一种SSD掉电恢复的测试方法、系统及控制机与流程

一种ssd掉电恢复的测试方法、系统及控制机
技术领域
1.本发明涉及ssd测试领域，特别涉及一种ssd掉电恢复的测试方法、系统及控制机。


背景技术：

2.作为存储介质的ssd(solid state disk，固态硬盘)，需要经常考虑掉电时的数据保护和恢复。其中，ssd中的闪存一般不会在掉电时丢失，而ssd中的ram(random access memory，随机存取存储器)，如sram(static random access memory，静态随机存取存储器)或dram(dynamic random access memory，动态随机存取存储器)，一旦在掉电时发生数据丢失，会造成不可预估的损失。为了避免掉电时ram数据丢失，技术人员在ssd的基础上增加了电容进行数据保护，尽量减小异常掉电的损失。但是，增加电容后的ssd，能否实现异常掉电时的数据保护和恢复，需要作进一步的测试和验证，具体测试一般为人工手动操作，耗时较长且效率较低。
3.因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是目前本领域技术人员需要解决的问题。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本发明的目的在于提供一种ssd掉电恢复的测试方法、系统及控制机。其具体方案如下：
5.一种ssd掉电恢复的测试方法，ssd通过quarch设备与服务器连接，所述服务器与控制机通过局域网连接，所述测试方法应用于所述控制机，所述测试方法包括：
6.对所述ssd进行写满操作；
7.保存所述ssd中ram的第一映射表；
8.选择掉电方式对所述ssd进行断电操作；所述掉电方式包括控制所述quarch设备异常断电、控制所述服务器的bmc异常断电、通过指令init 0正常下电；
9.对所述ssd上电；
10.导出所述ram的第二映射表；
11.比较所述第一映射表和所述第二映射表，以判断所述ssd是否执行了掉电恢复操作。
12.优选的，所述比较所述第一映射表和所述第二映射表，以判断所述ssd是否执行了掉电恢复操作的过程，包括：
13.比较所述第一映射表和所述第二映射表的最后一个数据的时间戳是否相同；
14.若是，则确认所述ssd在下电前执行了数据保存操作；
15.若否，读取所述第一映射表和所述第二映射表中不同的数据，以查看所述ssd的闪存在上电后是否执行了数据恢复操作。
16.优选的，所述比较所述第一映射表和所述第二映射表，以判断所述ssd是否执行了掉电恢复操作的过程，还包括：
17.校验所述第二映射表中对应所述第一映射表最后一个数据的时间戳后，是否还有数据存在，若是，则确认ssd的数据恢复操作出错。
18.优选的，所述保存所述ssd中ram的第一映射表之前，还包括：
19.随机设置一个正常下电的断电时间。
20.优选的，所述控制机通过所述局域网，进入所述服务器的bios设置bmc的地址，以使所述控制器通过所述服务器的bmc控制所述服务器开关机。
21.优选的，所述对所述ssd进行写满操作之前，还包括：
22.对所述ssd进行格式化，使所述ssd为空。
23.相应的，本申请公开了一种ssd掉电恢复的测试系统，ssd通过quarch设备与服务器连接，所述服务器与控制机通过局域网连接，所述测试系统位于所述控制机，所述测试系统包括：
24.写操作模块，用于对所述ssd进行写满操作；
25.第一映射模块，用于保存所述ssd中ram的第一映射表；
26.掉电模块，用于选择掉电方式对所述ssd进行断电操作；所述掉电方式包括控制所述quarch设备异常断电、控制所述服务器的bmc异常断电、通过指令init 0正常下电；
27.上电模块，用于对所述ssd上电；
28.第二映射模块，用于导出所述ram的第二映射表；
29.比较模块，用于比较所述第一映射表和所述第二映射表，以判断所述ssd是否执行了掉电恢复操作。
30.优选的，所述控制机通过所述局域网，进入所述服务器的bios设置bmc的地址，以使所述控制器通过所述服务器的bmc控制所述服务器开关机。
31.优选的，所述写操作模块还用于：
32.对所述ssd进行格式化，使所述ssd为空。
33.相应的，本申请公开了一种控制机，包括：
34.存储器，用于存储计算机程序；
35.处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上文任一项所述ssd掉电恢复的测试方法的步骤。
