本发明涉及金融设备技术领域，尤其涉及一种薄片介质厚度异常检测方法及装置、存储介质及设备。
背景技术：
目前，对于纸币厚度异常的检测一般是通过基于当前纸币的厚度均值预先设定凸起比例阈值，如果厚度凸起比例高于设定的阈值，并且达到设定的窗口范围，则判断该纸币厚度存在异常。但是，目前纸币厚度异常检测的方法存在的问题是：不能准确确定待检测纸币的各个位置的厚度凸起情况。因此，当前检测纸币厚度异常的方法检测精确度不高，容易出现误检和漏检。
技术实现要素：
基于此，有必要针对上述问题，提出一种薄片介质厚度异常检测方法及装置、存储介质及设备，本发明目的是通过建立待检测薄片介质的厚度波动矩阵，再根据厚度波动矩阵和相应的厚度检测模板判断待检测薄片介质的厚度是否存在异常，提高了薄片介质厚度异常检测的精确度。
在第一方面，本申请提供了一种薄片介质厚度异常检测方法，所述方法包括：
获取待检测薄片介质在各列通道内的厚度数据，及获取所述待检测薄片介质图像旋正后的目标图像；
根据所述厚度数据和所述目标图像，确定所述待检测薄片介质在通道中所占用的有效通道；
根据所述有效通道、所述厚度数据，确定所述目标图像的厚度波动矩阵；
根据所述厚度波动矩阵和厚度检测模板对所述待检测薄片介质进行厚度异常检测。
可选的，所述根据所述厚度数据和所述目标图像，确定所述待检测薄片介质在通道中所占用的有效通道，包括：
根据所述厚度数据进行列通道的行边界检测，确定所述待检测薄片介质在各列通道的有效行；
根据所述目标图像进行有效列通道检测，确定所述待检测薄片介质在各列通道中所占用的有效列通道。
可选的，所述根据厚度数据进行列通道的行边界检测，确定所述待检测薄片介质在各列通道的有效行，包括：
根据所述厚度数据确定目标列通道的初步上升沿和初步下降沿，所述目标列通道为所述各列通道中的任意一个列通道；
确定所述各列通道的所述初步上升沿与所述初步下降沿之间的行，并作为所述待检测薄片介质在各列通道的有效行。
可选的，所述根据所述厚度数据确定目标列通道的初步上升沿和初步下降沿，包括：
根据所述厚度数据确定目标列通道的上升沿和下降沿；
从所述上升沿和所述下降沿中基于预设规则选择初步上升沿和初步下降沿，所述预设规则为：所述初步上升沿和所述初步下降沿之间存在连续的厚度值，且连续的厚度值之和最大。
可选的，所述从所述上升沿和所述下降沿中基于预设规则选择初步上升沿和初步下降沿之后，还包括：
将所述目标列通道内以所述初步上升沿所在行开始向所述初步下降沿方向取预设数量的采样行作为上升沿采样区，将所述目标列通道内以所述初步下降沿所在行开始向所述初步上升沿方向取所述预设数量的采样行作为下降沿采样区；
从所述上升沿采样区中选择目标上升沿，且从所述下降沿采样区中选择目标下降沿；
则所述确定所述各列通道的所述初步上升沿与所述初步下降沿之间的行，并作为所述待检测薄片介质在各列通道的有效行，包括：
确定所述各列通道的所述目标上升沿与所述目标下降沿之间的行，并作为所述待检测薄片介质在各列通道的有效行。
可选的，所述根据所述目标图像进行有效列通道检测，确定所述待检测薄片介质在所述各列通道中所占用的有效列通道，包括：
根据所述目标图像的宽度和预设的所述列通道在所述目标图像中的映射宽度，确定所述待检测薄片介质的有效列通道数参考值；
根据所述目标图像的实际占用列通道数和所述有效列通道数参考值确定所述目标图像在所述各列通道中所占用的有效列通道，其中，所述实际占用列通道由存在所述初步上升沿和所述初步下降沿的连续列通道组成。
可选的，所述根据所述目标图像的实际占用列通道数和所述有效列通道数参考值确定所述目标图像在所述各列通道中所占用的有效列通道，包括：
若所述实际占用列通道数大于所述有效列通道数参考值，则比较所述实际占用列通道内各列通道内的初步上升沿和初步下降沿之间的有效行数，将所述有效行数最少的列通道去掉，剩余的列通道为所述有效列通道；
若所述实际占用列通道内各列通道内的有效行数相同，则比较所述实际占用列通道内各列通道内的厚度数据的均值，将所述厚度数据的均值最小的列通道去掉，剩余的列通道为所述有效列通道；
若所述实际占用列通道数小于所述有效列通道数参考值，则判断除所述实际占用列通道以外的列通道内是否存在有效行，将所述实际占用列通道以及存在有效行的列通道作为所述有效列通道。
可选的，所述根据所述有效通道、所述厚度数据，确定所述目标图像的厚度波动矩阵之后，还包括：
利用所述目标图像确定所述待检测薄片介质是否是正面正向；
若不是正面正向，则对所述厚度波动矩阵执行归一化，得到所述待检测薄片介质正面正向的厚度波动矩阵，所述归一化为：根据预设标准执行的预设变换的操作。
可选的，所述根据所述有效通道、所述厚度数据，确定所述目标图像的厚度波动矩阵之后，还包括：
从所述厚度波动矩阵的首行开始将两行相邻行的厚度波动值的平均值，作为所述两行相邻行合并成一行后的厚度波动值，以实现对所述厚度波动矩阵的降维处理，得到降维后的厚度波动矩阵。
