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一种芯片封装用载盘修复再利用的方法与流程

2021-10-09 15:45:00 来源:中国专利 TAG:装载 半导体 再利用 修复 芯片

技术特征:
1.一种芯片封装用载盘修复再利用的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:(1)将封装用载盘的粘贴面朝上固定于工作台上,然后对粘贴面上的凸起进行局部打磨;(2)将步骤(1)中局部打磨后的封装用载盘的支撑面与导向装置连接固定,使粘贴面朝下与磨盘接触,进行整体研磨,研磨后进行热变形检测,检测合格后完成修复;同一封装用载盘采用所述方法实现至少3次以上的循环修复。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述工作台的平面度小于0.01mm;优选地,进行所述局部打磨时,所述工作台带动所述封装用载盘进行自转;优选地,所述工作台的转速为15

20r/min。3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述局部打磨采用砂轮进行;优选地,所述砂轮的目数为600

1000目;优选地,所述砂轮的材质包括白刚玉;优选地,所述砂轮的转速为600

1000r/min;优选地,所述砂轮的进给量为0.04~0.16mm/min。4.根据权利要求1

3任一项所述的方法,其特征在于,所述局部打磨过程中采用乳化液进行冷却;优选地,所述乳化液包括加德士3380。5.根据权利要求1

4任一项所述的方法,其特征在于,所述磨盘的平面度小于0.01mm。6.根据权利要求1

5任一项所述的方法,其特征在于,所述磨盘的目数为1800

2200目;优选地,所述磨盘的材质包括碳化硅;优选地,所述磨盘的转速为40

80r/min;优选地,所述磨盘的直径大于所述封装用载盘的直径;优选地,所述整体研磨的时间为20

30min。7.根据权利要求1

6任一项所述的方法,其特征在于,所述整体研磨过程中采用研磨液进行研磨;优选地,所述研磨液包括金属研磨液。8.根据权利要求1

7任一项所述的方法,其特征在于,所述导向装置上设置有配重块;优选地,所述配重块的质量为15

25kg。9.根据权利要求1

8任一项所述的方法,其特征在于,所述热变形检测的标准包括:将所述整体研磨后的封装用载盘置于加热平台上进行加热,1min内不发生边缘翘曲现象;优选地,所述加热温度为150

200℃。10.根据权利要求1

9任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:(1)将封装用载盘的粘贴面朝上固定于平面度小于0.01mm的工作台上,然后采用目数为600

1000目的白刚玉砂轮对粘贴面上的凸起进行局部打磨,打磨过程中白刚玉砂轮的转速为600

1000r/min,进给量为0.04~0.16mm/min,工作台的转速为15

20r/min,并采用乳化液进行冷却;(2)将步骤(1)中局部打磨后的封装用载盘的支撑面与设置有15

25kg配重块的导向装置连接固定,使粘贴面朝下与平面度小于0.01mm、目数为1800

2200目的碳化硅磨盘接触,并采用金属研磨液进行整体研磨,研磨过程中磨盘的转速为40

80r/min,研磨后将封装用
载盘置于加热平台上,在150

200℃的条件下进行加热,1min内不发生边缘翘曲现象,完成修复。

技术总结
本发明提供了一种芯片封装用载盘修复再利用的方法,所述方法包括以下步骤:将封装用载盘的粘贴面朝上固定于工作台上,然后对粘贴面上的凸起进行局部打磨;将局部打磨后的封装用载盘的支撑面与导向装置连接固定,使粘贴面朝下与磨盘接触,进行整体研磨,研磨后进行热变形检测,检测合格后完成修复;同一封装用载盘采用所述方法实现至少3次以上的循环修复;所述方法通过将局部打磨和整体研磨的工艺相结合,有效修复了废弃载盘,节约了成本;所述方法工艺流程简单,具有较好的工业应用前景。具有较好的工业应用前景。


技术研发人员:姚力军 潘杰 昝小磊 鲍伟江 王学泽 张林桥
受保护的技术使用者:宁波江丰芯创科技有限公司
技术研发日:2021.06.30
技术公布日:2021/10/8
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