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一种调整介质承载组件的方法和装置与流程

2021-08-24 16:06:00 来源:中国专利 TAG:介质 承载 组件 调整 位移
一种调整介质承载组件的方法和装置与流程

本发明涉及位移控制技术领域,特别是涉及一种调整介质承载组件的方法和一种调整介质承载组件的装置。



背景技术:

如图1所示,容器收取介质时,收纳组件101高速转动将介质带入容器,介质掉落至介质承载组件102上,随着介质承载组件102上的介质越来越多,传动机构103带动介质承载组件102逐渐下移,为后续的介质提供空间,同时通过位置检测组件104实时获取介质承载组件102的位置,以控制介质承载组件102的移动。

然而,若介质承载组件每次移动量不固定,则介质在容器内的飘落形态不固定,介质飘落形态不固定极易出现收纳混乱的情况。



技术实现要素:

鉴于上述问题,提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种调整介质承载组件的方法和相应的一种调整介质承载组件的装置,通过fpga的运算与控制技术,解决了当介质承载组件每次移动量不固定导致介质飘落形态不固定,从而造成收纳混乱的问题。

为了解决上述问题,本发明实施例公开了一种调整介质承载组件的方法,包括容器本体;所述容器内部设置有介质承载组件;所述的方法包括:

当预设介质承载组件上存在介质时,检测放置在所述介质承载组件上的所述介质的介质张数;

获取预设的所述介质承载组件的单位位移量;

根据所述介质张数和所述单位位移量计算所述介质承载组件的位移速度;

根据所述介质承载组件的位移速度和所述单位位移量计算位移时间;

按照所述位移时间控制所述介质承载组件移动。

可选地,所述根据所述介质张数和所述单位位移量计算所述介质承载组件的位移速度的步骤,包括:

当所述介质承载组件空载时,计算所述介质承载组件移动所述单位位移量所需的空载耗时;

采用所述介质张数、所述单位位移量和所述空载耗时,计算所述介质承载组件的位移速度。

可选地,所述计算所述介质承载组件位移所述单位位移量所需的空载耗时的子步骤,进一步包括:

当介质承载组件移动时,计算预设起始位检测组件生成起始遮挡信号的起始时间点;

计算预设终止位检测组件生成终止遮挡信号的终止时间点;

计算所述起始时间点和所述终止时间点之间的相对时长;

计算所述介质承载组件在所述起始位和所述终止位之间的相对位移量;

采用所述相对位移量和所述相对时长,计算所述介质承载组件移动所述单位位移量所需的空载耗时。

可选地,所述容器设置有限位检测组件;所述的方法还包括:

当所述限位检测组件生成限位遮挡信号时,停止移动所述介质承载组件。

本发明实施例还公开了一种调整介质承载组件的装置,所述的装置包括:

介质张数检测模块,用于当预设介质承载组件上存在介质时,检测放置在所述介质承载组件上的所述介质的介质张数;

单位位移量获取模块,用于获取预设的所述介质承载组件的单位位移量;

位移速度计算模块,用于根据所述介质张数和所述单位位移量计算所述介质承载组件的位移速度;

位移时间计算模块,用于根据所述介质承载组件的位移速度和所述单位位移量计算位移时间;

移动控制模块,用于按照所述位移时间控制所述介质承载组件移动。

可选地,所述位移速度计算模块,包括:

空载耗时计算子模块,用于当所述介质承载组件空载时,计算所述介质承载组件移动所述单位位移量所需的空载耗时;

位移速度计算子模块,用于采用所述介质张数、所述单位位移量和所述空载耗时,计算所述介质承载组件的位移速度。

可选地,所述空载耗时计算子模块,包括:

起始时间点计算单元,用于当介质承载组件移动时,计算预设起始位检测组件生成起始遮挡信号的起始时间点;

终止时间点计算单元,用于计算预设终止位检测组件生成终止遮挡信号的终止时间点;

相对时长计算单元,用于计算所述起始时间点和所述终止时间点之间的相对时长;