可选的，所述根据所述有效通道、所述厚度数据，确定所述目标图像的厚度波动矩阵，包括：
根据所述有效行、所述有效列通道、及所述厚度数据生成所述待检测薄片介质的厚度波动矩阵，所述厚度波动矩阵用于表示所述待检测薄片介质中各个位置的厚度值偏离厚度值中值的厚度波动值，所述位置基于所述有效行及所述有效列通道确定。
可选的，所述方法还包括：
从预设数量的模板薄片介质的厚度波动矩阵中，选择目标位置的最大厚度波动值作为所述目标位置在所述厚度检测模板中的值，生成所述厚度检测模板，所述目标位置为所述薄片介质中的任意一个位置。
在第二方面，本申请提供了一种薄片介质厚度异常检测装置，所述装置包括：
获取模块，用于获取待检测薄片介质在各列通道内的厚度数据，及获取所述待检测薄片介质图像旋正后的目标图像；
第一确定模块，用于根据所述厚度数据和所述目标图像，确定所述待检测薄片介质在通道中所占用的有效通道；
第二确定模块，用于根据所述有效通道、所述厚度数据，确定所述目标图像的厚度波动矩阵；
执行模块，用于根据所述厚度波动矩阵和厚度检测模板对所述待检测薄片介质进行厚度异常检测。
在第三方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行如下步骤：
获取待检测薄片介质在各列通道内的厚度数据，及获取所述待检测薄片介质图像旋正后的目标图像；
根据所述厚度数据和所述目标图像，确定所述待检测薄片介质在通道中所占用的有效通道；
根据所述有效通道、所述厚度数据，确定所述目标图像的厚度波动矩阵；
根据所述厚度波动矩阵和厚度检测模板对所述待检测薄片介质进行厚度异常检测。
在第四方面，本申请提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如下步骤：
获取待检测薄片介质在各列通道内的厚度数据，及获取所述待检测薄片介质图像旋正后的目标图像；
根据所述厚度数据和所述目标图像，确定所述待检测薄片介质在通道中所占用的有效通道；
根据所述有效通道、所述厚度数据，确定所述目标图像的厚度波动矩阵；
根据所述厚度波动矩阵和厚度检测模板对所述待检测薄片介质进行厚度异常检测。
采用本发明实施例，具有如下有益效果：
采用本发明的一种薄片介质厚度异常检测方法，通过获取待检测薄片介质的厚度数据和目标图像来实现有效列通道的确定，实现了对待检测薄片介质边界的查找；通过有效列通道及厚度数据生成厚度波动矩阵，且该厚度波动矩阵用于表示待检测薄片介质中各个位置的厚度值偏离待检测薄片介质的厚度值中值的厚度波动值，使得能够有效提高对待检测薄片介质的厚度波动情况的确定，且通过利用该厚度波动矩阵和厚度检测模板确定待检测薄片介质的厚度是否存在异常，能够有效提高厚度异常检测的精确度，降低了误检和漏检的概率；
采用本发明的一种薄片介质厚度异常检测装置，通过调用获取模块、第一确定模块、第二确定模块和执行模块来执行薄片介质厚度异常检测方法，进而通过该方法实现了对待检测薄片介质的厚度异常检测，进而能够有效提高厚度异常检测的精确度，降低了误检和漏检的概率；
采用本发明的一种计算机可读存储介质，处理器通过调用存储介质中的计算机程序，使得能够实现薄片介质厚度异常检测方法，进而通过该方法实现了对待检测薄片介质的厚度异常检测，进而能够有效提高厚度异常检测的精确度，降低了误检和漏检的概率；
采用本发明的一种计算机设备，计算机设备中的处理器通过调用存储器中存储的计算机程序，使得能够实现薄片介质厚度异常检测方法，进而通过该方法实现了对待检测薄片介质的厚度异常检测，进而能够有效提高厚度异常检测的精确度，降低了误检和漏检的概率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
其中：
图1为本申请实施例中薄片介质厚度异常检测方法的流程示意图；
图2为本申请图1所示实施例中步骤102的细化步骤的流程示意图；
图3为本申请图2所示实施例中步骤201的细化步骤的流程示意图；
图4为本申请图3所示实施例中步骤301的细化步骤的流程示意图；
图5为本申请实施例中目标列通道内厚度数据的分布示意图；
图6为本申请图4所示实施例中薄片介质厚度异常检测方法的追加步骤的流程示意图；
图7为本申请实施例中上升沿采样区和下降沿采样区的示意图；
图8为本申请图2所示实施例中步骤202的细化步骤的流程示意图；
图9为本申请图8所示实施例中步骤802的细化步骤的流程示意图；
图10为本申请图1所示实施例中薄片介质厚度异常检测方法的追加步骤的流程示意图；
图11为本申请实施例中薄片介质厚度异常检测方法的另一流程示意图；
图12为本申请实施例中薄片介质厚度异常检测装置的结构示意图；
