用于检测光信号的电子装置的操作方法与电子装置与流程

1.本发明涉及一种操作方法，特别是涉及一种用于检测光信号的电子装置的操作方法与电子装置。


背景技术：

2.习知的电子装置可以通过光学传感器检测激光光笔所产生的光线或是检测手指触碰电子装置所产生的反射光，以确定激光光笔或手指于电子装置上的位置。然而，由于电子装置的发光元件可产生对应的亮度(brightness)的光或环境光都会影响光学传感器的检测，如此可能会降低检测光信号的准确性。因此，需要一种新的设计改善前述的问题。


技术实现要素：

3.本发明实施例提供一种用于检测光信号的电子装置的操作方法，电子装置包含多个光学传感器以及多个发光元件，该多个发光元件与光学传感器邻近设置。用于检测光信号的电子装置的操作方法包括下列步骤。提供光信号至光学传感器的第一光学传感器。当邻近于第一光学传感器的发光元件被调暗时，第一光学传感器输出驱动信号。
4.本发明实施例另提供一种用于检测光信号的电子装置的操作方法，电子装置包含多个光学传感器以及多个发光元件与光学传感器邻近设置。用于检测光信号的电子装置的操作方法包括下列步骤。发光元件发出第一光信号，第一光信号具有第一灰度。发光元件发出第二光信号，第二光信号具有第二灰度，其中第二灰度与第一灰度不同。提供物体。物体反射第二光信号，形成第三光信号。光学传感器的第一光学传感器依据第三光信号，输出驱动信号。
5.本发明实施例另提供一种电子装置，包括基板、第一发光元件与第二发光元件及光学传感器。第一发光元件与第二发光元件配置于基板上，且第一发光元件相邻于第二发光元件。光学传感器配置于基板上。光学传感器与第一发光元件之间的距离小于第一发光元件与第二发光元件之间的距离的一半。
附图说明
6.为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明，其中：
7.图1为依据本发明的一实施例的电子装置的示意图。
8.图2为依据本发明的一实施例的电子装置的光学传感器与发光元件的操作时序图。
9.图3为依据本发明的一实施例的电子装置的光学传感器与发光元件的操作时序图。
10.图4为依据本发明的另一实施例的电子装置的示意图。
11.图5为图4的电子装置的a-a’线的剖面图。
diode,oled)、无机发光二极管(light emitting diode,led)、量子点(quantum dot,qd)、荧光材料、磷光材料、其他适合的材料或上述材料的组合，但本发明不限于此。无机发光二极管可例如包括次毫米发光二极管(mini light emitting diode,mini led)、微发光二极管(micro light emitting diode,micro led)或量子点发光二极管(quantum dot light emitting diode,qled/qdled)。在一些实施例中，电子装置100可以是显示装置、天线装置、检测装置、触控电子装置(touch display)、曲面电子装置(curved display)或非矩形电子装置(free shape display)，也可以是可弯折或可挠式拼接电子装置，但不以此为限。天线装置可例如是液晶天线，但不以此为限。需注意的是，电子装置可为前述的任意排列组合，但不以此为限。此外，电子装置的外型可为矩形、圆形、多边形、具有弯曲边缘的形状或其他适合的形状。电子装置可以具有驱动系统、控制系统、光源系统、层架系统等周边系统以支援显示装置或天线装置。
38.请参考图1，电子装置100可以包括多个光学传感器110_11～110_mn与多个发光元件120_11～120_kl，其中m、n、k、l为大于1的正整数。在本实施例中，k、l大于m、n，亦即发光元件120_11～120_kl的数量大于光学传感器110_11～110_mn的数量。在一些实施例中，m与n可以相同或不同，且k与l可以相同或不同。本实施例中，光学传感器110_11～110_mn可以由薄膜晶体管(thin film transistor,tft)或其他传感器制成，但本发明不限于此。另外，光学传感器110_11～110_mn用于检测光源装置(图未示)所产生的光信号(optical signal)。上述光源装置例如为激光光笔或红外线光笔，但本发明不限于此。
39.发光元件120_11～120_kl可以与光学传感器110_11～110_mn邻近设置。举例而言，发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22可以与光学传感器110_11邻近设置，也就是例如，发光元件120_11与光学传感器110_11之间不会存在有其他的发光元件或光学传感器，发光元件120_12与光学传感器110_11之间不会存在有其他的发光元件或光学传感器。发光元件120_13、发光元件120_14、发光元件120_23、发光元件120_24可以与光学传感器110_12邻近设置。发光元件120_1l-1、发光元件120_1l、发光元件120_2l-1、发光元件120_2l可以与光学传感器110_1n邻近设置。其余发光元件与光学传感器邻近设置则可类推。
