，检测限制目标计算部24以使写入速度的下降量成为容许范围内的方式计算检测限制目标。

检测限制变更部25使用计算出的检测限制目标来变更检测限制。

由此，能够将在写入偏离轨道检测中利用的检测限制在用户容许的写入速度的范围内缩小，能够提高读写品质。

进一步详细地说明第1实施方式。

写入速度计算部23首先对每写入尝试进行次数的写入偏离轨道检测产生次数进行计数，通过计算写入尝试进行次数与写入偏离轨道检测产生次数之比来实时地计算写入偏离轨道频度。

次数的单位可以是写入范围的通过伺服扇区数，或者也可以是成为了写入对象的数据扇区数。

写入偏离轨道频度的管理范围可以是在磁盘装置1a内能够使用的用户区域全范围，也可以是按各磁头8，还可以是磁头8和该磁头8所负责的存储介质面的半径区域。

写入偏离轨道频度例如是通过将设定的期间的写入偏离轨道检测产生次数除以写入的尝试进行次数而求出的写入偏离轨道的产生频度。

检测限制目标计算部24首先基于写入速度计算部23的计算结果来判断写入偏离轨道频度是否满足预先规定的容许的写入速度下降界限dlimit。

在写入偏离轨道频度是p时，写入速度的实际下降量dr使用平均旋转等待时间sr及平均伺服采样周期ss而例如通过下述的(1)式来计算。

在实际下降量dr低于容许界限dlimit的情况下，能够紧缩检测限制目标。于是，检测限制目标计算部24对当前的写入时间点下的检测限制thr计算紧缩后的新的检测限制目标thtarget。新的检测限制目标thtarget使用容许界限dlimit与写入速度的实际下降量dr之差、写入时间点下的检测限制thr及例如在比例控制中适当的比例系数k而通过下述的(2)式来逐次计算、更新。

thtarget＝k(dr-dlimit) thr…(2)

在检测限制变更部25中，使用由检测限制目标计算部24计算出的检测限制目标thtarget来变更在以后的写入中的写入偏离轨道检测中使用的检测限制thr。

图2是示出第1实施方式的磁盘装置1a的写入时的处理的一例的流程图。

在步骤s201中，磁盘装置1a将写入头17w移动到写入对象扇区的位置。

在步骤s202中，误差位置计算部20和传感器输出值计算部21中的至少1个计算写入偏离轨道量。

在步骤s203中，写入偏离轨道检测部22判断写入偏离轨道量是否比检测限制大。

在写入偏离轨道量比检测限制大的情况下，在步骤s204中，写入偏离轨道检测部22中断写入，在步骤s205中，写入偏离轨道检测部22进行旋转等待并再次尝试进行写入。之后，处理向步骤s202移动。

在写入偏离轨道量为检测限制以下的情况下，在步骤s206中，写入速度计算部23基于写入偏离轨道频度来计算写入速度的下降量。

在步骤s207中，检测限制目标计算部24以使计算出的写入速度的下降量成为容许范围的方式计算检测限制目标。

在步骤s208中，检测限制变更部25基于检测限制目标来变更检测限制。

在步骤s209中，磁盘装置1a判断是否残留有要写入的数据。

在未残留要写入的数据的情况下，处理结束。

在残留有要写入的数据的情况下，在步骤s210中，磁盘装置1a更新要写入的数据并再次进行写入。

将以上说明的第1实施方式的磁盘装置1a的效果通过与比较例1、2对比来说明。

在记录密度高的磁盘装置1a中，使用写入偏离轨道检测部22。写入偏离轨道检测部22在写入中以解调伺服信号而计算出的定位误差量或振动/冲击传感器4的输出值为代表的写入偏离轨道量超过了检测限制的情况下，中断写入。由此，在向磁盘6写入数据的情况下，能够抑制对已经写入到相邻记录轨道的数据产生由过干涉引起的非意图的擦除，防止写入品质下降。