图13为本申请实施例中计算机设备的结构框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1，为本申请实施例中薄片介质厚度异常检测方法的流程示意图，该方法包括：
步骤101、获取待检测薄片介质在各列通道内的厚度数据，及获取所述待检测薄片介质图像旋正后的目标图像；
在本申请实施例中，上述的薄片介质厚度异常检测方法由薄片介质厚度异常检测装置实现，薄片介质厚度异常检测设备包括薄片介质厚度异常检测装置，其中，该设备可以是具有图像处理功能和数据处理功能的设备，并且该设备包括用于图像采集的图像传感器和用于厚度数据采集的厚度传感器，或者，上述设备可以接收到其他设备的图像传感器采集到的图像数据，及其他设备的厚度传感器采集到的厚度数据。
在本申请实施例中，具体的，图像传感器的图像采集范围可以称为图像采集区域，图像采集区域一般情况下为尺寸大于待检测薄片介质的长方形区域，将该图像采集区域的相对较长的一边定义为图像数据采集宽度，将相对较短的一边定义为图像数据采集高度。每个列通道对应一个厚度传感器且每个列通道中均具有多行，每个厚度传感器采集相应列通道内各行的厚度数据，可以将待检测薄片介质放置于图像传感器的图像采集区域，使得图像传感器采集到的图像中包含待检测薄片介质的目标图像，且在该图像采集区域内，可以通过厚度传感器采集厚度采集通道中各列通道的厚度数据。
例如，当设置的厚度传感器数量为12时，那么就会在图像传感器的图像采集区域内相应的产生12个列通道的对应区域，每个列通道内的行数可以是117，那么相应的在每个列通道内就会存在117个厚度数据。
其中，目标图像的具体类型可以为rgb色彩模式图像、灰度图像和红外反射图像等，在实际应用中，目标图像还可以为其他类型的图像，此处不做限定。
步骤102、根据所述厚度数据和所述目标图像，确定所述待检测薄片介质在通道中所占用的有效通道；
在本申请实施例中，根据旋正后的待检测薄片介质的目标图像进行有效列通道的检测，以便确定目标图像在各列通道中所占用的有效列通道，例如，图像采集区域内存在12条列通道，且在基于目标图像进行有效列通道的检测之后，确定目标图像在该12条列通道中占用了其中的8条列通道，则该8条列通道即为有效列通道。
步骤103、根据所述有效通道、所述厚度数据，确定所述目标图像的厚度波动矩阵；
在本申请实施例中，厚度波动矩阵中每个位置的厚度波动数值与待检测薄片介质中相应位置的厚度数据是一一对应的。
步骤104、根据所述厚度波动矩阵和厚度检测模板对所述待检测薄片介质进行厚度异常检测。
在本申请实施例中，可将预设数量的薄片介质依次经过步骤101至步骤103的处理之后分别得到对应的厚度波动矩阵，再根据预设数量的厚度波动矩阵确定薄片介质的厚度检测模板，该预设数量可以基于需要进行确定，此处不做限定。
在本申请实施例中，通过获取待检测薄片介质的厚度数据和目标图像来实现有效列通道的确定，实现了对待检测薄片介质边界的查找；通过有效列通道及厚度数据生成厚度波动矩阵，且该厚度波动矩阵用于表示待检测薄片介质中各个位置的厚度值偏离待检测薄片介质的厚度值中值的厚度波动值，使得能够有效提高对待检测薄片介质的厚度波动情况的确定，且通过利用该厚度波动矩阵和厚度检测模板确定待检测薄片介质的厚度是否存在异常，能够有效提高厚度异常检测的精确度，降低了误检和漏检的概率。
请参阅图2，为本申请图1所示实施例中步骤102的细化步骤的流程示意图，该方法包括：
步骤201、根据所述厚度数据进行列通道的行边界检测，确定所述待检测薄片介质在各列通道的有效行；
在本发明实施例中，可根据各列通道内的厚度数据对各列通道进行行边界检测，以确定各列通道的行边界，以便进一步地基于行边界确定各列通道的有效行，需要说明的是，本申请实施例中所用到的待检测薄片介质的厚度是大于厚度阈值的，因此，对于各列通道内存在待检测薄片介质的位置来说，若检测到厚度数据出现从厚度为小于或者等于厚度阈值到大于厚度阈值的变化，则可确定该大于厚度阈值的厚度数据所在的行即为待检测薄片介质的一条行边界，同理，若检测到厚度数据出现从厚度为大于厚度阈值到小于或者等于厚度阈值的变化，该大于厚度阈值的厚度数据所在的行即为待检测薄片介质的另一条行边界，使得能够确定各列通道的所有行边界，以便基于确定的行边界确定各列通道的有效行。
请参阅图3，为本申请图2所示实施例中步骤201的细化步骤的流程示意图，所述方法包括：
步骤301、根据所述厚度数据确定目标列通道的初步上升沿和初步下降沿，所述目标列通道为所述各列通道中的任意一个列通道；