40.在本实施例中，发光元件120_11～120_kl可以是有机发光二极管(oled)、无机发光二极管(led)例如次毫米发光二极管(mini led)、微发光二极管(micro led)、量子点发光二极管(qled/qd-led)等，但本发明不限于此。另外，发光元件120_11～120_kl可以是发光管芯(die)或是包含有发光管芯的封装形式。此外，发光元件120_11～120_kl可以产生单一颜色的光，例如白光(white)，或是多种颜色的光，例如红光(red)、绿光(green)、蓝光(blue)，但本发明不限于此。
41.在本实施例中，使用者可以操作光源装置，以产生光信号至电子装置100，亦即提供光信号至电子装置100的光学传感器110_11～110_mn的第一光学传感器，例如光学传感器110_11。接着，当邻近于光学传感器110_1的发光元件(例如发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22)被调暗(dimming)时，光学传感器110_1输出驱动信号，使得电子装置100可以确认光信号的所在位置。在本实施例中，将发光元件调暗即为降低发光元件的灰度，例如降低为原灰度的50％或以下。进一步来说，可以将发光元件的灰度降低至零灰度，例如将发光元件关闭而不产生光信号。
42.在一些实施例中，电子装置100还可以包括多个检测期间(detecting period)。检测期间指的是光学传感器110_11～110_mn被电子装置100中的处理装置(图未示)进行检测，以产生对应的驱动信号的期间。同时，邻近光学传感器110_11～110_mn的发光元件120_11～120_kl在对应的检测期间会被关小。举例来说，当光学传感器110_11在检测期间被检测时，发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22的至少其一或全部在对应的检测期间会被关小。当光学传感器110_12在检测期间被检测时，发光元件120_13、发光元件120_14、发光元件120_23、发光元件120_24的至少其一或全部在对应的检测期间会被关小。其余光学传感器与发光元件的操作则类推。
43.在一些实施例中，光学传感器110_11～110_mn可以依序被检测，但本发明不限于此。例如，检测顺序可以为光学传感器110_11、光学传感器110_12、光学传感器110_13、
…
。另外，检测顺序也可以为光学传感器110_11～110_1n、光学传感器110_21～110_2n、光学传感器110_31～110_3n、
…
。
44.在一些实施例中，光学传感器110_11～110_mn可以被跳着顺序进行检测，但本发明不限于此。例如，检测顺序可以为光学传感器110_11、光学传感器110_13、光学传感器110_15、
…
。另外，检测顺序也可以为光学传感器110_11～110_1n、光学传感器110_31～110_3n、光学传感器110_51～110_5n、
…
。
45.在一些实施例中，光学传感器110_11～110_mn可以以不规则的顺序被进行检测，但本发明不限于此。例如，检测顺序可以为光学传感器110_11、光学传感器110_23(图未标示)、光学传感器110_41(图未标示)、
…
。另外，检测顺序也可以为光学传感器110_11～110_1n、光学传感器110_51～110_5n(图未标示)、光学传感器110_21～110_2n(图未标示)。
46.在一些实施例中，所有的光学传感器110_11～110_mn可以在一检测期间被检测，并产生对应的驱动信号。同时，所有的发光元件120_11～120_kl在检测期间都被关小。如此一来，可以有效地降低光学传感器110_11～110_mn将邻近的发光元件120_11～120_kl所发射的光线误认为光源装置所产生的光信号的可能性，以有效地增加光学传感器110_11～110_mn的检测准确性。
