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一种简易40G误码仪测试系统及方法与流程

2021-10-30 01:33:00 来源:中国专利 TAG:简易 测试 方法 误码 系统

一种简易40g误码仪测试系统及方法
技术领域
1.本发明涉及光通信领域,具体涉及一种简易40g误码仪测试系统及方法。


背景技术:

2.40g光模块由ch1,ch2,ch3,ch4这4个通道组成,40g误码仪在测试40g光模块光眼图时,需要通过光开关切换不同的通道测试光眼图参数。传统40g误码仪,是4个通道共时钟trigger信号,可以直接连接到示波器上的trigger,当光开关切换不同通道时,示波器显示就是对应通道的眼图,传统误码仪如图1所示,是一个单台设备。


技术实现要素:

3.鉴于现有技术中存在的技术缺陷和技术弊端,本发明实施例提供克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种简易40g误码仪测试系统,具体方案如下:
4.作为本发明的第一方面,提供一种简易40g误码仪测试系统,所述系统包括四个10g误码仪、一个电开关和一个示波器,其中,四个10g误码仪分别为10g bert

1、10g bert

2、10g bert

3和10g bert

4,10g bert

1、10g bert

2、10g bert

3和10g bert

4分别对应40g光模块的ch1、ch2、ch3和ch4四个通道,10g bert

1、10g bert

2、10g bert

3和10g bert

4的trigger端口均通过电开关电连接到示波器上的trigger端口,所述电开关用于基于电开关串口设置可选的切换其中一个10g误码仪接入示波器,通过示波器进行对应通道的性能测试。
5.进一步地,所述电开关包括in1、in2、in3和in4四个输入端口和一个com端口,10g bert

1、10g bert

2、10g bert

3和10g bert

4的trigger端口分别电连接到电开关的in1、in2、in3和in4四个输入端口,所述电开关的com端口电连接到示波器上的trigger端口。
6.进一步地,所述电开关串口设置具体为:
7.先设置电开关初始控制指令为ff 00 00,设置电开关in1、in2、in3和in4四个输入端口和一个com端口全开路;
8.当测试ch1通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 01 00,使输入端口in1与com端口连通,其它输入端口开路;
9.当测试ch2通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 02 00,使输入端口in2与com端口连通,其它输入端口开路;
10.当测试ch3通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 03 00,使输入端口in3与com端口连通,其它输入端口开路;
11.当测试ch4通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 04 00,使输入端口in4与com端口连通,其它输入端口开路。
12.进一步地,所述系统还包括控制单元,所述控制单元通过rs232串口与电开关电连接,用于向电开关发送对应的控制指令。
13.进一步地,所述示波器为86105a光示波器。
14.作为本发明的第二方面,提供一种简易40g误码仪测试方法,所述方法包括:
15.将40g光模块的ch1、ch2、ch3和ch4四个通道分别电连接到10g bert

1、10g bert

2、10g bert

3和10g bert

4的td/rd收发信号端口上,将10g bert

1、10g bert

2、10g bert

3和10g bert

4的trigger端口均通过电开关电连接到示波器上的trigger端口;
16.通过电开关串口设置可选的切换其中一个10g误码仪接入示波器,通过示波器进行对应通道的性能测试。
17.进一步地,所述电开关包括in1、in2、in3和in4四个输入端口和一个com端口,10g bert

1、10g bert

2、10g bert

3和10g bert

4的trigger端口分别电连接到电开关的in1、in2、in3和in4四个输入端口,所述电开关的com端口电连接到示波器上的trigger端口。
18.进一步地,所述电开关串口设置具体为:
19.先设置电开关初始控制指令为ff 00 00,设置电开关in1、in2、in3和in4四个输入端口和一个com端口全开路;
20.当测试ch1通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 01 00,使输入端口in1与com端口连通,其它输入端口开路;
21.当测试ch2通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 02 00,使输入端口in2与com端口连通,其它输入端口开路;
22.当测试ch3通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 03 00,使输入端口in3与com端口连通,其它输入端口开路;
23.当测试ch4通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 04 00,使输入端口in4与com端口连通,其它输入端口开路。
24.本发明具有以下有益效果:
25.本发明提供的一种简易40g误码仪测试系统及方法,运用4个10g误码仪和电开关,通过串口控制的方式,可以实现40g产品的测试方案,替代40g外购整机误码仪,大幅降低40g产品的测试成本。
附图说明
26.图1为本发明实施例提供的40g误码仪的结构示意图
27.图2为本发明实施例提供的一种简易40g误码仪测试系统的结构示意图。
具体实施方式
28.下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
29.如图2所示,作为本发明的第一实施例,提供一种简易40g误码仪测试系统,所述系统包括四个10g误码仪、一个电开关和一个示波器,其中,四个10g误码仪分别为10g bert