36.本申请公开了一种ssd掉电恢复的测试方法，ssd通过quarch设备与服务器连接，所述服务器与控制机通过局域网连接，所述测试方法应用于所述控制机，所述测试方法包括：对所述ssd进行写满操作；保存所述ssd中ram的第一映射表；选择掉电方式对所述ssd进行断电操作；所述掉电方式包括控制所述quarch设备异常断电、控制所述服务器的bmc异常断电、通过指令init 0正常下电；对所述ssd上电；导出所述ram的第二映射表；比较所述第一映射表和所述第二映射表，以判断所述ssd是否执行了掉电恢复操作。本申请通过控制机对ssd进行测试，在掉电前写满ssd并获取ram的第一映射表，在上电后获取ram的第二映射表，比较第一映射表和第二映射表来确定ssd是否进行了掉电恢复，实现了对掉电恢复策略的自动测试，提高了ssd的测试效率。
附图说明
37.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现
有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
38.图1为本发明实施例中一种ssd掉电恢复的测试环境的结构分布图；
39.图2为本发明实施例中一种ssd掉电恢复的测试方法的步骤流程图；
40.图3为本发明实施例中一种ssd掉电恢复的测试系统的结构分布图。
具体实施方式
41.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
42.增加电容后的ssd，能否实现异常掉电时的数据保护和恢复，需要作进一步的测试和验证，具体测试一般为人工手动操作，耗时较长且效率较低。本申请通过控制机对ssd进行测试，在掉电前写满ssd并获取ram的第一映射表，在上电后获取ram的第二映射表，比较第一映射表和第二映射表来确定ssd是否进行了掉电恢复，实现了对掉电恢复策略的自动测试，提高了ssd的测试效率。
43.本发明实施例公开了一种ssd掉电恢复的测试方法，其测试环境如图1所示，其中ssd通过quarch设备与服务器连接，服务器与控制机通过局域网连接，服务器能够识别到ssd和quarch设备，控制机可通过局域网对服务器进行操作。
44.测试方法应用于控制机，参见图2所示，测试方法包括：
45.s1：对ssd进行写满操作；
46.进一步的，在步骤s1对ssd进行写满操作之前，还可包括：
47.对ssd进行格式化，使ssd为空。
48.可以理解的是，先对ssd进行格式化，ssd为空时能够按照预设写规则将ssd写满，避免步骤s1之前ssd中原有的存储内容对ssd的测试造成干扰。
49.具体的，对ssd进行格式化的程序命令具体可包括：
50.nvme format(设备名，如：/dev/nvne0)
–
s 1
–
l 0.将全盘进行低格。
51.类似的，对ssd进行写满操作的程序命令具体可包括：
[0052][0053]
s2：保存ssd中ram的第一映射表；
[0054]
具体的，在执行步骤s2保存ssd中ram的第一映射表之前，还可包括：
[0055]
随机设置一个正常下电的断电时间。
[0056]
s3：选择掉电方式对ssd进行断电操作；掉电方式包括控制quarch设备异常断电、控制服务器的bmc异常断电、通过指令init 0正常下电；
[0057]
可以理解的是，本实施例中存在多种掉电方式，可任意选择某一掉电方式进行断电操作并验证该掉电方式下的掉电恢复策略，也多次执行本实施例中测试方法来验证所有掉电方式下的掉电恢复策略。
[0058]
s4：对ssd上电；
[0059]
可以理解的是，本实施例中对ssd上下电的操作均由服务器来执行，ssd的掉电方式包括且不限于控制quarch设备异常断电、控制服务器的bmc异常断电、通过指令init 0正常下电这三种，ssd的上电方式一般也是控制机对服务器发出上电指令来完成，为了保证控制机能够控制服务器，需要进行以下设置：控制机通过局域网，进入服务器的bios(basic input output system，基本输入输出系统)设置bmc(baseboard management controller，基板管理控制器)的地址，以使控制器通过服务器的bmc控制服务器开关机。
[0060]
s5：导出ram的第二映射表；
[0061]
s6：比较第一映射表和第二映射表，以判断ssd是否执行了掉电恢复操作。
[0062]
具体的，步骤s6中比较第一映射表和第二映射表，以判断ssd是否执行了掉电恢复操作的过程，包括：
[0063]
比较第一映射表和第二映射表的最后一个数据的时间戳是否相同；
[0064]
若是，则确认ssd在下电前执行了数据保存操作；
[0065]
