电感的测试方法和测试系统与流程

技术特征：
1.一种电感的测试方法，其特征在于，所述电感为一体电感，所述电感包括线圈、电极和包覆所述线圈的粉材；所述电感的测试方法包括：获取待测电感的电感值、直流电阻值和品质因数；根据所述电感值、所述直流电阻值和所述品质因数，基于所述待测电感的第一切片对所述待测电感的线圈、电极和粉材之间的电学性能进行测试；根据所述待测电感的电学性能测试结果，确定所述待测电感的层间不良区域。2.根据权利要求1所述的电感的测试方法，其特征在于，所述第一切片为沿所述线圈的中心轴的切片，所述第一切片的切面暴露所述待测电感的各圈线圈的截面、所述电极和所述粉材。3.根据权利要求2所述的电感的测试方法，其特征在于，根据所述电感值、所述直流电阻值和所述品质因数，基于所述待测电感的第一切片对所述待测电感的线圈、电极和粉材之间的电学性能进行测试，包括：在所述直流电阻值低于所述待测电感的标准直流电阻值时，对任一第一截面和任一第二截面进行两两测试，以确定二者对应的线圈是否导通；其中，在所述第一切片的切面中，位于所述线圈的中心轴一侧的各圈所述线圈的截面均为所述第一截面，位于所述线圈的中心轴另一侧的各圈所述线圈的截面均为所述第二截面；根据所述待测电感的电学性能测试结果，确定所述待测电感的层间不良区域，包括：在与任一所述第一截面导通的所述第二截面的数量超过一个时，确定所述待测电感的线圈之间发生层间不良。4.根据权利要求2所述的电感的测试方法，其特征在于，根据所述电感值、所述直流电阻值和所述品质因数，基于所述待测电感的第一切片对所述待测电感的线圈、电极和粉材之间的电学性能进行测试，包括：在所述电感值低于所述待测电感的标准电感值，且所述直流电阻值大于或等于所述待测电感的标准直流电阻值时，对所述待测电感的两个电极进行测试，以确定二者之间是否导通，并对所述电极和与所述电极相邻的所述线圈的截面进行测试，以确定二者之间是否导通；根据所述待测电感的电学性能测试结果，确定所述待测电感的层间不良区域，包括：在与任一所述电极导通的所述线圈的截面数量超过两个时，确定所述待测电感的线圈与电极之间发生层间不良。5.根据权利要求2所述的电感的测试方法，其特征在于，根据所述电感值、所述直流电阻值和所述品质因数，基于所述待测电感的第一切片对所述待测电感的线圈、电极和粉材之间的电学性能进行测试，包括：在所述品质因数低于所述待测电感的标准品质因数，且所述直流电阻值大于或等于标准直流电阻值，所述电感值大于或等于标准电感值时，对所述线圈的截面及其相邻的预设范围内的粉材进行测试，以确定二者之间是否导通；根据所述待测电感的电学性能测试结果，确定所述待测电感的层间不良区域，包括：在任一所述线圈的截面与其相邻的所述预设范围内的粉材导通时，确定所述待测电感的线圈与粉材之间发生层间不良。
6.根据权利要求1所述的电感的测试方法，其特征在于，在根据所述待测电感的电学性能测试结果，确定所述待测电感的层间不良区域之后，还包括：基于所述待测电感的第二切片对所述待测电感的层间不良区域进行验证；其中，所述第二切片为暴露根据测试结果确定的所述待测电感的层间不良区域的切片。7.根据权利要求6所述的电感的测试方法，其特征在于，在根据测试结果确定所述待测电感的线圈之间发生层间不良时，所述第二切片为暴露所述线圈的外表面的切片；在根据测试结果确定所述待测电感的线圈与电极之间发生层间不良时，所述第二切片为暴露各圈所述线圈的截面和所述电极的切片；在根据测试结果确定所述待测电感的线圈与粉材之间发生层间不良时，所述第二切片为暴露各圈所述线圈的截面及其相邻的预设范围内的粉材的切片。8.根据权利要求1所述的电感的测试方法，其特征在于，还包括：根据所述待测电感的层间不良区域，设置待制备电感中的绝缘层。9.根据权利要求8所述的电感的测试方法，其特征在于，在所述待测电感的线圈之间发生层间不良，或者线圈与粉材之间发生层间不良时，设置所述待制备电感的绝缘层厚度大于所述待测电感的绝缘层厚度；在所述待测电感的线圈与电极之间发生层间不良时，在所述待制备电感的电极及其相邻的线圈之间增设绝缘层。10.一种电感的测试系统，其特征在于，所述电感为一体电感，所述电感包括线圈、电极和包覆所述线圈的粉材；所述电感的测试系统包括：参数获取模块，用于获取待测电感的电感值、直流电阻值和品质因数；测试模块，用于根据所述电感值、所述直流电阻值和所述品质因数，基于所述待测电感的第一切片对所述待测电感的线圈、电极和粉材之间的电学性能进行测试；层间不良确定模块，用于根据所述待测电感的电学性能测试结果，确定所述待测电感的层间不良区域。

技术总结
本发明实施例公开了一种电感的测试方法和测试系统。其中，该电感为一体电感，电感包括线圈、电极和包覆线圈的粉材；电感的测试方法包括：获取待测电感的电感值、直流电阻值和品质因数；根据电感值、直流电阻值和品质因数，基于待测电感的第一切片对待测电感的线圈、电极和粉材之间的电学性能进行测试；根据待测电感的电学性能测试结果，确定待测电感的层间不良区域。与现有技术相比，本方案不仅能够根据待测电感的测试结果确定其发生层间不良的具体区域，并且利用该测试结果还有助于对后续待制备的一体电感的层间不良区域进行改善，从而缓解一体电感的层间不良问题，以提升一体电感的产品品质。产品品质。产品品质。


技术研发人员：陈胜齐 李正龙 胡江豪
受保护的技术使用者：横店集团东磁股份有限公司
技术研发日：2021.07.29
技术公布日：2021/10/23