在本申请实施例中，目标列通道即为厚度采集通道内的任意一个列通道，连续的厚度值中的厚度值为大于薄片介质的厚度阈值的厚度值。根据厚度数据确定目标列通道的上升沿和下降沿的具体实现方式可以为：先确定厚度采集通道内的厚度数据的前景区和背景区，其中，前景区是由厚度辊轮压在待检测薄片介质以及厚度采集通道内可能存在的一些其他非待检测薄片介质的物体上得到的厚度数据组成的区域，且前景区内的所有厚度数据为大于厚度阈值的厚度数据，背景区是由厚度辊轮压空时的厚度数据组成的区域，该背景区中的厚度数据均为小于或者等于厚度阈值的厚度数据，因此就可以通过厚度数据的前景区确定目标列通道内的上升沿和下降沿，具体的，从对应的厚度数据小于或者等于厚度阈值的行到对应的厚度数据大于厚度阈值的行，该对应的厚度数据大于厚度阈值的行为上升沿，从对应的厚度数据大于厚度阈值的行到对应的厚度数据小于或者等于厚度阈值的行，该对应的厚度数据大于厚度阈值的行为下降沿。
需要说明的是，在本申请实施例中，薄片介质的厚度阈值，在实际应用中，可以根据薄片介质的具体类型，设置不同的厚度阈值，此处不做限定。
进一步地，请参阅图4，为本申请图3所示实施例中步骤301的细化步骤的流程示意图，该方法包括：
步骤401、根据所述厚度数据确定目标列通道的上升沿和下降沿；
步骤402从所述上升沿和所述下降沿中基于预设规则选择初步上升沿和初步下降沿，所述预设规则为：所述初步上升沿和所述初步下降沿之间存在连续的厚度值，且连续的厚度值之和最大。
进一步地，由于各目标列通道内可能存在除待检测薄片介质以外的其他具有一定厚度的物体，例如其他薄片介质的碎片，因此，目标列通道内可能存在多个上升沿和多个下降沿，需要根据预设规则在目标列通道内的多个上升沿和多个下降沿中找到属于待检测薄片介质的厚度数据前景区的上升沿和下降沿，该预设规则为在目标列通道中需要找到的上升沿和下降沿之间应该具有连续的大于厚度阈值的厚度数据，并且所有连续的大于厚度阈值的厚度数据之和最大。
例如，如图5所示，为本申请实施例中目标列通道内厚度数据的分布示意图，该目标列通道中每行中的标识表示该行对应待检测薄片介质在该位置的厚度数据，薄片介质的厚度数据的厚度阈值为20微米，厚度数据：a1、a2、a3、b1、……、by、c1、c2均为大于20微米的厚度数据，表示第a行到第b行、第c行到第d行以及第e行到第f行存在待检测薄片介质或者其他具有大于20微米的厚度数据的非待检测薄片介质。
可以理解的是，在该目标列通道中存在3个上升沿：第a行、第c行和第e行，存在3个下降沿：第b行、第d行和第f行，从其中第一个遍历到的上升沿第a行开始采集该上升沿与第一个遍历到的下降沿第b行之间的所有厚度数据：a1、a2、a3，显然，a1、a2、a3为大于20微米的连续厚度数据，因此，计算上升沿第a行与下降沿第b行之间的所有厚度数据之和为a1 a2 a3；再查找第二个遍历到的上升沿第c行对应的与该上升沿之间的所有连续的厚度数据大于20微米的下降沿第d行，并计算上升沿第c行和下降沿第d行之间的所有厚度数据之和为：b1 b2 …… by，再查找第三个遍历到的上升沿第e行对应的与该上升沿之间的所有连续的厚度数据大于20微米的下降沿第f行，并计算上升沿第e行和下降沿第f行之间的所有厚度数据之和为c1 c2，将得到的a1 a2 a3、b1 b2 …… by和c1 c2进行比较找到最大值，并将最大值对应的上升沿和下降沿确定为待检测薄片介质在该目标列通道内的初步上升沿和初步下降沿，显然，由图4可知，上升沿第c行和下降沿第d行之间的厚度数据最多，相应的所有厚度数据之和b1 b2 …… by也就最大，那么上升沿第c行为待检测薄片介质在该目标列通道内的初步上升沿，下降沿第d行为待检测薄片介质在该目标列通道内初步下降沿。
进一步地，也对其他的列通道执行上述操作，找到各列通道内符合该预设规则的上升沿和下降沿作为该列通道内待检测薄片介质的初步上升沿和初步下降沿。
步骤302、确定所述各列通道的所述初步上升沿与所述初步下降沿之间的行，并作为所述待检测薄片介质在各列通道的有效行。
在本申请实施例中，在确定了各目标列通道内的初步上升沿和初步下降沿之后，就可以将初步上升沿所在行和初步下降沿所在行以及初步上升沿和初步下降沿之间的行作为待检测薄片介质在各列通道的有效行，具体的，有效行数的运算方法为：有效行数等于初步上升沿所在行数与初步下降沿所在行数的差值加一。
在一种可行的实现方式中，为了得到更加精确的待检测薄片介质的厚度数据采集区域的行边界，可以基于如下方式确定各列通道内的更加精确的目标上升沿和目标下降沿，具体请参阅图6，为本申请图4所示实施例中薄片介质厚度异常检测方法的追加步骤的流程示意图，该方法包括：
步骤601、将所述目标列通道内以所述初步上升沿所在行开始向所述初步下降沿方向取预设数量的采样行作为上升沿采样区，将所述目标列通道内以所述初步下降沿所在行开始向所述初步上升沿方向取所述预设数量的采样行作为下降沿采样区；
步骤602、从所述上升沿采样区中选择目标上升沿，且从所述下降沿采样区中选择目标下降沿；
因此，步骤302具体可以包括：
步骤603、确定所述各列通道的所述目标上升沿与所述目标下降沿之间的行，并作为所述待检测薄片介质在各列通道的有效行。
