一种半导体封装检测装置的制作方法

1.本实用新型涉及一种半导体封装检测装置，属于检测装置技术领域。


背景技术：

2.我国半导体产业正在飞速发展，半导体封装是影响半导体产业发展的非常重要的一个环节，半导体的封装技术的优劣是至关重要的竞争因素。如今在电子制造领域，小到电容、电阻、连接器等元器件，大到键盘、pc板、硬盘等在电子制造行业链条的各个环节，几乎都能看到视觉检测装置的身影。检测内容有印字错误、内容错误、图像错误、方向错误、漏印、表面缺陷等，对被测物表面进行自动扫描后，将数据传输到计算机进行处理，找出有缺陷的产品。
3.现有技术中对于半导体封装的检测装置普遍还存在以下不足：
4.扫描头的安装角度不便于根据被测物表面的倾斜角度进行灵活调节，导致扫描检测过程的准确性有待提高；现有技术中对于半导体封装的检测普遍采用单列检测，即采用一个扫描头对一列被测物进行逐一检测，导致整体的检测效率不高。
5.综上可知，现有技术在实际使用上显然存在不便与缺陷，所以有必要加以改进。


技术实现要素：

6.本实用新型要解决的技术问题是针对以上不足，提供一种半导体封装检测装置，可以对多列半导体封装件进行同步检测，可以显著提高检测效率；可以根据半导体封装件上表面的倾斜角度灵活调节扫描头的角度，确保扫描检测过程的准确性。
7.为解决以上技术问题，本实用新型采用以下技术方案：
8.一种半导体封装检测装置，包括检测组件，检测组件位于输送组件的上方；
9.所述检测组件包括成排设置的扫描头，扫描头均固接于横杆底部，横杆固接于伸缩缸的头部；所述伸缩缸安装在转轴上，伸缩缸的活塞杆贯穿转轴设置；
10.所述转轴的两端分别由支架进行支撑，转轴由第一电机进行驱动；
11.所述输送组件包括输送带，输送带的上方设有拨轮，拨轮由第二电机进行驱动，第二电机安装在支撑横梁上，支撑横梁横跨在输送带的上方。
12.进一步地，所述扫描头的数量为大于或等于2的偶数；相邻扫描头之间呈等间距设置。
13.进一步地，所述伸缩缸与横杆垂直设置；所述转轴的轴线与横杆的轴线平行设置。
14.进一步地，所述伸缩缸活塞杆的两侧分别设有导向杆，导向杆贯穿转轴设置，导向杆与转轴滑动连接；所述导向杆的底端均与横杆固定连接。
15.进一步地，所述转轴一端的轴头上装配有从动齿轮，从动齿轮与第一电机输出轴上装配的主动齿轮进行啮合。
16.进一步地，所述第一电机为双向电机，可以正转或反转。
17.进一步地，所述第二电机为单向步进电机，第二电机带动拨轮转动。
18.本实用新型采用以上技术方案后，与现有技术相比，具有以下优点：
19.本实用新型通过输送带对半导体封装件进行输送，输送过程中通过拨轮将半导体封装件分为多列，半导体封装件的列数与扫描头一一对应，每列半导体封装件对应一个扫描头，本实用新型可以对多列半导体封装件进行同步检测，可以显著提高检测效率；
20.本实用新型通过电机的正反转运动，带动转轴进行正反转运动，转轴的正反转运动可以实现扫描头倾斜角度的调节，便于根据半导体封装件上表面的倾斜角度灵活调节扫描头的角度，确保扫描检测过程的准确性；
21.本实用新型通过伸缩缸的伸缩调节扫描头与半导体封装件之间的距离，确保扫描检测过程的清晰度。
22.下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细说明。
附图说明
23.图1是本实用新型的结构示意图；
24.图2是本实用新型中检测组件的结构示意图；
25.图3是本实用新型的使用状态图。
26.图中，1
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检测组件，11
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扫描头，12
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横杆，13
‑
伸缩缸，14
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转轴，15
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导向杆，16
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支架，17
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从动齿轮，18
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主动齿轮，19
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第一电机；2
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输送组件，21
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输送带，22
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拨轮，23
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第二电机，24
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支撑横梁；3
‑
半导体封装件。
具体实施方式
27.为了对本实用新型的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图说明本实用新型的具体实施方式。
28.如图1
‑
图3共同所示，本实用新型提供一种半导体封装检测装置，包括检测组件1，检测组件1位于输送组件2的上方，检测组件1用于将输送组件2输送的半导体封装件3进行一一检测。
29.所述检测组件1包括成排设置的扫描头11，相邻扫描头11之间呈等间距设置；所述扫描头11的数量为大于或等于2的偶数。
30.所述扫描头11均固接于横杆12底部；所述横杆12固接于伸缩缸13的头部，伸缩缸13与横杆12垂直设置，伸缩缸13的伸缩实现横杆12以及扫描头11的升降，从而调节扫描头11与半导体封装件3之间的距离。
31.所述伸缩缸13安装在转轴14上，伸缩缸13的活塞杆贯穿转轴14设置；所述转轴14的轴线与横杆12的轴线平行设置。
32.所述伸缩缸13活塞杆的两侧分别设有导向杆15，导向杆15贯穿转轴14设置，导向杆15与转轴14滑动连接；所述导向杆15的底端均与横杆12固定连接。导向杆15用于确保扫描头11升降过程的直线度。
33.所述转轴14的两端分别由支架16进行支撑，转轴14由第一电机19进行驱动；所述转轴14一端的轴头上装配有从动齿轮17，从动齿轮17与第一电机19输出轴上装配的主动齿轮18进行啮合。
34.所述第一电机19为双向电机，可以正转或反转；所述第一电机19通过齿轮啮合带
动转轴14转动，第一电机19的正反转运动，可以带动转轴14进行正反转运动，转轴14的正反转运动可以实现扫描头11倾斜角度的调节，便于根据半导体封装件3上表面的倾斜角度灵活调节扫描头11的角度。
35.所述输送组件2包括输送带21，输送带21的上方设有拨轮22，拨轮22用于改变半导体封装件3的流向；所述拨轮22由第二电机23进行驱动，第二电机23安装在支撑横梁24上，支撑横梁24横跨在输送带21的上方。
36.所述第二电机23为单向步进电机，第二电机23带动拨轮22转动，拨轮22可以将纵向排列成队的半导体封装件3一分为二，由一队分为两队。拨轮22以及第二电机23的数量可以根据扫描头11的数量进行选取。
37.本实用新型的具体工作原理:
38.本实用新型通过输送带21对半导体封装件3进行输送，输送过程中通过拨轮22将半导体封装件3分为多列，半导体封装件3的列数与扫描头11一一对应，每列半导体封装件3对应一个扫描头11，本实用新型可以对多列半导体封装件3进行同步检测，可以显著提高检测效率。
39.本实用新型通过第一电机19的正反转运动，可以带动转轴14进行正反转运动，转轴14的正反转运动可以实现扫描头11倾斜角度的调节，便于根据半导体封装件3上表面的倾斜角度灵活调节扫描头11的角度，确保扫描检测过程的准确性。
40.本实用新型通过伸缩缸13的伸缩调节扫描头11与半导体封装件3之间的距离，确保扫描检测过程的清晰度。
41.以上所述为本实用新型最佳实施方式的举例，其中未详细述及的部分均为本领域普通技术人员的公知常识。本实用新型的保护范围以权利要求的内容为准，任何基于本实用新型的技术启示而进行的等效变换，也在本实用新型的保护范围之内。