一种基于成像亮度计的OLED屏幕子像素亮度提取方法与流程

技术特征：
1.一种基于成像亮度计的oled屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于， 包括如下步骤：s1：调整成像亮度计的焦距、位置以及曝光时间，拍摄待测显示屏输出的图片，使所述成像亮度计获取的最大亮度值处于预设亮度范围内；s2：根据s1拍摄到的图像获得空间采样倍率k；s3：根据s2计算得到的空间采样倍率k，将s1拍摄到的图像分割成若干个子像素团，每个所述子像素团对应待测显示屏的一个子像素，对一个或者若干个所述子像素团以二维弥散模型进行曲面拟合，得到弥散系数或者其平均值；其中，所述二维弥散模型为预设的弥散圆亮度的二维分布模型，所述弥散系数为二维弥散模型的参数；s4：根据s3得到的弥散系数或者其平均值，以二维弥散模型进行模拟得到模拟弥散圆，并且对不同采样位置计算出对应的模拟采样团，所述模拟采样团为所述模拟弥散圆在一个子像素团的各个采样点处的相对亮度值，所述采样位置为所述子像素团的采样点相对于模拟弥散圆中心的位置；s5：将s4中计算得到的模拟采样团与所述子像素团的实际数据进行匹配，得到拟合度最高的各个子像素团的采样位置，并根据采样位置拟合计算每个子像素团对应的模拟弥散圆中心的拟合亮度值，作为待测显示屏的子像素亮度值。2.根据权利要求1所述的基于成像亮度计的oled屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，所述s3、s4中的二维弥散模型为二维正态分布模型，所述模拟弥散圆在归一化后符合二维正态分布公式（1）：
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（1）；式中f（x,y）即坐标为（x,y）处的归一化的亮度值，σ1、σ2分别为横向、纵向的弥散系数，ρ为关联性参数，μ1、μ2为中心位置参数；设拍摄系统是各向同性的，则记σ
1=
σ
2 = σ，ρ=0；模拟弥散圆中心是原点时，μ1 = μ2 = 0，公式（1）简化为公式（2）：
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（2）。3.根据权利要求2所述的基于成像亮度计的oled屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，s4中，所述采样位置的获取方法如下：根据空间采样倍率k，在0到1/k的范围内，取若干个采样相位值形成集合{φ}，对横向采样相位和纵向采样相位分别取集合{φ}中的一个值形成相位组合（φ
x
，φ
y
），作为采样位置，所述相位组合（φ
x
，φ
y
）表示的是所述子像素团中在模拟弥散圆中心右下方最接近模拟弥散圆中心的采样点在公式（2）中的坐标位置（x，y）。4.根据权利要求3所述的基于成像亮度计的oled屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，所述取若干个采样相位值形成集合{φ}，具体为：取0，1/(nk)，2/(nk)，
……
，(n
‑
1)/(nk)形成集合{φ}，其中n为正整数。
5.根据权利要求1所述的基于成像亮度计的oled屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，s5中，所述将s4中计算得到的模拟采样团与所述子像素团的实际数据进行匹配，得到拟合度最高的各个子像素团的采样位置，具体为：将s4中计算得到的模拟采样团与一个第一子像素团的实际数据进行匹配，得到所述第一子像素团拟合度最高的采样位置，将子像素团的空间位置周期性分布规律，与采样点的空间位置周期性分布规律进行比较，得到递推公式，通过递推得到其他子像素团的拟合度最高的采样位置。6.根据权利要求3所述的基于成像亮度计的oled屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，s5中，将s4中计算得到的模拟采样团与所述子像素团的实际数据进行匹配，得到拟合度最高的各个子像素团的采样位置，具体为：将s4中计算得到的模拟采样团与一个第一子像素团的实际数据进行匹配，得到所述第一子像素团拟合度最高的采样位置（φ
x1
，φ
y1
）；其他子像素团的拟合度最高的采样位置（φ
xs
，φ
yt
）满足公式（4）和公式（5）：
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（4）；
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（5）；其中，k为空间采样倍率，s和t为整数，(s
‑
1)和(t
‑
1)表示其他子像素团与所述第一子像素团的横向和纵向相对位置关系，为满足＞0的最大整数，为满足＞0的最大整数。7.根据权利要求1所述的基于成像亮度计的oled屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，步骤s2具体为：找到根据s1拍摄到的图像数据中显示屏的边缘，计算显示屏的长、宽在图像中所占用的采样点数；将上述图像中显示屏的长、宽占用的采样点数，分别除以待测显示屏幕分辨率对应的子像素数，取其中一者或二者的平均值，作为空间采样倍率k。8.根据权利要求1所述的基于成像亮度计的oled屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，在s1之前还包括：s0：校准成像亮度计的线性度，当所述成像亮度计拍摄某个亮度灰阶的图片后，使用校准曲线将所得的亮度灰阶进行校准。9.根据权利要求8所述的基于成像亮度计的oled屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，在s0之前还包括：使用均匀的积分球，调整成像亮度计的曝光时间，分别在不同的曝光时间拍摄图像，根据拍摄所得的图像的亮度统计值与曝光时间的关系，得到校准曲线。10.根据权利要求1所述的基于成像亮度计的oled屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，s1中，所述调整成像亮度计的位置，具体为：使s2中计算得到的空间采样倍率k的小数部分小于0.2或大于0.8。
11.根据权利要求1所述的基于成像亮度计的oled屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，s1中，所述预设亮度范围的上限不超过所述成像亮度计亮度范围上限的90%。

技术总结
本发明公开了一种基于成像亮度计的OLED屏幕子像素亮度提取方法，具包括：拍摄待测显示屏输出的图片；获得空间采样倍率K；将图像分割成若干个子像素团，进行曲面拟合，得到弥散系数或者其平均值；以二维弥散模型进行模拟得到模拟弥散圆，并且对不同采样位置计算出对应的模拟采样团；匹配采样位置，并根据采样位置拟合计算每个子像素团对应的模拟弥散圆中心的拟合亮度值，作为待测显示屏的子像素亮度值。本发明对于不同的采样位置，做模式匹配，同时针对不同的采样位置应用不同的拟合，还原出待测显示屏子像素中心处的亮度，避免了周期性偏差的产生，从本质上解决了摩尔纹的问题，避免了摩尔纹的产生，提高了测量精度。提高了测量精度。提高了测量精度。


技术研发人员：蔡剑 李堃 叶选新 蔡杰羽 石炳磊 白海楠 朱诗文
受保护的技术使用者：苇创微电子（上海）有限公司
技术研发日：2021.09.02
技术公布日：2021/10/8