在本申请实施例中，为了确定各目标列通道内精确的目标上升沿和精确的目标下降沿，需要在各目标列通道内初步上升沿和初步下降沿之间的采样区进行目标上升沿和目标下降沿的查找，该采样区包括：上升沿采样区和下降沿采样区，上升沿采样区为从初步上升沿开始向初步下降沿取预设数量的行组成的区域，下降沿采样区为从初步下降沿开始向初步上升沿取预设数量的行组成的区域，并将上升沿采样区内遍历到的所有厚度数据的平均值作为第一参考值，将下降沿采样区内遍历到的所有厚度数据的平均值作为第二参考值，将各目标列通道内的厚度数据的中值和平均值之间最大的值作为第三参考值；在上升沿采样区内从初步上升沿开始遍历厚度数据，并将遍历到的首个对应的厚度数据大于第一参考值和第三参考值的行作为精确的目标上升沿；在下降沿采样区内从初步下降沿开始遍历厚度数据，并将遍历到的首个对应的厚度数据大于第二参考值和第三参考值的行作为精确的目标下降沿。
具体的，如图7所示，为本申请实施例中上升沿采样区和下降沿采样区的示意图，其中，在本申请实施例中，以初步上升沿第c行开始向初步下降沿第d行取7行，组成的区域b1到b8为上升沿采样区，以初步下降沿第d行开始向初步上升沿第c行取7行，组成的区域by-1到by-8为下降沿采样区。将上升沿采样区内遍历到的所有的厚度数据的平均值作为第一参考值q1，将下降沿采样区内遍历到的所有的厚度数据的平均值作为第二参考值q2，将各列通道内的厚度数据的中值和平均值之间最大的值作为第三参考值q3；在上升沿采样区内从初步上升沿第c行开始遍历厚度数据，并将遍历到的首个对应的厚度数据b3大于第一参考值q1和第三参考值q3的第c1行作为精确的目标上升沿；在下降沿采样区内从初步下降沿第d行开始遍历厚度数据，并将遍历到的首个对应的厚度数据by-2大于第二参考值q2和第三参考值q3的第d1行作为精确的目标下降沿。因此，该目标列通道内的有效行包括：第c1行、第d1行以及第c1行与第d1行之间的所有行。
在本申请实施例中，通过根据厚度数据确定各列通道内的初步上升沿和初步下降沿，再根据初步上升沿和初步下降沿所在行及初步上升沿与初步下降沿之间的行确定各列通道内待检测薄片介质所占用的有效行，进而为待检测薄片介质的厚度数据的采集确定了行边界。进一步地，还可以在各列通道内的初步上升沿和初步下降沿之间的区域内确定上升沿采样区和下降沿采样区，再将上升沿采样区和下降沿采样区内遍历到的上升沿对应的厚度数据与下降沿对应的厚度数据与第一参考值、第二参考值和第三参考值之间进行比较确定各列通道内的精确的目标上升沿和精确的目标下降沿，为薄片介质的厚度数据的采集确定了更加精确的行边界。
步骤202、根据所述目标图像进行有效列通道检测，确定所述待检测薄片介质在各列通道中所占用的有效列通道。
在本申请实施例中，根据有效行、有效列通道、及厚度数据生成待检测薄片介质的厚度波动矩阵，厚度波动矩阵用于表示所述待检测薄片介质中各个位置的厚度值偏离厚度值中值的厚度波动值，所述位置基于所述有效行及所述有效列通道确定。
在本申请实施例中，所生成的待检测薄片介质的厚度波动矩阵的行数与有效行数相同，列数与有效列通道数相同，厚度波动矩阵中每个位置的厚度波动数值与待检测薄片介质中相应位置的厚度数据是一一对应的。例如，若有效行的数量为n，有效列通道的数量为m，则可以确定上述的厚度波动矩阵为n*m的矩阵，且位置n*m，表示的是厚度波动矩阵中第m列中的第n个厚度数据。其中，待检测薄片介质的厚度值中值可以是整个待检测薄片介质中各个位置的厚度值的中值，也可以是先得到各个有效列通道中的厚度值的中值，然后从各个有效列通道中的厚度值的中值中选择中值，在实际应用中，可以基于实际情况进行确定，此处不做限定。
为了更好的理解本申请实施例中的技术方案，请参阅图8，为本申请图2所示实施例中步骤202的细化步骤的流程示意图，该方法包括：
步骤801、根据所述目标图像的宽度和预设的所述列通道在所述目标图像中的映射宽度，确定所述待检测薄片介质的有效列通道数参考值；
具体的，有效列通道数参考值等于目标图像宽度与列通道在目标图像中的映射宽度比值加一。其中，列通道在目标图像中的映射宽度为设置厚度采集通道内各列通道的宽度，目标图像宽度为待检测薄片介质的实际宽度，加一是为了使检测结果更加精确。
步骤802、根据所述目标图像的实际占用列通道数和所述有效列通道数参考值确定所述目标图像在所述各列通道中所占用的有效列通道，其中，所述实际占用列通道由存在所述初步上升沿和所述初步下降沿的连续列通道组成。
在一种可行的实现方式中，可以通过实际占用列通道数和有效列通道数参考值确定目标图像在各列通道中所占用的有效列通道，具体请参阅图9，为本申请图8所示实施例中步骤802的细化步骤的流程示意图，包括：