相对位移量计算单元,用于计算所述介质承载组件在所述起始位和所述终止位之间的相对位移量;

空载耗时计算单元,用于采用所述相对位移量和所述相对时长,计算所述介质承载组件移动所述单位位移量所需的空载耗时。

可选地,所述的装置还包括:

停止控制模块,用于当预设限位检测组件生成限位遮挡信号时,停止移动所述介质承载组件。

本发明实施例还公开了一种一种电子设备,包括存储器及处理器,所述存储器中储存有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如上任一项所述的调整介质承载组件的方法的步骤。

本发明实施例还公开了计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上任一项所述的调整介质承载组件的方法。

本发明实施例包括以下优点:本发明实施例首先统计介质承载组件上存在的介质张数,再通过介质张数以及预设的介质承载组件的单位位移量来计算不同介质张数下介质承载组件移动单位位移量的移动速度,进而计算出不同介质张数下介质承载组件移动单位位移量的位移时间,并根据位移时间调整介质承载组件。通过本发明实施例,可以保证介质承载组件每次移动的位移量一致,从而避免了介质承载组件每次移动量不固定而导致的收纳混乱的情况。

附图说明

图1是本发明的一种容器内介质承载组件移动的结构示意图;

图2是本发明的一种调整介质承载组件的方法实施例的步骤流程图;

图3是本发明的一种调整介质承载组件的方法实施例的步骤流程图;

图4是本发明的一种通过检测组件检测位置的结构示意图;

图5是本发明的一种调整介质承载组件的装置实施例的结构框图;

图6示意性地示出了用于执行根据本发明的方法的电子设备的框图;

图7示意性地示出了用于保持或者携带实现根据本发明的方法的程序代码的存储单元。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

本发明实施例的核心构思之一在于,通过统计介质承载组件上存在的介质张数,以介质张数以及预设的介质承载组件的单位位移量来计算不同介质张数下介质承载组件移动单位位移量的移动速度,进而计算出不同介质张数下介质承载组件移动单位位移量的位移时间,并根据位移时间调整介质承载组件。通过本发明实施例,可以保证介质承载组件每次移动的位移量一致,从而避免了介质承载组件每次移动量不固定而导致的收纳混乱的情况。

参照图2,示出了本发明的一种调整介质承载组件的方法实施例的步骤流程图,包括容器本体;所述容器内部设置有介质承载组件;其中,本发明实施例所涉及的容器为可存储介质的容器,包括但不限于存储钞票的钞箱、存储票据的票据箱等。介质承载组件可用于承载介质,可受驱动组件控制进行移动;具体可以包括如下步骤:

步骤201,当预设介质承载组件上存在介质时,检测放置在所述介质承载组件上的所述介质的介质张数;

本发明实施例所涉及的介质可以为钞票、票据等扁平片状介质。

在本发明实施例中,当介质承载组件上存在介质时,首先可以检测放置在介质承载组件上的介质张数,具体可以通过检测组件测量,例如通过使用重力传感器来检测介质承载组件上的介质重力,以根据总重力和预先测量的单张介质重力测算介质承载组件上的介质的数量。

步骤202,获取预设的所述介质承载组件的单位位移量;

在本发明实施例中,为了了解介质承载组件上介质的张数与介质承载组件位移量的关系,还需要获取介质承载组件的位移量,在一个示例中,可以设置一个单位位移量作为参考量,以分析介质承载组件上不同的介质张数与固定位移量之间的关系。在本发明实施例中,单位位移量可以根据需要设定,例如1毫米、3毫米等。

步骤203,根据所述介质张数和所述单位位移量计算所述介质承载组件的位移速度;

在获取到介质张数和介质承载组件的单位位移量,便可以将介质张数和单位位移量代入预设的计算公式中,从而计算出不同介质张数下介质承载组件移动相同位移量的位移速度。

步骤204,根据所述介质承载组件的位移速度和所述单位位移量计算位移时间;

