SSDBIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质与流程

ssd bist测试的方法、装置、计算机设备及存储介质
技术领域
1.本发明涉及ssd bist测试技术领域，更具体地说是指ssd bist测试的方法、装置、计算机设备及存储介质。


背景技术：

2.现有ssd bist设备，仅仅是用于温箱控制，没有对ssd bist测试过程日志进行存储收集，这导致测试过程异常信息没法实时收集并记录，在生产应用上难以做到生产测试信息有效追溯。


技术实现要素：

3.本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供ssd bist测试的方法、装置、计算机设备及存储介质。
4.为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：
5.ssd bist测试的方法，包括以下步骤：
6.预先配置设定测试温度和bist测试时长；
7.控制温箱升温，当温度达到设定测试温度时，对ssd进行上电，开始测试；
8.实时获取ssd bist测试日志信息，当达到设定bist测试时长时，测试停止，保存ssd bist测试日志信息。
9.其进一步技术方案为：所述设定测试温度为30℃
‑
70℃。
10.其进一步技术方案为：所述设定bist测试时长为60s
‑
72h。
11.其进一步技术方案为：所述实时获取ssd bist测试日志信息，当达到设定bist测试时长时，测试停止，保存ssd bist测试日志信息步骤之后，还包括：将ssd bist测试日志信息上传至终端，终端对ssd bist测试日志信息进行图形化界面显示。
12.ssd bist测试的装置，包括：配置设定单元，控制测试单元，及获取保存单元；
13.所述配置设定单元，用于预先配置设定测试温度和bist测试时长；
14.所述控制测试单元，用于控制温箱升温，当温度达到设定测试温度时，对ssd进行上电，开始测试；
15.所述获取保存单元，用于实时获取ssd bist测试日志信息，当达到设定bist测试时长时，测试停止，保存ssd bist测试日志信息。
16.其进一步技术方案为：所述设定测试温度为30℃
‑
70℃。
17.其进一步技术方案为：所述设定bist测试时长为60s
‑
72h。
18.其进一步技术方案为：还包括：上传显示单元，用于将ssd bist测试日志信息上传至终端，终端对ssd bist测试日志信息进行图形化界面显示。
19.一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的ssd bist测试的方法。
20.一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，
所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的ssd bist测试的方法。
21.本发明与现有技术相比的有益效果是：通过将温箱控制和ssd bist测试日志收集功能集成统一，不仅实现了ssd bist测试过程自动上电、温度控制、设定、自动下电，同时针对ssd bist测试过程日志信息进行收集保存，有效进行ssd bist自动化测试的同时对测试日志进行收集便于后续生产数据追溯、分析，能够更好地满足需求。
22.下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。
附图说明
23.为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
24.图1为本发明实施例提供的ssd bist测试的方法的流程示意图；
25.图2为本发明实施例提供的ssd bist测试的装置的示意性框图；
26.图3为本发明实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
27.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
28.应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
29.还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
30.还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
31.请参阅图1到图3所示的具体实施例，其中，请参阅图1所示，本发明公开了一种ssd bist测试的方法，包括以下步骤：
32.s1，预先配置设定测试温度和bist(内部自测)测试时长；
33.其中，在s1步骤之前，还包括：将ssd装载至测试主机上，测试主机通过交换机与终端连接，实现信息通讯，温箱与测试主机连接，通过在终端上对测试温度和bist测试时长预先配置设定。
34.其中，在本实施例中，设定测试温度为30℃
‑
70℃，设定bist测试时长为60s
‑
72h，具体数值可根据实际需要进行设定。
35.s2，控制温箱升温，当温度达到设定测试温度时，对ssd进行上电，开始测试；
36.其中，测试主机控制温箱升温，简单方便。
37.s3，实时获取ssd bist测试日志信息，当达到设定bist测试时长时，测试停止，保
存ssd bist测试日志信息。
38.其中，测试主机通过串口实时获取ssd bist测试日志信息并保存。
39.其中，在s3步骤之后，还包括：将ssd bist测试日志信息上传至终端，终端对ssd bist测试日志信息进行图形化界面显示，以便直观浏览，还便于集中管理和生产数据追溯，且自动执行温箱降温、ssd下电操作，减少人为操作。
