一种测试电路和测试系统的制作方法

本申请涉及测试技术领域，具体而言，涉及一种测试电路和测试系统。

背景技术：

超大规模集成电路存储测试设备是集成电路行业非常重要的一环，存储产品的多样化会带来不同的设计需求与特点，而目前的存储器测试设备一般只能对单一器件进行测试，存在着测试效率低的问题。

技术实现要素：

本申请实施例的目的在于提供一种测试电路和测试系统，用以解决目前的存储器测试设备一般只能对单一器件进行测试，存在的测试效率低的问题。

第一方面，本实用新型提供一种测试电路，所述测试电路包括：m个电源管理单元，所述电源管理单元用于与待测试存储器连接，以向所述待测试存储器输入一电压电流信号，以及用于对所述待测试存储器输出的输出信号进行采样得到采样信号；一控制器，其与每一电源管理单元电连接，以用于根据接收的每一测试配置文件向对应的电源管理单元发送所述测试配置文件对应的测试信号，以使每一测试配置文件对应的电源管理单元根据接收的测试信号输出对应的所述电压电流信号，以及用于根据电源管理单元发送的采样信号生成对应的测试结果。

在上述设计的测试电路中，通过设计控制器和多个电源管理单元，使得设计的测试电路可以基于多个电源管理单元连接多个待测试存储器，控制器根据每一待测试存储器对应的测试配置文件生成对应的测试信号发送给待测试存储器连接的电源管理单元，使得待测试存储器连接的电源管理单元能够根据该测试信号生成对应的电压电流信号输入给待测试存储器，使得待测试存储器进行测试，并且每一待测试存储器连接的电源管理单元还可以对待测试存储器输出的输出信号进行采样进而得到采样信号传输给控制器，使得控制器可以根据采样信号生成其测试结果，由此可见，本申请设计的测试电路可同时对多个待测试存储器进行测试，解决了目前的存储器测试设备一般只能对单一器件进行测试，存在的测试效率低的问题，实现了超大规模的存储器测试集成，提高了并测数量从而大大提高存储器测试的效率，降低了测试成本。

在第一方面的可选实施方式中，每一电源管理单元包括电源管理芯片、k条测试信号线和一采样信号线，所述电源管理芯片通过所述k条测试信号线与待测试存储器的输入端连接，以向所述待测试存储器的输入端输入所述电压电流信号；所述电源管理芯片通过所述采样信号线与待测试存储器的输出端连接，以对所述待测试存储器输出的输出信号进行采样得到所述采样信号。

在第一方面的可选实施方式中，所述测试电路还包括：n个模数转换单元，每一模数转换单元的输入端与x条采样信号线连接以连接对应的2x个电源管理芯片，每一条采样信号线对应2个电源管理芯片，每一模数转换单元用于将接收的每一采样信号转换为对应的数字信号，其中，m＝2x*n；所述n个模数转换单元的输出端与所述控制器电连接，以向所述控制器发送转换的数字信号，使得所述控制器根据接收的数字信号生成对应的测试结果。

在第一方面的可选实施方式中，每一所述电源管理单元还包括k个可控开关，每一所述可控开关的输入端与对应的电源管理芯片连接，每一所述可控开关的输出端与一测试信号线连接，所述k个可控开关的控制端分别接入一控制信号，以用于闭合或断开对应的测试信号线和电源管理芯片之间的连接。

在第一方面的可选实施方式中，所述可控开关为pmos管，所述pmos管的源极与所述电源管理芯片连接，所述pmos管的漏极与所述测试信号线连接，所述pmos管的栅极接入一控制信号。

在第一方面的可选实施方式中，所述测试系统还包括接口单元，所述控制器通过所述接口单元与外部计算设备连接，以接收外部计算设备传输的测试配置文件。

在第一方面的可选实施方式中，所述测试系统还包括电源模块，所述电源模块与所述控制器和每一所述电源管理模块电连接，以为所述控制器和每一所述电源管理模块供电。

在第一方面的可选实施方式中，所述电源模块包括电源和电压转换单元，所述电源通过所述电压转换单元与所述控制器以及每一所述电源管理模块电连接。

在第一方面的可选实施方式中，所述电源模块为dc/dc电源模块。

第二方面，本实用新型提供一种测试系统，所述测试系统包括如前述实施方式所述的测试电路以及外部计算设备，所述外部计算设备与所述控制器连接，以向所述控制器发送至少一个测试配置文件，以使所述控制器根据接收的每一测试配置文件向对应的电源管理单元发送所述测试信号。