在比较例1、2中，设想由写入偏离轨道检测部22使用的检测限制在磁盘装置的设计时或制造工序中设定且之后不被变更的情况。

在比较例1中，检测限制根据磁盘装置的设计所容许的读写品质和设想的最大干扰输入而在设计时或制造工序中调整。例如，在比较例1中，对于在由磁盘装置的规格及客户规格确定的最大的干扰施加环境下产生的定位误差的产生概率分布，根据在该环境下容许的写入速度的下降界限来推断容许产生的写入中断的频度。然后，对于定位误差概率分布，计算成为容许的写入中断的频度的检测限制，对磁盘装置预先设定检测限制。

在比较例2中，根据针对各磁盘装置实测出的读写品质、在制造工序的环境下测定到的定位误差或振动/冲击传感器4的输出值的产生概率分布来计算能够容许的记录定位误差量。并且，在比较例2中，以使能够容许的记录定位误差量以上的偏离轨道中断的方式，在制造工序中预先设定检测限制。

在这样的比较例1、2中设定的检测限制相对于实际设置磁盘装置的各环境未必被最佳化。例如，若装配磁盘装置的储存服务器的设置状态不同，则合适的检测限制也不同。另外，根据储存服务器内的插入槽与以冷却储存服务器的风扇为代表的振动源的位置关系，有时对设置的磁盘装置产生的振动会产生差异，在磁盘装置间合适的检测限制不同。因而，若如比较例1、2这样在设计时或制造工序中固定地设定检测限制，则有时由伴随于写入中断的写入的旋转等待引起的写入速度下降与由不实施写入中断引起的相邻记录的品质下降风险的平衡不合适。

相对于此，在第1实施方式中，能够在满足要求的写入速度的范围内变更检测限制。更具体而言，在第1实施方式的磁盘装置1a中，能够在确保由伴随于写入中断的实施的写入的旋转等待引起的写入速度下降与由不实施写入中断引起的相邻记录的品质下降的平衡的范围内，按照出货后的动作状态而动态地使检测限制最佳化。

因此，在第1实施方式中，关于实时地检测写入偏离轨道量变得比检测限制大并中断写入序列的写入偏离轨道检测，能够减少写入中断机会而抑制写入速度的下降，并且提高写入品质。

(第2实施方式)

第2实施方式是上述第1实施方式的变形例，取代上述第1实施方式的写入速度的下降量而使用表示写入偏离轨道的程度的写入偏离轨道程度值。此外，第2实施方式能够与上述的第1实施方式组合而应用。

图3是示出第2实施方式的磁盘装置1b的构成的一例的框图。关于在该图3中由处理器11实现的功能，仅记载了与在图1中由处理器11实现的功能不同的部分，省略了同样的部分。

磁盘装置1b的处理器11作为写入偏离轨道程度计算部26、检测限制目标计算部24b来发挥功能。这些写入偏离轨道程度计算部26、检测限制目标计算部24b取代第1实施方式的写入速度计算部23、检测限制目标计算部24而利用。此外，写入偏离轨道程度计算部26、检测限制目标计算部24b中的至少一部分可以由电子电路实现，也可以通过处理器11执行存储于存储器15的软件154b来实现。写入偏离轨道程度计算部26、检测限制目标计算部24b中的至少一部分还可以由与处理器11不同的构成要素实现。

写入偏离轨道程度计算部154b在写入偏离轨道量为检测限制以下的情况下，根据写入中的写入偏离轨道量而实时地计算写入偏离轨道程度值。写入偏离轨道程度值例如可以设为某期间中的写入中的写入偏离轨道量的标准偏差。在针对通过的各伺服帧来观测写入中的写入偏离轨道量的情况下，例如由下述的(3)式计算。

检测限制目标计算部24b例如使用作为写入偏离轨道程度值而由写入偏离轨道程度计算部26计算出的某期间的写入偏离轨道量的标准偏差σn和当前的检测限制thr来计算检测限制目标。例如，检测限制目标计算部24b通过下述的(4)式来逐次计算检测限制目标thtarget。

thtarget＝g·k·σn (1-g)thr…(4)