47.图2为依据本发明的一实施例的电子装置的光学传感器与发光元件的操作时序图。为了方便说明，以图1的电子装置100包括光学传感器110_11、发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22为例。电子装置100于显示状态下例如包含图框期间f11、f12、f21与f22。图框期间f11可以包含发光元件120_11或发光元件120_12的发光期间l11与非发光期间n11。在本发明的一实施例，非发光期间n11可以包含遮没期间(blanking period)。换句话说，例如在图框期间f11要进入图框期间f12前，发光元件120_11或发光元件120_12会有一段期间没有接收到该电子装置100所发出的栅极信号，这段没有接收到栅极信号的期间称为遮没期间。图框时间f12接续图框时间f11，且图框时间f12可以包含发光元件120_11或发光元件120_12的发光期间l12与非发光期间n12。在本发明的一实施例，非发光期间n12可以包含遮没期间。
48.图框时间f21接续发光元件120_11或发光元件120_12的发光期间l11，且图框时间f21可以包含发光元件120_21或发光元件120_22的发光期间l21与非发光期间n21。在本发明的一实施例，非发光期间n21可以包含遮没期间。图框时间f22接续图框时间f21，且图框时间f22可以包含发光元件120_21或发光元件120_22的发光期间l22与非发光期间n22。在
本发明的一实施例，非发光期间n12可以包含遮没期间。
49.在图框时间f11的发光期间l11，发光元件120_11、发光元件120_12会导通并发光。接着，在图框时f21的发光期间l21，发光元件120_21、发光元件120_22会导通并发光。此时，光学传感器110_11可以检测到发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22所产生的光信号并形成一驱动信号，但于图框时间f11与图框时f21，处理装置尚未检测该驱动信号。
50.在图框时间f12的发光期间l12，发光元件120_11、发光元件120_12被调暗或关闭，亦即降低发光元件120_11、发光元件120_12的亮度。例如，将发光元件120_11、发光元件120_12的亮度降低为原亮度(或灰度值)的50％或以下。接着，在图框时间f22的发光期间l22，发光元件120_21、发光元件120_22被调暗或关闭。在发光期间l12与发光期间l22的重叠期间，即检测期间t1，光学传感器110_11可以检测光源装置所产生的光信号，并据以产生对应的驱动信号。光学传感器110_11所产生的驱动信号例如可传送至电子装置100的处理装置，使处理装置可以确认光信号的所在位置，并进行相应的处理。
51.在图2中，检测期间t1为发光期间l12的一半至发光期间l22的一半，但本发明不限于此。另一实施例，检测期间t1可以在发光期间l12的起始位置至发光期间l22的结束位置之间。
52.在图框期间f12的非发光期间n12，即发光元件120_11、发光元件120_12的遮没期间，发光元件120_11、发光元件120_12不发光。接着，在图框期间f22的非发光期间n22，即发光元件120_21、发光元件120_22的遮没期间，发光元件120_21、发光元件120_22不发光。在非发光期间n12与非发光期间n22的重叠期间(例如发光元件120_11、发光元件120_12的遮没期间以及发光元件120_21、发光元件120_22的遮没期间的重叠期间)，即检测期间t2，光学传感器110_11可以检测光源装置所产生的光信号，并据以产生对应的驱动信号。光学传感器110_11所产生的驱动信号例如可传送至电子装置100的处理装置，使处理装置可以确认光信号的所在位置，并进行相应的处理。其余光学传感器110_12～110_mn的操作可参考如上光学传感器110_11的操作，故在此不再赘述。
53.如此一来，光学传感器110_11可以在图框期间的发光元件被调暗的发光期间(例如发光元件120_11或发光元件120_12被调暗的发光期间l12以及发光元件120_21或发光元件120_22被调暗的发光期间l22的重叠期间)或光学元件的非发光期间(例如发光元件120_11或发光元件120_12的非发光期间n12以及发光元件120_21或发光元件120_22的非发光期间n22的重叠期间)检测光源装置所产生的光信号，可以有效地减少噪声误判的可能性，以增加光学传感器110_11的检测准确性。
54.另外，在一些实施例中，在电子装置100的一个显示画面存在最亮与最暗(例如显示烟火画面)的情况下，当光源装置所产生的光信号出现在最暗的位置时，光学传感器可以立即检测光源装置所产生光信号，以产生对应的驱动信号。当光源装置所产生的光信号出现在最亮的地方时，光学传感器可以透过如上方法进行检测，以产生对应的驱动信号。例如，当发光元件调暗时，光学传感器会检测光源装置所产生的光信号的亮度，以产生对应的驱动信号。