在上述设计的测试系统中，通过设计控制器和多个电源管理单元，使得设计的测试电路可以基于多个电源管理单元连接多个待测试存储器，控制器根据每一待测试存储器对应的测试配置文件生成对应的测试信号发送给待测试存储器连接的电源管理单元，使得待测试存储器连接的电源管理单元能够根据该测试信号生成对应的电压电流信号输入给待测试存储器，使得待测试存储器进行测试，并且每一待测试存储器连接的电源管理单元还可以对待测试存储器输出的输出信号进行采样进而得到采样信号传输给控制器，使得控制器可以根据采样信号生成其测试结果，由此可见，本申请设计的测试电路可同时对多个待测试存储器进行测试，解决了目前的存储器测试设备一般只能对单一器件进行测试，存在的测试效率低的问题，实现了超大规模的存储器测试集成，提高了并测数量从而大大提高存储器测试的效率，降低了测试成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的测试电路的第一结构示意图；

图2为本申请实施例提供的测试电路的第二结构示意图；

图3为本申请实施例提供的测试电路的第三结构示意图；

图4为本申请实施例提供的测试电路的第四结构示意图；

图5为本申请实施例提供的测试电路的第五结构示意图；

图6为本申请实施例提供的测试系统的第六结构示意图；

图7为本申请实施例提供的测试系统的第七结构示意图。

图标：10-控制器；20-电源管理单元；201-电源管理芯片；202-测试信号线；203-采样信号线；204-可控开关；30-模数转换单元；50-接口单元；60-电源模块；601-电源；602-电压转换单元；200-外部计算设备。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。

第一实施例

本申请实施例提供一种测试电路，如图1所示，该测试电路包括控制器10和m个电源管理单元20，该控制器10与每一电源管理单元20电连接，每一个电源管理单元20用于与待测试存储器进行连接，该控制器10用于根据接收的每一测试配置文件向对应的电源管理单元发送每一测试配置文件对应的测试信号，进而使得每一测试配置文件对应的电源管理单元20根据接收到的测试信号输出对应的电压电流信号给与其连接的待测试存储器a，进而使得待测试存储器a进行测试；同时，电源管理单元20还用于采样待测试存储器a的输出信号进而得到采样信号并将得到的采样信号发送给控制器10，使得控制器10可以根据电源管理单元20发送的采样信号生成对应的测试结果。

具体的，前述所说的测试配置文件中可包含其所属的电源管理单元20的标识，进而使得控制器10烧录测试配置文件之后即可得知该测试配置文件所需要测试是m个电源管理单元20中的哪一个电源管理单元，进而基于测试配置文件生成对应的测试信号之后即可向确定的电源管理单元发送生成的测试信号；另外，这里需要说明的是，当有多个电源管理单元20同时连接有多个待测试存储器a时，控制器10可接收多个测试配置文件，进而基于这多个测试配置文件生成每一电源管理单元20对应的测试信号进而发送给对应的电源管理单元，实现多个待测试存储器的同时测试；其中，前述所说的测试配置文件可以是存储器功能测试配置文件、静态参数测试配置文件、动态参数测试配置文件等等，其具体可以包括接触通断测试、输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电压、输入低电平电压、输入漏电流、三态输出漏电流、待机电源电流以及工作电源电流等指标测试。

在上述设计的测试电路中，通过设计控制器和多个电源管理单元，使得设计的测试电路可以基于多个电源管理单元连接多个待测试存储器，控制器根据每一待测试存储器对应的测试配置文件生成对应的测试信号发送给待测试存储器连接的电源管理单元，使得待测试存储器连接的电源管理单元能够根据该测试信号生成对应的电压电流信号输入给待测试存储器，使得待测试存储器进行测试，并且每一待测试存储器连接的电源管理单元还可以对待测试存储器输出的输出信号进行采样进而得到采样信号传输给控制器，使得控制器可以根据采样信号生成其测试结果，由此可见，本申请设计的测试电路可同时对多个待测试存储器进行测试，解决了目前的存储器测试设备一般只能对单一器件进行测试，存在的测试效率低的问题，实现了超大规模的存储器测试，提高了存储器测试的效率。

在本实施例的可选实施方式中，如图2所示，前述所说的每一电源管理单元20可包括电源管理芯片201、k条测试信号线202和一采样信号线203，该电源管理芯片201通过k条测试信号线202与待测试存储器a的输入端连接，使得电源管理芯片201可通过k条测试信号线202向待测试存储器a的输入端输入对应的电压电流信号；待测试存储器a的输出端与该电源管理芯片201的采样信号线203连接，使得电源管理芯片201可通过采样信号线203对待测试器存储器a的输出端输出的输出信号进行采样得到该采样信号；其中，该电源管理芯片201具体可为型号为ad5522的电源管理芯片，其具有四象限测量功能，其中，四象限测量功能是指每一测试信号线都具备加压测压、加压测流、加流测压以及加流测流的功能，每个电源管理芯片具有四个独立输出和测量单元，相比普通器件而言它具有体积小、功耗低、精度高的特点，所能整体提高整个模块的性能和集成度。