40.本发明通过将温箱控制和ssd bist测试日志收集功能集成统一，不仅实现了ssd bist测试过程自动上电、温度控制、设定、自动下电，同时针对ssd bist测试过程日志信息进行收集保存，有效进行ssd bist自动化测试的同时对测试日志进行收集便于后续生产数据追溯、分析，能够更好地满足需求。
41.请参阅图2所示，本发明还公开了一种ssd bist测试的装置，包括：配置设定单元10，控制测试单元20，及获取保存单元30；
42.所述配置设定单元10，用于预先配置设定测试温度和bist测试时长；
43.所述控制测试单元20，用于控制温箱升温，当温度达到设定测试温度时，对ssd进行上电，开始测试；
44.所述获取保存单元30，用于实时获取ssd bist测试日志信息，当达到设定bist测试时长时，测试停止，保存ssd bist测试日志信息。
45.其中，所述设定测试温度为30℃
‑
70℃，所述设定bist测试时长为60s
‑
72h。
46.其中，该装置还包括：上传显示单元40，用于将ssd bist测试日志信息上传至终端，终端对ssd bist测试日志信息进行图形化界面显示。
47.需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，上述ssd bist测试的装置和各单元的具体实现过程，可以参考前述方法实施例中的相应描述，为了描述的方便和简洁，在此不再赘述。
48.上述ssd bist测试的装置可以实现为一种计算机程序的形式，该计算机程序可以在如图3所示的计算机设备上运行。
49.请参阅图3，图3是本申请实施例提供的一种计算机设备的示意性框图；该计算机设备500可以是终端，也可以是服务器，其中，终端可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、个人数字助理和穿戴式设备等具有通信功能的电子设备。服务器可以是独立的服务器，也可以是多个服务器组成的服务器集群。
50.参阅图3，该计算机设备500包括通过系统总线501连接的处理器502、存储器和网络接口505，其中，存储器可以包括非易失性存储介质503和内存储器504。
51.该非易失性存储介质503可存储操作系统5031和计算机程序5032。该计算机程序5032包括程序指令，该程序指令被执行时，可使得处理器502执行一种ssd bist测试的方法。
52.该处理器502用于提供计算和控制能力，以支撑整个计算机设备500的运行。
53.该内存储器504为非易失性存储介质503中的计算机程序5032的运行提供环境，该计算机程序5032被处理器502执行时，可使得处理器502执行一种ssd bist测试的方法。
54.该网络接口505用于与其它设备进行网络通信。本领域技术人员可以理解，图3中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备500的限定，具体的计算机设备500可以包括比图中所示更多或更少的
部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
55.应当理解，在本申请实施例中，处理器502可以是中央处理单元(central processing unit，cpu)，该处理器502还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现成可编程门阵列(field
‑
programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
56.本领域普通技术人员可以理解的是实现上述实施例的方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。该计算机程序包括程序指令，计算机程序可存储于一存储介质中，该存储介质为计算机可读存储介质。该程序指令被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现上述方法的实施例的流程步骤。
57.因此，本发明还提供一种存储介质。该存储介质可以为计算机可读存储介质。该存储介质存储有计算机程序，其中计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现上述的ssd bist测试的方法。
58.所述存储介质可以是u盘、移动硬盘、只读存储器(read
‑
only memory，rom)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的计算机可读存储介质。
59.本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
60.在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。例如，各个单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
61.本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。
62.该集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分，或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，终端，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
63.上述仅以实施例来进一步说明本发明的技术内容，以便于读者更容易理解，但不代表本发明的实施方式仅限于此，任何依本发明所做的技术延伸或再创造，均受本发明的保护。本发明的保护范围以权利要求书为准。