55.图3为依据本发明的另一实施例的电子装置的光学传感器与发光元件的操作时序图。请参考图1与图3，本实施例的电子装置100与上一实施例相同，就不再赘述，为了方便说
明，仅以图1的电子装置100包括光学传感器110_11、发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22为例，其余光学传感器110_12～110_mn的操作可参考如上光学传感器110_11的操作，故在此不再赘述。电子装置100于显示状态下例如包含图框时间f11、f12、f21与f22。图框时间f11可以包含多个发光元件的发光期间l11与非发光期间n11，例如可以是发光元件120_11或120_12的发光期间l11与非发光期间n11。图框时间f12接续图框时间f11，且图框时间f12可以包含多个发光元件的发光期间l12与非发光期间n12。
56.图框时间f21可以包含多个发光元件的发光期间l21与非发光期间n21，例如可以是发光元件120_21或120_22的发光期间l21与非发光期间n21。图框时间f22接续图框时间f21，且图框时间f22可以包含多个发光元件的发光期间l22与非发光期间n22。在本实施例中，f11、f12、f21与f22例如为电子装置100在显示阶段的图框时间。
57.在本实施例中，发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22分别于图框期间f11与f21中正常执行电子装置100的功能，此功能例如可以是显示动态或静态的画面。于下一个图框时间f12与图框时间f22中，降低发光期间l12与发光期间l22的亮度，此时发光期间l12与发光期间l22叠加起来可以形成一检测期间t3。电子装置100的处理装置可于检测期间t3接收光学传感器110_11所产生的驱动信号，并进行相应的处理，例如处理装置借由检测到的驱动信号判断手指触碰电子装置100的位置坐标。
58.在本实施例的亮度也可以转换为相对应的灰度值来表示，灰度值高，亮度高，例如，当电子装置100于正常执行功能的状态下呈现最高灰度，例如是255灰度。处理装置于检测期间t3接收驱动信号时，电子装置100发出一信号，例如可以是脉冲信号(pulsed signal)，给发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22。发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22于相对应的发光期间l12与l22产生一个较低的灰度，例如以最高亮度为255灰度的发光亮度为例，将发光元件调整为相对较低的190灰度，可降低处理装置接收到非由光学传感器110_11所产生的驱动信号的噪声信号，进而提高信噪比(signal to noise ratio,snr)或增加处理装置的检测准确性。
59.在本实施例所称的脉冲信号指的是一个周期信号，但在上一个信号与下一个信号的时间轴不连续。脉冲信号不限定种类，例如可以是矩形脉冲、方波脉冲、三角脉冲或者其他适合的脉冲信号。需特别注意的是，降低发光期间l12与发光期间l22的亮度，并于检测期间t3进行接收光学传感器110_11所产生的驱动信号仅是本发明的一个示例。
60.在另一实施例中，可在检测期间增加发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22的亮度，让电子装置100的处理装置接收光学传感器110_11所产生的驱动信号，例如参考图3，图框期间f13与图框期间f23为电子装置100于正常执行功能的状态，在处理装置开始进入检测时，电子装置100发出一信号，例如可以是脉冲信号，使得发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22在相对应的发光期间l13与发光期间l23的亮度高于发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22于上一个图框期间f12的亮度，此时的l13与l23的叠加期间可以是检测期间t4，处理装置可于检测期间t4接收光学传感器110_11所产生的驱动信号，并进行相应的处理。
61.如此一来，改变在检测期间的多个发光元件的光亮度，使光学传感器110_11可以在电子装置100的图框期间的发光期间被处理装置进行检测，可以有效地减少噪声误判的可能性，以增加处理装置的检测准确性。至于检测的细节与步骤，将于后续实施例中陈述。