1、10g bert

2、10g bert

3和10g bert

4,10g bert

1、10g bert

2、10g bert

3和10g bert

4分别对应40g光模块的ch1、ch2、ch3和ch4四个通道,10g bert

1、10g bert

2、10g bert

3和10g bert

4的trigger端口均通过电开关电连接到示波器上的trigger端口,所述
电开关用于基于电开关串口设置可选的切换其中一个10g误码仪接入示波器,通过示波器进行对应通道的性能测试。
30.其中,所述电开关包括in1、in2、in3和in4四个输入端口和一个com端口,10g bert

1的trigger端口电连接到电开关的in1输入端口,10g bert

2的trigger端口电连接到电开关的in2输入端口,10g bert

3的trigger端口电连接到电开关的in3输入端口,10g bert

4的trigger端口电连接到电开关的in4输入端口,所述电开关的com端口电连接到示波器上的trigger端口;40g光模块的ch1通道连接到10g bert

1的td/rd收发信号端口,ch2通道连接到10g bert

2的td/rd收发信号端口,ch3通道连接到10g bert

3的td/rd收发信号端口,ch4通道连接到10g bert

4的td/rd收发信号端口。
31.其中,所述示波器为86105a光示波器。
32.本发明通过4个10g误码仪再加上一个电开关,实现40g误码仪功能,如图2所示,由4个10g误码仪构成,同时有4个时钟trigger信号,但示波器只有1个trigger端口,在测试光眼图时,必须要对trigger信号进行切换,即测试某个通道chx光眼图时,需要将10gbert

x triggerx连接到示波器trigger端口,同时其它通道的trigger信号与示波器断开,运用4个10g误码仪和电开关,通过串口控制的方式,可以实现40g产品的测试方案,替代40g外购整机误码仪,大幅降低40g产品的测试成本。
33.其中,所述电开关串口设置具体为:
34.先设置电开关初始控制指令为ff 00 00,设置电开关in1、in2、in3和in4四个输入端口和一个com端口全开路;
35.当测试ch1通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 01 00,使输入端口in1与com端口连通,其它输入端口开路;
36.当测试ch2通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 02 00,使输入端口in2与com端口连通,其它输入端口开路;
37.当测试ch3通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 03 00,使输入端口in3与com端口连通,其它输入端口开路;
38.当测试ch4通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 04 00,使输入端口in4与com端口连通,其它输入端口开路。
39.优选地,所述系统还包括控制单元,所述控制单元通过rs232串口与电开关电连接,用于向电开关发送对应的控制指令,控制电开关切换到对应的通道。
40.作为本发明的第二实施例,还提供一种简易40g误码仪测试方法,所述方法包括:
41.将40g光模块的ch1、ch2、ch3和ch4四个通道分别电连接到10g bert

1、10g bert

2、10g bert

3和10g bert

4的td/rd收发信号端口上,将10g bert

1、10g bert

2、10g bert

3和10g bert

4的trigger端口均通过电开关电连接到示波器上的trigger端口;
42.通过电开关串口设置可选的切换其中一个10g误码仪接入示波器,通过示波器进行对应通道的性能测试。
43.其中,所述电开关包括in1、in2、in3和in4四个输入端口和一个com端口,10g bert

1、10g bert

2、10g bert

3和10g bert

4的trigger端口分别电连接到电开关的in1、in2、in3和in4四个输入端口,所述电开关的com端口电连接到示波器上的trigger端口。
44.其中,所述电开关串口设置具体为:
45.先设置电开关初始控制指令为ff 00 00,设置电开关in1、in2、in3和in4四个输入端口和一个com端口全开路;
46.当测试ch1通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 01 00,使输入端口in1与com端口连通,其它输入端口开路;
47.当测试ch2通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 02 00,使输入端口in2与com端口连通,其它输入端口开路;
48.当测试ch3通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 03 00,使输入端口in3与com端口连通,其它输入端口开路;
49.当测试ch4通道的发射眼图参数时,将电开关的控制指令设置为ff 04 00,使输入端口in4与com端口连通,其它输入端口开路。
50.以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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