在计算得到介质承载组件的位移速度后,便可以求取介质承载组件的单位位移量和对应的位移速度的商,从而得到介质承载组件在不同介质张数下移动相同的位移量分别需要的时间。

步骤205,按照所述位移时间控制所述介质承载组件移动。

在得到位移时间后,可以保存介质张数与位移时间的对应关系,在介质承载组件需要移动固定位移量时,根据该对应关系,在容器中控制介质承载组件进行移动。

本发明实施例首先统计介质承载组件上存在的介质张数,再通过介质张数以及预设的介质承载组件的单位位移量来计算不同介质张数下介质承载组件移动单位位移量的移动速度,进而计算出不同介质张数下介质承载组件移动单位位移量的位移时间,并根据位移时间调整介质承载组件。通过本发明实施例,可以保证介质承载组件每次移动的位移量一致,从而避免了介质承载组件每次移动量不固定而导致的收纳混乱的情况。

参照图3,示出了本发明的一种调整介质承载组件的方法实施例的步骤流程图,具体可以包括如下步骤:

步骤301,当预设介质承载组件上存在介质时,检测放置在所述介质承载组件上的所述介质的介质张数;

在本发明实施例中,当介质承载组件上存在介质时,首先需要检测放置在介质承载组件上的介质张数,具体可以通过检测组件测量,例如通过使用重力传感器来检测介质承载组件上的介质重力,根据介质承载组件上的介质总重力和预先测算的单张介质重力测算介质承载组件上的介质的数量。

步骤302,获取预设的所述介质承载组件的单位位移量;

在本发明实施例中,为了了解介质承载组件上介质的张数与介质承载组件位移量的关系,还需要获取介质承载组件的位移量,在一个示例中,可以设置一个单位位移量作为参考量,以分析介质承载组件上不同的介质张数与固定位移量之间的关系。在本发明实施例中,单位位移量可以根据需要设定,例如1毫米、3毫米等。

步骤303,根据所述介质张数和所述单位位移量计算所述介质承载组件的位移速度;

在获取到介质张数和介质承载组件的单位位移量,便可以将介质张数和单位位移量代入预设的计算公式:

vn=sunit/(tunit±(32*n/1000))

其中,

vn:介质承载组件上有存在n张纸币时移动单位位移量的平均速度;

sunit:单位位移量;

tunit:单位位移空载耗时;

n:介质承载组件放置的标准介质的张数;

从而计算出不同介质张数下介质承载组件移动相同位移量的位移速度。

由上述公式可知,在本发明实施例中,还需要计算介质承载组件移动单位位移量的空载耗时。因此,在本发明实施例中,步骤303可以包括以下子步骤:

s11,当所述介质承载组件空载时,计算所述介质承载组件移动所述单位位移量所需的空载耗时;

当介质承载组件空载时,可以计算介质承载组件移动单位位移量所需的空载耗时,空载耗时可以通过检测组件检测介质承载组件在空载时移动一定位移量所需的时长得到。

在一个示例中,所述容器中设置有起始位检测组件和终止位检测组件;所述起始位检测组件用于检测起始位的遮挡情况;所述终止位检测组件用于检测终止位的遮挡情况;在一个示例中,起始位检测组件和终止位检测组件可以为传感器;子步骤s11还可以进一步包括:

s111,当介质承载组件移动时,计算所述起始位检测组件生成起始遮挡信号的起始时间点;

s112,计算所述终止位检测组件生成终止遮挡信号的终止时间点;

在本发明实施例中,起始位和终止位可以处在介质承载组件的移动轨迹上,具体处于移动轨迹的哪一个位置不做具体限制。

在本发明的一个示例中,起始位检测组件和终止位检测组件可以为红外线传感器,分别用于检测介质承载组件移动轨迹上的起始位和终止位的遮挡情况。方法是通过向介质承载组件的轨迹发送红外线来进行检测。其红外线的发射方向均与介质承载组件的移动轨迹垂直。当介质承载组件移动至起始位或终止位从而对红外线的轨迹形成遮挡时,表示红外线传感器在起始位或终止位检测到介质承载组件,此时分别记录在起始位和终止位检测到遮挡信号的起始时间点和终止时间点。

s113,计算所述起始时间点和所述终止时间点之间的相对时长;