62.图4为依据本发明的另一实施例的电子装置的示意图。图5为图4的电子装置的a-a’线的剖面图。请参考图4与图5，电子装置400可以如电子装置100可以包含多个发光元件与多个光学传感器。值得注意的是，为了方便说明，图4仅列出部分状况。请参考图4，电子装置400至少包括基板410、发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22与光学传感器440。在一实施例中，电子装置400可以是显示装置，但本发明不限于此。另外，图4与图5所示出的发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22与光学传感器440为本发明的一种实施范例，不用于限制本发明的发光元件与光学传感器的数量或形状。使用者亦可视其需求调整发光元件与光学传感器的数量或形状，且发光元件与光学传感器的设置也未必依照如图4所示的设置方式，发光元件120_11与发光元件120_21可以于y方向上交错设置，或者其他适合的设计方式，只要是可达到本发明的效果即可使用。
63.在本实施例中，基板410可以为硬质基板或可挠性基板，基板的材料例如包括玻璃、石英、蓝宝石、聚酰亚胺(polyimide，pi)、聚碳酸(polycarbonate，pc)或聚对苯二甲酸乙二酯(polyethylene terephthalate，pet)，或前述的组合，但不限于此。发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21与发光元件120_22配置于基板410上，且发光元件120_11相邻于发光元件120_22。在本实施例中，发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21与发光元件120_22可以是有机发光二极管(oled)、无机发光二极管(led)例如次毫米发光二极管(mini led)、微发光二极管(micro led)、量子点发光二极管(qled/qd-led)等，但本发明不限于此。
64.光学传感器440配置于基板410上，且与发光元件120_11、发光元件120_22邻近设置。在本实施例中，光学传感器440与发光元件120_11之间的距离d1小于发光元件120_11与发光元件120_22之间的距离d2的一半。也就是说，光学传感器440设置邻近于发光元件120_11，而远离发光元件120_22。另外，距离d1与距离d2分别例如为从电子装置400的上视(top view)方向，例如为x-y平面，的两个物件之间的最短距离。图5所示出的光学传感器440的设置位置为本发明的一种实施范例，但本发明不限于此，使用者可视其需求，调整光学传感器440的设置位置，且光学传感器440与发光元件120_11之间的距离d1仍小于发光元件120_11与发光元件120_22之间的距离d2的一半，都可达到相同的技术效果。
65.在一些实施例中，由于光学传感器440邻近于发光元件120_11且发光元件120_11的高度高于光学传感器440的高度，发光元件120_11可以用于遮蔽朝向光学传感器440的噪声光450的至少一部分，如图5所标示的“x”。本发明所称的高度例如为基板410最靠近发光元件120_11的一表面410a到发光元件120_11的一顶面120_11a之间的距离，同理，光学传感器440的高度指该表面410a到光学传感器440的顶面440a的距离。本实施例的噪声光450可以是环境光或者非光学传感器440所需检测的光。如此一来，可以使得光学传感器440减少受到噪声光450的干扰，以提高光学传感器440的信噪比或增加光学传感器440的检测准确性。
66.在一些实施例中，在基板410的法线方向上，例如为z方向，光学传感器440可以与发光元件120_11部分重叠。也就是说，光学传感器440的一部分位于发光元件120_11的下方，而光学传感器的另一部分暴露于发光元件120_11之外。本实施例所称的下方，代表由z方向观测，发光元件120_11与光学传感器440完全重叠或部分重叠。当发光元件120_11与光
学传感器440于z方向上的重叠范围越大时，发光元件120_11可减少更多朝向光学传感器440的噪声光450。如此一来，可以使得光学传感器440减少受到噪声光450的干扰，以提高光学传感器440的信噪比或增加光学传感器440的检测准确性。
67.图6所示的实施例，是以光学传感器440位于发光元件120_11的正下方为例，当发光元件120_11与光学传感器440于z方向上完全重叠时，发光元件120_11能遮蔽较多的噪声光450，如图6所标示的“x”，如此一来，可以使得光学传感器440减少受到噪声光450的干扰，以提高光学传感器440的信噪比或增加光学传感器440的检测准确性。接下来将陈述本发明的检测的细节与步骤。
