一种可控硅测试夹具的制作方法

技术特征：
1.一种可控硅测试夹具，包括底槽(1)，所述底槽(1)内设置有测试电路组件，在所述底槽(1)上方固定有倒u型架(2)，所述倒u型架(2)上通过多个活动杆(21)活动连接有多个测试触板(22)，所述测试触板(22)上设置有测试触点，所述测试触点通过信号线分别与测试电路组件之间信号连接，其特征在于：所述底槽(1)靠近顶端的外侧通过轴承座活动连接有第一丝杠(4)，所述第一丝杠(4)的外侧端固定有第一调节盘(41)，所述第一丝杠(4)外侧螺纹连接有螺纹块(42)，所述底槽(1)上与第一丝杠(4)平行的两侧开设有连通孔(11)，所述螺纹块(42)的另一端滑动连接在连通孔(11)内，所述螺纹块(42)的内侧端固定有横杆(5)，所述横杆(5)的另一端固定有滑块(51)，所述滑块(51)滑动连接在底槽(1)的连通孔(11)内；所述横杆(5)的侧端通过轴承座转动连接有第二丝杠(6)，所述第二丝杠(6)外侧螺纹连接有测试夹板(7)，所述测试夹板(7)用于完成待测可控硅的夹持固定作用。2.根据权利要求1所述的一种可控硅测试夹具，其特征在于，所述测试夹板(7)的侧端螺纹连接在第二丝杠(6)外侧，且在测试夹板(7)上开设有矩形测试腔，在矩形测试腔的横向段螺纹连接有第一夹块(72)，在矩形测试腔的纵向段螺纹连接有第二夹块(73)，在第一夹块(72)和第二夹块(73)的作用下完成待测可控硅在测试夹板(7)内部的夹持固定。3.根据权利要求2所述的一种可控硅测试夹具，其特征在于，所述第一夹块(72)由t型螺杆和辅助板组成，所述t型螺杆螺纹连接在测试夹板(7)的侧端，所述辅助板固定在t型螺杆的内侧端，所述第二夹块(73)与第一夹块(72)的结构相同。4.根据权利要求1所述的一种可控硅测试夹具，其特征在于，所述横杆(5)上设置有滑轨(52)，所述测试夹板(7)的外侧还设置有两块滑板(71)，所述滑板(71)滑动连接在滑轨(52)内。5.根据权利要求1所述的一种可控硅测试夹具，其特征在于，所述第二丝杠(6)的外侧端固定有第二调节盘(61)。6.根据权利要求1所述的一种可控硅测试夹具，其特征在于，所述底槽(1)的顶面粘贴有柔性绝缘防护垫(12)。

技术总结
本实用新型提供了一种可控硅测试夹具，包括底槽，底槽靠近顶端的外侧通过轴承座活动连接有第一丝杠，第一丝杠的外侧端固定有第一调节盘，第一丝杠外侧螺纹连接有螺纹块，螺纹块的内侧端固定有横杆，横杆的侧端通过轴承座转动连接有第二丝杠，第二丝杠外侧螺纹连接有测试夹板，测试夹板用于完成待测可控硅的夹持固定作用，本实用新型通过在底槽上设置有横向和纵向的两个丝杠，两个丝杠相互之间协同作用，通过转动第一调节盘带动测试夹板纵向位置的调整，再通过转动第二调节盘带动测试夹板完成横向位置的调整，调整测试夹板至待使用的测试触板下方后，下压测试触板与待测可控硅接触完成可控硅的测试作业，便捷实用。便捷实用。便捷实用。


技术研发人员：蒲辰
受保护的技术使用者：西安长禾半导体技术有限公司
技术研发日：2021.04.11
技术公布日：2021/10/23