根据起始时间点和终止时间点可以计算介质承载组件在起始位和终止位之间移动的相对时长。

s114,计算所述介质承载组件在所述起始位和所述终止位之间的相对位移量;

由于介质承载组件的起始位和终止位是预设的位置,所以可以在设定时获取两个位置之间的相对位移量。

s115,采用所述相对位移量和所述相对时长,计算所述介质承载组件移动所述单位位移量所需的空载耗时。

求取相对位移量和相对时长的商,再求取所求得的商与单位位移量选取系数的积,便可以得到介质承载组件移动单位位移量所需的空载耗时。

s12,采用所述介质张数、所述单位位移量和所述空载耗时,计算所述介质承载组件的位移速度。

在获取到介质承载组件移动固定位移量的空载耗时后,将介质张数、单位位移量和空载耗时导入上述预设的计算公式中,便可以求取介质承载组件不同介质张数移动单位位移量的位移速度。

在本发明实施例中,预设的计算公式可以通过以下方式计算得到:

如图4所示,可以在容器中设置多个检测组件,每个检测组件均检测介质承载组件在容器中的移动轨迹上的一个位置,检测方向均与介质承载组件的移动轨迹垂直。具体可以包括顶部位置p1、p2,开口位置p3,将满位位置p4,满位位置p5,底部位位置p6。

选取任意两个位置点作为起始位和终止位,使得位移量固定。通过大量测试和对测试得到的数据进行分析,可得到介质承载组件的移动速度、介质张数以及固定位移量之间存在以下关系:

vn=sfix/(t0±(32*n/1000))

其中,

vn:介质承载组件上有存在n张纸币时移动选定位移量的平均速度;

±: 为上升过程,-为下降过程;

sfix:两测量点距离;

t0:空载情况下下移sfix耗时值;

n:介质承载组件放置标准介质张数;

由上述公式可知,通过选定位移量、介质张数和对应的空载耗时便可分别计算得出不同介质张数下移动相同的位移量所需的速度。

例如,选取将满位置p4和满位位置p5作为起始位和终止位,测量可知p4和p5之间的距离为35.5毫米,则sfix为35.5;同时,经过实验可知,空载耗时为410毫秒;

此时可以得到公式vn=35.5/(410±(32*n/1000))

在保持sfix和t0不变的情况下,位移速度就只与介质张数有关,因此在同一个容器内,可以根据介质的张数之间得到介质承载组件的移动速度。

对上述公式进行简化,将测量的距离看作单位位移量,空载耗时也为单位空载耗时,则可得到本发明实施例上述所提到的预设的计算公式:

vn=sunit/(tunit±(32*n/1000))

步骤304,根据所述介质承载组件的位移速度和所述单位位移量计算位移时间;

在计算得到介质承载组件的位移速度后,便可以求取介质承载组件的单位位移量和对应的位移速度的商,从而得到介质承载组件在不同介质张数下移动相同的位移量分别需要的时间。

步骤305,按照所述位移时间控制所述介质承载组件移动。

在得到位移时间后,可以保存介质张数与位移时间的对应关系,在介质承载组件需要移动固定位移量时,根据该对应关系,在容器中控制介质承载组件进行移动。

步骤306,当所述限位检测组件生成限位遮挡信号时,停止移动所述介质承载组件。

如图4所示,容器中用于检测顶部位置p1、p2和底部位置p6的检测组件是容器中的限位检测组件,当在p1、p2或p6检测到遮挡信号时,表征介质承载组件已到达上限位和下限位,已不适合继续移动,此时应停止移动介质承载组件。

