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一种检测有机膜污染的方法与流程

2021-10-27 20:56:00 来源:中国专利 TAG:检测 污染物 有机 污染 方法

技术特征:
1.一种检测有机膜污染的方法,其特征在于,包括以下步骤,s1、采用三维荧光光谱仪,分别测定新膜样品和污染膜样品的荧光光谱;s2、将污染膜样品的荧光光谱减去新膜样品的荧光光谱,得到相减后的荧光光谱,通过相减后的荧光光谱上峰值的位置及形状来判断污染膜样品上的膜污染物的种类。2.如权利要求1所述的检测有机膜污染的方法,其特征在于,所述步骤s1前,先启动三维荧光光谱仪,热机;再启动运行软件,校准三维荧光光谱仪。3.如权利要求2所述的检测有机膜污染的方法,其特征在于,所述热机的时间大于1h。4.如权利要求2所述的检测有机膜污染的方法,其特征在于,采用硫酸奎宁溶液校准三维荧光光谱仪。5.如权利要求4所述的检测有机膜污染的方法,其特征在于,所述硫酸奎宁溶液的溶剂为浓度0.4

0.6mol/l的硫酸,硫酸奎宁溶液中的硫酸奎宁浓度为100

1000μg/l。6.如权利要求4或5所述的检测有机膜污染的方法,其特征在于,所述硫酸奎宁溶液保存在3

6℃的环境中,保存时间不超过一个月。7.如权利要求1所述的检测有机膜污染的方法,其特征在于,所述步骤s1中,新膜样品和污染膜样品均在湿润状态下进行荧光光谱的测定。8.如权利要求1所述的检测有机膜污染的方法,其特征在于,所述步骤s1中,测定荧光光谱时,扫描间隔为8

12nm,测定电压为380

420v,扫描速度为10000

14000nm/min。9.如权利要求1所述的检测有机膜污染的方法,其特征在于,所述步骤s1中,测定荧光光谱时,扫描间隔为10nm,测定电压为400v,扫描速度为12000nm/min。10.三维荧光光谱仪在检测有机膜污染中的应用。

技术总结
本发明属于污染物检测领域,具体涉及一种检测有机膜污染的方法,包括以下步骤:采用三维荧光光谱仪,分别测定新膜样品和污染膜样品的荧光光谱;将污染膜样品的荧光光谱减去新膜样品的荧光光谱,得到相减后的荧光光谱,通过相减后的荧光光谱上峰值的位置及形状来判断污染膜样品上的膜污染物的种类。本发明将三维荧光光谱法应用在直接分析膜上有机污染物的组成上,污染后膜的样本无需经过前处理,可以通过固相三维荧光光谱法进行直接检测,检测所需时间少,操作简单易学。操作简单易学。操作简单易学。


技术研发人员:潘鹏 孙华 沈培新 马楫
受保护的技术使用者:苏州苏净环保工程有限公司
技术研发日:2021.07.21
技术公布日:2021/10/26
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