68.图7为图4的实施例的立体示意图。请参考图7与图4，电子装置400中包含多个发光元件，例如发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22。请参考图3，多个发光元件在图框时间f11可以产生光信号，例如图7标示光信号os1，且光信号os1具有相对应的第一灰度。另外，多个发光元件也可以在图框时间f12产生光信号os2，且光信号os2具有相对应的第二灰度。在一实施例中，光信号os1可以代表多个发光元件在显示状态下所发出的光信号。光信号os2可以代表于检测期间，多个发光元件所提供的光信号，此时的光信号os2例如可以是一个脉冲光信号。
69.在整体操作上，请参考图7，多个发光元件于检测期间可以产生光信号os2。使用者可以透过物体700触碰于电子装置400，使得物体700可以反射较远离光学传感器440的多个发光元件，例如发光元件120_22，所产生的光信号os2，以产生光信号os3(可以视为反射光信号)。在本实施例中，上述物体700可以是手指或触控笔，但本发明不限于此，只要是可以达成本发明的功效的物体即可。
70.接着，光学传感器440可以检测到光信号os3，并依据光信号os3，于处理装置的检测期间，输出驱动信号。如此一来，由于噪声光450可以被邻近于光学传感器440的多个发光元件，例如发光元件120_11，部分或完全地遮蔽，可以使得光学传感器440减少受到噪声光450的干扰，以提高光学传感器440的信噪比或增加光学传感器440的检测准确性。
71.更详细来说，由于光学传感器440用于检测物体700反射光信号os2而产生光信号os3，为了减少光学传感器440受噪声光450的影响，可以改变邻近于光学传感器440的多个发光元件的灰度值，也就是改变多个发光元件的光亮度。例如，正常执行电子装置400的功能时，多个发光元件发出光信号os1，光信号os1具有第一灰度。在检测期间，多个发光元件发出光信号os2，光信号os2具有第二灰度，且第二灰度与第一灰度不同。
72.在一实施例中，若第一灰度若为最高灰度，以0至255灰度为例，例如为255灰度，则第二灰度的值可以是低于第一灰度的值，例如是190灰度。在另一实施例中，若第一灰度若在低灰度状态，例如是62灰度，则第二灰度的值可以是高于第一灰度的值，例如是255灰度。物体700可以反射光信号os2并产生光信号os3，则邻近于这些发光元件的光学传感器，例如多个光学传感器中的光学传感器440，依据光信号os3输出驱动信号，此驱动信号例如可被电子装置400的处理装置接收，使处理装置可以确认光信号的所在位置，并进行相应的处理。
73.图8为依据本发明的一实施例的用于检测光信号的电子装置的操作方法的流程图。图8例如对应图1至图2。在本实施例中，电子装置包含多个光学传感器以及多个发光元件与上述光学传感器邻近设置。在步骤s802中，提供光信号至光学传感器的第一光学传感
器。在步骤s804中，当邻近于第一光学传感器的些发光元件被调暗时，第一光学传感器输出驱动信号。在一些实施例中，不同的光学传感器在不同的检测期间被检测，且邻近光学传感器的发光元件在对应的检测期间会被关小。在一些实施例中，所有的光学传感器在检测期间被检测，所有的发光元件在检测期间都被关小。
74.图9为依据本发明的一实施例的用于检测光信号的电子装置的操作方法的流程图。图8例如对应图3至图7。在本实施例中，电子装置包含多个光学传感器以及多个发光元件与上述光学传感器邻近设置。在步骤s902中，发光元件发出第一光信号，第一光信号具有第一灰度。在步骤s904中，发光元件发出第二光信号，第二光信号具有第二灰度，其中第二灰度与第一灰度不同。在步骤s906中，提供物体。在步骤s908中，物体反射第二光信号，形成第三光信号。在步骤s910中，光学传感器的第一光学传感器依据第三光信号，输出驱动信号。在一些实施例中，处理装置于这些发光元件发出第二光信号的期间进行检测。
75.综上所述，本发明实施例的用于检测光信号的电子装置的操作方法与电子装置，提供光信号至光学传感器的第一光学传感器，且当邻近于第一光学传感器的发光元件被调暗时，光学传感器的第一光学传感器输出驱动信号。如此一来，可降低光学传感器将邻近的发光元件所发射的光线误认为光源装置所产生的光信号的可能性，以增加光学传感器的检测准确性。另外，本发明还将光学传感器与第一发光元件之间的距离设置小于第一发光元件与第二发光元件之间的距离的一半，且光学传感器检测物体反射发光元件所产生的第二光信号的第三光信号，以输出驱动信号。如此一来，使得光学传感器减少受到噪声光的干扰，以提高光学传感器的信噪比或增加光学传感器的检测准确性。
76.本发明虽以实施例发明如上，然其并非用以限定本发明的范围，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可做些许的组合、改动与润饰，因此本发明的保护范围当视权利要求所界定者为准。