在本实施例的可选实施方式中，如图3所示，该测试电路还包括有n个模数转换单元30，每一模数转换单元30的输入端与x条采样信号线203连接以连接x条采样信号线203对应的2x个电源管理芯片201，其中，每一条采样信号线203连接有2个电源管理芯片201，每一模数转换单元30的输出端与该控制器10电连接，使得模数转换单元30可通过其连接的采样信号线203接收对应的电源管理芯片201采样得到的采样信号，进而将接收的采样信号转换为对应的数字信号并将采样信号转换后得到的数字信号传输给控制器10，使得控制器10根据采样信号转换后得到的数字信号生成对应的测试结果；其中，m＝2x*n，例如，如图4为一个模数转换单元30的与电源管理芯片的连接示意图，每个模数转换单元30具有八个通道，那么一个模数转换单元30可与8个采样信号线203连接进而连接16个电源管理芯片201，那么当n等于4也就是模数转换单元30有4个时，则存在有64个电源管理芯片201；其中，模数转换单元30具体可为型号ad7608的模数转换单元，其具有8通道差分das、18位、双极性、同步采样adc，该高精度的器件保证了采样精度和准确性。

在本实施例的可选实施方式中，在前述所说的每一电源管理单元20包括有k条测试信号线202的基础上，为了对测试过程进行更好的控制，如图5所示，每一电源管理单元20还可以包括k个可控开关204，每一可控开关204设置在电源管理芯片201和一测试信号线202之间，具体是每一可控开关204的输入端与对应的电源管理芯片201连接，每一可控开关204的输出端与对应的测试信号线202连接，该k个可控开关204的控制端分别接入一控制信号，以用于闭合或断开对应的测试信号线和电源管理芯片之间的连接。

其中，前述所说的可控开关204可为继电器、光耦以及晶闸管等能被控制可用作于开关的器件，以下以晶闸管中的pmos管为例，具体的，当可控开关204具体为pmos管时，该pmos管的源极与该电源管理芯片201连接，该pmos管的漏极与对应的测试信号线202连接，该pmos管的栅极接入一控制信号，进而可通过控制信号来控制pmos的开断使得闭合或断开对应的测试信号线和电源管理芯片之间的连接，其中，该可控信号可通过控制器10发送也可以通过电源管理芯片201发送，也就是说可控开关的控制端可与控制器10连接，也可以与电源管理芯片201连接。

在本实施例的可选实施方式中，如图6所示，该测试电路还包括接口单元50，该控制器10通过接口单元50与外部计算设备连接，以接收外部计算设备传输的测试配置文件。具体的，该接口单元50具体可将pcie转换为本地接口到控制器10，进而使得外部计算设备可与控制器10进行通讯，进而将测试配置文件传输给控制器10进行存储和应用。

在本实施例的可选实施方式中，如图6所示，该测试电路还包括电源模块60，该电源模块60与控制器10和每一电源管理单元20电连接，以为控制器和每一电源管理单元20供电，该电源模块60具体可为dc/dc电源模块。

在本实施例的可选实施方式中，该电源模块60包括电源601和电压转换单元602，该电源601通过电压转换单元602与控制器10以及每一电源管理单元20电连接，通过电压转换单元602将电源601的输出电压转换成控制器10的工作电压以及每一电源管理单元20的工作电压，进而使得控制器和电源管理单元20的工作更加稳定，例如，可将外部的48v电源转换成多路不同电压进而分别为控制器10和电源管理单元20供电。

第二实施例

本申请还提供一种测试系统，如图7所示，该测试系统包括第一实施例所描述的测试电路以及外部计算设备200，该外部计算设备200与控制器10连接，该外部计算设备200用于向控制器10发送至少一个测试配置文件，使得控制器10可基于接收到的每一测试配置文件向对应的电源管理单元20发送对应的测试信号。

具体的，该外部计算设备200可通过第一实施例中所说的接口单元50与该控制器10连接，进而通过接口单元50与控制器进行通讯。

在上述设计的测试系统中，通过设计控制器和多个电源管理单元，使得设计的测试电路可以基于多个电源管理单元连接多个待测试存储器，控制器根据每一待测试存储器对应的测试配置文件生成对应的测试信号发送给待测试存储器连接的电源管理单元，使得待测试存储器连接的电源管理单元能够根据该测试信号生成对应的电压电流信号输入给待测试存储器，使得待测试存储器进行测试，并且每一待测试存储器连接的电源管理单元还可以对待测试存储器输出的输出信号进行采样进而得到采样信号传输给控制器，使得控制器可以根据采样信号生成其测试结果，由此可见，本申请设计的测试电路可同时对多个待测试存储器进行测试，解决了目前的存储器测试设备一般只能对单一器件进行测试，存在的测试效率低的问题，实现了超大规模的存储器测试集成，提高了并测数量从而大大提高存储器测试的效率，降低了测试成本。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

另外，作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

再者，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

需要说明的是，功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(read-onlymemory，rom)随机存取存储器(randomaccessmemory，ram)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。