若否，读取第一映射表和第二映射表中不同的数据，以查看ssd的闪存在上电后是否执行了数据恢复操作。
[0066]
进一步的，比较第一映射表和第二映射表，以判断ssd是否执行了掉电恢复操作的过程，还包括：
[0067]
校验第二映射表中对应第一映射表最后一个数据的时间戳后，是否还有数据存在，若是，则确认ssd的数据恢复操作出错。
[0068]
本实施例通过校验第一映射表和第二映射表的方式，能够准确检查上电恢复的数据，检验掉电时未写完的数据是否在上电后写入，涵盖了掉电恢复策略中各种可能出现的情况。同时，本宿舍楼利用控制机搭建了ssd的自动化测试平台，能够实现掉电恢复策略的自动验证，代替人工操作，提高了测试效率，节省了人工成本和时间成本。
[0069]
本申请公开了一种ssd掉电恢复的测试方法，ssd通过quarch设备与服务器连接，所述服务器与控制机通过局域网连接，所述测试方法应用于所述控制机，所述测试方法包括：对所述ssd进行写满操作；保存所述ssd中ram的第一映射表；选择掉电方式对所述ssd进行断电操作；所述掉电方式包括控制所述quarch设备异常断电、控制所述服务器的bmc异常断电、通过指令init 0正常下电；对所述ssd上电；导出所述ram的第二映射表；比较所述第一映射表和所述第二映射表，以判断所述ssd是否执行了掉电恢复操作。本申请通过控制机对ssd进行测试，在掉电前写满ssd并获取ram的第一映射表，在上电后获取ram的第二映射表，比较第一映射表和第二映射表来确定ssd是否进行了掉电恢复，实现了对掉电恢复策略的自动测试，提高了ssd的测试效率。
[0070]
相应的，本申请实施例公开了一种ssd掉电恢复的测试系统，ssd通过quarch设备与服务器连接，服务器与控制机通过局域网连接，测试系统位于控制机，参见图3所示，测试系统包括：
[0071]
写操作模块1，用于对ssd进行写满操作；
[0072]
第一映射模块2，用于保存ssd中ram的第一映射表；
[0073]
掉电模块3，用于选择掉电方式对ssd进行断电操作；掉电方式包括控制quarch设备异常断电、控制服务器的bmc异常断电、通过指令init 0正常下电；
[0074]
上电模块4，用于对ssd上电；
[0075]
第二映射模块5，用于导出ram的第二映射表；
[0076]
比较模块6，用于比较第一映射表和第二映射表，以判断ssd是否执行了掉电恢复操作。
[0077]
本申请实施例通过控制机对ssd进行测试，在掉电前写满ssd并获取ram的第一映射表，在上电后获取ram的第二映射表，比较第一映射表和第二映射表来确定ssd是否进行了掉电恢复，实现了对掉电恢复策略的自动测试，提高了ssd的测试效率。
[0078]
在一些具体的实施例中，控制机通过局域网，进入服务器的bios设置bmc的地址，以使控制器通过服务器的bmc控制服务器开关机。
[0079]
在一些具体的实施例中，写操作模块1还用于：
[0080]
对ssd进行格式化，使ssd为空。
[0081]
在一些具体的实施例中，比较模块6具体用于：
[0082]
比较第一映射表和第二映射表的最后一个数据的时间戳是否相同；
[0083]
若是，则确认ssd在下电前执行了数据保存操作；
[0084]
若否，读取第一映射表和第二映射表中不同的数据，以查看ssd的闪存在上电后是否执行了数据恢复操作。
[0085]
在一些具体的实施例中，比较模块6具体用于：
[0086]
校验第二映射表中对应第一映射表最后一个数据的时间戳后，是否还有数据存在，若是，则确认ssd的数据恢复操作出错。
[0087]
在一些具体的实施例中，第一映射模块2还用于：
[0088]
随机设置一个正常下电的断电时间。
[0089]
相应的，本申请实施例还公开了一种控制机，包括：
[0090]
存储器，用于存储计算机程序；
[0091]
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上文任一项所述ssd掉电恢复的测试方法的步骤。
[0092]
其中，具体有关ssd掉电恢复的测试方法的内容，可以参照上文实施例中的相关描述，此处不再赘述。
[0093]
其中，本实施例中控制机具有与上文实施例中ssd掉电恢复的测试方法相同的有益效果，此处不再赘述。
[0094]
最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0095]
以上对本发明所提供的一种ssd掉电恢复的测试方法、系统及控制机进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。