在此，g是更新增益，防止急剧的检测限制的变动。

此外，检测限制目标计算部24b也可以以使计算出的写入偏离轨道程度值成为容许范围内的方式计算检测限制目标。

检测限制变更部25以在以后的写入中的写入偏离轨道检测中使用由检测限制目标计算部24b计算出的检测限制目标thtarget的方式变更检测限制。

图4是示出第2实施方式的磁盘装置1b的写入时的处理的一例的流程图。

步骤s401～步骤s405与上述的步骤s201～步骤s205是同样的。

在步骤s403中判断为写入偏离轨道量为检测限制以下的情况下，在步骤s406中，写入偏离轨道程度计算部26计算写入偏离轨道程度值。

在步骤s407中，检测限制目标计算部24b基于写入偏离轨道程度值和检测限制来计算检测限制目标。

之后的步骤s408～步骤s410与上述的步骤s208～步骤s210是同样的。

在以上说明的第2实施方式中，能够根据写入偏离轨道的程度而在满足要求的写入速度的范围内变更检测限制。更具体而言，在第2实施方式中，能够根据写入偏离轨道的程度而动态地使检测限制最佳化，关于写入偏离轨道检测，能够减少写入中断机会而抑制写入速度的下降，并且提高写入品质。

(第3实施方式)

第3实施方式是上述第1实施方式及第2实施方式的变形例，使用读写品质的计算值来进行检测限制的变更。第3实施方式能够与上述的第1实施方式和第2实施方式中的至少一方组合而应用。

图5是示出第3实施方式的磁盘装置1c的构成的一例的框图。关于在该图5中由处理器11实现的功能，仅记载了与在图1中由处理器11实现的功能不同的部分，省略了同样的部分。

磁盘装置1c的处理器11作为读写品质计算部27来发挥功能。

而且，处理器11作为速度/程度计算部28、检测限制目标计算部24c来发挥功能。这些速度/程度计算部28、检测限制目标计算部24c取代第1实施方式的写入速度计算部23、检测限制目标计算部24而利用。

此外，读写品质计算部27、速度/程度计算部28、检测限制目标计算部24c中的至少一部分可以由电子电路实现，也可以通过处理器11执行存储于存储器15的软件154c来实现。读写品质计算部27、速度/程度计算部28、检测限制目标计算部24c中的至少一部分还可以由与处理器11不同的构成要素实现。

读写品质计算部27在检测到写入偏离轨道而产生了写入中断的情况下，例如计算表示写入中断的产生位置(例如扇区)有可能引起了过干涉的周边扇区的一部分或全部的读写品质的读写品质值。作为表示读写品质的指标，例如使用位错误率(误比特率)或snr(signal-to-noiseratio：信噪比)等。

速度/程度计算部28在写入偏离轨道量为检测限制以下的情况下，计算在上述第1实施方式中说明的写入速度的下降量，并且计算在上述第2实施方式中说明的写入偏离轨道程度值。

检测限制目标计算部24c基于写入速度的下降量和写入偏离轨道程度值来计算检测限制目标。例如，检测限制目标计算部24c可以选择基于写入速度的下降量计算出的第1检测限制目标和基于写入偏离轨道程度值计算出的第2检测限制目标中的任一方(较大的一方或较小的一方)。例如，检测限制目标计算部24c也可以将基于第1检测限制目标和第2检测限制目标的计算值(例如平均值)设为检测限制目标。

而且，在第3实施方式中，检测限制目标计算部24c将读写品质引入检测限制目标的计算。检测限制目标计算部24c将表示应该保证的读写品质的品质基准与通过计算而得到的读写品质值进行比较，求出检测限制目标。品质基准例如可以是预先确定的值。

具体而言，检测限制目标计算部24c在读写品质值相对于品质基准而余裕小的情况下(例如，在余裕为预定值以下的情况下)，缩小检测限制。相反，检测限制目标计算部24c在读写品质值相对于品质基准而余裕大的情况下(例如，在余裕比预定值大的情况下)，扩大检测限制。换言之，检测限制目标计算部24c例如在写入偏离轨道量比检测限制大、产生了写入中断的扇区及其相邻的扇区的读写品质值比预先设定的品质基准高的情况下(例如，在读写品质值比品质基准高的情况下)，停止检测限制的缩紧。相反，检测限制目标计算部24c在读写品质值比预先设定的品质基准低的情况下(例如，在读写品质值为品质基准以下的情况下)，停止检测限制的放宽。