步骤901、若所述实际占用列通道数大于所述有效列通道数参考值，则比较所述实际占用列通道内各列通道内的初步上升沿和初步下降沿之间的有效行数，将所述有效行数最少的列通道去掉，剩余的列通道为所述有效列通道；若所述实际占用列通道内各列通道内的有效行数相同，则比较所述实际占用列通道内各列通道内的厚度数据的均值，将所述厚度数据的均值最小的列通道去掉，剩余的列通道为所述有效列通道；
步骤902、若所述实际占用列通道数小于所述有效列通道数参考值，则判断除所述实际占用列通道以外的列通道内是否存在有效行，将所述实际占用列通道以及存在有效行的列通道作为所述有效列通道。
可以理解的是，在本申请实施例中，为了能够得到准确的厚度检测模板，且为了能够准确检测出待检测薄片介质的厚度是否异常，需要确保用于生成厚度检测模板的厚度数据均为正向正面的，且待检测薄片介质也为正向正面的，可以在将待检测薄片介质放入设备之前，由操作人员确定其是处于正面正向的，或者，可以通过以下的方式进行调整，以确保正面正向。以人民币为例，人民币的正面正向是指当人民币放入设备之后，利用图像采集传感器采集到的人民币的目标图像为具有毛主席像的一面且毛主席像为正向，此时，确定该人民币为正面正向，或者该待检测薄片介质的正面正向也可以是预先规定的某一类薄片介质的朝向，并且在之后的检测过程中以该朝向为正面正向进行对比。具体的，请参阅图10，为本申请图1所示实施例中薄片介质厚度异常检测方法的追加步骤的流程示意图，且该追加步骤可以在上述步骤103的之后执行，该追加步骤包括：
步骤1001、利用所述目标图像确定所述待检测薄片介质是否是正面正向；
步骤1002、若不是正面正向，则对所述厚度波动矩阵执行归一化，得到所述待检测薄片介质正面正向的厚度波动矩阵，所述归一化为：根据预设标准执行的预设变换的操作。
在一种可行的实现方式中，考虑到在实际情况中，待检测薄片介质的行边界可能会存在倾斜，相应的会存在有效行数不同的列通道，上述有效行数为各有效列通道内的有效行数的中值。
例如，m个有效列通道内的行数分别为：n1、n2、……、nm，那么m个有效列通道的有效行数就确定为n1、n2、……、nm的中值n，当有效行数为n并且有效列通道数为m时，那么厚度波动矩阵就为n*m阶矩阵，在m个有效列通道内的每个列通道内都存在n个有效行，在每个有效行都可以采集到一个厚度数据，那么在有效列通道和有效行通道内就可以采集到n*m个厚度数据，将n*m个厚度数据按照有效列通道和有效行确定的位置组成一个厚度数据矩阵，计算每个有效列通道内的n个厚度数据的中值，就可以得到m个厚度数据的中值，再计算m个厚度数据的中值的中值，就可以得到待检测薄片介质的厚度数据的中值的中值，将厚度数据矩阵中每个位置的厚度数据与厚度数据的中值的中值的进行差值运算，得到待检测薄片介质的厚度波动矩阵。待检测薄片介质的厚度波动矩阵中的每个厚度波动数值都可以体现待检测薄片介质的相应位置的厚度特征。
具体的，对厚度波动矩阵执行归一化包括：若待检测薄片介质为正面反向，则对厚度波动矩阵执行上下归一化和左右归一化；若待检测薄片介质为反面正向，则对厚度波动矩阵执行左右归一化；若待检测薄片介质为反面反向，则对厚度波动矩阵执行上下归一化。
其中，归一化为根据预设标准执行的预设变换的操作，归一化的具体实现方法为：当设备采集到的待检测薄片介质的目标图像显示的待检测薄片介质的图像参数与预先设定的待检测薄片介质的正面正向的图像参数不同时，根据采集到的待检测薄片介质的目标图像的图像参数确定待检测薄片介质实际朝向的类型，若待检测薄片介质为正面反向，则需要先对待检测薄片介质对应的厚度波动矩阵进行上下归一化，上下归一化具体的实现方式为：将厚度波动矩阵的行数按照降序的方式进行重新排列，例如，对于n*m阶厚度波动矩阵，对该厚度波动矩阵进行上下归一化为将n*m阶厚度波动矩阵的所有行按照n至1的顺序重新排列；再对待检测薄片介质对应的厚度波动矩阵进行左右归一化，左右归一化具体的实现方式为：将厚度波动矩阵的列数按照降序的方式进行重新排列，例如，对于n*m阶厚度波动矩阵，对该厚度波动矩阵进行上下归一化为将n*m阶厚度波动矩阵的所有列按照m至1的顺序重新排列；最终得到待检测薄片介质正面正向时对应的厚度波动矩阵。同理，待检测薄片介质为反面正向或者反面反向时也进行类似的识别和处理。
在本申请实施例中，通过获取到的待检测薄片介质的目标图像，判断待检测薄片介质是否为正面正向，并以此来对待检测薄片介质对应的厚度数据波动矩阵进行归一化，得到待检测薄片介质正面正向对应的厚度数据波动矩阵。
在一种可行的实现方式中，在步骤103之后还可以对得到的厚度波动矩阵进行降维处理，具体包括：从厚度波动矩阵的首行开始将两行相邻行的厚度波动值的平均值，作为两行相邻行合并成一行后的厚度波动值，以实现对厚度波动矩阵的降维处理，得到降维后的厚度波动矩阵。