本发明实施例包括以下优点:本发明实施例首先统计介质承载组件上存在的介质张数,再通过介质张数以及预设的介质承载组件的单位位移量来计算不同介质张数下介质承载组件移动单位位移量的移动速度,进而计算出不同介质张数下介质承载组件移动单位位移量的位移时间,并根据位移时间调整介质承载组件。通过本发明实施例,可以保证介质承载组件每次移动的位移量一致,从而避免了介质承载组件每次移动量不固定而导致的收纳混乱的情况。

需要说明的是,对于方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本发明实施例,某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。

参照图5,示出了本发明的一种调整介质承载组件的装置实施例的结构框图,具体可以包括如下模块:

介质张数检测模块501,用于当预设介质承载组件上存在介质时,检测放置在所述介质承载组件上的所述介质的介质张数;

单位位移量获取模块502,用于获取预设的所述介质承载组件的单位位移量;

位移速度计算模块503,用于根据所述介质张数和所述单位位移量计算所述介质承载组件的位移速度;

位移时间计算模块504,用于根据所述介质承载组件的位移速度和所述单位位移量计算位移时间;

移动控制模块505,用于按照所述位移时间控制所述介质承载组件移动。

在本发明实施例中,所述位移速度计算模块,可以包括:

空载耗时计算子模块,用于当所述介质承载组件空载时,计算所述介质承载组件移动所述单位位移量所需的空载耗时;

位移速度计算子模块,用于采用所述介质张数、所述单位位移量和所述空载耗时,计算所述介质承载组件的位移速度。

在本发明实施例中,所述空载耗时计算子模块,可以包括:

起始时间点计算单元,用于当介质承载组件移动时,计算预设起始位检测组件生成起始遮挡信号的起始时间点;

终止时间点计算单元,用于计算预设终止位检测组件生成终止遮挡信号的终止时间点;

相对时长计算单元,用于计算所述起始时间点和所述终止时间点之间的相对时长;

相对位移量计算单元,用于计算所述介质承载组件在所述起始位和所述终止位之间的相对位移量;

空载耗时计算单元,用于采用所述相对位移量和所述相对时长,计算所述介质承载组件移动所述单位位移量所需的空载耗时。

在本发明实施例中,所述容器设置有限位检测组件;所述的装置还可以包括:

停止控制模块,用于当所述限位检测组件生成限位遮挡信号时,停止移动所述介质承载组件。

对于装置实施例而言,由于其与方法实施例基本相似,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

本发明实施例还提供了一种电子设备,包括存储器及处理器,所述存储器中储存有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行本发明实施例所述的方法。

本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现本发明实施例所述的方法。

本发明的各个部件实施例可以以硬件实现,或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现,或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解,可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(dsp)来实现根据本发明实施例的计算处理设备中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如,计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上,或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到,或者在载体信号上提供,或者以任何其他形式提供。

例如,图6示出了可以实现根据本发明的方法的计算处理设备。该计算处理设备传统上包括处理器610和以存储器620形式的计算机程序产品或者计算机可读介质。存储器620可以是诸如闪存、eeprom(电可擦除可编程只读存储器)、eprom、硬盘或者rom之类的电子存储器。存储器620具有用于执行上述方法中的任何方法步骤的程序代码631的存储空间630。例如,用于程序代码的存储空间630可以包括分别用于实现上面的方法中的各种步骤的各个程序代码631。这些程序代码可以从一个或者多个计算机程序产品中读出或者写入到这一个或者多个计算机程序产品中。这些计算机程序产品包括诸如硬盘,紧致盘(cd)、存储卡或者软盘之类的程序代码载体。这样的计算机程序产品通常为如参考图7所述的便携式或者固定存储单元。该存储单元可以具有与图6的计算处理设备中的存储器620类似布置的存储段、存储空间等。程序代码可以例如以适当形式进行压缩。通常,存储单元包括计算机可读代码631’,即可以由例如诸如610之类的处理器读取的代码,这些代码当由计算处理设备运行时,导致该计算处理设备执行上面所描述的方法中的各个步骤。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

本领域内的技术人员应明白,本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此,本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上,使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明实施例的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。

最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种调整介质承载组件的方法和一种调整介质承载组件的装置,进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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