检测限制变更部25使用由检测限制目标计算部24c计算出的检测限制目标来变更在以后的写入中使用的检测限制。

图6是示出第3实施方式的磁盘装置1c的写入时的处理的一例的流程图。

步骤s601～步骤s604与上述的步骤s201～步骤s204是同样的。

在步骤s605中，读写品质计算部27在检测到写入偏离轨道而产生了写入中断的情况下，计算读写品质值。之后，在步骤s606中，写入偏离轨道检测部22执行旋转等待，再次尝试进行写入，处理向步骤s602移动。

在步骤s603中判断为写入偏离轨道量为检测限制以下的情况下，在步骤s607中，速度/程度计算部28计算写入速度的下降量和写入偏离轨道程度值。

在步骤s608中，检测限制目标计算部24c基于写入速度的下降量、写入偏离轨道程度值、读写品质值、品质基准来计算检测限制目标。

之后的步骤s609～步骤s611与上述的步骤s208～步骤s210是同样的。

在以上说明的第3实施方式中，能够根据产生了写入的中断的位置的周边的读写品质而在满足要求的写入速度的范围内变更检测限制。更具体而言，在第3实施方式中，能够根据产生了写入的中断的位置的周边的读写品质而动态地使检测限制最佳化，关于写入偏离轨道检测，能够减少写入中断机会而抑制写入速度的下降，并且提高写入品质。

(第4实施方式)

第4实施方式对上述第1～第3实施方式设定检测限制的可变范围(换言之，检测限制的上限及下限)。在第4实施方式中，以对第1实施方式设定检测限制的可变范围的情况为例来进行说明，但对第2或第3实施方式设定检测限制的可变范围的情况也是同样。

图7是示出第4实施方式的磁盘装置1d的构成的一例的框图。关于在该图7中由处理器11实现的功能，仅记载了与在图1中由处理器11实现的功能不同的部分，省略了同样的部分。

磁盘装置1d的处理器11作为检测限制变更部25d来发挥功能。该检测限制变更部25d取代第1实施方式的检测限制变更部25而利用。此外，检测限制变更部25d中的至少一部分可以由电子电路实现，也可以通过处理器11执行存储于存储器15的软件154d来实现。检测限制变更部25d的至少一部分还可以由与处理器11不同的构成要素实现。

检测限制变更部25d在检测限制目标被计算出的情况下，判断检测限制目标是否在可变范围内。

检测限制变更部25d在检测限制目标为可变范围内的情况下，使用检测限制目标来变更检测限制。

检测限制变更部25d在检测限制目标不在可变范围内的情况下，在检测限制的可变范围内变更检测限制。

在第4实施方式中，检测限制的可变范围也可以在磁盘装置1d的设计时或制造工序中设定。

图8是示出第4实施方式的磁盘装置1d的写入时的处理的一例的流程图。

步骤s801～步骤s807与上述的步骤s201～步骤s207是同样的。

在步骤s808中，检测限制变更部25d在检测限制目标被计算出的情况下，判断检测限制目标是否为可变范围内。

在检测限制目标不为可变范围内的情况下，在步骤s809中，在可变范围内变更检测限制目标。之后，处理向步骤s810移动。

在检测限制目标为可变范围内的情况下，在步骤s810中，检测限制变更部25d使用检测限制目标来变更检测限制。

步骤s811及步骤s812与上述的步骤s209及步骤s210是同样的。

在以上说明的第4实施方式中，能够动态地使检测限制在预先设定的可变范围内最佳化，关于写入偏离轨道检测，能够减少写入中断机会而抑制写入速度的下降，并且提高写入品质。

虽然说明了本发明的几个实施方式，但这些实施方式作为例子而展示，并非意在限定发明的范围。这些新颖的实施方式能够以其他各种各样的方式来实施，能够在不脱离发明的主旨的范围内进行各种省略、置换、变更。这些实施方式及其变形包含于发明的范围、主旨，并且包含于权利要求书所记载的发明及其等同的范围。