可以理解的是，降维后的厚度波动矩阵为(n/2)*m阶的矩阵，并且该降维处理是从厚度波动矩阵的首行开始将每两个相邻行的厚度波动值的平均值作为降维后的厚度波动矩阵一行内的厚度波动值，当厚度波动矩阵的行数n为奇数时，从厚度波动矩阵的首行开始每相邻两行计算平均值后剩余的最后一行舍去，并且舍去的最后一行中具有的待检测薄片介质的部分很少，不会影响对待检测薄片介质的评价。
通过对得到的厚度波动矩阵进行降维处理，可以减少后续生成的厚度检测模板的占用空间，提升了计算速度，并且避免了由于薄片介质上存在的异物而造成的误判。
在一种可行的实现方式中，厚度检测模板的具体生成方式为：从预设数量的模板薄片介质的厚度波动矩阵中，选择目标位置的最大厚度波动值作为目标位置在厚度检测模板中的值，生成厚度检测模板，目标位置为薄片介质中的任意一个位置。
需要说明的是，模板薄片介质的厚度波动矩阵，与待检测薄片介质的厚度波动矩阵的获取方式是相同的，该模板薄片介质的厚度波动矩阵的获取方式具体可以参阅前述实施例中内容，此处不做赘述。
可以理解的是，对于每一张模板薄片介质都可以按照上述待检测薄片介质的厚度波动矩阵的生成方式得到该模板薄片介质的厚度波动矩阵，且每一张模板薄片介质得到厚度波动矩阵的处理方式都一样，使得能够基于预设数量的模板薄片介质的厚度波动矩阵得到厚度检测模板，以便基于该厚度检测模板准确检测出待检测薄片介质是否存在厚度异常。
具体的，若得到x个模板薄片介质的厚度波动矩阵，由上述可知，厚度波动矩阵是由有效行、有效列通道和厚度数据确定的，因此该x个模板薄片介质的厚度波动矩阵具有相同的行数和列数，将x个模板薄片介质的厚度波动矩阵相应行和列确定的位置的厚度波动值的最大值作为该位置的最大厚度波动值，并将模板薄片介质的厚度波动矩阵中每个位置的最大厚度波动值组成的矩阵作为厚度检测模板，可以理解的是，该厚度检测模板为一个二维矩阵，且该二维矩阵的行数等于有效行数，列数等于有效列通道数。
例如，模板薄片介质的厚度波动矩阵可以表示为：
其中，
其中，
进一步地，当将待检测薄片介质放入设备中对其进行厚度异常检测时，设备会对待检测薄片介质执行步骤101至步骤103的处理，得到待检测薄片介质的厚度波动矩阵，再根据待检测薄片介质的厚度波动矩阵与厚度检测模板对待检测薄片介质进行厚度异常检测。
在本申请实施例中，通过获取模板薄片介质的厚度数据和目标图像来实现有效列通道的确定，进而实现了对模板薄片介质边界的查找；通过有效列通道及厚度数据生成厚度波动矩阵，且该厚度波动矩阵用于表示模板薄片介质中各个位置的厚度值偏离模板薄片介质的厚度值中值的厚度波动值，使得能够利用预设数量的模板薄片介质的厚度波动矩阵的在各位置的最大厚度波动值生成厚度检测模板，以便利用该厚度检测模板确定待检测薄片介质的厚度是否存在异常，实现了通过多个模板薄片介质基于各个位置的最大厚度波动值来确定相应位置的厚度数据波动的极限值的目的，且基于该极限值得到的薄片介质的厚度检测模板具有准确性高的优点，能够达到有效提高薄片介质厚度异常检测精确度的效果，降低误检和漏检的概率。
进一步地，请参阅图11，为本申请实施例中薄片介质厚度异常检测方法的另一流程示意图，该方法包括：
步骤1101、将所述厚度波动矩阵和所述厚度检测模板进行差值运算得到厚度差值矩阵，利用所述厚度差值矩阵确定凸起连通域，所述凸起连通域是由所述厚度差值矩阵中差值大于0且连续的位置构成；
步骤1102、确定所述凸起连通域中差值大于预设第一阈值的数量；
步骤1103、当存在数量大于或等于预设第二阈值的凸起连通域，确定所述待检测薄片介质厚度异常。
在本申请实施例中，将待检测薄片介质的厚度波动矩阵与厚度检测模板进行差值运算得到厚度差值矩阵，该厚度差值矩阵中的值为大于0、等于0或者小于0的值，其中，大于0的值表示待检测薄片介质该位置的厚度数据大于厚度检测模板相应位置对应的厚度数据，将待检测薄片介质的实际厚度波动矩阵中与厚度差值矩阵中具有大于0的值的连续相应位置作为凸起连通域，确定待检测薄片介质的每个凸起连通域内大于预设的第一阈值的厚度波动值的数量，并将该数量与第二阈值进行比较，当该数量大于第二阈值时，确定待检测薄片介质的厚度存在异常，其中，第一阈值为与厚度波动值对应的数值阈值，第二阈值为与大于第一阈值的厚度波动值的数量相对应的数值阈值。需要说明的是，设置的第一阈值和第二阈值的数量可以根据实际情况而定，在这里不作限制；所有凸起连通域中只要有一个凸起连通域满足上述条件，就可以确定该待检测薄片介质存在厚度异常。
在本申请实施例中，例如，设置的一级阈值包括：第一阈值3和第二阈值3，设置的二级阈值包括：第一阈值7和第二阈值2，设置的第三阈值包括：第一阈值10和第二阈值1；在一个待检测薄片介质的厚度差值矩阵的连续的大于0的位置组成的所有凸起连通域中，将每个凸起连通域对应的待检测薄片介质的厚度波动矩阵中的厚度波动值与一级阈值、二级阈值和三级阈值进行比较，若其中一个或者一个以上的凸起连通域对应的厚度波动值大于3的数量大于3，或者其中一个或者一个以上的凸起连通域对应的厚度波动值大于7的数量大于2，或者其中一个或者一个以上的凸起连通域对应的厚度波动值大于10的数量大于1，则认为该待检测薄片介质的厚度存在异常。
在本申请实施例中，通过由多个列通道和多个行确定的并且由预设数量的模板薄片介质生成的能够反映薄片介质各个位置的厚度情况的厚度检测模板对待检测薄片介质进行厚度异常检测，提高了薄片介质厚度异常检测结果的精确度，并且能够准确、精细地检测出薄片介质是否存在重张、胶带、拼接等异常情况，提高设备对这类薄片介质的拒识能力。
请参阅图12，为本申请实施例中薄片介质厚度异常检测装置的结构示意图，该装置包括：
获取模块1201，用于获取待检测薄片介质在各列通道内的厚度数据，及获取所述待检测薄片介质图像旋正后的目标图像；
第一确定模块1202，用于根据所述厚度数据和所述目标图像，确定所述待检测薄片介质在通道中所占用的有效通道；
第二确定模块1203，用于根据所述有效通道、所述厚度数据，确定所述目标图像的厚度波动矩阵；
执行模块1204，用于根据所述厚度波动矩阵和厚度检测模板对所述待检测薄片介质进行厚度异常检测。
在本申请实施例中，通过调用获取模块1201获取待检测薄片介质的厚度数据和目标图像，再通过第一确定模块1202来确定待检测薄片介质在厚度采集通道内所占用的有效列通道，实现了对待检测薄片介质边界的查找；通过调用第二确定模块1203根据有效列通道及厚度数据生成厚度波动矩阵，且该厚度波动矩阵用于表示待检测薄片介质中各个位置的厚度值偏离待检测薄片介质的厚度值中值的厚度波动值，使得能够有效提高对待检测薄片介质的厚度波动情况的确定，并通过调用执行模块1204根据该厚度波动矩阵和厚度检测模板确定待检测薄片介质的厚度是否存在异常，能够有效提高厚度异常检测的精确度，降低误检和漏检的概率。
图13示出了一个实施例中计算机设备的内部结构图。该计算机设备具体可以是终端，也可以是服务器。如图13所示，该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该计算机设备的非易失性存储介质存储有操作系统，还可存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器实现薄片介质厚度异常检测方法。该内存储器中也可储存有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器执行薄片介质厚度异常检测方法。本领域技术人员可以理解，图13中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提出了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行以下步骤：
获取待检测薄片介质在各列通道内的厚度数据，及获取所述待检测薄片介质图像旋正后的目标图像；
根据所述厚度数据和所述目标图像，确定所述待检测薄片介质在通道中所占用的有效通道；
根据所述有效通道、所述厚度数据，确定所述目标图像的厚度波动矩阵；
根据所述厚度波动矩阵和厚度检测模板对所述待检测薄片介质进行厚度异常检测。
在一个实施例中，提出了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行以下步骤：
获取待检测薄片介质在各列通道内的厚度数据，及获取所述待检测薄片介质图像旋正后的目标图像；
根据所述厚度数据和所述目标图像，确定所述待检测薄片介质在通道中所占用的有效通道；
根据所述有效通道、所述厚度数据，确定所述目标图像的厚度波动矩阵；
根据所述厚度波动矩阵和厚度检测模板对所述待检测薄片介质进行厚度异常检测。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦除可编程rom(eeprom)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(ram)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram(sram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据率sdram(ddrsdram)、增强型sdram(esdram)、同步链路(synchlink)dram(sldram)、存储器总线(rambus)直接ram(rdram)、直接存储器总线动态ram(drdram)、以及存储器总线动态ram(rdram)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
本文用于企业家、创业者技术爱好者查询，结果仅供参考。
